薄膜的厚度检测装置制造方法及图纸

本申请提供了一种薄膜的厚度检测装置。该薄膜的厚度检测装置包括：共通电极单元，包括共通电极以及设置在共通电极一侧的第一保护板；检出电极单元，与共通电极单元在第一方向相对且间隔设置，检出电极单元包括检出电极、导电层与第二保护板，第二保护板设置在检出电极的靠近共通电极单元的一侧，导电层设置在第二保护板的表面上，第一保护板与第二保护板在第一方向上的间隔形成待测物的检测通道，或者第一保护板与导电层在第一方向上的间隔形成检测通道，第一方向与第一保护板以及第二保护板的厚度方向平行。导电层可以屏蔽薄膜与第一保护板及第二保护板摩擦产生的静电荷，并且还能屏蔽纸币本身所携带的静电荷，提高了检测的准确性。

Measuring device for thickness of thin film

This application provides a thickness detection device for the film. The film thickness detection device includes a common electrode unit, including the common electrode and the common electrode is disposed on the first side of the protective plate; the detection electrode unit, and a common electrode unit in the first direction relative to and spaced detection electrode unit including detection electrode, conductive layer and the second protection plates, second protection plate is arranged on the detection electrode the common electrode unit near the side of the conductive layer is arranged on the surface of the second protection plates, the formation of analyte detection channel interval first protection plate and the protection plate second in a first direction, or the first protective plate and a conductive layer formed in a first direction interval detection channel, a first direction parallel with the first protection board and the second protective plate thickness direction. The conductive layer can shield the static charge produced by the friction between the film and the first protective plate and the two protective plate, and also can shield the static charge of the banknote itself, and improve the accuracy of the detection.

【技术实现步骤摘要】
薄膜的厚度检测装置
本申请涉及检测领域，具体而言，涉及一种薄膜的厚度检测装置。
技术介绍
目前，公开的较先进的纸币的厚度检测装置如图1所示，该厚度检测装置是利用静电荷感应的原理来检测纸币厚度的。该检测装置主要包括共通电极13’、共通电极透明板14’、检出电极23’以及检出电极透明板24’。其中，共通电极透明板14’设置在共通电极13’的靠近检出电极23’的表面上，检出电极透明板24’设置在检出电极23’的靠近共通电极13’的表面上，检出电极透明板24’与共通电极透明板14’之间的间隔形成待测物的检测通道(也称移动通道)。共通电极透明板14’用来保护共通电极13’，检出电极透明板24’用来保护检出电极23’。上述的厚度检测装置工作时，在共通电极13’上施加脉冲信号，检出电极23’上就会感应出电压信号，当待检测的纸币从检出电极23’上方通过时，检出电极23’上的电压就会发生变化，电压的变化大小与所通过物体的性质和厚度有关，进而根据电压的大小可以得到待测物的厚度，也能判断出待测物的厚度是否异常，其表面是否有异物、缺损或者折叠。上述的厚度检测装置存在如下问题：当纸币通过厚度检测装置时，纸币会与共通电极透明板14’及检出电极透明板24’发生摩擦，从而产生大量的静电荷，同时纸币本身也会携带一定量的静电荷，这些静电荷会对检出电极23’上的电压变化造成干扰，从而影响了厚度检测装置对纸币厚度检测的准确性。
技术实现思路
本申请的主要目的在于提供一种薄膜的厚度检测装置，以解决现有技术中薄膜的厚度检测装置检测不准确的问题。为了实现上述目的，本申请提供了一种薄膜的厚度检测装置，该薄膜的厚度检测装置包括：共通电极单元，包括共通电极以及设置在上述共通电极一侧的第一保护板；检出电极单元，与上述共通电极单元在第一方向相对且间隔设置，上述检出电极单元包括检出电极、导电层与第二保护板，上述第二保护板设置在上述检出电极的靠近上述共通电极单元的一侧，上述导电层设置在上述第二保护板的表面上，上述第一保护板与上述第二保护板在上述第一方向上的间隔形成待测物的检测通道，或者上述第一保护板与上述导电层在上述第一方向上的间隔形成上述检测通道，上述第一方向与上述第一保护板以及上述第二保护板的厚度方向平行。进一步地，上述导电层设置在上述第二保护板的靠近上述检出电极的表面上。进一步地，上述导电层包括ITO层、导电胶带和/或导电油墨层。进一步地，上述导电层的厚度大于或等于5μm。进一步地，上述厚度检测装置包括多个上述检出电极，上述厚度检测装置还包括静电感应芯片，上述静电感应芯片包括多个上述检出电极。进一步地，上述共通电极单元还包括：第一框体，与上述第一保护板形成第一容纳空间，上述共通电极设置在上述第一容纳空间中。进一步地，上述共通电极单元还包括：第一线路板，设置在上述第一容纳空间中，且上述共通电极设置在上述第一线路板的靠近上述第一保护板的表面上。进一步地，上述检出电极单元还包括：第二框体，与上述第二保护板形成第二容纳空间，上述检出电极设置在上述第二容纳空间中；第二线路板，设置在上述第二容纳空间中，且上述检出电极设置在上述第二线路板的靠近上述第二保护板的表面上。进一步地，上述厚度检测装置还包括：检出单元，设置在上述第二线路板的远离上述检出电极的表面上，上述检出单元包括与上述检出电极单元电连接的检出电路。进一步地，上述第一保护板和/或上述第二保护板为透明板。应用本申请的技术方案，在薄膜的厚度检测装置中，在第二保护板的至少一个表面上设置导电层，该导电层可以有效屏蔽薄膜通过厚度检测装置时与第一保护板及第二保护板摩擦产生的静电荷，并且还能屏蔽纸币本身所携带的静电荷，从而缓解了这些静电荷对检出电极的电压变化造成的干扰，提高了检测信号的准确性，使得厚度检测装置能够有效准确地对纸币的厚度信息进行检测。并且，这种厚度检测装置的结构简单有效，不需要额外增加静电屏蔽装置，其制作工序简单易行，生产成本低，制作周期短，适合于大批量制作生产，同时对于金融设备整机小型化及降低金融设备整机价格很有意义。附图说明构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本申请的进一步理解，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：图1示出了现有技术中的一种薄膜的厚度检测装置的局部结构示意图；图2示出了本申请的一种实施例提供的厚度检测装置的结构示意图；以及图3示出了本申请的另一种实施例中的厚度检测装置的局部结构示意图。其中，上述附图包括以下附图标记：13’、共通电极；14’、共通电极透明板；23’、检出电极；24’、检出电极透明板；10、共通电极单元；11、第一框体；12、第一线路板；13、共通电极；14、第一保护板；20、检出电极单元；21、第二框体；22、第二线路板；23、检出电极；24、第二保护板；25、导电层；30、检出单元。具体实施方式应该指出，以下详细说明都是例示性的，旨在对本申请提供进一步的说明。除非另有指明，本文使用的所有技术和科学术语具有与本申请所属
的普通技术人员通常理解的相同含义。需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。应该理解的是，当元件(诸如层、膜、区域、或衬底)描述为在另一元件“上”时，该元件可直接在该另一元件上，或者也可存在中间元件。而且，在说明书以及下面的权利要求书中，当描述有元件“连接”至另一元件时，该元件可“直接连接”至该另一元件，或者通过第三元件“电连接”至该另一元件。正如
技术介绍
所介绍的，现有技术中的薄膜的厚度检测装置在检测的过程中，待测物通过检测通道时，容易与保护板发生摩擦产生静电，并且待测物也容易产生静电，这些静电会对检出电极的感应电压的大小产生影响，即这些静电会导致该检测装置的检测结果不准确，为了解决如上的技术问题，本申请提出了一种薄膜的厚度检测装置。本申请的一种典型的实施方式中，提供了一种薄膜的厚度检测装置，如图2所示，该厚度检测装置包括共通电极单元10与检出电极单元20，其中，共通电极单元10包括共通电极13以及设置在上述共通电极13一侧的第一保护板14；检出电极单元20与上述共通电极单元10在第一方向相对且间隔设置，上述检出电极单元20包括检出电极23、导电层25与第二保护板24，上述第二保护板24设置在上述检出电极23的靠近上述共通电极单元10的一侧，上述导电层25设置在上述第二保护板24的表面上，上述第一保护板14与上述第二保护板24在上述第一方向上的间隔形成待测物的检测通道，或者上述第一保护板14与上述导电层25在上述第一方向上的间隔形成上述检测通道，上述第一方向与上述第一保护板14以及上述第二保护板24的厚度方向平行。上述“导电层25设置在上述第二保护板24的表面上”包括多种情况，具体地，导电层可以只设置在第二保护板的靠近检出电极的表面上(如图2所示)，也可以只设置在第二保护板的远离检出电极的表面上，还可以同时设置第二保护板的靠近检出电极的表面上以本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种薄膜的厚度检测装置，其特征在于，所述厚度检测装置包括：共通电极单元(10)，包括共通电极(13)以及设置在所述共通电极(13)一侧的第一保护板(14)；以及检出电极单元(20)，与所述共通电极单元(10)在第一方向相对且间隔设置，所述检出电极单元(20)包括检出电极(23)、导电层(25)与第二保护板(24)，所述第二保护板(24)设置在所述检出电极(23)的靠近所述共通电极单元(10)的一侧，所述导电层(25)设置在所述第二保护板(24)的表面上，所述第一保护板(14)与所述第二保护板(24)在所述第一方向上的间隔形成待测物的检测通道，或者所述第一保护板(14)与所述导电层(25)在所述第一方向上的间隔形成所述检测通道，所述第一方向与所述第一保护板(14)以及所述第二保护板(24)的厚度方向平行。

【技术特征摘要】
1.一种薄膜的厚度检测装置，其特征在于，所述厚度检测装置包括：共通电极单元(10)，包括共通电极(13)以及设置在所述共通电极(13)一侧的第一保护板(14)；以及检出电极单元(20)，与所述共通电极单元(10)在第一方向相对且间隔设置，所述检出电极单元(20)包括检出电极(23)、导电层(25)与第二保护板(24)，所述第二保护板(24)设置在所述检出电极(23)的靠近所述共通电极单元(10)的一侧，所述导电层(25)设置在所述第二保护板(24)的表面上，所述第一保护板(14)与所述第二保护板(24)在所述第一方向上的间隔形成待测物的检测通道，或者所述第一保护板(14)与所述导电层(25)在所述第一方向上的间隔形成所述检测通道，所述第一方向与所述第一保护板(14)以及所述第二保护板(24)的厚度方向平行。2.根据权利要求1所述的厚度检测装置，其特征在于，所述导电层(25)设置在所述第二保护板(24)的靠近所述检出电极(23)的表面上。3.根据权利要求1所述的厚度检测装置，其特征在于，所述导电层(25)包括ITO层、导电胶带和/或导电油墨层。4.根据权利要求1所述的厚度检测装置，其特征在于，所述导电层(25)的厚度大于或等于5μm。5.根据权利要求1所述的厚度检测装置，其特征在于，所述厚度检测装置包括多个所述检出电极(23)，所述厚度...

【专利技术属性】
技术研发人员：戚务昌，宋荣鑫，王凯，段平，杜忺峰，
申请(专利权)人：威海华菱光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：山东,37