射频测试装置制造方法及图纸

技术编号:17659754 阅读:45 留言:0更新日期:2018-04-08 11:29
本发明专利技术提供了一种射频测试装置,包括:切换部件和用于测试不同制式的参数的多条射频链路,所述多条射频链路间的切换通过所述切换部件实现。采用本发明专利技术提供的射频测试装置,通过切换部件能够实现射频测试装置的多条射频链路之间的切换调用,克服了在射频测试装置进行测试过程中,不同测试项目需要不同信号处理路径的问题,使得射频测试装置能够适用于不同测试环境,并且,该射频测试装置无须在进行不同测试项目时手动搭建不同的链路,提高了测试准确度和测试效率。

【技术实现步骤摘要】
射频测试装置
本专利技术涉及射频电路
,特别是涉及一种射频测试装置。
技术介绍
终端射频自动测试系统是指采用计算机控制,自动完成建立通话、链路切换、信号测量、数据计算处理并输出测试结果的自动化测试系统,主要应用于无线终端射频指标测试及集成测试系统搭建(包括国内外相关测试标准的射频指标测试及自动测试系统塔建)。现有技术中,射频测试设备主要使用先进的测试仪表,但是在用射频测试设备进行测试过程中,针对不同的测试项目,需要搭载相应的射频链路以满足测试要求,同时在完成一项射频测试过程中需要多条射频链路搭载。如果采用手动搭载测试链路的方式,会引入测量误差,影响测试结果的准确性,而且现有技术中的射频切换单元主要由国外少数厂家生产,生产周期长,价格昂贵,而且受限程度大,功能单一,很难灵活的应用于不同的测试环境,无法完成所有测试项目的测试指标。
技术实现思路
鉴于上述问题,提出了本专利技术以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的射频测试装置。基于本专利技术的一个方面,提供了一种射频测试装置,包括:切换部件和用于测试不同制式的参数的多条射频链路,所述多条射频链路间的切换通过所述切换部件实现。可选地,所述切换部件至少包括:第一开关、第二开关、第一同轴开关、第二同轴开关。可选地,所述多条射频链路至少包括:所述射频测试装置的输入端口依次通过所述第一开关、高通滤波器、所述第二开关连接至所述射频测试装置的输出端口,形成第一射频链路;所述射频测试装置的输入端口依次通过所述第一开关、所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第二开关连接至所述射频测试装置的输出端口,形成第二射频链路;所述射频测试装置的输入端口依次通过所述第一开关、所述第一同轴开关、用于过滤所述不同制式中任一制式的主信号的过滤部件、所述第二同轴开关、所述第二开关连接至所述射频测试装置的输出端口,形成第三射频链路;所述射频测试装置的输入端口依次通过所述第一开关、所述第一同轴开关、用于过滤所述不同制式中任一制式特定频段的主信号的过滤部件、所述第二同轴开关、所述第二开关连接至所述射频测试装置的输出端口,形成第四射频链路;所述射频测试装置的输入端口依次通过所述第一开关、所述第一同轴开关、用于过滤所述不同制式中任意两种制式中相同频段的过滤部件、所述第二同轴开关、所述第二开关连接至所述射频测试装置的输出端口,形成第五射频链路。可选地,所述不同制式至少包括:GSM、CDMA、CDMA2000、WCDMA、TD-SCDMA、LTE。可选地,所述参数至少包括下列之一:杂散发射、发射功率、频率误差、占用带宽、矢量幅度误差、频谱发射模板、邻道功率泄露比、RS功率。可选地,所述用于过滤所述不同制式中任一制式特定频段的主信号的过滤部件用于过滤频段为Band38或者Band41的LTE制式的主信号,或者频段为A段的TD-SCDMA制式的主信号。可选地,所述用于过滤所述不同制式中任意两种制式中相同频段的过滤部件用于过滤具有相同频段的频段为Band8的WCDMA制式和频段为900的GSM制式的主信号,或者,具有相同频段的频段为Band1的LTE制式和频段为Band1的WCDMA制式的主信号,或者,具有相同频段的频段为Band3的LTE制式和频段为1800的GSM制式的主信号,或者,具有相同频段的频段为Band39的LTE制式和频段为F段的TD-SCDMA制式的主信号,或者,具有相同频段的频段为Band40的LTE制式和频段为E段的TD-SCDMA制式的主信号。可选地,所述射频测试装置的输入端口和所述第一开关间连接有衰减部件。可选地,所述衰减部件为固定衰减器和可调衰减器中的任意一种。可选地,所述固定衰减器为衰减值为40dB的衰减器。采用本专利技术实施例提供的射频测试装置,将测试链路进行了系统集成,通过切换部件能够实现射频测试装置的多条射频链路之间的切换调用,克服了在射频测试装置进行测试过程中,不同测试项目需要不同信号处理路径的问题,使得射频测试装置能够适用于不同测试环境,并且,该射频测试装置无须在进行不同测试项目时手动搭建不同的链路,提高了测试准确度和测试效率。进一步地,本专利技术实施例提供的射频测试装置在满足在用基站测试标准及3GPP(3rdGenerationPartnershipProject)测试标准中关于在用基站测试的相关要求的前提下,对未来在用基站测试奠定了基础,具有重要意义。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述,为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂,以下特举本专利技术的具体实施方式。根据下文结合附图对本专利技术具体实施例的详细描述,本领域技术人员将会更加明了本专利技术的上述以及其他目的、优点和特征。附图说明通过阅读下文优选实施方式的详细描述,各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的,而并不认为是对本专利技术的限制。而且在整个附图中,用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中:图1示出了根据本专利技术一个实施例的射频测试装置的结构示意图;图2示出了根据本专利技术一个实施例的射频测试装置的电路示意图;图3示出了根据本专利技术一个实施例的射频测试装置的另一种电路示意图。具体实施方式下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例,然而应当理解,可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反,提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开,并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。为解决上述技术问题,本专利技术提供了一种射频测试装置,图1示出了根据本专利技术一个实施例的射频测试装置的结构示意图,参见图1,该射频测试装置包括:切换部件11和用于测试不同制式的参数的多条射频链路12,其中,多条射频链路间的切换通过切换部件实现。采用本专利技术实施例提供的射频测试装置,将测试链路进行了系统集成,通过切换部件能够实现射频测试装置的多条射频链路之间的切换调用,克服了在射频测试装置进行测试过程中,不同测试项目需要不同信号处理路径的问题,使得射频测试装置能够适用于不同测试环境,并且,该射频测试装置无须在进行不同测试项目时手动搭建不同的链路,提高了测试准确度和测试效率。进一步地,本专利技术实施例提供的射频测试装置在满足在用基站测试标准及3GPP(3rdGenerationPartnershipProject)测试标准中关于在用基站测试的相关要求的前提下,对未来在用基站测试奠定了基础,具有重要意义。在本专利技术的一个优选实施例中,射频测试装置中的切换部件至少包括:第一开关、第二开关、第一同轴开关、第二同轴开关。图2示出了根据本专利技术一个实施例的射频测试装置的电路示意图。参见图2,该射频测试装置包括以下用于测试不同制式的参数的至少五条射频链路:测试信号依次通过射频测试装置的输入端口201、第一开关202、高通滤波器203、第二开关204到达所述射频测试装置的输出端口205,形成第一射频链路;测试信号依次通过射频测试装置的输入端口201、第一开关202、第一同轴开关206、第二同轴开关207、第二开关204到达所述射频测试装置的输出端口,形成第二射频链路;测试信号依次通过射频测试本文档来自技高网...
射频测试装置

【技术保护点】
一种射频测试装置,包括:切换部件和用于测试不同制式的参数的多条射频链路,所述多条射频链路间的切换通过所述切换部件实现。

【技术特征摘要】
1.一种射频测试装置,包括:切换部件和用于测试不同制式的参数的多条射频链路,所述多条射频链路间的切换通过所述切换部件实现。2.根据权利要求1所述的装置,其中,所述切换部件至少包括:第一开关、第二开关、第一同轴开关、第二同轴开关。3.根据权利要求2所述的装置,其中,所述多条射频链路至少包括:所述射频测试装置的输入端口依次通过所述第一开关、高通滤波器、所述第二开关连接至所述射频测试装置的输出端口,形成第一射频链路;所述射频测试装置的输入端口依次通过所述第一开关、所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第二开关连接至所述射频测试装置的输出端口,形成第二射频链路;所述射频测试装置的输入端口依次通过所述第一开关、所述第一同轴开关、用于过滤所述不同制式中任一制式的主信号的过滤部件、所述第二同轴开关、所述第二开关连接至所述射频测试装置的输出端口,形成第三射频链路;所述射频测试装置的输入端口依次通过所述第一开关、所述第一同轴开关、用于过滤所述不同制式中任一制式特定频段的主信号的过滤部件、所述第二同轴开关、所述第二开关连接至所述射频测试装置的输出端口,形成第四射频链路;所述射频测试装置的输入端口依次通过所述第一开关、所述第一同轴开关、用于过滤所述不同制式中任意两种制式中相同频段的过滤部件、所述第二同轴开关、所述第二开关连接至所述射频测试装置的输出端口,形成第五射频链路。4.根据权利要求1-3任一所述的装置,其中,所述不同制式至少包括:GS...

【专利技术属性】
技术研发人员:李吉陈奎唐超李守凯陆国栋
申请(专利权)人:国家无线电监测中心检测中心天维讯达无线电设备检测北京有限责任公司
类型:发明
国别省市:北京,11

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