【技术实现步骤摘要】
基于自动菊花链的单环JTAG背板测试总线电路
本公开涉及背板测试总线领域,尤其涉及一种基于自动菊花链的单环JTAG背板测试总线电路。
技术介绍
联合测试行动组(JTAG,JointTestActionGroup,也称作IEEE1149.1边界扫描测试标准)是一种用来进行复杂IC(IntegratedCircuit)与电路板的特性测试的工业标准方法。支持JTAG标准的IC与电路板都具备支持JTAG测试的4条串行总线(第5条线为可选的复位线),分别为TDI(测试数据输入)、TDO(测试数据输出)、TMS(测试模式选择)与TCK(测试时钟输入)。该总线主要支持对焊点、电路板过孔、短路和开路等连接进行结构测试。JTAG不但支持结构测试,还是一种用于在系统级实现配置、编程以及混合信号测试的标准方法。而在系统集成过程中,会出现许多问题,如:连接器故障、单板放错槽位、单板遗漏等。因此,系统级边界扫描(JTAG)测试技术的研究和开发,能满足工业界的迫切需求,具有十分现实的意义。系统级电子学系统中,往往会包括一块背板和多块插板,借助于JTAG背板测试总线,可以一次实现同时对多块插板的测试和配置,极大地提高了工作效率。目前通用的系统级JTAG背板测试总线主要有以下三种结构。第一种是单环结构,也即菊花链结构。如图1所示,只使用一条路径,一个接口,就将所有插板连在一起。单环结构的优点:1、实现方式简单,只有一条扫描链路,无需增加额外的芯片成本;2、兼容各种厂家的的JTAG控制器和相关软件,节约了测试成本;3、可实现一次对多块插板的配置和测试,提高了测试工作效率。单环结构的缺点:1 ...
【技术保护点】
基于自动菊花链的单环JTAG背板测试总线电路,包括:背板,背板上设置的多个板槽,每个板槽配备有自动菊花链电路;所述每个板槽均包含标准的TCK、TMS、TDI、TDO四线JTAG测试总线接口,用于对插到该板槽的插板进行JTAG测试,第一板槽用于接入JTAG控制器,依次将其它板槽的JTAG测试总线接口串在一起,最后又连回第一板槽,形成一个单环的JTAG链路;所述自动菊花链电路在正常情况下将其所对应板槽的TCK、TMS、TDO信号进行驱动缓冲后,分别送给相邻的下一个板槽的TCK、TMS、TDI引脚;所述自动菊花链电路检测到未插插板或者所插插板不兼容JTAG时,将其所对应板槽的TCK、TMS、TDI信号进行驱动缓冲后,分别送给相邻的下一个板槽的TCK、TMS、TDI引脚,该板槽的JTAG接口被旁路,以保持JTAG链路的连通性;最后一个板槽的TCK和TMS信号不连回第一板槽。
【技术特征摘要】
1.基于自动菊花链的单环JTAG背板测试总线电路,包括:背板,背板上设置的多个板槽,每个板槽配备有自动菊花链电路;所述每个板槽均包含标准的TCK、TMS、TDI、TDO四线JTAG测试总线接口,用于对插到该板槽的插板进行JTAG测试,第一板槽用于接入JTAG控制器,依次将其它板槽的JTAG测试总线接口串在一起,最后又连回第一板槽,形成一个单环的JTAG链路;所述自动菊花链电路在正常情况下将其所对应板槽的TCK、TMS、TDO信号进行驱动缓冲后,分别送给相邻的下一个板槽的TCK、TMS、TDI引脚;所述自动菊花链电路检测到未插插板或者所插插板不兼容JTAG时,将其所对应板槽的TCK、TMS、TDI信号进行驱动缓冲后,分别送给相邻的下一个板槽的TCK、TMS、TDI引脚,该板槽的JTAG接口被旁路,以保持JTAG链路的连通性;最后一个板槽的TCK和TMS信号不连回第一板槽。2.如权利要求1所述的单环JTAG背板测试总线电路,所述自动菊花链电路包括无效电平检测模块、手动旁路模块和选择模块;每个板槽的TDO信号作为第一电平信号输入所述无效电平检测模块的输入端,无效电平检测模块检测第一电平信号,输出第二电平信号;当有插板插入板槽时,TDO信号被所述插板上的低阻信号源驱动,第一电平信号为有效逻辑电平,第二电平信号为低电平;当没有插板插入所述板槽时,TDO信号被悬空,第一电平信号被无效电平检测模块的输入端偏置在无效逻辑电平,第二电平信号为高电平;所述手动旁路模块接收第二电平信号并输出第三电平信号,当按键或者跳线帽为手动旁路状态时,第三电平信号为高电平;当按键或者跳线帽为自动旁路状态时,第三电平信号与第二电平信号相等;所述选择模块的控制端与所述第三电平信号相连;当第三电平信号为低电平时,将该自动菊花链电路所对应板槽的TCK、TMS、TDO信号进行驱动缓冲后,分别送给相邻的下一个板槽的TCK、TMS、TDI引脚;当第三电平信号为高电平时,则将该自动菊花链所对应板槽的TCK、TMS、TDI信号进行驱动缓冲后,分别送给相邻的下一个板槽的TCK、TMS、TDI引脚。3.如权利要求2所述的单环JTAG背板测试总线电路,所述无效电平检测模块采用窗口比较器电路实现。4.如权利要求3所述的单环JTAG背板测试总线电路,所述窗口比较器电路包括输入分压与偏置电路、双比较器电路和输出滤波电路;所述输入分压与偏置电路包括基准电压源、以及其输出端依次串接的第一分压电阻、第二分...
【专利技术属性】
技术研发人员:江晓,胡意,李蔚,潘建伟,
申请(专利权)人:中国科学技术大学,
类型:发明
国别省市:安徽,34
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