一种采用时延参数进行测距的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种采用时延参数进行测距的方法和装置，获取基带信号的第一码片采样数据，以及，所述基带信号对应的扩频信号；依据所述第一码片采样数据生成解扩信号；依据所述解扩信号与所述扩频信号获得互相关函数；采用所述互相关函数生成时延参数；采用所述时延参数进行测距。相对于直接传统的直接解扩而言，更准确快速地得到时延参数，减少多径效应的影响，使时延参数的测量结果更加准确，且应用于距离的测量，使测量的结果更加准确；通过简单的物理层的操作，消除多径效应的影响，更准确地测量时延参数，提高了获取的时延参数的精度。

【技术实现步骤摘要】
一种采用时延参数进行测距的方法和装置
本专利技术涉及通信
，特别是涉及一种采用时延参数进行测距的方法和一种采用时延参数进行测距的装置。
技术介绍
片内多径分离技术随着对TOA(TimeofArrival，时延参数)测距精度要求的提高而得到不断的研究和发展。窄带相关的方法简单易实现，但并没有对多径进行分离仅是减少片内多径引起的时延参数误差；MEDLL(MultipathEstimatingDelayLockLoop，多径估计延迟锁定环算法)采用最大似然方法求出各条多径的时延参数和幅度，实现了多径的分离，但是复杂度较高；采用粒子滤波分离各条多径，虽然分离效果很好，但是实现的复杂度太高，远远超出无线传感器节点的资源；另外也有一些超分辨率方法进行片内多径分离，同样也是高复杂度的。目前的多径分离算法会同时求取多径的时延参数，幅度，相位，因此实现得到时延参数的方法复杂度较高，与无线传感网节点的资源、功耗受限矛盾；另一方面针对基于TOA(时延参数)进行测距的应用场景，时延参数是一个非常重要的参数，如何得到快捷方便得到时延参数是本领域技术人员急切想要解决的问题。
技术实现思路
鉴于上述问题，提出了本专利技术实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种采用时延参数进行测距的方法和相应的一种采用时延参数进行测距的装置。为了解决上述问题，本专利技术实施例公开了一种采用时延参数进行测距的方法，包括：获取基带信号的第一码片采样数据，以及，所述基带信号对应的扩频信号；依据所述第一码片采样数据生成解扩信号；依据所述解扩信号与所述扩频信号获得互相关函数；采用所述互相关函数生成时延参数；采用所述时延参数进行测距。优选地，所述依据所述第一码片采样数据生成解扩信号的步骤包括：按照采样频率获取所述第一码片采样数据对应的接收伪噪声PN码片；获取与接收PN码片对应的发射PN码片；将所述接收PN码片与发射PN码片进行相关解扩操作，生成所述解扩信号。优选地，所述方法还包括：针对所述解扩信号进行谱峰搜索，获得第一峰值坐标数据。优选地，所述依据所述解扩信号与所述扩频信号获得互相关函数的步骤包括：将所述解扩信号及所述扩频信号进行卷积运算，获得互相关函数。优选地，所述采用所述互相关函数生成时延参数的步骤包括：计算出所述互相关函数的最大值；获得所述互相关函数的最大值的对应的第二峰值坐标数据；将所述第一峰值坐标数据与所述第二峰值坐标数据作差值运算，获得时延参数。优选地，所述采用所述时延参数进行测距的步骤包括：采用所述时延参数与电波传播速度进行乘值运算，获得电波传播的距离。本专利技术实施例还公开了一种采用时延参数进行测距的装置，包括：扩频信号及采样数据获取模块，用于获取基带信号的第一码片采样数据，以及，所述基带信号对应的扩频信号；解扩信号生成模块，用于依据所述第一码片采样数据生成解扩信号；互相关函数获得模块，用于依据所述解扩信号与所述扩频信号获得互相关函数；时延参数生成模块，用于采用所述互相关函数生成时延参数；测距进行模块，用于采用所述时延参数进行测距。优选地，所述解扩信号生成模块包括：接收PN码片获取子模块，用于按照采样频率获取所述第一码片采样数据对应的接收PN码片；发射PN码片获取子模块，用于获取与接收PN码片对应的发射PN码片；解扩信号生成子模块，用于将所述接收PN码片与发射PN码片进行相关解扩操作，生成所述解扩信号。优选地，所述装置还包括：第一峰值坐标数据获得模块，用于针对所述解扩信号进行谱峰搜索，获得第一峰值坐标数据。优选地，所述互相关函数获得模块包括：互相关函数获得子模块，用于将所述解扩信号及所述扩频信号进行卷积运算，获得互相关函数。优选地，所述时延参数生成模块包括：最大值计算子模块，用于计算出所述互相关函数的最大值；第二峰值坐标数据获得子模块，用于获得所述互相关函数的最大值的对应的第二峰值坐标数据；时延参数获得子模块，用于将所述第一峰值坐标数据与所述第二峰值坐标数据作差值运算，获得时延参数。优选地，所述测距进行模块包括：距离获得子模块，用于采用所述时延参数与电波传播速度进行乘值运算，获得电波传播的距离。本专利技术实施例包括以下优点：本专利技术实施例中，获取基带信号的第一码片采样数据，以及，所述基带信号对应的扩频信号，依据所述第一码片采样数据生成解扩信号，依据所述解扩信号与所述扩频信号获得互相关函数，采用所述互相关函数生成时延参数，采用所述时延参数进行测距。所述第一码片采样数据为每个码片的第一采样点，相对于直接传统的直接解扩而言，更准确快速地得到时延参数，减少多径效应的影响，使时延参数的测量结果更加准确，且应用于距离的测量，使测量的结果更加准确。进一步地，依据第一码片采样数据得到的所述解扩信号与所述扩频信号获得互相关函数，采用所述互相关函数生成时延参数；通过简单的物理层的操作，消除多径效应的影响，更准确地测量时延参数，提高了获取的时延参数的精度。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图图1是本专利技术实施例的一种采用时延参数进行测距的方法实施例一的步骤流程图；图2是本专利技术实施例的一种采用时延参数进行测距的方法实施例二的步骤流程图；图3是本专利技术实施例的一种通信数据流程图；图4是本专利技术实施例的一种采用时延参数进行测距的装置实施例的结构框图。具体实施方式为了使本专利技术实施例所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术实施例进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。参照图1，示出了本专利技术实施例的一种采用时延参数进行测距的方法实施例一的步骤流程图，具体可以包括如下步骤：步骤101，获取基带信号的第一码片采样数据，以及，所述基带信号对应的扩频信号；本专利技术实施例中，通过获取电波传播的时延参数，计算出发射端与接收端的距离，具体地，获取基带信号的第一码片采样数据，所述第一码片采样数据可以为码片周期内的第一采样点的码片信息，进一步地，本专利技术实施例还获取所述基带信号对应的扩频信号，因为所述基带信号是接收端的基带信号，是经过解调后变频滤波的基带信号，基带信号为发出未经过调制(进行频谱搬移和变换)的原始电信号，其特点是频率较低，信号频谱从零频附近开始，具有低通形式，所述扩频信号是由发射端的原始数据流经过PN(Pseudo-Noise，伪噪声)序列进行扩频运算而得的扩频信号，扩频信号从发射端经过矩形脉冲成型及射频调制，再经过信道传输至接收端，接收端经过射频解调等步骤后还原为基带信号，本专利技术实施例获取所述基带信号对应的扩频信号。步骤102，依据所述第一码片采样数据生成解扩信号；应用于本专利技术实施例中，按照采样频率获取所述第一码片采样数据对应的接收PN码片，获取与接收PN码片对应的发射PN码片，将所述接收PN码片与发射PN码片进行相关解扩操作，生成所述解扩信号。所述第一码片采样数据可以为码片周期内的第一采样点的码片信息，依照采样频率获得第一采样点的接收PN码片，进一步地，获取与所述接收PN码片对应的发本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种采用时延参数进行测距的方法，其特征在于，包括：获取基带信号的第一码片采样数据，以及，所述基带信号对应的扩频信号；依据所述第一码片采样数据生成解扩信号；依据所述解扩信号与所述扩频信号获得互相关函数；采用所述互相关函数生成时延参数；采用所述时延参数进行测距。

【技术特征摘要】
1.一种采用时延参数进行测距的方法，其特征在于，包括：获取基带信号的第一码片采样数据，以及，所述基带信号对应的扩频信号；依据所述第一码片采样数据生成解扩信号；依据所述解扩信号与所述扩频信号获得互相关函数；采用所述互相关函数生成时延参数；采用所述时延参数进行测距。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述依据所述第一码片采样数据生成解扩信号的步骤包括：按照采样频率获取所述第一码片采样数据对应的接收伪噪声PN码片；获取与接收PN码片对应的发射PN码片；将所述接收PN码片与发射PN码片进行相关解扩操作，生成所述解扩信号。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：针对所述解扩信号进行谱峰搜索，获得第一峰值坐标数据。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述依据所述解扩信号与所述扩频信号获得互相关函数的步骤包括：将所述解扩信号及所述扩频信号进行卷积运算，获得互相关函数。5.根据权利要求1或3所述的方法，其特征在于，所述采用所述互相关函数生成时延参数的步骤包括：计算出所述互相关函数的最大值；获得所述互相关函数的最大值的对应的第二峰值坐标数据；将所述第一峰值坐标数据与所述第二峰值坐标数据作差值运算，获得时延参数。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采用所述时延参数进行测距的步骤包括：采用所述时延参数与电波传播速度进行乘值运算，获得电波传播的距离。7.一种采用时延参数进行测距的装置，其特征在于，包括：扩频信号及采样数据获取模块，用于获取基带信号的第一码片采样数据，以及，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：李文风，陈月云，赵庸旭，王立云，
申请(专利权)人：大唐移动通信设备有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11