本振泄漏自动校准方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种本振泄漏自动校准方法及装置，属于通讯技术领域。该方法包括：为IQ寄存器设置N组不同的配置值(x，y)，所述N的取值为(n+1)

Automatic calibration method and device for local vibration leakage

The invention discloses a method and device for automatic calibration of local vibration leakage, which belongs to the field of communication technology. This method includes: setting the N group of different configuration values (x, y) for the IQ register, and the value of the N is (n+1).

【技术实现步骤摘要】
本振泄漏自动校准方法及装置
本专利技术涉及通讯
，尤其涉及本振泄漏自动校准方法及装置。
技术介绍
在发射机架构中，正交调制信号和本振信号总是存在幅度和相位的不平衡及直流偏移误差，本振泄露是不可避免的。本振泄漏会带来不同程度的负面影响，在宽带射频单元中，本振泄漏会与载波信号产生互调，直接恶化发射信号SNR(Signal-NoiseRatio，信噪比)，影响EVM(ErrorVectorMagnitude，误差向量幅度)。因此，单板在出厂前需要将本振泄露校准到一个合理的范围，保证达到发射机的指标。现有校准装置需要额外增加硬件设备，提高了实现成本，校准方案中采取抽样或者遍历本振泄漏补偿值的方法，无法获得较高的精度和效率。例如，假设发射机I路与Q路寄存器取值范围为[-2000，2000]，以步进50进行遍历，寻找相对比较低的本振功率点，总共需要遍历6400次。并且每次遍历均需一定的时间后，才能获取稳定的本振功率值。由此可见，全局范围及较小步进的遍历会严重影响校准效率。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种本振泄漏自动校准方法及装置，以解决在不增加额外硬件成本的基础上，如何精确有效地获得本振泄漏校准结果的问题。为实现上述目的，本专利技术提供一种本振泄漏自动校准方法，该方法包括步骤：为IQ寄存器设置N组不同的配置值(x，y)，所述N的取值为(n+1)2，其中n为正整数；获取所述N组配置值(x，y)对应的N个本振功率值z；根据所述N组配置值(x，y)和对应的N个本振功率值z，确定出包含N个系数的拟合多项式，所述拟合多项式为二元高阶多项式，所述n为所述二元高阶多项式中的最高次数；根据所述拟合多项式，计算本振功率最小值，并得到所述最小值对应的所述IQ寄存器的配置值(X1，Y1)。可选地，所述N组配置值(x，y)从频谱仪中获取。可选地，所述根据所述拟合多项式，计算本振功率最小值，并得到所述最小值对应的所述IQ寄存器的配置值(X1，Y1)的步骤具体包括：以第一预定步进遍历所述IQ寄存器的配置值；将每一组配置值代入所述拟合多项式中，计算出对应的本振功率值z；从计算出的所有本振功率值z中获得最小值；得到所述最小值对应的所述IQ寄存器的配置值(X1，Y1)。可选地，该方法还包括步骤：在所述配置值(X1，Y1)附近的预定范围内以第二预定步进遍历所述IQ寄存器的配置值，从频谱仪中读取对应的本振功率值，得到本振功率值最小时对应的所述IQ寄存器的配置值(X2，Y2)，作为最终的校准结果。可选地，所述第一预定步进和/或所述第二预定步进为最小步进。为实现上述目的，本专利技术还提出一种本振泄漏自动校准装置，该装置连接于发射机和频谱仪，用于配置所述发射机的IQ寄存器，该装置包括：设置模块，用于为所述IQ寄存器设置N组不同的配置值(x，y)，所述N的取值为(n+1)2，其中n为正整数；读取模块，用于获取所述N组配置值(x，y)对应的N个本振功率值z；计算模块，用于根据所述N组配置值(x，y)和对应的N个本振功率值z，确定出包含N个系数的拟合多项式，所述拟合多项式为二元高阶多项式，所述n为所述二元高阶多项式中的最高次数；拟合模块，用于根据所述拟合多项式，计算本振功率最小值，并得到所述最小值对应的所述IQ寄存器的配置值(X1，Y1)。可选地，所述读取模块通过从所述频谱仪中读取数据来获取所述N组配置值(x，y)。可选地，所述拟合模块得到所述配置值(X1，Y1)的过程具体包括：以第一预定步进遍历所述IQ寄存器的配置值；将每一组配置值代入所述拟合多项式中，计算出对应的本振功率值z；从计算出的所有本振功率值z中获得最小值；得到所述最小值对应的所述IQ寄存器的配置值(X1，Y1)。可选地，该装置还包括：校准模块，用于在所述配置值(X1，Y1)附近的预定范围内以第二预定步进遍历所述IQ寄存器的配置值，从所述频谱仪中读取对应的本振功率值，得到本振功率值最小时对应的所述IQ寄存器的配置值(X2，Y2)，作为最终的校准结果。可选地，所述第一预定步进和/或所述第二预定步进为最小步进。本专利技术提出的本振泄漏自动校准方法及装置，可以通过频谱仪读取有限组IQ寄存器配置值下发射机的本振功率值，利用多项式拟合技术，由有限个样点估计出所有IQ寄存器配置值下的本振功率值，从而进一步获取最优IQ寄存器配置值作为本振泄漏的校准结果。在仅使用通信仪表而不额外增加硬件成本的基础上，利用多项式拟合算法获取本振泄漏补偿的最优值，保证了本振泄漏校准精度，提升了本振泄漏的校准效率。附图说明图1为本专利技术第一实施例提出的一种本振泄漏自动校准装置的模块示意图；图2为本专利技术第二实施例提出的一种本振泄漏自动校准方法的流程图；本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式为了使本专利技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚、明白，以下结合附图和实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。如图1所示，本专利技术第一实施例提出一种本振泄漏自动校准装置10，该装置通过网线，串口线等方式连接于发射机20和频谱仪30，用于配置发射机20的IQ寄存器22。所述发射机20与频谱仪30通过射频线缆连接。所述本振泄漏自动校准装置10可以是计算机等电子装置。在本实施例中，本振泄漏自动校准装置10包括设置模块102、读取模块104、计算模块106、拟合模块108及校准模块110。所述设置模块102，用于设置采用的拟合多项式系数的个数N。具体地，根据该发射机20采用的本振器件的统计特性，并保证拟合精度，考虑采用二元高阶多项式对本振功率值与IQ寄存器22的配置值的对应关系进行拟合。在该多项式中具体采用多少个系数，可以根据该发射机20采用的本振器件的实际情况进行相应的设置。例如，在本实施例中，所述二元高阶多项式为：其中，z表示本振功率值，x与y分别表示I路寄存器与Q路寄存器的配置值，ai(i＝0,1,2,…,15)为该多项式的系数，是进行拟合求解的目标。可见，在本实施例中，所述多项式系数的个数N为16。值得注意的是，所述多项式系数的个数N的取值可以为(n+1)2，其中n为正整数，n表示所述二元高阶多项式中的最高次数。例如，当所述二元高阶多项式中的x、y的最高次数为2时，所述多项式系数的个数N为(2+1)2＝9。当所述二元高阶多项式中的x、y的最高次数为3时，所述多项式系数的个数N为(3+1)2＝16。当所述二元高阶多项式中的x、y的最高次数为4时，所述多项式系数的个数N为(4+1)2＝25。也就是说，在其他实施例中，所述多项式系数的个数N还可以为9、25等，则所述二元高阶多项式的形式也会对应变化。例如，当所述个数N为9时，所述二元高阶多项式为：所述设置模块102还用于根据所述个数N为IQ寄存器22设置N组不同的配置值(x，y)。所述读取模块104，用于从频谱仪30中读取所述N组配置值(x，y)对应的N个稳定的本振功率值z。例如，当所述个数N为16时，设置模块102需要设置16组不同的IQ寄存器22的配置值(x0，y0)～(x15，y15)，然后读取模块104从频谱仪30中读取在该16组配置值下对应的16个本振功率值Z0～Z15本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种本振泄漏自动校准方法，该方法包括步骤：为IQ寄存器设置N组不同的配置值(x，y)，所述N的取值为(n+1)

【技术特征摘要】
1.一种本振泄漏自动校准方法，该方法包括步骤：为IQ寄存器设置N组不同的配置值(x，y)，所述N的取值为(n+1)2，其中n为正整数；获取所述N组配置值(x，y)对应的N个本振功率值z；根据所述N组配置值(x，y)和对应的N个本振功率值z，确定出包含N个系数的拟合多项式，所述拟合多项式为二元高阶多项式，所述n为所述二元高阶多项式中的最高次数；根据所述拟合多项式，计算本振功率最小值，并得到所述最小值对应的所述IQ寄存器的配置值(X1，Y1)。2.根据权利要求1所述的本振泄漏自动校准方法，其特征在于，所述N组配置值(x，y)从频谱仪中获取。3.根据权利要求1所述的本振泄漏自动校准方法，其特征在于，所述根据所述拟合多项式，计算本振功率最小值，并得到所述最小值对应的所述IQ寄存器的配置值(X1，Y1)的步骤具体包括：以第一预定步进遍历所述IQ寄存器的配置值；将每一组配置值代入所述拟合多项式中，计算出对应的本振功率值z；从计算出的所有本振功率值z中获得最小值；得到所述最小值对应的所述IQ寄存器的配置值(X1，Y1)。4.根据权利要求1所述的本振泄漏自动校准方法，其特征在于，该方法还包括步骤：在所述配置值(X1，Y1)附近的预定范围内以第二预定步进遍历所述IQ寄存器的配置值，从频谱仪中读取对应的本振功率值，得到本振功率值最小时对应的所述IQ寄存器的配置值(X2，Y2)，作为最终的校准结果。5.根据权利要求4所述的本振泄漏自动校准方法，其特征在于，所述第一预定步进和/或所述第二预定步进为最小步进。6.一种本振泄漏自动校准装置，该装置连接于发射机和...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑国强，许亮，鲁维民，宋春辉，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44