一种传感器设备低温测试台制造技术

技术编号:17777180 阅读:55 留言:0更新日期:2018-04-22 04:30
本发明专利技术公开了一种传感器设备低温测试台,其特征在于,包括恒温器、综合工装台和预加载装置;所述恒温器内设有一液氦池,所述综合工装台位于所述液氦池内;所述预加载装置包括真空管、传动单元和力加载控制单元,传动单元位于真空管内,力加载控制单元与传动单元连接,力加载控制单元与真空管密封连接,所述真空管通过法兰与所述恒温器的顶部开口密封连接;所述综合工装台的最外层为真空盒,所述真空盒与所述预加载装置的真空管密封连接,所述真空盒内部设有用于安装待测传感器设备的测试工装,所述真空管内的传动单元与所述测试工装连接。本发明专利技术测试成本低、效率高,便于操作,易于实现连续变化温度下低温传感器性能的测量。

【技术实现步骤摘要】
一种传感器设备低温测试台
本专利技术涉及一种传感器设备低温测试台,属于粒子加速器、超导低温

技术介绍
传感器低温测试台是开展超导低温技术和设备研究的重要组成部分,它是一套由多种材料构成的测试平台系统。其设计工作温度一般分为80K、4.2K和2K等几个温度,主要作用是对应用于低温下的传感器性能进行测试,通过低温测试平台模拟低温下传感器的工作状态,分析其性能是否满足实际工作需求,为传感器的实际工程应用提供技术参考;并且可以在此平台上开展新型低温传感器,以及低温材料等的研发测试。近年来超导加速器技术进入了快速的发展阶段,国内外多个大型的超导加速器项目也应运而生,如美国正在建造的直线加速器相干光,多个国家计划联合建造的未来国际直线对撞机、大型环形对撞机,以及将要建造的上海自由电子激光装置等。这些超导加速器工程需要的低温传感器设备数量很大,如超导腔调谐器设备所需要的低温电机、压电陶瓷、压力传感器等,每个工程的需求量都在几百到上千套。这些低温传感器设备的工作性能对整个项目的正式运行都起着很重要的作用,并且在项目设计研制阶段也需要根据物理和功能需求对传感器进行选型、测试,甚至是为项目单独开发所需传感器。低温电机、压电陶瓷、压力传感器的性能需要进行常温、低温、真空,以及不同负载等环境下的长时间测试,看其工作性能、寿命周期等是否满足工程需要。由于低温测试需求多样,而且测试流程复杂,一个传感器需要在不同平台下进行多种测试。为了提高低温传感器的测试效率,压缩测试周期,并且满足测试设备对不同测试环境的需求,要有一套高效率,多功能的传感器低温测试平台。目前国内尚无专门用于超导腔调谐器上所用低温电机、压电陶瓷、压力传感器的低温测试台,国外都是利用各自实验室的超导腔水平测试恒温器,在此恒温器上进行调谐器的总装集成,并进行低温测试,如图1所示为超导腔水平测试恒温器的原理图。此水平测试恒温器主要由恒温器外筒、液氮冷屏、超导腔,以及外部真空泵等几部分组成。超导腔调谐器所用的低温传感器设备:低温电机、压电陶瓷、压力传感器等低温设备与调谐器机械机构组装好后,安装到超导腔的一端。将传感器与组装好的超导腔整体装入恒温器内部,密封接口,分别用真空泵对超导腔和恒温器内部进行抽真空检漏等工作,当真空值满足一定要求后进行降温测试。此方案存在以下缺点和不足:(1)此恒温器体积大,测试需要的液氦量大,增加了测试成本;真空密封接口多,组装复杂;降温和复温需要的周期长。由于此种测试需要将液氦注入超导腔液氦槽内进行降温测试,需要对超导腔、液氦槽、传感器安装固定结构等进行降温,导致测试需要的液氦成本增加,测试周期也比较长,并且降温速率难控制。(2)需要将低温电机、压电陶瓷、压力传感器等集成到一起后才能满足测试时的加载,及监测条件要求,不能对三种低温传感器设备分开单独进行测试;(3)传感器的加载力和位移范围有限:由于传感器的加载力是超导腔作为负载提供的,超导腔的弹性系数一定,并且拉伸量有限,如果拉伸位移过大则会导致超导腔发生塑性变形。以上三点在一定程度上影响了低温电机、压电陶瓷和压力传感器的规模测试,测试成本高,效率低,并且存在一定的设备安全隐患,不利于超导加速器的大规模发展和应用。
技术实现思路
针对现有技术中存在的技术问题,本专利技术的目的在于提供一种传感器设备低温测试台。本专利技术的技术方案为:一种传感器设备低温测试台,其特征在于,包括恒温器、综合工装台和预加载装置;所述恒温器内设有一液氦池,所述综合工装台位于所述液氦池内;所述预加载装置包括真空管、传动单元和力加载控制单元,所述传动单元位于所述真空管内,所述力加载控制单元与所述传动单元连接,所述力加载控制单元与所述真空管密封连接,所述真空管通过法兰与所述恒温器的顶部开口密封连接;所述综合工装台的最外层为真空盒,所述真空盒与所述预加载装置的真空管密封连接,所述真空盒内部设有用于安装待测传感器设备的测试工装,所述真空管内的传动单元与所述测试工装连接。进一步的,所述恒温室的最外层为恒温器的外筒、中间层为液氮冷屏、内层为所述液氦池,三者在顶部密封固定在一起;所述外筒与所述液氮冷屏之间为真空层,所述液氮冷屏与所述液氦池之间为真空层;所述液氮冷屏设有液氦进管和氮气出管,所述液氦池设有液氦进管、氦气出管和真空抽口。进一步的,所述传动单元包括一传动密封轴、滑动板、导轨和位于所述真空管内的螺纹套管、补偿弹簧、压缩套管和螺杆,所述滑动板与所述真空管密封连接;所述传动密封轴安装于所述滑动板上,所述传动密封轴一端与所述力加载控制单元连接、另一端与所述补偿弹簧的上端连接,所述补偿弹簧的下端分别与所述压缩套管、螺杆的一端连接,且所述螺杆位于所述压缩套管内;所述滑动板能够沿所述导轨运动。进一步的,所述测试工装包括主臂和位于所述主臂下方的固定板,所述主臂上表面设有带孔的第一隔热板,所述固定板上表面设有带孔的第二隔热板、下表面设有导热板;所述压缩套管的另一端与所述第一隔热板连接,所述螺杆非接触地穿过所述第一隔热板和所述主臂中心的圆孔,所述螺杆与所述第二隔热板上的锁紧螺母连接;所述主臂一端与所述固定板用柔性铰链连接固定、另一端安装待测传感器设备。进一步的,所述传感器设备包括低温压力传感器、压电陶瓷、低温电机;主臂另一端上设有凹槽,低温传感器一端嵌入凹槽内;压电陶瓷上端通过一螺杆与低温压力传感器连接,压电陶瓷下端与测试工装的副臂表面直接接触,其中副臂位于主臂下方且与主臂平行;低温电机的机体通过电机支架固定在所述固定板上,低温电机的转轴螺杆与副臂一端的转轴螺孔进行连接,副臂另一端通过转轴与所述固定板连接。进一步的,当单独对电机测试时,将压电陶瓷和压力传感器的位置采用钢柱替换;当单独对压电陶瓷进行测试时,电机位置处替换为一固定杆,固定杆一端与副臂的电机丝杠的安装孔固定,另一端与电机固定架固定,保证固定杆垂直,并将压力传感器替换为一尺寸匹配的钢柱;当单独对压力传感器进行标定测试时,将压电陶瓷的位置换成钢柱,电机位置换为固定杆。进一步的,所述真空管的上端为一段波纹管;所述波纹管与所述滑动板密封连接。进一步的,所述导轨的下端与所述法兰连接,所述导轨的上端与所述滑动板之间连接一位移传感器;所述螺纹套管与所述补偿弹簧之间设有一压力传感器。进一步的,所述力加载控制单元包括一步进电机和电机固定架,所述步进电机与所述传动密封轴连接,所述电机固定架安装于所述滑动板上。进一步的,所述真空管位于所述恒温器内的部分的外侧上设有多个隔热层;所述恒温室为竖直恒温室。本专利技术具有的特点包括:(1)缩小测试恒温器体积,并对恒温器结构重新进行设计优化,并且满足在连续变化温度区间内进行传感器性能的测试:将恒温器由卧式改为竖直放置,并对结构尺寸进行优化调整,减小占地空间和面积;在恒温器内部单独增加液氦池,将恒温器外筒、液氮冷屏和液氦池三个部分集成为一体,进一步优化了空间和设备的功能结构,当设备降温时只需向液氦池注液即可,不再需要对超导腔等设备进行降温冷却;恒温器外筒与液氮冷屏、液氦池之间均为隔热真空,既节省了测试液氦的用量,又减小了冷却的质量,降低了测试的成本,并缩短了降温注液和超导腔的复温周期。(2)根据低温电机、压电陶瓷和低温传感器的测试需求,设计一个综合性的测试工装,以及负载本文档来自技高网
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一种传感器设备低温测试台

【技术保护点】
一种传感器设备低温测试台,其特征在于,包括恒温器、综合工装台和预加载装置;所述恒温器内设有一液氦池,所述综合工装台位于所述液氦池内;所述预加载装置包括真空管、传动单元和力加载控制单元,所述传动单元位于所述真空管内,所述力加载控制单元与所述传动单元连接,所述力加载控制单元与所述真空管密封连接,所述真空管通过法兰与所述恒温器的顶部开口密封连接;所述综合工装台的最外层为真空盒,所述真空盒与所述预加载装置的真空管密封连接,所述真空盒内部设有用于安装待测传感器设备的测试工装,所述真空管内的传动单元与所述测试工装连接。

【技术特征摘要】
1.一种传感器设备低温测试台,其特征在于,包括恒温器、综合工装台和预加载装置;所述恒温器内设有一液氦池,所述综合工装台位于所述液氦池内;所述预加载装置包括真空管、传动单元和力加载控制单元,所述传动单元位于所述真空管内,所述力加载控制单元与所述传动单元连接,所述力加载控制单元与所述真空管密封连接,所述真空管通过法兰与所述恒温器的顶部开口密封连接;所述综合工装台的最外层为真空盒,所述真空盒与所述预加载装置的真空管密封连接,所述真空盒内部设有用于安装待测传感器设备的测试工装,所述真空管内的传动单元与所述测试工装连接。2.如权利要求1所述的传感器设备低温测试台,其特征在于,所述恒温室的最外层为恒温器的外筒、中间层为液氮冷屏、内层为所述液氦池,三者在顶部密封固定在一起;所述外筒与所述液氮冷屏之间为真空层,所述液氮冷屏与所述液氦池之间为真空层;所述液氮冷屏设有液氦进管和氮气出管,所述液氦池设有液氦进管、氦气出管和真空抽口。3.如权利要求1或2所述的传感器设备低温测试台,其特征在于,所述传动单元包括一传动密封轴、滑动板、导轨和位于所述真空管内的螺纹套管、补偿弹簧、压缩套管和螺杆,所述滑动板与所述真空管密封连接;所述传动密封轴安装于所述滑动板上,所述传动密封轴一端与所述力加载控制单元连接、另一端与所述补偿弹簧的上端连接,所述补偿弹簧的下端分别与所述压缩套管、螺杆的一端连接,且所述螺杆位于所述压缩套管内;所述滑动板能够沿所述导轨运动。4.如权利要求3所述的传感器设备低温测试台,其特征在于,所述测试工装包括主臂和位于所述主臂下方的固定板,所述主臂上表面设有带孔的第一隔热板,所述固定板上表面设有带孔的第二隔热板、下表面设有导热板;所述压缩套管的另一端与所述第一隔热板连接,所述螺杆非接触地穿过所述第一隔热板和所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:米正辉沙鹏贺斐思翟纪元
申请(专利权)人:中国科学院高能物理研究所
类型:发明
国别省市:北京,11

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