一种半导体芯片的清洗方法技术

技术编号:17782097 阅读:47 留言:0更新日期:2018-04-22 12:05
本发明专利技术涉及半导体工艺领域,提供一种半导体芯片的清洗方法,包括:将所述待清洗的芯片置放于有机溶剂中进行有机溶剂清洗,以去除杂质,所述有机溶剂清洗过程中,加载有超声波;对芯片进行热处理,以使有机溶剂残留物挥发;热处理后冷却;加水至沸腾,水蒸汽上升,在接触到冷状态下的需要被清洗的组件时,蒸汽冷凝在组件表面,凝结成液态下滑的同时带下组件表面的污染物和残留物,落回到加热槽,之后水再被加热气化上升与冷组件进行接触变成液体滴下,以此循环直至芯片清洗干净为止。本发明专利技术能够有效彻底清洗芯片表面。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体芯片的清洗方法
本专利技术涉及半导体工艺领域,尤其涉及一种半导体芯片的清洗方法。
技术介绍
由于科技的日新月异,半导体芯片已愈朝微小化加以发展,而芯片多半是具有不同的功效的电子组件,这些电子组件通常是使用焊锡加以焊接在设有电子回路的基板上,这样可使电子组件正常的运作,然而由于电子组件的微小化,芯片生产过程中产生的杂质会严重影响芯片的质量。因此,去除芯片生产过程中的杂质就是十分必要的。
技术实现思路
本专利技术针对上述问题,提出一种半导体芯片的清洗方法,能够有效彻底清洗芯片表面的杂质,提高了芯片的质量,提高了成品率。本专利技术提供了一种半导体芯片的清洗方法,包括以下步骤:将所述待清洗的芯片置放于有机溶剂中进行有机溶剂清洗,以去除杂质,所述有机溶剂清洗过程中,加载有超声波;对芯片进行热处理,以使有机溶剂残留物挥发;热处理后冷却;加水至沸腾,水蒸汽上升,在接触到冷状态下的需要被清洗的组件时,蒸汽冷凝在组件表面,凝结成液态下滑的同时带下组件表面的污染物和残留物,落回到加热槽,之后水再被加热气化上升与冷组件进行接触变成液体滴下,以此循环直至芯片清洗干净为止。进一步的,还包括对芯片进行干燥处理。进一步的,所述有机溶剂是胺碱。进一步的,有机溶剂清洗过程中,有机溶剂的温度范围为50℃~80℃。进一步的,有机溶剂清洗过程中,待清洗的芯片在有机溶剂中清洗时间为5-30分钟。本专利技术提供的一种半导体芯片的清洗方法,方法简单易行,能够有效彻底清洗芯片表面的杂质,提高了芯片的质量,提高了成品率,大大的降低了生产成本。具体实施方式为使本专利技术解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚,下面结合实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术,而非对本专利技术的限定。实施例1一种半导体芯片的清洗方法,包括以下步骤:将所述待清洗的芯片置放于有机溶剂中进行有机溶剂清洗,以去除杂质,所述有机溶剂清洗过程中,加载有超声波;对芯片进行热处理,以使有机溶剂残留物挥发;热处理后冷却;加水至沸腾,水蒸汽上升,在接触到冷状态下的需要被清洗的组件时,蒸汽冷凝在组件表面,凝结成液态下滑的同时带下组件表面的污染物和残留物,落回到加热槽,之后水再被加热气化上升与冷组件进行接触变成液体滴下,以此循环直至芯片清洗干净为止。进一步的,还包括对芯片进行干燥处理。进一步的,所述有机溶剂是胺碱EKC270/265。进一步的,有机溶剂清洗过程中,有机溶剂的温度范围为55℃。进一步的,有机溶剂清洗过程中,待清洗的芯片在有机溶剂中清洗时间为20分钟。实施例2一种半导体芯片的清洗方法,包括以下步骤:将所述待清洗的芯片置放于有机溶剂中进行有机溶剂清洗,以去除杂质,所述有机溶剂清洗过程中,加载有超声波;对芯片进行热处理,以使有机溶剂残留物挥发;热处理后冷却;加水至沸腾,水蒸汽上升,在接触到冷状态下的需要被清洗的组件时,蒸汽冷凝在组件表面,凝结成液态下滑的同时带下组件表面的污染物和残留物,落回到加热槽,之后水再被加热气化上升与冷组件进行接触变成液体滴下,以此循环直至芯片清洗干净为止。进一步的,还包括对芯片进行干燥处理。进一步的,所述有机溶剂是胺碱ACT940。进一步的,有机溶剂清洗过程中,有机溶剂的温度范围为70℃。进一步的,有机溶剂清洗过程中,待清洗的芯片在有机溶剂中清洗时间为15分钟。最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本专利技术的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本专利技术进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换,并不使相应技术方案的本质脱离本专利技术各实施例技术方案的范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体芯片清洗方法,其特征在于,包括以下步骤:将所述待清洗的芯片置放于有机溶剂中进行有机溶剂清洗,以去除杂质,所述有机溶剂清洗过程中,加载有超声波;对芯片进行热处理,以使有机溶剂残留物挥发;热处理后冷却;加水至沸腾,水蒸汽上升,在接触到冷状态下的需要被清洗的组件时,蒸汽冷凝在组件表面,凝结成液态下滑的同时带下组件表面的污染物和残留物,落回到加热槽,之后水再被加热气化上升与冷组件进行接触变成液体滴下,以此循环直至芯片清洗干净为止。

【技术特征摘要】
1.一种半导体芯片清洗方法,其特征在于,包括以下步骤:将所述待清洗的芯片置放于有机溶剂中进行有机溶剂清洗,以去除杂质,所述有机溶剂清洗过程中,加载有超声波;对芯片进行热处理,以使有机溶剂残留物挥发;热处理后冷却;加水至沸腾,水蒸汽上升,在接触到冷状态下的需要被清洗的组件时,蒸汽冷凝在组件表面,凝结成液态下滑的同时带下组件表面的污染物和残留物,落回到加热槽,之后水再被加热气化上升与冷组件进行接触变成液体滴下,以此循环直...

【专利技术属性】
技术研发人员:孙兴宁
申请(专利权)人:奕铭大连科技发展有限公司
类型:发明
国别省市:辽宁,21

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