双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法及装置，涉及射频微波信号测量技术领域，可以提高非线性矢量网络分析仪对复杂频谱成分被测对象的测量能力。所述方法包括：获取被测频段划分的被测子频段和与所述被测子频段对应的交叠频点；生成频谱成分覆盖所述被测子频段的第一相位参考信号；测量所述第一相位参考信号与预先生成的第二相位参考信号在所述交叠频点上的第一相位差；根据所述第一相位差，测量所述被测信号与所述第一相位参考信号在所述被测子频段内被测频点上的第二相位差的集合；改变所述第一相位参考信号所覆盖的被测子频段，完成全部被测子频段的测量，将结果合并为非线性矢量网络分析仪的相位谱测量结果。

【技术实现步骤摘要】
双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法及装置
本专利技术涉及射频微波信号测量
，特别是涉及一种双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法及装置。
技术介绍
非线性矢量网络分析仪(NonlinearVectorNetworkAnalyzer,NVNA)是一款针对射频微波器件非线性行为进行测量表征的仪器装置。其通过引入一个多频率成分的相位参考信号，利用被测信号与这个相位参考信号逐频点的相位差测量，来实现对复杂被测信号的相位谱测量。目前，非线性矢量网络分析仪的相位谱测量方法均采用“单”相位参考，即只有一个相位参考信号工作，其频谱成分需要同时覆盖所有被测频点。例如，如图1所示，采用“单”相位参考信号的NVNA进行相位谱测量，其中4个被测信号为a1a2b1b2，相位参考信号为R。然而，当被测信号的频谱成分较多、较分散时，现有的信号合成手段难以获得满足测试条件的相位参考信号，无法保证非线性矢量网络分析仪的正常工作，不能实现复杂被测对象的有效测量。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供了一种双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法及装置，主要目的在于解决目前只采用一个相位参考信号进行非线性矢量网络分析仪的相位谱测量，会影响非线性矢量网络分析仪的适用范围和对复杂被测对象测量有效性的问题。依据本专利技术一个方面，提供了一种双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法，该方法包括：获取被测频段划分的被测子频段和与所述被测子频段对应的交叠频点；生成频谱成分覆盖所述被测子频段的第一相位参考信号；测量所述第一相位参考信号与预先生成的第二相位参考信号在所述交叠频点上的第一相位差；根据所述第一相位差，测量所述被测信号与所述第一相位参考信号在所述被测子频段内被测频点上的第二相位差的集合；改变所述第一相位参考信号所覆盖的被测子频段，完成全部被测子频段的测量，将结果合并为非线性矢量网络分析仪的相位谱测量结果。依据本专利技术另一个方面，提供了一种双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量装置，该装置包括：获取单元，用于获取被测频段划分的被测子频段和与所述被测子频段对应的交叠频点；生成单元，用于生成频谱成分覆盖所述获取单元获取的被测子频段的第一相位参考信号；测量单元，用于测量所述生成单元生成的第一相位参考信号与预先生成的第二相位参考信号在所述交叠频点上的第一相位差；所述测量单元，还用于根据所述第一相位差，测量所述被测信号与所述第一相位参考信号在所述被测子频段内被测频点上的第二相位差的集合；合并单元，用于改变所述第一相位参考信号所覆盖的被测子频段，完成全部被测子频段的测量，将结果合并为非线性矢量网络分析仪的相位谱测量结果。依据本专利技术又一个方面，提供了一种存储设备，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现上述双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法。依据本专利技术再一个方面，提供了一种非线性矢量网络分析仪的相位谱测量的实体装置，包括存储设备、处理器及存储在存储设备上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法。借由上述技术方案，本专利技术提供的一种双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法及装置，与目前只采用一个相位参考信号进行非线性矢量网络分析仪的相位谱测量方式相比，本专利技术将被测频段划分多个被测子频段，针对每个被测子频段，都可生成频谱成分能够覆盖该被测子频段的相位参考信号，即每个被测子频段都各自对应一个相位参考信号，通过该相位参考信号实现对各个被测子频段的分别测量，并通过另一个相位参考信号实现各个被测子频段的相位同步，进而可以通过这种双相位参考结构进行相位谱测量的方式，实现任意被测频段的非线性矢量网络分析仪相位谱测量，在“被测信号的频谱成分较多、较分散”的复杂测试条件下，本专利技术能够回避对“满足测试条件的单一相位参考信号”的设计和实现难题，从而可以拓展非线性矢量网络分析仪的适用范围。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本专利技术的具体实施方式。附图说明通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本专利技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：图1示出了现有技术中的非线性矢量网络分析仪的相位谱测量方式实例示意图；图2本专利技术实施例提供的一种双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法流程示意图；图3示出了本专利技术实施例提供的另一种双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法流程示意图；图4示出了本专利技术实施例提供的一种非线性矢量网络分析仪的相位谱测量系统架构示意图；图5示出了本专利技术实施例提供的一种测量方式的流程示意图；图6示出了本专利技术实施例提供的另一种测量方式的流程示意图；图7示出了本专利技术实施例提供的一种非线性矢量网络分析仪的相位谱测量方式实例示意图；图8示出了本专利技术实施例提供的一种双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量装置的结构示意图；图9示出了本专利技术实施例提供的一种双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量装置的实体结构示意图。具体实施方式下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。本专利技术实施例提供了一种双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法，可以提高非线性矢量网络分析仪的相位谱测量准确度，如图2所示，该方法包括：101、获取被测频段划分的被测子频段和与被测子频段对应的交叠频点。在本专利技术实施例中，可以预先根据实际情况将被测频段划分为多个彼此不交叠的被测子频段，以便为每个被测子频段分别生成相应的相位参考信号，其中，每个被测子频段包含被测频点集合。对于本专利技术实施例的执行主体可以为非线性矢量网络分析仪相位谱测量的装置，在该装置接收到相位谱测量指令时，获取被测频段划分的各个被测子频段，和与各个被测子频段对应的交叠频点，然后执行步骤102至步骤105所述的过程。102、生成频谱成分覆盖被测子频段的第一相位参考信号。其中，第一相位参考信号可以为高频谱分辨率的调制信号，作为“主”相位参考可以用于实现各个被测子频段的分别测量。具体的，可以利用矢量信号发生器或者模拟信号发生器，通过调节所产生信号的频谱成分，生成频谱成分覆盖被测子频段的相位参考信号，即包含(但可以不限于)该被测子频段内的全部被测频点，需要说明的是，该相位参考信号的频谱成分不能同时覆盖全部被测子频段的所有被测频点。例如，对于N个被测子频段，通过调节所产生信号的频谱成分，先后生成N个“覆盖不同被测子频段”的相位参考信号R1＝{R11,R12,…,R1N}，使得这N个相位参考信号在整体上能够完全覆盖所有被测频点。103、测量第一相位参考信号与预先生成的第二相位参考信号在交叠频点上的第一相位差。其中，第二相位参考信号可以为低频谱分辨率的调制信号，作为“辅助”相位参考，可以用于实现各个被测子频段的相位同步。该第二相位参本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法，其特征在于，包括：获取被测频段划分的被测子频段和与所述被测子频段对应的交叠频点；生成频谱成分覆盖所述被测子频段的第一相位参考信号；测量所述第一相位参考信号与预先生成的第二相位参考信号在所述交叠频点上的第一相位差；根据所述第一相位差，测量所述被测信号与所述第一相位参考信号在所述被测子频段内被测频点上的第二相位差的集合；改变所述第一相位参考信号所覆盖的被测子频段，完成全部被测子频段的测量，将结果合并为非线性矢量网络分析仪的相位谱测量结果。

【技术特征摘要】
1.一种双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法，其特征在于，包括：获取被测频段划分的被测子频段和与所述被测子频段对应的交叠频点；生成频谱成分覆盖所述被测子频段的第一相位参考信号；测量所述第一相位参考信号与预先生成的第二相位参考信号在所述交叠频点上的第一相位差；根据所述第一相位差，测量所述被测信号与所述第一相位参考信号在所述被测子频段内被测频点上的第二相位差的集合；改变所述第一相位参考信号所覆盖的被测子频段，完成全部被测子频段的测量，将结果合并为非线性矢量网络分析仪的相位谱测量结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一相位差，测量所述被测信号与所述第一相位参考信号在所述被测子频段内被测频点上的第二相位差的集合，具体包括：通过所述第一相位差，对所述第一相位参考信号在所述被测子频段内被测频点上的相位值进行延迟修正；测量延迟修正后的所述第一相位参考信号在所述被测频点上的相位值，与所述被测信号在所述被测频点上的相位值之差，得到所述被测信号与所述第一相位参考信号在所述被测子频段内被测频点上的第二相位差的集合。3.根据权利要求1至2中任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一相位差，测量所述被测信号与所述第一相位参考信号在所述被测子频段内被测频点上的第二相位差的集合，具体包括：测量所述被测信号与所述第一相位参考信号在所述被测子频段内被测频点上的第三相位差的集合；将所述第三相位差的集合中的第三相位差分别与所述第一相位差进行相加计算，得到所述被测信号与所述第一相位参考信号在所述被测子频段内被测频点上的第二相位差的集合。4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述获取被测频段划分的被测子频段和与所述被测子频段对应的交叠频点，具体包括：获取被测频段划分的彼此不交叠的被测子频段；确定所述被测子频段对应的一个交叠频点。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：张亦弛，何昭，黄见明，郭晓涛，张子龙，聂梅宁，杨瑷宁，王立峰，
申请(专利权)人：中国计量科学研究院，
类型：发明
国别省市：北京,11