一种无源UHF RFID标签状态转换测试方法技术

本发明专利技术公开了一种无源UHF RFID标签状态转换测试方法，其中，包括，选取一所述测试用例；根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；使所述RFID标签读写器向一待测试标签循环发送至少四组指令；使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试标签通信过程中的射频信号；分析采集到的所述射频信号，检查所述待测试标签是否正确响应所述指令；选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤6，直至所有所述测试用例测试完毕。本发明专利技术获得了以下有益效果：可对无源UHF RFID标签状态转换进行有效的测试。

【技术实现步骤摘要】
一种无源UHFRFID标签状态转换测试方法
本专利技术涉及射频标签
，尤其涉及一种无源UHFRFID标签状态转换测试方法。
技术介绍
射频识别技术是二十世纪九十年代兴起的一种无线的、非接触方式的自动识别技术，是近几年发展起来的前沿科技项目。该技术主要是利用射频信号通过空间耦合实现无接触信息传递并通过所传递的信息达到识别目的。射频识别技术的显著优点在于非接触性，因此完成识别工作时无需人工干预，能够实现识别自动化且不易损坏；可识别高速运动的射频标签，也可同时识别多个射频标签，操作快捷方便；射频标签不怕油渍、灰尘污染等恶劣环境，且可以穿透非金属物体进行识别，抗干扰能力强。现有的射频标签技术中，无源UHFRFID(特高频射频标签)被广泛的应用于物联网中，然而，由于目前缺少对无源UHFRFID的测试设备和测试方法，使得各种工作指标不统一的无源UHFRFID被混合使用，造成物联网或者相应的使用环境工作不稳定。
技术实现思路
针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种无源UHFRFID标签状态转换测试方法。为实现上述目的，本专利技术采用了如下的技术方案：一种无源UHFRFID标签状态转换测试方法，其中，提供一RFID标签读写器以及一射频信号分析装置，并定义复数个测试用例，还包括以下步骤：步骤1，选取一所述测试用例；步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；步骤4，使所述RFID标签读写器向一待测试标签循环发送至少四组指令；步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试标签通信过程中的射频信号；步骤6，分析采集到的所述射频信号，检查所述待测试标签是否正确响应所述指令；步骤7，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤6，直至所有所述测试用例测试完毕。本专利技术的另一方面，所述射频信号分析装置为频谱分析仪。本专利技术的另一方面，所述RFID标签读写器的工作频率为840MHz～845MHz和/或920MHz～925MHz。本专利技术的另一方面，当所述RFID标签读写器的工作频率为840MHz～845MHz时，所述RFID标签读写器的工作信道为20个，每个所述工作信道的的带宽为250kHz，每个所述工作信道的中心频点为840.125MHz+0.25nMHz，n为0-19的整数。本专利技术的另一方面，当所述RFID标签读写器的工作频率为920MHz～925MHz时，所述RFID标签读写器的工作信道为20个，每个所述工作信道的的带宽为250kHz，每个所述工作信道的中心频点为920.125MHz+0.25nMHz，n为0-19的整数。本专利技术的另一方面，所述步骤4中，所述至少四组指令的第一组指令为顺序发送上电命令，启动查询命令，超时100Tpri，编码获取命令，收缩命令，下电命令。本专利技术的另一方面，所述步骤4中，所述至少四组指令的第二组指令为顺序发送上电命令，启动查询命令，编码获取命令，下电命令。本专利技术的另一方面，所述步骤4中，所述至少四组指令的第三组指令为顺序发送上电命令，启动查询命令，编码获取命令，第一次随机数获取命令，第一次访问命令，第二次随机数获取命令，第二次访问命令，写入命令，下电命令。本专利技术的另一方面，所述步骤4中，所述至少四组指令的第四组指令为顺序发送上电命令，第一次启动查询命令，编码获取命令，第一次随机数获取命令，第一次访问命令，第二次随机数获取命令，第二次访问命令，灭活命令，第二次启动查询命令，下电命令。本专利技术的另一方面，所述步骤6中，判断所述待测试标签是否正确响应所述指令的方法为，所述第一组指令通信期间：所述待测试标签接收到所述启动查询命令后正确返回响应数据包，为准备到应答状态转换测试通过，否则测试失败，所述待测试标签接收到所述编码获取命令后未发射响应数据包，接收到收缩命令后返回正确响应数据包，为应答到仲裁状态转换测试通过，否则为应答到仲裁状态转换测试失败；所述第二组指令通信期间：所述待测试标签接收到所述编码获取命令后正确返回响应数据包，为应答到开放状态转换测试通过，否则为应答到开放状态转换测试失败；所述第三组指令通信期间：所述待测试标签在收到所述第二次访问命令后返回操作成功数据包，并在在接收到所述写入命令后返回存储区溢出数据包，为开放到安全状态转换测试通过，否则为开放到安全状态转换测试失败；所述第四组指令通信期间：所述待测试标签接收到所述灭活指令后返回操作成功数据包，并在接收到所述第二次启动查询命令后无响应数据包返回，为安全到灭活状态转换测试通过，否则为安全到灭活状态转换测试失败；所述准备到应答状态转换，应答到开放状态转换，开放到安全状态转换，安全到灭活状态转换，测试均通过，则当前测试用例测试通过，否则测试失败。本专利技术获得了以下有益效果：可对无源UHFRFID标签状态转换进行有效的测试。附图说明图1为本专利技术无源UHFRFID标签状态转换测试方法的测试设备连接结构示意图；图2为本专利技术无源UHFRFID标签状态转换测试方法的流程框图。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步说明，但不作为本专利技术的限定。本专利技术提供一种无源UHFRFID标签状态转换测试方法，如图2所示，其中，提供一RFID标签读写器2以及一射频信号分析装置1，并定义复数个测试用例，还包括以下步骤：步骤1，选取一所述测试用例；步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器2参数；步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置1参数，使所述射频信号分析装置1工作于相应的信号分析模式；步骤4，使所述RFID标签读写器2向一待测试标签5循环发送至少四组指令；步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器2与所述待测试标签5通信过程中的射频信号；步骤6，分析采集到的所述射频信号，检查所述待测试标签是否正确响应所述指令；步骤7，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤6，直至所有所述测试用例测试完毕。上述技术方案中，所述RFID标签读写器2，射频信号分析装置1，及待测试标签5的连接方式如图1所示，其中，所述射频信号分析装置1的输入接口及所述RFID标签读写器2通过馈线分别连接一功分器3的输出接口，该功分器3的输入接口通过馈线连接一环形器4的第一端口，所述RFID标签读写器2还通过馈线连接该环形器4的第二端口，该环形器4的第三端口通过馈线连接待测试标签5。本专利技术的另一方面，所述射频信号分析装置为频谱分析仪。本专利技术的另一方面，所述RFID标签读写器的工作频率为840MHz～845MHz和/或920MHz～925MHz。本专利技术的另一方面，当所述RFID标签读写器的工作频率为840MHz～845MHz时，所述RFID标签读写器的工作信道为20个，每个所述工作信道的的带宽为250kHz，每个所述工作信道的中心频点为840.125MHz+0.25nMHz，n为0-19的整数。本专利技术的另一方面，当所述RFID标签读写器的工作频率为920MHz～925MHz时，所述RFID标签读写器的工作信道为20个，每个所述工作信道的的带宽为250kHz，每个所述工作信道的中心频点为920.125MHz+0本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种无源UHF RFID标签状态转换测试方法，其特征在于，提供一RFID标签读写器以及一射频信号分析装置，并定义复数个测试用例，还包括以下步骤：步骤1，选取一所述测试用例；步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；步骤4，使所述RFID标签读写器向一待测试标签循环发送至少四组指令；步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试标签通信过程中的射频信号；步骤6，分析采集到的所述射频信号，检查所述待测试标签是否正确响应所述指令；步骤7，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤6，直至所有所述测试用例测试完毕。

【技术特征摘要】
1.一种无源UHFRFID标签状态转换测试方法，其特征在于，提供一RFID标签读写器以及一射频信号分析装置，并定义复数个测试用例，还包括以下步骤：步骤1，选取一所述测试用例；步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；步骤4，使所述RFID标签读写器向一待测试标签循环发送至少四组指令；步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试标签通信过程中的射频信号；步骤6，分析采集到的所述射频信号，检查所述待测试标签是否正确响应所述指令；步骤7，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤6，直至所有所述测试用例测试完毕。2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述射频信号分析装置为频谱分析仪。3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述RFID标签读写器的工作频率为840MHz～845MHz和/或920MHz～925MHz。4.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，当所述RFID标签读写器的工作频率为840MHz～845MHz时，所述RFID标签读写器的工作信道为20个，每个所述工作信道的的带宽为250kHz，每个所述工作信道的中心频点为840.125MHz+0.25nMHz，n为0-19的整数。5.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，当所述RFID标签读写器的工作频率为920MHz～925MHz时，所述RFID标签读写器的工作信道为20个，每个所述工作信道的的带宽为250kHz，每个所述工作信道的中心频点为920.125MHz+0.25nMHz，n为0-19的整数。6.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述步骤4中，所述至少四组指令的第一组指令为顺序发送上电命令，启动查询命令，超时100Tpri，编码获取命令，收缩命令，下电命令。7.如权利要求6所述的测试方法，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：冀京秋，方坚，
申请(专利权)人：中京复电上海电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31