本发明专利技术公开了一种有源UHF RFID标签读写器扩频序列的测试方法,其中,包括使待测试标签读写器向RFID标签发送更新透明文件命令;解调解扩射频信号,并验证解调解扩后获得的命令是否与待测试标签读写器发送的命令一致;根据解调解扩后获得的命令,记录待测试标签读写器的码片速率测量值;根据码片速率测量值计算待测试标签读写器的码片速率准确度。本发明专利技术获得了以下有益效果:可对有源UHF RFID标签读写器的扩频序列及码片速率的准确度进行有效的测试。
【技术实现步骤摘要】
一种有源UHFRFID标签读写器扩频序列的测试方法
本专利技术涉及射频标签
,尤其涉及一种有源UHFRFID标签读写器扩频序列的测试方法。
技术介绍
射频识别技术是二十世纪九十年代兴起的一种无线的、非接触方式的自动识别技术,是近几年发展起来的前沿科技项目。该技术主要是利用射频信号通过空间耦合实现无接触信息传递并通过所传递的信息达到识别目的。射频识别技术的显著优点在于非接触性,因此完成识别工作时无需人工干预,能够实现识别自动化且不易损坏;可识别高速运动的射频标签,也可同时识别多个射频标签,操作快捷方便;射频标签不怕油渍、灰尘污染等恶劣环境,且可以穿透非金属物体进行识别,抗干扰能力强。现有的射频标签技术中,有源UHFRFID(特高频射频标签)被广泛的应用于物联网中,然而,由于目前缺少对有源UHFRFID的测试设备和测试方法,使得各种工作指标不统一的有源UHFRFID被混合使用,造成物联网或者相应的使用环境工作不稳定。
技术实现思路
针对现有技术中存在的上述问题,现提供一种有源UHFRFID标签读写器扩频序列的测试方法。为实现上述目的,本专利技术采用了如下的技术方案:一种有源UHFRFID标签读写器扩频序列的测试方法,其中,提供一RFID标签以及一射频信号分析装置,并定义复数个测试用例,还包括以下步骤:步骤1,选取一所述测试用例;步骤2,根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数,使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式;步骤3,根据选取的测试用例设置一待测试标签读写器的工作参数;步骤4,使所述待测试标签读写器向所述RFID标签发送更新透明文件命令;步骤5,使所述射频信号分析装置采集所述待测试标签读写器与所述RFID标签通信过程中的射频信号;步骤6,解调解扩所述射频信号,并验证解调解扩后获得的命令是否与所述待测试标签读写器发送的命令一致;步骤7,根据解调解扩后获得的命令,记录待测试标签读写器的码片速率测量值;步骤8,根据所述码片速率测量值计算所述待测试标签读写器的码片速率准确度;步骤9,选取下一测试用例,并重复所述步骤2至所述步骤8,直至所有所述测试用例测试完毕。本专利技术的另一方面,所述射频信号分析装置为矢量信号分析仪。本专利技术的另一方面,所述待测试标签读写器的工作频率为2400.00MHz~2483.50MHz。本专利技术的另一方面,所述待测试标签读写器的工作频率范围被划分成16个信道。本专利技术的另一方面,还提供一上位机及一环形器,所述RFID标签连接所述环形器的第一端口,所述射频信号分析装置连接所述环形器的第二端口,所述待测试标签读写器连接所述环形器的第三端口,所述上位机信号连接所述待测试标签读写器。本专利技术的另一方面,所述步骤8中,计算所述待测试标签读写器的码片速率准确度的方法为,所述待测试标签读写器的码片速率准确度等于所述待测试标签读写器的码片速率测量值减去所述待测试标签读写器的码片速率标称值之差的绝对值除以所述待测试标签读写器的码片速率标称值后乘以10的负6次方。本专利技术的另一方面,所述待测试标签读写器工作在第0号信道中,中心频率为2405.00MHz。本专利技术的另一方面,于所述步骤1之前,预先初始化所述RFID标签的文件格式、权限及内容。本专利技术获得了以下有益效果:可对有源UHFRFID标签读写器的扩频序列及码片速率的准确度进行有效的测试。附图说明图1为本专利技术有源UHFRFID标签读写器扩频序列的测试设备连接结构示意图;图2为本专利技术有源UHFRFID标签读写器扩频序列的测试方法的流程框图。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步说明,但不作为本专利技术的限定。一种有源UHFRFID标签读写器扩频序列的测试方法,如图1所示,其中,提供一RFID标签1以及一射频信号分析装置2,并定义复数个测试用例,还包括以下步骤:步骤1,选取一所述测试用例;步骤2,根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置2的参数,使所述射频信号分析装置2工作于相应的信号分析模式;步骤3,根据选取的测试用例设置一待测试标签读写器3的工作参数;步骤4,使所述待测试标签读写器3向所述RFID标签1发送更新透明文件命令;步骤5,使所述射频信号分析装置2采集所述待测试标签读写器3与所述RFID标签1通信过程中的射频信号;步骤6,解调解扩所述射频信号,并验证解调解扩后获得的命令是否与所述待测试标签读写器3发送的命令一致;步骤7,根据解调解扩后获得的命令,记录待测试标签读写器3的码片速率测量值;步骤8,根据所述码片速率测量值计算所述待测试标签读写器3的码片速率准确度;步骤9,选取下一测试用例,并重复所述步骤2至所述步骤8,直至所有所述测试用例测试完毕。本专利技术的另一方面,所述射频信号分析装置2为矢量信号分析仪。本专利技术的另一方面,所述待测试标签读写器3的工作频率为2400.00MHz~2483.50MHz。本专利技术的另一方面,所述待测试标签读写器3的工作频率范围被划分成16个信道。本专利技术的另一方面,如图2所示,还提供一上位机4及一环形器5,所述RFID标签1连接所述环形器5的第一端口,所述射频信号分析装置2连接所述环形器5的第二端口,所述待测试标签读写器3连接所述环形器5的第三端口,所述上位机4信号连接所述待测试标签读写器3。该上位机4的作用是控制待测试标签读写器的动作。本专利技术的另一方面,所述步骤8中,计算所述待测试标签读写器3的码片速率准确度的方法为,所述待测试标签读写器3的码片速率准确度等于所述待测试标签读写器3的码片速率测量值减去所述待测试标签读写器3的码片速率标称值之差的绝对值除以所述待测试标签读写器3的码片速率标称值后乘以10的负6次方。本专利技术的另一方面,所述待测试标签读写器3工作在第0号信道中,中心频率为2405.00MHz。本专利技术的另一方面,于所述步骤1之前,预先初始化所述RFID标签的文件格式、权限及内容。以下,已具体实施例来说明本专利技术的可行性。具体来说,在测试开始之前可对待测试标签进行初始化,以便选择文件命令可获得预期的响应内容。初始化待测试标签的具体内容,如表1所示。表1在步骤1中,如采用O-QPSK调制,则测试用例见表2。表2如采用DBPSK调制则测试用例见表3。表3步骤3中可将待测试标签读写器的工作信道设置为0号信道,中心频率为为2405.00MHz。调制方式可设置为O-QPSK调制或者DBPSK调制。步骤4中,更新透明文件命令的格式见表4。表4步骤6中,根据调制方式,对照上述测试用例验证解调解扩后的命令是否与发送的命令一致。步骤7中,可将待测试标签读写器的码片速率测量值记为C,待测试标签读写器的码片速率标称值则记为C0。步骤8中,计算码片速率准确度AC的方法为:AC=|C-C0|*10-6/C0待测试标签读写器如支持32位准正交扩频序列,码片速率标称值为2Mcps时,码片速率准确度在±10ppm之内,则测试通过,否则测试失败。以上所述仅为本专利技术较佳的实施例,并非因此限制本专利技术的实施方式及保护范围,对于本领域技术人员而言,应当能够意识到凡运用本专利技术说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案,均应当包含在本专利技术的保护范围内。本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种有源UHF RFID标签读写器扩频序列的测试方法,其特征在于,提供一RFID标签以及一射频信号分析装置,并定义复数个测试用例,还包括以下步骤:步骤1,选取一所述测试用例;步骤2,根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数,使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式;步骤3,根据选取的测试用例设置一待测试标签读写器的工作参数;步骤4,是所述待测试标签读写器向所述RFID标签发送更新透明文件命令;步骤5,使所述射频信号分析装置采集所述待测试标签读写器与所述RFID标签通信过程中的射频信号;步骤6,解调解扩所述射频信号,并验证解调解扩后获得的命令是否与所述待测试标签读写器发送的命令一致;步骤7,根据解调解扩后获得的命令,记录待测试标签读写器的码片速率测量值;步骤8,根据所述码片速率测量值计算所述待测试标签读写器的码片速率准确度;步骤9,选取下一测试用例,并重复所述步骤2至所述步骤9,直至所有所述测试用例测试完毕。
【技术特征摘要】
1.一种有源UHFRFID标签读写器扩频序列的测试方法,其特征在于,提供一RFID标签以及一射频信号分析装置,并定义复数个测试用例,还包括以下步骤:步骤1,选取一所述测试用例;步骤2,根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数,使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式;步骤3,根据选取的测试用例设置一待测试标签读写器的工作参数;步骤4,是所述待测试标签读写器向所述RFID标签发送更新透明文件命令;步骤5,使所述射频信号分析装置采集所述待测试标签读写器与所述RFID标签通信过程中的射频信号;步骤6,解调解扩所述射频信号,并验证解调解扩后获得的命令是否与所述待测试标签读写器发送的命令一致;步骤7,根据解调解扩后获得的命令,记录待测试标签读写器的码片速率测量值;步骤8,根据所述码片速率测量值计算所述待测试标签读写器的码片速率准确度;步骤9,选取下一测试用例,并重复所述步骤2至所述步骤9,直至所有所述测试用例测试完毕。2.如权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述射频信号分析装置为矢量信号分析仪。3.如权利要求1所述的测试方法,其...
【专利技术属性】
技术研发人员:冀京秋,蒋亦青,余舒浩,邱落,
申请(专利权)人:中京复电上海电子科技有限公司,
类型:发明
国别省市:上海,31
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