Functional coverage can be expected in the simulation of the monitoring points are to function and incentive, and is the effective means to ensure the comprehensive simulation, through the method of traversal can let the function point of the design is complete the simulation, and from the overall consideration, leaving no blind spots. The invention can be used as an auxiliary reference in functional verification to ensure the overall validity of the verification.
【技术实现步骤摘要】
一种功能覆盖率的全遍历方法
本专利技术适用于芯片设计开发领域,仿真验证阶段中对于功能覆盖率的建立方法。通过有效的交叉分析得到全面可靠的功能覆盖率集合。
技术介绍
功能覆盖率是SystemVerilog引入的一个对功能监测的有效工具,可以对自定义的功能覆盖率点,功能覆盖率集合中所描述的芯片设计功能进行收集,只有达到了预期的功能覆盖率才能够证明芯片中的功能经过验证的,结果正确的,复合设计的意图。功能覆盖率点是单个功能点,而功能覆盖率集合是将两个甚至多个功能覆盖率点集合在一起,从而代表芯片设计某个特定的状态在仿真验证中出现。
技术实现思路
在芯片设计开发中,仿真验证阶段需要收集功能覆盖率来保证所有的功能覆盖率点都被覆盖到。对于功能复杂的模块,功能覆盖率点会较多,这就导致功能覆盖率集合会更加多,例如N个功能覆盖率点,在没有排除无意义的功能覆盖率集合,可能有CN1+CN2+CN3+…+CNn-1个功能覆盖率集合。而实际上全部覆盖所有的功能覆盖率集合是不现实的,需要创建大量的仿真验证测试例,耗费太多时间,而且带来的意义不大,所以采用本专利技术提供一种全遍历的方法,并且有效排除了所有低价值,无意义的功能覆盖率集合,尽快收敛到合理全面的功能覆盖率集合。首先,可以从设计规范中提取相应的基本功能覆盖率点,将功能覆盖率点分别填入表格的横列和纵列,基本功能覆盖率点是整个覆盖率分析的出发条,也决定了交叉功能覆盖率集合的最大值。因为功能覆盖率集合是不关心先后顺序的,所以可以忽略表格下半部分的内容,经过设计的特性分析,与其他功能点的交集意义并不大,可以忽略的集合,在表格中用“---”符号来 ...
【技术保护点】
一种功能覆盖率的全遍历方法,其特征在于,包含:a)定义基本功能覆盖率点,通过表格的方法,排除无意义的交叉功能覆盖率集合,找到有意义的交叉的功能覆盖率集合。b)互相交叉的功能覆盖率集合再次与基本功能覆盖率点交叉,通过表格来找到更进一步,有意义的功能点集合。c)不断递归调用b的方法,更进一步的功能覆盖率集合,直到无法进一步,可以确定所有功能点集合都被遍历。
【技术特征摘要】
1.一种功能覆盖率的全遍历方法,其特征在于,包含:a)定义基本功能覆盖率点,通过表格的方法,排除无意义的交叉功能覆盖率集合,找到有意义的交叉的功能覆盖率集合。b)互相交叉的功能覆盖率集合再次与基本功能覆盖率点交叉,通过表格来找到更进一步,有意义的功能点集合。c)不断递归调用b的方法,更进一步的功能...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱思良,周强,
申请(专利权)人:上海华虹集成电路有限责任公司,
类型:发明
国别省市:上海,31
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