一种半导体测试分选设备用的震动盘制造技术

技术编号:17831406 阅读:36 留言:0更新日期:2018-05-03 15:24
本实用新型专利技术涉及半导体测试设备领域,特别是一种半导体测试分选设备用的震动盘,震动盘为圆盘形,圆盘内表面设有螺旋状通路,螺旋状通路的出口与导轨连接,在螺旋状通路的出口处设置第一限位块和第二限位块,第二限位块和导轨之间设置第三限位块,第三限位块与所述震动盘固定连接,在第三限位块上设置吹气孔。本实用新型专利技术实现了半导体器件SOT‑363从震动盘进入导轨不会堵塞在入口处,保证了产品质量和生产效率。

A vibrating disc for semiconductor testing and sorting equipment

The utility model relates to the field of semiconductor testing equipment, in particular to a vibrating disc used for semiconductor test and separation equipment. The vibration disc is a disk, the inner surface of the disk has a spiral path, the outlet of the spiral path is connected with the guide rail, and the first limit block and second limit block are set at the exit of the spiral path, and the second limit is set. A third limit block is arranged between the position block and the guide rail, and the third limit block is fixedly connected with the vibration disk, and a blowhole is arranged on the third limit block. The utility model realizes that the semiconductor device SOT 363 can enter the guide way from the vibration disc to the entrance, ensuring product quality and production efficiency.

【技术实现步骤摘要】
一种半导体测试分选设备用的震动盘
本技术涉及半导体测试设备领域,特别是一种半导体测试分选设备用的震动盘。
技术介绍
目前,市面上的半导体器件SOT-363封装的测试分选设备价格比较昂贵,投入资金大,可以将目前的测试半导体器件SOT23-3封装的测试分选设备用来测试半导体器件SOT-363,半导体器件SOT-363从震动盘进入导轨时,会先经过震动盘的第一限位块和第二限位块,然后利用第二限位块的吹气孔,将管脚方向不对的半导体器件SOT-363吹走,确保进入导轨的半导体器件的管脚方向都一致。存在的问题是,由于封装为SOT-363的半导体器件外观尺寸比较小,所以会与第一限位块和第二限位块之间存在一定的虚位,不能百分百地限制管脚方向不对的半导体器件进入到导轨,导致管脚方向不对的半导体器件容易堵塞在导轨的入口处,使得经常停机,甚至会导致半导体器件的引脚变形,严重影响生产效率。
技术实现思路
本技术针对现有技术的不足,提出一种半导体测试分选设备用的震动盘,实现了半导体器件件SOT-363从震动盘进入导轨不会堵塞在入口处,保证了产品质量和生产效率。采用下述技术方案:一种半导体测试分选设备用的震动盘,震动盘为圆盘形,圆盘内表面设有螺旋状通路,螺旋状通路的出口与导轨连接,在螺旋状通路的出口处设置第一限位块和第二限位块,第二限位块和导轨之间设置第三限位块,第三限位块与所述震动盘固定连接,在第三限位块上设置吹气孔。进一步地,第三限位块的下端面与螺旋状通路之间的距离为1.6mm;第三限位块的下端面设有弧面,弧面的弧度为26度。进一步地,吹气孔的直径为0.8mm;吹气孔与半导体测试分选设备的压缩气缸连接。本技术具有以下优点和积极效果:本技术实现了半导体器件SOT-363从震动盘进入导轨不会堵塞在入口处,保证了产品质量和生产效率。附图说明图1为本技术的结构示意图;图2为图1的A-A剖面放大图;图3为第三限位块的结构示意图。具体实施方式图1为本技术的结构示意图;图2为图1的A-A剖面放大图。结合图1和图2所示,一种半导体测试分选设备用的震动盘,震动盘1为圆盘形,圆盘内表面设有螺旋状通路2,螺旋状通路2的出口与导轨3连接,在螺旋状通路2的出口处设置第一限位块4和第二限位块5,第二限位块5和导轨3之间设置第三限位块6,第三限位块6与震动盘1固定连接,在第三限位块6上设置吹气孔7。图3为第三限位块的结构示意图,如图3所示,第三限位块6的下端面设有弧面6.1,弧面6.1的弧度S为26度,第三限位块6的下端面与螺旋状通路2之间的距离H为1.6mm。吹气孔7的直径D为0.8mm,吹气孔7与半导体测试分选设备的压缩气缸(图中未示出)连接。设置第三限位块6的作用是最大限度限制管脚方向不对的半导体器件通过,因为第三限位块6的下端面与螺旋状通路2之间的距离与半导体器件的外观尺寸基本一样,并且增加了一个吹气孔7,可以将不能顺利通过的半导体器件吹掉,从而避免堵塞。总之,本技术实现了半导体器件SOT-363从震动盘进入导轨不会堵塞在入口处,保证了产品质量和生产效率。本文档来自技高网...
一种半导体测试分选设备用的震动盘

【技术保护点】
一种半导体测试分选设备用的震动盘,所述震动盘为圆盘形,所述圆盘内表面设有螺旋状通路,所述螺旋状通路的出口与导轨连接,在所述螺旋状通路的出口处设置第一限位块和第二限位块,其特征是,所述第二限位块和导轨之间设置第三限位块,所述第三限位块与所述震动盘固定连接,在所述第三限位块上设置吹气孔。

【技术特征摘要】
1.一种半导体测试分选设备用的震动盘,所述震动盘为圆盘形,所述圆盘内表面设有螺旋状通路,所述螺旋状通路的出口与导轨连接,在所述螺旋状通路的出口处设置第一限位块和第二限位块,其特征是,所述第二限位块和导轨之间设置第三限位块,所述第三限位块与所述震动盘固定连接,在所述第三限位块上设置吹气孔。2.根据权利要求1所述的半导体测试分选设备用的震动盘,其特征是,所述第三限位块的下...

【专利技术属性】
技术研发人员:袁凤江陈祺
申请(专利权)人:佛山市蓝箭电子股份有限公司
类型:新型
国别省市:广东,44

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