一种自动触发测试的方法和电路技术

本发明专利技术公开了一种自动触发测试的方法和电路，特别适用于在测试设备上实现多联张非接触智能卡自动触发测试的方法和电路，当多联张卡放置到指定位置时，通过多个纸张传感器检测到多联张卡的出现，将各自产生的电信号通过逻辑与电路传送给控制器，通知控制器开始测试；当多联张卡测试完毕离开指定位置时，多个张传感器检测到多联张卡离开时，将各自产生的电信号通过逻辑或电路传送给控制器，通知控制器本张多联张卡测试完毕，准备下一张的测试。本发明专利技术能够自动检测多联张卡是否放置到指定位置并通知控制器开始测试，减少误判，减少人为操作，提高测试速度。

A method and circuit for automatic trigger test

【技术实现步骤摘要】
一种自动触发测试的方法和电路
本专利技术涉及一种自动触发测试的方法和电路,尤其适用于在测试设备上实现多联张非接触智能卡(以下简称多联张卡)自动触发测试，涉及多联张非接触智能卡测试设备领域。
技术介绍
非接触智能卡在加工过程中，首先是以多联张卡的形式被加工出来，后期确认功能完好后，才会被切割为单张卡片。因此在非接触智能卡生产的早期测试环节，为了节约成本，首先都是针对多联张卡的形式(如32联张、40联张、25联张等)进行非接触智能卡的电性能测试以及其他功能的测试。目前通常的方法是都是手动将多联张卡放置在测试设备的检测读卡区域，然后通过人工操作鼠标点击开始菜单或手动触发开始按钮启动测试。这种方式存在两个问题：1、需要手动触发，影响了测试速度。2、手动放置的多联张卡放置位置，肉眼无法准确识别是否偏离读卡区域时，导致非接触智能卡无法正确接收测试指令，造成好卡被误判为坏卡，或对应的天线线圈读到了相邻位置的卡片，造成测试偏差；3、测试设备中的触发设备如按钮和鼠标按键都有额定的使用次数，而智能卡厂每年生产测试的多联张卡数量都在数十万到数百万张，所以大批量测试时需要频繁的点击触发开始测试，这样会导致按钮或鼠标按键很快就损坏或失灵，造成物资的损耗。
技术实现思路
本专利技术设计了一种在测试设备上实现多联张非接触智能卡自动触发测试的方法，实现了自动检测多联张卡放置与读卡区域的重合度，读卡区域，降低误判，并可自动触发测试设备开始测试，提高了效率，并提高了触发设备的使用寿命。支持本专利技术的自动触发测试的方法需要由纸张传感器、反向电路和逻辑与运算电路、反向电路和逻辑或运算电路和控制器组成。纸张传感器的输出信号分别经过反向电路后，再经过逻辑与运算/逻辑或运算电路输出触发信号/卡片离开信号到控制器，控制器分别检测这两个信号来决定是开始测试或测试完成。本专利技术专利主要通过以下技术方案实现：首先，使用多个纸张传感器检测多联张卡是否处于读卡区域，即只有当全部纸张传感器被多联卡遮挡，逻辑与运算电路就会输出一个跳变信号来触发控制器，控制器检测到这个跳变信号，自动进行开始测试操作。其次，当多联张卡偏离读卡区域时，即至少有一个纸张传感器中没有被遮挡，则逻辑与运算电路不会输出一个跳变信号，控制器检测不到跳变信号，不会进行开始测试操作，避免了多联张卡偏离读卡区域造成的测试结果不准确。最后，当多联张卡离开读卡区域时，必须所有的纸张传感器要检测到传感器上方均没有被多联张卡遮挡，并将他们的输出信号经过反向电路和逻辑或运算电路后输出给控制器，当控制器检测到这个跳变信号判断是否此张多联张卡已完成测试。在整个过程中，不需要手动触发开始测试的环节，提高了测试的速度，减少了按钮/鼠标等触发器件的损耗，并能减少因多联张卡放置位置的偏离造成的误判。本专利技术电路中纸张传感器的位置和数量取决于多联张卡的形状，纸张传感器的数量至少大于等于2个，最优的在4个角各放一个纸张传感器。附图说明下面结合附图与具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明：图1是以32联张卡为例的一个多联张卡、天线线圈和纸张传感器的关系示意图；图2是逻辑与运算电路的具体实现电路；图3是逻辑或运算电路的具体实现电路图4多联张卡自动触发测试电路的连接示意图具体实施方式图4是本专利技术的自动触发测试电路示意图，其中纸张传感器的输出信号分别经过反向电路后，再经过逻辑与运算/逻辑或运算电路输出触发信号/卡片离开信号到控制器，控制器分别检测这两个信号来决定是开始测试或测试完成结合图1、图2和图3所示，以32联张卡的自动检测为例对本专利技术专利做详细说明。步骤一：当一张32联张卡从右向左进入到读卡区域时，纸张传感器1(图2中J14)上方被遮挡，则产生一个低电平信号IR1,但由于此时，其他3个纸张传感器上方没有被32联张卡遮挡，IR2、IR3、IR4为高电平，此时这4个信号经过反向电路和逻辑与运算电路后的信号(图2中的ir_sen_sub信号)仍然保持为低电平，控制器检测到ir_sen_sub为低电平，没有上升沿跳变，判断为32联张卡没有处于读卡区域，不启动开始测试操作。同样，当32联张卡的位置偏离，没有覆盖住读卡区域即没有同时遮挡住4个纸张传感器，就无法使IR1、IR2、IR3、IR4均为低电平，亦即ir_sen_sub仍保持为低电平，所以控制器没有检测到ir_sen_sub上升沿跳变，不启动开始测试操作。步骤二：当这张32联张卡移动到覆盖住读卡区域时，4个纸张传感器上方均被32联张卡遮挡，此时IR1、IR2、IR3、IR4均为低电平，这4个信号经过反向电路和逻辑与运算电路后的信号变为高电平，即ir_sen_sub信号跳变为高电平，控制器检测到ir_sen_sub的上升沿跳变，判断为32联张卡处于读卡区域，启动开始测试操作，此时天线线圈与对应的卡片能正确耦合，开始数据通信。步骤三：当这张32联张卡测试完成，移动离开读卡区域时，以从右向左移动为例，纸张传感器1上方没有被32联张卡遮挡，则产生一个高电平信号IR1，此时IR2、IR3、IR4为低电平，ir_sen_sub信号跳变为低电平，而经过反向电路和逻辑或运算电路后的信号ir_sen信号保持为低电平，控制器没有检测到ir_sen信号的上升沿跳变，判断32联张卡没有完全离开读卡区域，步骤四：当这张32联张卡完全离开读卡区域，4个纸张传感器上方没有被32联张卡遮挡，则IR1、IR2、IR3、IR4均为高电平，此时ir_sen信号从低电平跳变到高电平，控制器检测到ir_sen信号的上升沿跳变，判定32联张卡完全离开读卡区域，可以准备下一张32联张卡的测试。以上通过结合具体实施方式对本专利技术作了详细的说明，这些并非构成对本专利技术的限制，在不脱离本专利技术原理的情况下，还可做出若干变形和改进，这些也应视为属于本专利技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自动触发测试的方法，其特征在于，主要包括如下步骤：1)当多联张卡放置到指定位置时，通过纸张传感器检测到多联张卡的出现，将各自产生的电信号通过反向电路和逻辑与运算电路传送给控制器；2)当多联张卡没有完全放置到指定位置时，逻辑与电路输出不变，控制器检测不到电平跳变，不会进行开始测试操作；当多联张卡放置到指定位置时，逻辑与电路输出电平跳变，控制器检测到电平跳变，开始测试操作；3)当多联张卡测试完毕离开指定位置时，纸张传感器检测到多联张卡离开时，将各自产生的电信号通过反向和逻辑或电路传送给控制器，当多联张卡没有完全离开指定位置时，逻辑或电路输出不变，控制器检测不到电平跳变。4)当多联张卡完全离开指定位置时，所有的纸张传感器检测到多联张卡离开时，逻辑或电路输出电平跳变，通知控制器本张多联张卡测试完毕。

【技术特征摘要】
1.一种自动触发测试的方法，其特征在于，主要包括如下步骤：1)当多联张卡放置到指定位置时，通过纸张传感器检测到多联张卡的出现，将各自产生的电信号通过反向电路和逻辑与运算电路传送给控制器；2)当多联张卡没有完全放置到指定位置时，逻辑与电路输出不变，控制器检测不到电平跳变，不会进行开始测试操作；当多联张卡放置到指定位置时，逻辑与电路输出电平跳变，控制器检测到电平跳变，开始测试操作；3)当多联张卡测试完毕离开指定位置时，纸张传感器检测到多联张卡离开时，将各自产生的电信号通过反向和逻辑或电路传送给控制器，当多联张卡没有完全离开指定位置时，逻辑或电路输出不变，控制器检测不到电平跳变。4)当多联张卡完全离开指定位置时，所有的纸张传感器检测到多联张卡离开时，逻辑或电路输出电平跳变，通知控制器本张多联张卡测试完毕。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，使用纸张传感器来检测是否有多联张卡放置来达到自动触发...

【专利技术属性】
技术研发人员：段松涛，戴昭君，
申请(专利权)人：上海华虹集成电路有限责任公司，
类型：发明
国别省市：上海,31