一种用于基于申威处理器控制主板的测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种用于基于申威处理器控制主板的测试装置，属于主板测试工具技术领域，包括：用于接插debug卡的申威平台debug卡座；用于测量主板到背板的PCI‑e资源可否使用的PCI‑e接口测试底座；用于测试到主板到背板的JTAG接口可否正常使用的JTAG接口测试底座；用于连接外部电源并给主板供电的电源输入接口，外部电源接入电源输入接口后经过限流电路输出到主板；用于连接风扇的风扇插座。本实用新型专利技术可以方便快捷地实现基于申威处理器控制主板的调试及测试工作，避免拆卸主板耗时费力的问题，节省主板调试及维修时间，大大提高了定位主板问题的效率，在生产线上得以很好的应用。

A test device used to control the main board based on the Deuteronomy processor

【技术实现步骤摘要】
一种用于基于申威处理器控制主板的测试装置
本技术涉及主板测试工具
，具体地说是一种用于基于申威处理器控制主板的测试装置。
技术介绍
申威处理器依托国家“核高基”专项资金的支持，采用自主指令集，是具有完全自主知识产权的处理器系列。目前国产处理器出现时间晚，功能及外围辅助调试方法都不够完善，与国外优秀的处理器性能上还存在较大差距。基于申威处理器平台的产品因其应用还不是非常普遍，调试及维修对于开发人员以及产线操作人员存在困难，为了可以加速定位或排查问题，在申威处理器平台上添加一些直观的辅助调试的模块是非常有必要的。基于申威处理器控制主板主要用于高性能计算整机中，加之整机采用水冷散热方式，在整机中拆卸控制主板极为不方便。因此，研制控制主板的调试及测试设备是必要的，这种测试装置需要遵从控制主板的接口定义，且要方便主板的测试及调试，且要保证安全便捷，提高测试及调试效率。
技术实现思路
本技术的技术任务是解决现有技术的不足，提供一种用于基于申威处理器控制主板的测试装置，以方便快速地实现控制主板的测试及调试。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种用于基于申威处理器控制主板的测试装置，包括：用于接插debug卡的申威平台debug卡座；用于测量主板到背板的接口是否正常使用的测试底座；用于连接外部电源并给主板供电的电源输入接口。所涉及测试底座包括用于测量主板到背板的PCI-e接口可否使用的PCI-e接口测试底座和用于测试到主板到背板的JTAG接口可否正常使用的JTAG接口测试底座。所涉及测试装置还包括用于连接风扇的风扇插座，方便主板调试及测试时的散热。所涉及外部电源接入电源输入接口后经过限流电路输出到主板，避免调试过程中主板端出现短路及过流情况发生时烧毁板卡的问题。本技术的一种用于基于申威处理器控制主板的测试装置与现有技术相比所产生的有益效果是：本技术可以方便快捷地实现基于申威处理器控制主板的调试及测试工作，避免拆卸主板耗时费力的问题，节省主板调试及维修时间，大大提高了定位主板问题的效率，在生产线上得以很好的应用。附图说明附图1是本技术的工作原理连接框图。图中各标号表示：1、申威平台debug卡座，2、PCI-e接口测试底座，3、JTAG接口测试底座，4、风扇插座，5、电源输入接口，6、限流电路。具体实施方式下面结合附图1，对本技术的一种用于基于申威处理器控制主板的测试装置作以下详细说明。如附图1所示，本技术的一种用于基于申威处理器控制主板的测试装置，其结构包括：用于接插debug卡的申威平台debug卡座1；用于测量主板到背板的PCI-e接口可否使用的PCI-e接口测试底座2；用于测试到主板到背板的JTAG接口可否正常使用的JTAG接口测试底座3；用于连接外部电源并给主板供电的电源输入接口5，外部电源接入电源输入接口5后经过限流电路6输出到主板，避免调试过程中主板端出现短路及过流情况发生时烧毁板卡的问题。所涉及测试装置还包括用于连接风扇的风扇插座4，方便主板调试及测试时的散热。使用时，将控制主板的PCI-e接口、JTAG接口输出到测试装置的PCI-e接口测试底座2和JTAG接口测试底座3，以验证主板输出信号的完整性；从主板输出的调试用的I2C总线连接到测试装置的debug卡座上，用于主板调试过程中的问题排查及问题主板分类；风扇插接在风扇插座4上，用于主板调试及测试时的散热。本技术可以方便快捷地实现基于申威处理器控制主板的调试及测试工作，避免拆卸主板耗时费力的问题，节省主板调试及维修时间，大大提高了定位主板问题的效率，在生产线上得以很好的应用。综上所述，以上内容仅用以说明本技术的技术方案，而非对本技术保护范围的限制，尽管该具体实施方式部分对本技术作了详细地说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本技术的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本技术技术方案的实质和范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于基于申威处理器控制主板的测试装置，其特征在于，包括：用于接插debug卡的申威平台debug卡座；用于测量主板到背板的接口是否正常使用的测试底座；用于连接外部电源并给主板供电的电源输入接口。

【技术特征摘要】
1.一种用于基于申威处理器控制主板的测试装置，其特征在于，包括：用于接插debug卡的申威平台debug卡座；用于测量主板到背板的接口是否正常使用的测试底座；用于连接外部电源并给主板供电的电源输入接口。2.根据权利要求1所述的一种用于基于申威处理器控制主板的测试装置，其特征在于,所述测试底座包括用于测量主板到背板的PCI-e接口可否使用的P...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵素梅，张孝飞，金长新，
申请(专利权)人：济南浪潮高新科技投资发展有限公司，
类型：新型
国别省市：山东,37