一种电容检测仪制造技术

本发明专利技术公开了一种电容检测仪，包括电源、多谐振荡模块、显示模块和检测模块；所述电源分别与所述多谐振荡模块、所述显示模块、所述检测模块连接；所述多谐振荡模块与所述检测模块连接；所述检测模块与所述显示模块连接；所述检测模块包括待测电容CX、合格电容允许的上限值电容CM、合格电容允许的下限值电容CN。本发明专利技术通过检测模块设置的待测电容以及确定检测范围的电容能够实现待测电容的精准检测，尤其是生产线上同样电容的批量检测，效率更高，支持热插拔，可以作为生产线上的电容检测环节，筛选出合格电容；对于不合格电容亦能够检测出更详细的故障原因，便于针对性改进，降低成本，提高生产效率。

【技术实现步骤摘要】
一种电容检测仪
本专利技术涉及到电容检测领域，尤其涉及到一种电容检测仪。
技术介绍
电容是由两块金属电极之间夹一层绝缘电介质构成。电容容量的检测是判断电容是否符合标准的重要途径，但是目前对于电容的检测大多不够精准和高效，尤其是批量检测方面效率低下。因此，现有技术存在缺陷，需要改进。
技术实现思路
本专利技术提供一种电容检测仪,解决的电容的检测大多不够精准和高效，尤其是批量检测方面效率低下问题。为解决上述问题，本专利技术提供的技术方案如下：一种电容检测仪，包括电源、多谐振荡模块、显示模块和检测模块；所述电源分别与所述多谐振荡模块、所述显示模块、所述检测模块连接；所述多谐振荡模块与所述检测模块连接；所述检测模块与所述显示模块连接；所述检测模块包括待测电容CX、合格电容允许的上限值电容CM、合格电容允许的下限值电容CN。优选的技术方案，所述多谐振荡模块包括集成电路IC1、电容C1、电容C2、电阻R1、电阻R2和二极管D1；所述集成电路IC1的第3管脚经所述电容C1发出的耦合信号作为所述检测模块的触发控制信号；所述集成电路IC1为555芯片。优选的技术方案，所述检测模块还包括集成电路IC2、IC3、IC4、电阻R3、R4、R5、门电路1、门电路3、门电路4、门电路5、门电路6和门电路7；所述电容CX处于所述电容CM与所述电容CN之间时，所述门电路6、所述门电路7的输出均为高电平；所述电容CX大于所述电容CM时，所述门电路6输出低电平、所述门电路7的输出高电平；所述电容CX小于所述电容CN时，所述门电路6输出高电平、所述门电路7的输出低电平。优选的技术方案，所述显示模块包括集成电路IC5、集成电路IC6、电容C3、电容C4、电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9、电阻R10、电阻R11、三极管BG1、三极管BG2、发光二极管LED1和发光二极管LED2；所述电容CX处于所述电容CM与所述电容CN之间时，所述发光二极管LED1、LED2均不亮；所述电容CX大于所述电容CM时，所述发光二极管LED1亮而所述发光二极管LED2不亮。优选的技术方案，所述电源为DC5V。优选的技术方案，所述门电路1、门电路3、门电路4、门电路5均为非门；所述门电路6、门电路7均为与非门。相对于现有技术的有益效果是，采用上述方案，本专利技术通过检测模块设置的待测电容以及确定检测范围的电容能够实现待测电容的精准检测，尤其是生产线上同样电容的批量检测，效率更高，支持热插拔，可以作为生产线上的电容检测环节，筛选出合格电容；对于不合格电容亦能够检测出更详细的故障原因，便于针对性改进，降低成本，提高生产效率。附图说明为了更清楚的说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需使用的附图作简单介绍，显而易见的，下面描述中的附图仅仅是专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术的一种电容检测仪电路原理图。具体实施方式为了便于理解本专利技术，下面结合附图和具体实施例，对本专利技术进行更详细的说明。附图中给出了本专利技术的较佳的实施例。但是，本专利技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本说明书所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本专利技术的公开内容的理解更加透彻全面。需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本说明书所使用的术语“固定”、“一体成型”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，在图中，结构相似的单元是用以相同标号标示。除非另有定义，本说明书所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本说明书中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是用于限制本专利技术。如图1所示，本专利技术的一个实施例是：一种电容检测仪，包括电源、多谐振荡模块、显示模块和检测模块；所述电源分别与所述多谐振荡模块、所述显示模块、所述检测模块连接；所述多谐振荡模块与所述检测模块连接；所述检测模块与所述显示模块连接；所述检测模块包括待测电容CX、合格电容允许的上限值电容CM、合格电容允许的下限值电容CN。进一步地，所述多谐振荡模块包括集成电路IC1、电容C1、电容C2、电阻R1、电阻R2和二极管D1；所述电源分别与所述集成电路IC1的第四管脚、第八管脚、所述电阻R2的第一端、所述二极管D1的负极连接；所述集成电路IC1的第三管脚分别与所述电阻R1的第一端、所述电容C1的第一端连接；所述电容C1的第二端分别与所述电阻的第二端、所述二极管D1的正极连接；所述电阻R1的第二端分别与所述电容C2的第一端、所述集成电路IC1的第二管脚、第六管脚连接；所述集成电路IC1的第1管脚、所述电容C2均接地；所述所述集成电路IC1的第3管脚经所述电容C1发出的耦合信号作为所述检测模块的触发控制信号；所述集成电路IC1为555芯片。进一步地，所述检测模块还包括集成电路IC2、IC3、IC4、电阻R3、R4、R5、门电路1、门电路3、门电路4、门电路5、门电路6和门电路7；所述电容C1的第二端分别与所述集成电路IC2的第二管脚、所述集成电路IC3的第二管脚、所述集成电路IC4的第二管脚连接；所述电容CX的第一端分别与所述集成电路IC4的第六管脚、第七管脚、所述电阻R5的第一端连接；所述电容CX的第二端、所述集成电路IC4的第1管脚均接地；所述电容CX处于所述电容CM与所述电容CN之间时，所述门电路6、所述门电路7的输出均为高电平；所述电容CX大于所述电容CM时，所述门电路6输出低电平、所述门电路7的输出高电平；所述电容CX小于所述电容CN时，所述门电路6输出高电平、所述门电路7的输出低电平。进一步地，所述显示模块包括集成电路IC5、集成电路IC6、电容C3、电容C4、电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9、电阻R10、电阻R11、三极管BG1、三极管BG2、发光二极管LED1和发光二极管LED2；所述电容CX处于所述电容CM与所述电容CN之间时，所述发光二极管LED1、LED2均不亮；所述电容CX大于所述电容CM时，所述发光二极管LED1亮而所述发光二极管LED2不亮。进一步地，所述电源为DC5V。进一步地，所述门电路1、门电路3、门电路4、门电路5均为非门；所述门电路6、门电路7均为与非门。本专利技术的工作原理是：本电路的核心是由555与一些阻容元件构成的多谐振荡器和单稳态触发器。多谐振荡器由集成电路IC1(555)和电阻R1、电容C2等组成，其集成电路IC1第三管脚输出的周期约为1.4秒的脉冲波形作为集成电路IC2、IC3、IC4的触发控制信号。集成电路IC2、IC3、IC4的触发定时脉宽分别取决于充放电时间常数R3CM、R4CN、R5CX，其中CX是待测电容，CM、CN是合格电容的上限和下限值电容，即CM>Cx>CN，且输出的不同脉宽的定时信号在门电路6、7进行比较后触发集成电路IC5、IC6。若与非门6、7均不输出负向脉冲，则集成电路IC5、IC6均为复位状态，其第三管脚输出的低电平本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电容检测仪，包括电源、多谐振荡模块、显示模块和检测模块；所述电源分别与所述多谐振荡模块、所述显示模块、所述检测模块连接；所述多谐振荡模块与所述检测模块连接；所述检测模块与所述显示模块连接；其特征在于，所述检测模块包括待测电容CX、合格电容允许的上限值电容CM、合格电容允许的下限值电容CN。

【技术特征摘要】
1.一种电容检测仪，包括电源、多谐振荡模块、显示模块和检测模块；所述电源分别与所述多谐振荡模块、所述显示模块、所述检测模块连接；所述多谐振荡模块与所述检测模块连接；所述检测模块与所述显示模块连接；其特征在于，所述检测模块包括待测电容CX、合格电容允许的上限值电容CM、合格电容允许的下限值电容CN。2.根据权利要求1所述的电容检测仪，其特征在于，所述多谐振荡模块包括集成电路IC1、电容C1、电容C2、电阻R1、电阻R2和二极管D1；所述集成电路IC1的第3管脚经所述电容C1发出的耦合信号作为所述检测模块的触发控制信号；所述集成电路IC1为555芯片。3.根据权利要求1所述的电容检测仪，其特征在于，所述检测模块还包括集成电路IC2、IC3、IC4、电阻R3、R4、R5、门电路1、门电路3、门电路4、门电路5、门电路6和门电路7；所述电容CX处于所述电容CM与所述电容CN之间时，所述门电路6、所述门电路...

【专利技术属性】
技术研发人员：庞晓柯，
申请(专利权)人：郑州舒柯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41