【技术实现步骤摘要】
一种自动触发测试的方法和电路
本专利技术涉及一种自动触发测试的方法和电路,尤其适用于在测试设备上实现多联张非接触智能卡(以下简称多联张卡)自动触发测试,涉及多联张非接触智能卡测试设备领域。
技术介绍
非接触智能卡在加工过程中,首先是以多联张卡的形式被加工出来,后期确认功能完好后,才会被切割为单张卡片。因此在非接触智能卡生产的早期测试环节,为了节约成本,首先都是针对多联张卡的形式(如32联张、40联张、25联张等)进行非接触智能卡的电性能测试以及其他功能的测试。目前通常的方法是都是手动将多联张卡放置在测试设备的检测读卡区域,然后通过人工操作鼠标点击开始菜单或手动触发开始按钮启动测试。这种方式存在两个问题:1、需要手动触发,影响了测试速度。2、手动放置的多联张卡放置位置,肉眼无法准确识别是否偏离读卡区域时,导致非接触智能卡无法正确接收测试指令,造成好卡被误判为坏卡,或对应的天线线圈读到了相邻位置的卡片,造成测试偏差;3、测试设备中的触发设备如按钮和鼠标按键都有额定的使用次数,而智能卡厂每年生产测试的多联张卡数量都在数十万到数百万张,所以大批量测试时需要频繁的点击触发开始测试,这样会导致按钮或鼠标按键很快就损坏或失灵,造成物资的损耗。
技术实现思路
本专利技术设计了一种在测试设备上实现多联张非接触智能卡自动触发测试的方法,实现了自动检测多联张卡放置与读卡区域的重合度,读卡区域,降低误判,并可自动触发测试设备开始测试,提高了效率,并提高了触发设备的使用寿命。支持本专利技术的自动触发测试的方法需要由纸张传感器、反向电路和逻辑与运算电路、反向电路和逻辑或运算电路和控制器组 ...
【技术保护点】
一种自动触发测试的方法,其特征在于,主要包括如下步骤:1)当多联张卡放置到指定位置时,通过纸张传感器检测到多联张卡的出现,将各自产生的电信号通过反向电路和逻辑与运算电路传送给控制器;2)当多联张卡没有完全放置到指定位置时,逻辑与电路输出不变,控制器检测不到电平跳变,不会进行开始测试操作;当多联张卡放置到指定位置时,逻辑与电路输出电平跳变,控制器检测到电平跳变,开始测试操作;3)当多联张卡测试完毕离开指定位置时,纸张传感器检测到多联张卡离开时,将各自产生的电信号通过反向和逻辑或电路传送给控制器,当多联张卡没有完全离开指定位置时,逻辑或电路输出不变,控制器检测不到电平跳变。4)当多联张卡完全离开指定位置时,所有的纸张传感器检测到多联张卡离开时,逻辑或电路输出电平跳变,通知控制器本张多联张卡测试完毕。
【技术特征摘要】
1.一种自动触发测试的方法,其特征在于,主要包括如下步骤:1)当多联张卡放置到指定位置时,通过纸张传感器检测到多联张卡的出现,将各自产生的电信号通过反向电路和逻辑与运算电路传送给控制器;2)当多联张卡没有完全放置到指定位置时,逻辑与电路输出不变,控制器检测不到电平跳变,不会进行开始测试操作;当多联张卡放置到指定位置时,逻辑与电路输出电平跳变,控制器检测到电平跳变,开始测试操作;3)当多联张卡测试完毕离开指定位置时,纸张传感器检测到多联张卡离开时,将各自产生的电信号通过反向和逻辑或电路传送给控制器,当多联张卡没有完全离开指定位置时,逻辑或电路输出不变,控制器检测不到电平跳变。4)当多联张卡完全离开指定位置时,所有的纸张传感器检测到多联张卡离开时,逻辑或电路输出电平跳变,通知控制器本张多联张卡测试完毕。2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,使用纸张传感器来检测是否有多联张卡放置来达到自动触发...
【专利技术属性】
技术研发人员:段松涛,戴昭君,
申请(专利权)人:上海华虹集成电路有限责任公司,
类型:发明
国别省市:上海,31
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