耦合干扰的干扰源检测方法及装置制造方法及图纸
Interference source detection method and device
The present disclosure is a method and device for detecting the interference source of coupled interference. The method includes: the technical scheme of the disclosed embodiments may include the following advantages: when detected by the wireless RF chip antenna coupling interference, noise parameters were measured on the preset frequency antenna at least one device in the wireless RF chip, the measured noise parameters, noise parameters including at least one of the following parameters: frequency noise and noise amplitude; when the value of presupposition and the noise parameters are not the same value measurement to determine the device noise parameters, noise parameters corresponding to the interference source, the antenna of the radio chip by coupling interference which can be compared according to the noise parameters corresponding to the device the numerical value of presupposition and noise parameters, according to the size of the relationship will be that the current device is to make the wireless RF chip days The line is disturbed by the interference source, which effectively improves the accuracy of the interference source.
【技术实现步骤摘要】
耦合干扰的干扰源检测方法及装置
本公开涉及射频
，尤其涉及耦合干扰的干扰源检测方法及装置。
技术介绍
无线射频芯片的天线在发射信号的时候，天线的发射功率比较强，此时该无线射频芯片会干扰到别的芯片的信号收发，而不会受别的芯片的干扰；但无线射频芯片的天线在接收信号时，天线的发射功率会比较弱，从而此时的无线射频芯片很容易受到其他芯片的收发信号的干扰，导致无线射频芯片的接收灵敏度(totalisotropicsensitivity，简称为：TIS)较差。
技术实现思路
为克服相关技术中存在的问题，本公开实施例提供耦合干扰的干扰源检测方法及装置。所述技术方案如下：根据本公开实施例的第一方面，提供一种耦合干扰的干扰源检测方法，包括：当检测到无线射频芯片的天线受到耦合干扰时，依次测量预设频率的天线对所述无线射频芯片中的至少一个器件产生的噪声参数，得到所述噪声参数的测量值，所述噪声参数包括以下参数中的至少一种：噪声频率和噪声幅值；当检测到所述噪声参数的测量值与所述噪声参数的预设数值不相同时，确定所述噪声参数对应的器件为使所述无线射频芯片的天线受到耦合干扰的干扰源。本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：当检测到无线射频芯片的天线受到耦合干扰时，依次测量预设频率的天线对无线射频芯片中的至少一个器件产生的噪声参数，得到噪声参数的测量值，噪声参数包括以下参数中的至少一种：噪声频率和噪声幅值；当检测到噪声参数的测量值与噪声参数的预设数值不相同时，确定噪声参数对应的器件为使无线射频芯片的天线受到耦合干扰的干扰源，会使用预设频率的天线来获取至少一个器件对应的噪声参数，由于...
【技术保护点】
一种耦合干扰的干扰源检测方法，其特征在于，包括：当检测到无线射频芯片的天线受到耦合干扰时，依次测量预设频率的天线对所述无线射频芯片中的至少一个器件产生的噪声参数，得到所述噪声参数的测量值，所述噪声参数包括以下参数中的至少一种：噪声频率和噪声幅值；当检测到所述噪声参数的测量值与所述噪声参数的预设数值不相同时，确定所述噪声参数对应的器件为使所述无线射频芯片的天线受到耦合干扰的干扰源。
【技术特征摘要】
1.一种耦合干扰的干扰源检测方法，其特征在于，包括：当检测到无线射频芯片的天线受到耦合干扰时，依次测量预设频率的天线对所述无线射频芯片中的至少一个器件产生的噪声参数，得到所述噪声参数的测量值，所述噪声参数包括以下参数中的至少一种：噪声频率和噪声幅值；当检测到所述噪声参数的测量值与所述噪声参数的预设数值不相同时，确定所述噪声参数对应的器件为使所述无线射频芯片的天线受到耦合干扰的干扰源。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述当检测到无线射频芯片的天线受到耦合干扰时，依次测量预设频率的天线对所述无线射频芯片中的至少一个器件产生的噪声参数，得到所述噪声参数的测量值之前，包括：测量所述无线射频芯片的总发射功率TPR和接收灵敏度TIS，得到TPR的测量值和TIS的测量值；根据所述TPR的测量值、发射性能参数的预设值和接收性能参数的预设值计算TIS的理论值；当检测到所述TIS的理论值和所述TIS的测量值不相同时，确定所述无线射频芯片的天线受到耦合干扰。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测量所述无线射频芯片的总发射功率TPR和接收灵敏度TIS，得到TPR的测量值和TIS的测量值，包括：测量所述无线射频芯片中的天线的无源指标，得到所述无源指标的测量值，所述天线的无源指标至少包括以下参数中的至少一种：天线的效率、天线的增益、天线的带宽、驻波比以及方向图；当检测所述无源指标的测量值与所述无源指标的预设数值相同时，测量所述无线射频芯片的总发射功率TPR和接收灵敏度TIS，得到TPR的测量值和TIS的测量值。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测量所述无线射频芯片的总发射功率TPR和接收灵敏度TIS，得到TPR的测量值和TIS的测量值，包括：通过传导的方式，测量所述无线射频芯片的射频参数，得到所述射频参数的测量值；所述射频参数包括发射性能参数和接收性能参数，所述发射性能参数至少包括以下参数中的至少一种：发射功率、频谱模板和频谱偏移，所述接收性能参数至少包括接收灵敏度；当检测所述射频参数的测量值与所述射频参数的预设数值相同时，测量所述无线射频芯片的总发射功率TPR和接收灵敏度TIS，得到TPR的测量值和TIS的测量值。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：当检测所述射频参数的测量值与所述射频参数的预设数值不相同时，确定所述无线射频芯片的天线受到传导干扰。6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，所述当确定所述噪声参数对应的器件为使所述无线射频芯片的天线受到耦合干扰的干扰源之后，所述方法还包括：对所述噪声参数对应的器件进行调试，以使调试后的所述器件产生的噪声参数的测量值与所述噪声参数的预设数值相同。7.一种耦合干扰的干扰源检测装置，其特征在于，包括：第一检测模块，用于检测无线射频芯片的天线是否受到耦合干扰；第一测量模块，用于当所述第一检测模块检测到无线射频芯片的天线受到耦合干扰时，依次测量预设频率的天线对所述无线射频芯片中的至少一个器件产生的噪声参数，得到所述噪声参数的测量值，所述噪声参数包括以下参数中的至少一种：噪声频率和噪声幅值；第二检测模块，用于检测所述第一测量模块测量到的所述噪声参数的测量值与所述噪声参数的预设数值是否相同；第一确定模块，用于当所述第二检测模块检测到所述第一测量模块测量到的所述噪声参数的测量值与所述噪声参数的预设数值不相同时，确定所述噪声参数对应的器件为使所述无线射频芯片的天线受到耦合干扰的干扰源。8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：第二测量模块、计算模块、第三检测模块和第二确定模块；所述第二测量模块，用于测量所述无线射频芯片的总发射功率TPR和接收灵敏度TIS，得到TPR的测量值和TI...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙胜利，陈文，姜兆宁，刘达平，孙鹏，
申请(专利权)人：北京小米移动软件有限公司，青岛亿联客信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11
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