用于测试的光伏组件制造技术

技术编号:17773638 阅读:26 留言:0更新日期:2018-04-22 01:22
本实用新型专利技术公开了一种用于测试的光伏组件,其包括背板、玻璃盖板、第一阻止层、第二阻止层和热熔胶膜;其中,太阳能电池芯片层设置在背板上;玻璃盖板压设在太阳能电池芯片层上远离背板的一侧;第一阻止层环设在太阳能电池芯片层的侧围,热熔胶膜环设在第一阻止层的侧围,第二阻止层环设在热熔胶膜的侧围,且第一阻止层、热熔胶膜和第二阻止层均固定设置在背板和玻璃盖板之间。本实用新型专利技术提供的用于测试的光伏组件,通过热熔胶膜、第一阻止层和第二阻止层实现了对太阳能电池芯片层四周的密封,通过玻璃盖板和背板实现了太阳能电池芯片层上下两侧的密封,从而有效防止了太阳能电池芯片层在衰减测试过程中受外界因素的干扰,保证了测试结果的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
用于测试的光伏组件
本技术涉及太阳能电池
,尤其涉及一种用于测试的光伏组件。
技术介绍
太阳能电池随着使用时间的变长以及环境影响会发生衰减,因此,太阳能电池片需要进行衰减实验测试,从而不断提高太阳能电池片抗衰减的性能。现有衰减实验测试,一般是将太阳能电池片放置在光照或高能量离子辐射的条件下进行测试其衰减情况,但由于测试过程中外界环境因素的影响,比如潮湿的空气、强风、杂质等会对太阳能电池片的性能造成影响,进而导致无法准确获得太阳能电池片的衰减情况。因此,需要研究一种减少外界环境对太阳能电池片影响的封装结构,且该封装结构需要容易拆卸,以便于取出太阳能电池片,或在测试过程中便于进行其他实验。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种用于测试的光伏组件,以解决上述现有技术中的问题,实现太阳能电池片在衰减测试中的密封。本技术提供了一种用于测试的光伏组件,其中,包括:背板;设置在所述背板上的太阳能电池芯片层;玻璃盖板,所述玻璃盖板压设在所述太阳能电池芯片层上远离所述背板的一侧;环绕设置在所述太阳能电池芯片层侧围的第一阻止层;环绕设置在所述第一阻止层侧围的热熔胶膜;环绕设置在所述热熔胶膜侧围的第二阻止层;所述第一阻止层、所述热熔胶膜和所述第二阻止层均固定设置在所述背板和所述玻璃盖板之间。如上所述的用于测试的光伏组件,其中,优选的是,还包括隔离纸,所述隔离纸设置在所述太阳能电池芯片层和所述背板之间,且所述隔离纸的边缘与所述第一阻止层之间保持有距离。如上所述的用于测试的光伏组件,其中,优选的是,所述隔离纸的厚度范围值为0.05mm~1mm,所述热熔胶膜的厚度范围值为0.1mm~0.6mm,所述第一阻止层和所述第二阻止层的厚度范围值均为0.1mm~0.55mm。如上所述的用于测试的光伏组件,其中,优选的是,所述玻璃盖板的厚度范围值为1mm~5mm。如上所述的用于测试的光伏组件,其中,优选的是,所述第一阻止层为丁基胶。如上所述的用于测试的光伏组件,其中,优选的是,所述第二阻止层为丁基胶。如上所述的用于测试的光伏组件,其中,优选的是,所述热熔胶膜的材质为EVA、DNP、PVB或POE中的一种或两种以上的组合。如上所述的用于测试的光伏组件,其中,优选的是,所述太阳能电池芯片层的边缘到所述第一阻止层上靠近所述太阳能电池芯片层一侧的边缘的距离范围值为10mm~200mm。如上所述的用于测试的光伏组件,其中,优选的是,所述第一阻止层和所述第二阻止层的宽度范围值均为5mm~20mm。如上所述的用于测试的光伏组件,其中,优选的是,所述第一阻止层的边缘和所述第二阻止层的对应的边缘之间的距离范围值为10mm~200mm。本技术提供的用于测试的光伏组件,通过热熔胶膜、第一阻止层和第二阻止层实现了对太阳能电池芯片层四周的密封,通过玻璃盖板和背板实现了太阳能电池芯片层上下两侧的密封,由此,最终实现了对太阳能电池芯片层整体的密封,从而有效防止了太阳能电池芯片层在衰减测试过程中受外界因素的干扰,保证了测试结果的可靠性。为了将测试衰减实验后的电池片取出用于后续电池片的实验,只须沿着本申请的光伏组件沿着电池芯片层边缘切开即可取出电池芯片层,又因电池芯片层边缘与第一阻止层上靠近所述太阳能电池芯片层一侧的边缘的距离范围值为10mm~200mm,避免了切开后的电池芯片层粘接有第一阻止层,不用额外处理电池芯片层即可进行后续其他实验。附图说明图1为本技术实施例提供的用于测试的光伏组件的主视图;图2为本技术实施例提供的用于测试的光伏组件的俯视图。附图标记说明:100-背板200-玻璃盖板300-太阳能电池芯片层400-热熔胶膜500-第一阻止层600-第二阻止层700-隔离纸L-距离M-距离具体实施方式下面详细描述本技术的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本技术,而不能解释为对本技术的限制。请同时参照图1和图2,本技术实施例提供了一种用于测试的光伏组件,其包括背板100、玻璃盖板200、第一阻止层500、第二阻止层600和热熔胶膜400;其中,太阳能电池芯片层300设置在背板100上,玻璃盖板200压设在太阳能电池芯片层300上远离背板100的一侧;第一阻止层500环绕设置在太阳能电池芯片层300的侧围,热熔胶膜400环绕设置在第一阻止层500的侧围,第二阻止层600环绕设置在热熔胶膜400的侧围,且第一阻止层500、热熔胶膜400和第二阻止层600均固定设置在背板100和玻璃盖板200之间。在衰减测试前,可以将待测试的太阳能电池芯片层300固定在背板100上,再通过热熔胶膜400、第一阻止层500和第二阻止层600实现对太阳能电池芯片层300的侧围的密封,通过玻璃盖板200和背板100实现太阳能电池芯片层300上下两侧的密封,由此,最终实现了对太阳能电池芯片层300整体的密封,从而有效防止了太阳能电池芯片层300在衰减测试过程中受外界因素的干扰。其中,该用于测试的光伏组件主要通过热熔胶膜400实现对太阳能电池芯片层300周向上的密封,第一阻止层500和第二阻止层600实现对太阳能电池芯片层300的侧围的进一步密封,同时可以阻止热熔胶膜400的流动;而玻璃盖板200具有较好的透光性,可以满足太阳能电池芯片层300接收光照和高能量离子辐射的要求。当衰减测试结束后,可以使用裁切工具将背板100沿太阳能电池芯片层300的边缘裁切开,以将太阳能电池芯片层300取出。需要说明的是,太阳能电池芯片层300可以包含一个电池芯片,也可包含串\并联的多个电池芯片。可以理解的是,太阳能电池芯片层300的形状可以为矩形,在太阳能电池芯片层300的侧围环设第一阻止层500、第二阻止层600以及热熔胶膜400,即可实现对太阳能电池芯片层300四周的密封。进一步地,如图1所示,由于太阳能电池芯片层300上与背板100接触的一面具有电极,为了防止太阳能电池芯片层300与背板100接触后发生漏电的问题,该用于测试的光伏组件还包括隔离纸700,该隔离纸700设置在太阳能电池芯片层300和背板100之间,而为了保证密封效果,隔离纸的边缘与第一阻止层之间保持有距离。需要说明的是,如图1所示,隔离纸700的厚度范围值可以为0.05mm~1mm;而为了便于将热熔胶膜400、第一阻止层500以及第二阻止层600的敷设在背板100和玻璃盖板200之间,同时保证热熔胶膜400、第一阻止层500以及第二阻止层600的密封效果,热熔胶膜400的厚度范围值可以为0.1mm~0.6mm,第一阻止层500和第二阻止层600的厚度范围值可以为0.1mm~0.55mm;其中,由于需要进行衰减测试的太阳能电池芯片层300通常为薄膜太阳能电池使用到的芯片,其厚度一般为0.05mm~0.5mm,故在实际测试中,隔离纸700的厚度可以根据太阳能电池芯片层300的厚度进行选用,以避免太阳能电池芯片层300和隔离纸700叠加后的厚度过大或过小;比如,如果待测太阳能电池芯片层300的厚度为0.5mm,如果隔离纸700也选用0.5mm的厚度,那么太阳能电池芯片本文档来自技高网...
用于测试的光伏组件

【技术保护点】
一种用于测试的光伏组件,其特征在于,包括:背板;设置在所述背板上的太阳能电池芯片层;玻璃盖板,所述玻璃盖板压设在所述太阳能电池芯片层上远离所述背板的一侧;环绕设置在所述太阳能电池芯片层侧围的第一阻止层;环绕设置在所述第一阻止层侧围的热熔胶膜;环绕设置在所述热熔胶膜侧围的第二阻止层;所述第一阻止层、所述热熔胶膜和所述第二阻止层均固定设置在所述背板和所述玻璃盖板之间。

【技术特征摘要】
1.一种用于测试的光伏组件,其特征在于,包括:背板;设置在所述背板上的太阳能电池芯片层;玻璃盖板,所述玻璃盖板压设在所述太阳能电池芯片层上远离所述背板的一侧;环绕设置在所述太阳能电池芯片层侧围的第一阻止层;环绕设置在所述第一阻止层侧围的热熔胶膜;环绕设置在所述热熔胶膜侧围的第二阻止层;所述第一阻止层、所述热熔胶膜和所述第二阻止层均固定设置在所述背板和所述玻璃盖板之间。2.根据权利要求1所述的用于测试的光伏组件,其特征在于,还包括隔离纸,所述隔离纸设置在所述太阳能电池芯片层和所述背板之间,且所述隔离纸的边缘与所述第一阻止层之间保持有距离。3.根据权利要求2所述的用于测试的光伏组件,其特征在于,所述隔离纸的厚度范围值为0.05mm~1mm,所述热熔胶膜的厚度范围值为0.1mm~0.6mm,所述第一阻止层和所述第二阻止层的厚度范围值均为0.1mm~0.55mm。4.根据权利要求3所述的用于测...

【专利技术属性】
技术研发人员:彭福国段军
申请(专利权)人:君泰创新北京科技有限公司
类型:新型
国别省市:北京,11

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