一种光纤质量检测系统技术方案

本实用新型专利技术提供了一种光纤质量检测系统，所述系统包括第一暗箱，第二暗箱，设置于所述第一暗箱中的光源及反射镜，设置于所述第二暗箱中的光纤固定装置、CCD相机及步进电机，以及图像处理系统。本实用新型专利技术提供了根据待测光纤的数量及长度，调整光纤固定装置，从而实现了快速检测，同时利用光纤固定装置同时检测多根光纤，实现了批量检测光纤质量，从而解决了现有技术中的问题，保证了闪烁体探测器对光纤质量的要求。

An optical fiber quality detection system

【技术实现步骤摘要】
一种光纤质量检测系统
本技术涉及大面积闪烁体中子探测器技术中波移光纤的质量控制领域，尤其涉及一种光纤质量检测系统。
技术介绍
以6Li为中子灵敏介质辅以波移光纤的闪烁体中子探测器有较好的中子探测能力和位置分辨能力。波移光纤可以吸收侧边入射的光子，并以一定的几率转换为波长较长的光子在光纤中传输，最后由光纤末端的光电倍增管接受，并经过放大甄别，由计算机记录中子信号，获取中子的探测效率和位置信息。因此波移光纤的质量非常重要，光纤的质量主要指光纤的一致性和光衰减长度，光纤一致性好，信号的一致性就好；光衰减长度长，信号的幅度就大，这样中子的探测效率高和位置分辨更好，修正因素也少。因此如何快速、批量检测光纤质量的问题，是现有技术亟待解决的问题。
技术实现思路
为了解决现有技术中存在的问题，本技术提供了一种光纤质量检测系统。本技术通过光纤固定装置、CCD相机、步进电机以及图像处理系统一次检测多根光纤，检测装置简单易操作，同时实现了快速、批量检测光纤质量，并保证了闪烁体探测器中光纤质量的要求。本技术提供一种光纤质量检测系统，包括：第一暗箱，第二暗箱，设置于所述第一暗箱中的光源及反射镜，设置于所述第二暗箱中的光纤固定装置、CCD相机及步进电机，以及图像处理系统；所述光纤固定装置及CCD相机固定在所述步进电机上，所述光纤固定装置用于固定待测光纤；所述第一暗箱与第二暗箱各设置有通光孔；所述光源发出的光束经过反射镜、第一暗箱的通光孔及第二暗箱的通光孔后照射到所述待测光纤的入射端，所述CCD相机采集所述待测光纤的出射端的图像信息，并传输至所述图像处理系统进行图像信息处理。在一个实施例中，所述第一暗箱及所述第二暗箱水平并排放置，且由不透光材质制成；所述第一暗箱正面设有开门，用于更换所述待测光纤。在一个实施例中，所述光源的出光口设置有宽度可调的狭缝，所述第二暗箱外侧设有手动调节旋钮，用于手动调节所述狭缝的宽度。在一个实施例中，所述光源为波长430nm的蓝色LED光源，经过所述狭缝发出所述光束。在一个实施例中，所述光纤固定装置包括：支架、刻槽板、O型圈及盖板；所述光纤固定装置通过支架固定在所述步进电机上；所述支架用于支撑所述刻槽板；所述O型圈设置于所述刻槽板的凹槽内，所述O型圈用于放置所述待测光纤；所述盖板盖住所述刻槽板的凹槽。在一个实施例中，还包括：供电装置，所述供电装置与所述步进电机电连接。在一个实施例中，所述待测光纤为波移光纤；所述波移光纤的数量及长度可调整。针对目前无法快速、批量检测光纤质量的问题，本技术实施例提供了一种光纤质量检测系统，包括第一暗箱，第二暗箱，设置于所述第一暗箱中的光源及反射镜，设置于所述第二暗箱中的光纤固定装置、CCD相机及步进电机，以及图像处理系统。本技术根据待测光纤的数量及长度，调整光纤固定装置，从而实现了快速检测，同时利用光纤固定装置同时检测多根光纤，实现了批量检测光纤质量，从而解决了现有技术中的问题，保证了闪烁体探测器对光纤质量的要求。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本技术光纤质量检测系统的正视结构图；图2是本技术一实施例中光纤质量检测系统摆放位置示意图；图3是本技术光纤质量检测系统结构的俯视结构图；图4是本技术一实施例中光纤固定装置摆放示意图；图5是本技术一实施例中光纤固定装置结构图；图6A、图6B是本技术一实施例中的刻槽板结构图；图7是本技术一实施例中带有盖板的刻槽板结构图；图8是本技术一实施例中光纤摆放示意图。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。关于本文中所使用的“第一”、“第二”、……等，并非特别指称次序或顺位的意思，亦非用以限定本技术，其仅为了区别以相同技术用语描述的元件或操作。关于本文中所使用的“电性耦接”，可指二或多个元件相互直接作实体或电性接触，或是相互间接作实体或电性接触，而“电性耦接”还可指两个或多个元件相互操作或动作。关于本文中所使用的“包含”、“包括”、“具有”、“含有”等等，均为开放性的用语，即意指包含但不限于。关于本文中所使用的“及/或”，包括所述事物的任一或全部组合。关于本文中所使用的方向用语，例如：上、下、左、右、前或后等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用来说明并非用来限制本案。针对现有技术中存在的问题，本技术提供了一种光纤质量检测系统。该光纤质量检测系统，其结构图如图1所示，包括：第一暗箱1，第二暗箱2，设置于所述第一暗箱1中的光源3及反射镜4，设置于所述第二暗箱2中的光纤固定装置5、CCD相机6及步进电机7，以及图像处理系统8。光纤固定装置5及CCD相机6固定在步进电机7上，光纤固定装置5用于固定待测光纤9。第一暗箱1侧面设置一通光孔10，第二暗箱2侧面设置一通光孔11，。光源3发出的光束12经过反射镜13进入第一暗箱的通光孔10及第二暗箱的通光孔11后照射到待测光纤9的入射端。CCD相机6采集待测光纤9的出射端的图像信息，并传输至图像处理系统8进行图像信息处理。具体实施时，如图1所示，第一暗箱1与第二暗箱2是两个独立的箱体，均用于装载上述各个部件及保持各个部件的避光。通过第一暗箱1与第二暗箱2使光源3及光纤固定装置5分开放置，可以减少光纤检测装置占用的空间和材料，方便运输和摆放及便于控制光束。光纤固定装置5及CCD相机6架设在步进电机7上，并且保持光纤固定装置5及CCD相机6之间的距离不大于10cm，本技术不以此为限。其中，CCD相机6为线阵CCD、面阵CCD或数码相机中的任意一种相机，本技术不以此为限。反射镜13使光束12依次通过通光孔10及通光孔11反射到待测光纤9入射端，使待测光纤9的入射光均匀无差异。一实施例中，如图1所示，第一暗箱1与第二暗箱2通过反射镜13保持在同一个水平面并排放置，且第一暗箱1与第二暗箱2由不透光材质制成。在第一暗箱1正面设置有一个开门14，用于更换待测光纤9。具体实施时，由于不透光材质包括金属和非金属，本实施例中第一暗箱1及第二暗箱2采用金属铝制成，使得第一暗箱1与第二暗箱2具有避光及质量轻便等优点，本技术不以此为限。如图1所示，开门14便于开启和关闭，使更换待测光纤9更为方便。关闭开门14后，保证第一暗箱1的密闭及避光性，本技术不以此为限。一实施例中，如图2所示，第一暗箱1及第二暗箱2还可采用上下放置的实施方案，本技术不以此为限。一实施例中，光源3的出光口设置有宽度可调的狭缝15，第二暗箱2外侧设有手动调节旋钮16，用于手动调节狭缝15的宽度。具体实施时，如图3所示，通过旋转延伸到第二暗箱2外侧的手动调节旋钮16，实现对光本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光纤质量检测系统，其特征在于，包括：第一暗箱，第二暗箱，设置于所述第一暗箱中的光源及反射镜，设置于所述第二暗箱中的光纤固定装置、CCD相机及步进电机，以及图像处理系统；所述第一暗箱及所述第二暗箱水平并排放置；所述第一暗箱正面设有开门，用于更换待测光纤；所述光纤固定装置及CCD相机固定在所述步进电机上，所述光纤固定装置用于固定所述待测光纤；所述第一暗箱与第二暗箱各设置有通光孔；所述光源发出的光束经过反射镜、第一暗箱的通光孔及第二暗箱的通光孔后照射到所述待测光纤的入射端，所述CCD相机采集所述待测光纤的出射端的图像信息，并传输至所述图像处理系统进行图像信息处理。

【技术特征摘要】
1.一种光纤质量检测系统，其特征在于，包括：第一暗箱，第二暗箱，设置于所述第一暗箱中的光源及反射镜，设置于所述第二暗箱中的光纤固定装置、CCD相机及步进电机，以及图像处理系统；所述第一暗箱及所述第二暗箱水平并排放置；所述第一暗箱正面设有开门，用于更换待测光纤；所述光纤固定装置及CCD相机固定在所述步进电机上，所述光纤固定装置用于固定所述待测光纤；所述第一暗箱与第二暗箱各设置有通光孔；所述光源发出的光束经过反射镜、第一暗箱的通光孔及第二暗箱的通光孔后照射到所述待测光纤的入射端，所述CCD相机采集所述待测光纤的出射端的图像信息，并传输至所述图像处理系统进行图像信息处理。2.根据权利要求1所述的光纤质量检测系统，其特征在于，所述光源的出光口设置有宽度可调的狭缝，所述第二暗箱...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴冲，刘云，唐彬，侯懂杰，孙志嘉，
申请(专利权)人：中国石油大学北京，
类型：新型
国别省市：北京,11