颗粒物传感器制造技术

技术编号:17652397 阅读:37 留言:0更新日期:2018-04-08 06:46
本申请提供一种颗粒物传感器,包括:LED光源,用于发出白光,对待检测的空气进行照射;光谱仪,接收从空气中的颗粒物散射回来的光,用以对空气中的颗粒物进行检测。上述颗粒物传感器还可包括:电极,布置在所述空气的通路中;电晕放电装置,对该电极施加高压直流电流以在其周围形成电晕场;以及静电计,感测所述空气中颗粒物的电荷状态,以形成感应电流。本发明专利技术能够扩大空气中颗粒物的粒度检测范围,并能够提高检测的精确性。

【技术实现步骤摘要】
颗粒物传感器
本申请涉及一种颗粒物传感器,更具体地,涉及一种能够对较大粒度范围的颗粒物进行检测的颗粒物传感器。
技术介绍
光学颗粒计数器或光度计通常用于测量环境空气中颗粒物(PM)的粒度分布和浓度。然而,它们的读数受到颗粒的形状和折射率的影响,而这些属性不容易确定;因此,在对物理粒径和质量进行估算时,这些和其他重要的因素通常不予考虑。此外,光学方法通常依赖于激光光源或探测器,其由于米氏散射理论的局限性而限定了可以检测的颗粒粒度范围的下限,导致城市或燃烧为主的地区的空气中许多颗粒未被检测到。因此,如何提高颗粒物传感器的检测精度和扩大可检测的粒度范围,实为目前迫切需要解决的课题。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术主要致力于解决现有技术中所存在的上述问题。本专利技术结合亚微米散射技术和基于静电计的电晕充电技术来提高现有技术的操作范围和精度。它包括在上游的大颗粒散射的多角度测量,同时使用白光LED以确定颗粒的粒度和折射率,或将单波长激光用于大颗粒浓度检测。此外,该系统集成了一个在光学传感器后面的下游微型电晕充电和静电计以检测更小的颗粒,其小至0.01微米。因此,这个紧凑的系统能测量超出目前可测的广泛范围的颗粒,并且结合这两种技术与新的算法也极大的扩展了颗粒物(PM)传感器的精确性。本专利技术的主要目的在于提供一种能够对较大粒度范围的颗粒物进行检测的颗粒物传感器。本专利技术的再一目的在于提供一种能够提高检测精确度的颗粒物传感器。根据本专利技术的一个方案,提供一种颗粒物传感器,包括:LED光源,用于发出白光,对待检测的空气进行照射;光谱仪,接收从空气中的颗粒物散射回来的光,用以对空气中的颗粒物进行检测。根据本专利技术的另一个方案,提供一种颗粒物传感器,包括:激光光源,用于发出红光,对待检测的空气进行照射;光探测器,接收从空气中的颗粒物散射回来的光,用以对空气中的颗粒物进行检测。根据本专利技术,上述颗粒物传感器还可包括:电极,布置在所述空气的通路中;电晕放电装置,对该电极施加高压直流电流以在其周围形成电晕场;以及静电计,感测所述空气中颗粒物的电荷状态,以形成感应电流。利用本专利技术,能够扩大颗粒物的粒度检测范围,并能够提高检测的精确性。通过以下参照附图对优选实施例的说明,本申请的上述以及其它目的、特征和优点将更加明显。附图说明本申请的附图均为示意和说明性的,并非用以限制本专利技术。图中的尺寸、比例均为示意性的,即使有所偏差也不影响其对于本专利技术的精神和实质的阐释。附图和说明书一起用来提供对于本专利技术的进一步阐释,以帮助本领域技术人员更好地理解本专利技术。在附图中:图1(a)示例性示出本专利技术颗粒物传感器的一实施例,图1(b)示例性示出本专利技术颗粒物传感器的另一实施例;图2示例性示出颗粒物属性的仿真结果;图3示例性示出光阱的结构图;图4示例性示出鞘流装置的结构图;图5示例性示出鞘流装置的原理图;图6示例性示出不同颗粒物折射率的实部、虚部与颗粒物半径之间的关系图;图7示例性示出不同波长对应于颗粒直径的变化的仿真结果;图8示例性示出散射信号曲线与粒度分布的仿真结果;图9示例性示出不同颗粒物浓度下的散射系数;及图10示例性示出本专利技术颗粒物传感器的再一实施例,其中包括电晕放电装置。具体实施方式下面将参照图1至图10详细描述本申请的实施例。应当注意,这里描述的实施例只用于举例说明,并不用于限制本申请。本专利技术提供了一种用于室内、环境空气或排放测量的检测来自于单个颗粒的侧向和后向的散射光的颗粒物(PM)传感器。后向散射角在包括室内空气在内的低浓度环境下,达到可用的高灵敏度。基于颗粒物(PM)传感器的光电计的原理图如图1(a)和图1(b)所示(后面是另一个探测角度)。其中,图1(a)示例性示出本专利技术颗粒物传感器的一实施例,图1(b)示例性示出本专利技术颗粒物传感器的另一实施例。基于颗粒物(PM)传感器的光电计主要分为两部分:光学传感器和电子传感器。对于光学传感器部分,主要涉及四个部分:1.光源;2.光阱;3.粒度选择和鞘流技术;4.光传感对于电子传感器的一部分,它主要涉及三个组成部分:电极,传感器和微处理器(如图1(a)和图1(b)中的框5中的所示)。光学传感器光传感器部分用于室内空气PM2.5的检测。光源用于颗粒物(PM)传感器的光源可以是来自于一白光LED的宽带光(如图1(a)所示),相反其他更常见的光源是基于窄波长激光光源;或者,用于颗粒物(PM)传感器的光源可以是红光LED。要确定颗粒的粒度和折射率等重要因素,探测器响应函数必须是粒度的单调(函数)。这可以通过包括来自多个波长的信号,或通过不同的角度来获得。现有技术的系统通常只有一个角度和相当窄波段的光。基于白光的颗粒物(PM)传感器不如基于激光的颗粒物(PM)传感器灵敏,但传感器的响应曲线更单调。与激光光源相比,白光LED光源发光强度高、能量使用减少和且命长。使用不同的波长的入射光计算颗粒的属性,如吸收率、散射率,消光率、非对称函数,粒度和相位函数的平均余弦(如图2所示)。从仿真结果中可以发现,一个基于白光LED的系统可以捕捉到很多所需的颗粒特性的信息,可以改进对PM浓度的估算。这些仿真已经得到确认我们的仿真的实际测量的验证。基于这些属性,对于空气中的颗粒可以了解得更多。如图1(b)所示,也可以使用激光(波长为655纳米的红光)作为光源。在这种情况下,连同一个光探测器,也可以准确地得到颗粒物浓度。光阱在本基于颗粒物(PM)传感器系统的光电计中,采用了一种有效的光阱以捕捉杂散光和反射光,这样通过减少这种不需要的光进入探测器来提高整个系统的灵敏度。光阱的结构例如参见图3所示。光传感本专利技术的传感器系统使用一个扫描光谱仪来进行光传感和定量(如图1(a)所示)。与现有的基于光的窄波段的光源/探测器的光度测量系统相比,该光谱仪与在一波长范围内报告颗粒信息的白光光源配对。并且基于对所有波长的信号进行积分,可以确定颗粒的类型、消光系数、散射系数、浓度、折射率和粒度分布。该颗粒物(PM)传感器系统的该部分的时间分辨率可低至1秒。当使用激光(655纳米)作为光源时,利用成本低、体积小的光探测器来得到准确的颗粒物浓度。粒度选择入口和鞘流技术用一泵来带动空气通过该系统。样品空气首先通过一个入口。如果需要的话可以使用一个冲击器(一种捕捉超过所需尺寸的颗粒但允许更小的颗粒通过的装置)来将非常大的颗粒从气流中去除。冲击器通过使用具有直径2.5微米/10微米过滤孔的过滤器将直径超过10微米(或其他尺寸)的颗粒物滤除,所以只有具有2.5微米/10微米或以下直径的颗粒物将通过过滤器。一旦PM2.5/PM10通过泵和过滤器,余下的颗粒然后将被传递到基于颗粒物(PM)传感器和电晕放电探测器的光电计。鞘流装置的结构图如图4所示。必须控制在气流中的样品空气流中的粒子的分布以优化检测和保持传感器的光学清洁。这是通过一鞘流概念的应用来实现的。样品气流在(样品气流)到达传感器的被照射的检测区域之前先被包含在过滤空气(鞘流)的圆柱形区域内。由于鞘层空气的挤压效应,空气流的宽度变窄,这被称为“流体动力聚焦”。鞘流和空气流在流动中均保持层流状态,互不干扰。通过控制气路的结构参数,可将样本空气流尽量汇聚在气路的轴心上,此时样本空气流中的待测颗粒物在流体力学聚焦作用下一次本文档来自技高网...
颗粒物传感器

【技术保护点】
一种颗粒物传感器,包括:LED光源,用于发出白光,对待检测的空气进行照射;光谱仪,接收从空气中的颗粒物散射回来的光,用以对空气中的颗粒物进行检测。

【技术特征摘要】
1.一种颗粒物传感器,包括:LED光源,用于发出白光,对待检测的空气进行照射;光谱仪,接收从空气中的颗粒物散射回来的光,用以对空气中的颗粒物进行检测。2.如权利要求1所述的颗粒物传感器,还包括光阱,用以捕捉杂散光和反射光。3.如权利要求2所述的颗粒物传感器,其中,该光阱由吸光材料构成。4.如权利要求1所述的颗粒物传感器,还包括鞘流装置,用以使空气形成鞘流。5.如权利要求4所述的颗粒物传感器,其中,该鞘流装置包括冲击器,用于滤除大于参考粒度的颗粒物。6.如权利要求5所述的颗粒物传感器,其中,该参考粒度为2.5微米或10微米。7.如权利要求1所述的颗粒物传感器,其中,该颗粒物传感器在两个散射角处进行检测。8.如权利要求7所述的颗粒物传感器,其中,第一散射角为90°,第二散射角为135°。9.如权利要求1所述的颗粒物传感器,还包括:电极,布置在所述空气的通路中;电晕放电装置,对该电极施加高压直流电流以在其周围形成电晕场;以及静电计,感测所述空气中颗粒物的电荷状态,以形成感应电流。10.一种颗粒物传感器,包括:激光光源,用于发出红光,对待检...

【专利技术属性】
技术研发人员:宁治王欢雪魏鹏孙力叶盛杨祥
申请(专利权)人:香港城市大学
类型:发明
国别省市:中国香港,81

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