有源UHF RFID标签读写器最大发射功率测试方法技术

本发明专利技术公开了一种有源UHF RFID标签读写器最大发射功率的测试方法，包括，使所述待测试标签读写器向所述RFID标签发送选择文件命令；使所述射频信号分析装置测量并记录所述选择文件命令对应的信号的带内功率；根据所述带内功率计算所述待测试标签读写器的最大发射功率。本发明专利技术获得了以下有益效果：可对有源UHF RFID标签读写器的最大发射功率进行有效的测试。

【技术实现步骤摘要】
有源UHFRFID标签读写器最大发射功率测试方法
本专利技术涉及射频标签
，尤其涉及一种有源UHFRFID标签读写器最大发射功率的测试方法。
技术介绍
射频识别技术是二十世纪九十年代兴起的一种无线的、非接触方式的自动识别技术，是近几年发展起来的前沿科技项目。该技术主要是利用射频信号通过空间耦合实现无接触信息传递并通过所传递的信息达到识别目的。射频识别技术的显著优点在于非接触性，因此完成识别工作时无需人工干预，能够实现识别自动化且不易损坏；可识别高速运动的射频标签，也可同时识别多个射频标签，操作快捷方便；射频标签不怕油渍、灰尘污染等恶劣环境，且可以穿透非金属物体进行识别，抗干扰能力强。现有的射频标签技术中，有源UHFRFID(特高频射频标签)被广泛的应用于物联网中，然而，由于目前缺少对有源UHFRFID标签及读写器的测试设备和测试方法，使得各种工作指标不统一的有源UHFRFID标签及读写器被混合使用，造成物联网或者相应的使用环境工作不稳定。
技术实现思路
针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种有源UHFRFID标签读写器最大发射功率的测试方法。为实现上述目的，本专利技术采用了如下的技术方案：一种有源UHFRFID标签读写器最大发射功率的测试方法，其中，提供一RFID标签以及一射频信号分析装置，并定义复数个测试用例，还包括以下步骤：步骤1，选取一所述测试用例；步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；步骤3，根据选取的测试用例设置一待测试标签读写器的工作参数；步骤4，使所述待测试标签读写器向所述RFID标签发送选择文件命令；步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述待测试标签读写器与所述RFID标签通信过程中的射频信号；步骤6，使所述射频信号分析装置测量并记录所述选择文件命令对应的信号的带内功率；步骤7，根据所述带内功率计算所述待测试标签读写器的最大发射功率；步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤7，直至所有所述测试用例测试完毕。本专利技术的另一方面，所述射频信号分析装置为矢量信号分析仪。本专利技术的另一方面，所述待测试标签读写器的工作频率为2400.00MHz～2483.50MHz。本专利技术的另一方面，所述待测试标签读写器的工作频率范围被划分成16个信道。本专利技术的另一方面，还提供一上位机及一环形器，所述RFID标签连接所述环形器的第一端口，所述射频信号分析装置连接所述环形器的第二端口，所述待测试标签读写器连接所述环形器的第三端口，所述上位机信号连接所述待测试标签读写器。本专利技术的另一方面，所述步骤7中没计算所述待测试标签读写器最大发射功率的方法为，所述待测试标签读写器的最大发射功率等于所述带内功率减去所述射频信号分析装置与所述待测试标签读写器之间的馈线损耗加上所述待测试标签读写器的天线增益。本专利技术的另一方面，所述步骤3中，所述设置待测试标签读写器的调制方式为O-QPSK调制，或DBPSK调制。本专利技术的另一方面，所述所属步骤3中，设置所述待测试标签读写器的码片速率为2Mcps。本专利技术的另一方面，于所述步骤1之前，预先初始化所述RFID标签的文件格式、权限及内容。本专利技术获得了以下有益效果：可对有源UHFRFID标签读写器的最大发射功率进行有效的测试。附图说明图1为本专利技术有源UHFRFID标签读写器最大发射功率的测试设备连接结构示意图；图2为本专利技术有源UHFRFID标签读写器最大发射功率的测试方法的流程框图。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步说明，但不作为本专利技术的限定。本专利技术提供一种有源UHFRFID标签读写器最大发射功率的测试方法，如图1，图2所示，其中，提供一RFID标签1以及一射频信号分析装置2，并定义复数个测试用例，还包括以下步骤：步骤1，选取一所述测试用例；步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置2的参数，使所述射频信号分析装置2工作于相应的信号分析模式；步骤3，根据选取的测试用例设置一待测试标签读写器3的工作参数；步骤4，使所述待测试标签读写器3向所述RFID标签1发送选择文件命令；步骤5，使所述射频信号分析装置2采集所述待测试标签读写器3与所述RFID标签1通信过程中的射频信号；步骤6，使所述射频信号分析装置2测量并记录所述选择文件命令对应的信号的带内功率；步骤7，根据所述带内功率计算所述待测试标签读写器3的最大发射功率；步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤7，直至所有所述测试用例测试完毕。本专利技术的另一方面，所述射频信号分析装置2为矢量信号分析仪。本专利技术的另一方面，所述待测试标签读写器3的工作频率为2400.00MHz～2483.50MHz。本专利技术的另一方面，所述待测试标签读写器3的工作频率范围被划分成16个信道。具体的信道频率范围见表1。表1使本专利技术的另一方面，还提供一上位机4及一环形器5，所述RFID标签1连接所述环形器5的第一端口，所述射频信号分析装置2连接所述环形器5的第二端口，所述待测试标签读写器3连接所述环形器5的第三端口，所述上位机4信号连接所述待测试标签读写器3。该上位机4用以控制待测试标签读写器3的动作。本专利技术的另一方面，所述步骤7中没计算所述待测试标签读写器最大发射功率的方法为，所述待测试标签读写器的最大发射功率等于所述带内功率减去所述射频信号分析装置与所述待测试标签读写器之间的馈线损耗加上所述待测试标签读写器的天线增益。本专利技术的另一方面，所述步骤3中，所述设置待测试标签读写器的调制方式为O-QPSK调制，或DBPSK调制。本专利技术的另一方面，所述所属步骤3中，设置所述待测试标签读写器的码片速率为2Mcps。本专利技术的另一方面，于所述步骤1之前，预先初始化所述RFID标签的文件格式、权限及内容。初始化待测试标签的具体内容，如表2所示。表2以下，以具体实施例来说明本专利技术的可行性。具体来说，在测试开始之前可对待测试标签进行初始化，以便选择文件命令可获得预期的响应内容。在步骤1中，测试用例见表3。信道序号中心工作频率02405.00MHz82445.00MHz152480.00MHz表3上述测试用例中，仅选择16个信道中的第0号信道，第8号信道及第15号信道进行测试。待测试标签读写器的工作频率根据测试用例对应的信号进行设置。并且，在步骤3中，将待测试标签读写器的码片速率设置为2Mcps，调制方式设置为O-QPSK调制或者DBPSK调制。步骤4中，待测试标签读写器以最大发射功率发送选择文件命令，选择文件命令的格式见表4。表4步骤6中，使射频信号分析装置2测量待测试标签读写器发出的选择文件命令的带内功率，并以该带内功率作为待测试标签读写器的端口功率P(dBm)。其中，可以当前测试用例对应的信道的中心频点为中心的5MHz带宽范围内测量带内功率，此时可将射频信号分析装置的频谱分辨率带宽设置为100KHz。步骤7中，计算待测试标签读写器的最大发射功率EIRP的方法为：EIRP＝P-Loss+G其中，Loss(dB)为射频信号分析装置与待测试标签读写器之间的馈线损耗，G(dBi)为待测试标签读写器的天线增益。测试结果的记录格式见表5。表5当待测试标签读写器的天线增益小于10dB本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种有源UHF RFID标签读写器最大发射功率的测试方法，其特征在于，提供一RFID标签以及一射频信号分析装置，并定义复数个测试用例，还包括以下步骤：步骤1，选取一所述测试用例；步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；步骤3，根据选取的测试用例设置一待测试标签读写器的工作参数；步骤4，使所述待测试标签读写器向所述RFID标签发送选择文件命令；步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述待测试标签读写器与所述RFID标签通信过程中的射频信号；步骤6，使所述射频信号分析装置测量并记录所述选择文件命令对应的信号的带内功率；步骤7，根据所述带内功率计算所述待测试标签读写器的最大发射功率；步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤7，直至所有所述测试用例测试完毕。

【技术特征摘要】
1.一种有源UHFRFID标签读写器最大发射功率的测试方法，其特征在于，提供一RFID标签以及一射频信号分析装置，并定义复数个测试用例，还包括以下步骤：步骤1，选取一所述测试用例；步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；步骤3，根据选取的测试用例设置一待测试标签读写器的工作参数；步骤4，使所述待测试标签读写器向所述RFID标签发送选择文件命令；步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述待测试标签读写器与所述RFID标签通信过程中的射频信号；步骤6，使所述射频信号分析装置测量并记录所述选择文件命令对应的信号的带内功率；步骤7，根据所述带内功率计算所述待测试标签读写器的最大发射功率；步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤7，直至所有所述测试用例测试完毕。2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述射频信号分析装置为矢量信号分析仪。3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述待测试标签读写器的工作频率为2400.00MHz～2483.50MHz。4...

【专利技术属性】
技术研发人员：冀京秋，方坚，蒋亦青，余舒浩，
申请(专利权)人：中京复电上海电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31