用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试系统及方法，系统包括软件载体，探头阵列装置，探头控制装置，信号发射与解调装置，辅助装置，微波暗室，转台。本发明专利技术提出的方法基于微波暗室，对有源基站天线或基站系统的发射和接收性能进行测试，使用多探头对有源基站天线或基站系统辐射信号强度、质量进行采样并进行360度球面或部分截面进行微积分计算从而得出发射性能的各项评估。使用多探头轮换向有源基站天线或基站系统发射信号，在基站端获取解调指标作为采样数据，在360度球面或部分截面进行微积分计算，从而得出接收性能的各项评估，既可进行全部数据的运算得出360度全方位辐射性能，也可进行局部方位的运算得出局部辐射性能。

Test system and method for OTA performance of active base station antenna or base station system

【技术实现步骤摘要】
用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试系统及方法
本专利技术涉及无线通信
，更具体的说是涉及用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试系统及方法。
技术介绍
通信领域的飞速发展下，电磁环境日益复杂，人们对基站系统的性能表现不在局限于单个模块的性能表现，而是更为关注系统整体性能表现。同时基站天线复杂程度不断加大，出现了自适应MIMO类天线(有源)，有源基站天线等设备。但是，有源基站天线这类设备其无源天线部分无法与有源控制部分分离，因此无法单独对其无源天线模块的辐射性能进行独立测试。所以有源基站天线或基站系统的无线天线模块的辐射性能测试只有通过对有源基站天线整体或基站系统整体的测试来进行。显然有必要设计一种针对有源基站或基站系统整体的测试系统及测试方法。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的第一个目的在于提供一种用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试系统及方法，该测试系统可用于对有源基站或基站系统整体的测试。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试系统及方法，包括：探头阵列装置，包括多个探头，对被测物在空间每个点上的辐射信道功率和辐射接收灵敏度进行采样或对被测物进行信号照射；探头控制装置，与探头阵列装置上的探头连接并连接处理装置，控制不同方向上的探头和极化使能；信号发射与解调装置，与探头控制装置和处理装置连接，从探头阵列装置获取采样到的信号并对采样到的信号进行解调分析得到采样数据或生成调制信号照射源；辅助装置，连接被测物和处理装置，控制被测物发射信号或读取被测物接收信号结果；微波暗室；转台；带动被测物相对于所述探头阵列装置做旋转；处理装置，与探头控制装置信号发射与解调装置连接，对采样数据的整体或部分进行微积分运算处理得出被测物的整体或部分辐射和接收性能数据。通过上述方案，可以对有源基站天线或基站系统进行360度全方向数据的采样和运算得出360度全方位辐射和接收性能，也可以进行局部方位的采样和运算得出局部辐射和接收性能，该测试系统及测试方法可以对有源基站天线或基站系统做出测量评判，该方法也适用与其他类型的有源天线测试。优选的，在上述一种用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试系统及方法中，所述多个探头为多个垂直交叉双极化探头。通过上述方案，可以对有源基站天线或基站系统进行采样，探头数量越多，采样点越密集。可进行局部方位的采样，也可配合转台旋转可完成360度全方向数据的采样。优选的，在上述一种用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试系统及方法中，所述信号发射与解调装置可发射调制信号和解调调制信号。通过上述方案，信号发射与解调装置对采样到的信号进行解调分析或生成调制信号照射源，便于软件进一步的计算。优选的，在上述一种用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试系统及方法中，所述辅助装置可与被测物共同构成整体基站系统的补充，且所述基站系统包含有基带、射频和天线。通过上述方案，辅助装置控制被测物或读取被测物信息，所有的采样数据通过软件进行计算得出发射和接收性能评价数据，从而得出发射和接收性能的各项评估。本专利技术的第二个目的在于提供一种有源天线或基站系统OTA性能测试的方法，该方法基于前述测试系统，该测试方法应用于前述测试系统能对有源基站或基站系统整体的性能进行准确测试。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试系统的测试方法，包括如下步骤：(a)利用探头控制装置控制不同方向上的探头和极化使能(b)利用所述探头阵列装置对被测物进行信号采样或信号照射；(c)通过所述信号发射与解调装置对采样到的信号进行解调分析得到采样数据或生成调制信号照射源；(d)利用所述转台来带动被测物，且相对于所述探头阵列装置做旋转；(e)通过所述辅助装置来控制被测物发射信号或读取被测物接收信号结果；(f)将上述所有的采样数据通过软件进行计算得出发射和接收性能评价数据，完成测试；所述采样数据是采取被测物在空间每个点上的辐射信道功率和辐射接收灵敏度，所述计算是由软件对所述采样数据的整体或部分做微积分运算。与现有技术相比，本专利技术提出的方法基于微波暗室，对有源基站天线或基站系统的发射和接收性能进行测试，使用多探头对有源基站天线或基站系统辐射信号强度、质量进行采样并进行360度球面或部分截面进行微积分计算从而得出发射性能的各项评估。使用多探头轮换向有源基站天线或基站系统发射信号，在基站端获取解调指标作为采样数据，在360度球面或部分截面进行微积分计算，从而得出接收性能的各项评估，既可进行全部数据的运算得出360度全方位辐射性能，也可进行局部方位的运算得出局部辐射性能。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1附图为本专利技术的结构示意图。在图中：1为处理装置、2为探头阵列装置、3为探头控制装置、4为信号发射与解调装置、5为辅助装置、6为微波暗室、7为转台。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。实施例一：请参阅附图1，为本专利技术公开的一种用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试系统及方法，该测试系统包括以下设备：处理装置1，探头阵列装置2，探头控制装置3，信号发射与解调装置4，辅助装置5，微波暗室6，转台7。其中，探头阵列装置2包括多个探头，其用于对被测物在空间每个点上的辐射信道功率和辐射接收灵敏度进行采样或对被测物进行信号照射；探头控制装置3与探头阵列装置2上的探头连接并连接处理装置1，探头控制装置可以控制不同方向上的探头和极化使能；信号发射与解调装置4与探头控制装置3和处理装置1连接，信号发射与解调装置4从探头阵列装置获取采样到的信号并对采样到的信号进行解调分析得到采样数据或生成调制信号照射源；辅助装置5，连接被测物和处理装置1，控制被测物发射信号或读取被测物接收信号结果；微波暗室6；转台7；带动被测物相对于所述探头阵列装置2做旋转；处理装置1，与探头控制装置3信号发射与解调装置4连接，处理装置1搭载有运算软件，信号发射与解调装置4将经过解调分析的采样信号发送给处理装置1，处理装置利用其运算软件对采样数据的整体或部分进行微积分运算处理得出被测物的整体或部分辐射和接收性能数据。其中，探头阵列装置2为多个垂直交叉双极化探头，信号发射与解调装置4可发射调制信号和解调调制信号，辅助装置5可与被测物共同构成整体基站系统的补充，且基站系统包含有基带、射频和天线。实施例二：一种用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试方法，该方法基于实施例一中记载的测试系统，该方法的实施具体包括如下步骤：(a)利用探头控制装置3控制不同方向上的探头和极化使能；(b)利用探头阵列装置2对被测物进行信号采样或信号照射；(c)通过信号发射与解调装置本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试系统及方法，其特征是，包括：探头阵列装置(2)，包括多个探头，对被测物在空间每个点上的辐射信道功率和辐射接收灵敏度进行采样或对被测物进行信号照射；探头控制装置(3)，与探头阵列装置(2)上的探头连接并连接处理装置(1)，控制不同方向上的探头和极化使能；信号发射与解调装置(4)，与探头控制装置(3)和处理装置(1)连接，处理装置控制从探头阵列装置获取采样到的信号并对采样到的信号进行解调分析得到采样数据或生成调制信号照射源；辅助装置(5)，连接被测物和处理装置(1)，控制被测物发射信号或读取被测物接收信号结果；微波暗室(6)；转台(7)；带动被测物相对于所述探头阵列装置(2)做旋转；处理装置(1)，与探头控制装置(3)信号发射与解调装置(4)连接，对采样数据的整体或部分进行微积分运算处理得出被测物的整体或部分辐射和接收性能数据。

【技术特征摘要】
1.用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试系统及方法，其特征是，包括：探头阵列装置(2)，包括多个探头，对被测物在空间每个点上的辐射信道功率和辐射接收灵敏度进行采样或对被测物进行信号照射；探头控制装置(3)，与探头阵列装置(2)上的探头连接并连接处理装置(1)，控制不同方向上的探头和极化使能；信号发射与解调装置(4)，与探头控制装置(3)和处理装置(1)连接，处理装置控制从探头阵列装置获取采样到的信号并对采样到的信号进行解调分析得到采样数据或生成调制信号照射源；辅助装置(5)，连接被测物和处理装置(1)，控制被测物发射信号或读取被测物接收信号结果；微波暗室(6)；转台(7)；带动被测物相对于所述探头阵列装置(2)做旋转；处理装置(1)，与探头控制装置(3)信号发射与解调装置(4)连接，对采样数据的整体或部分进行微积分运算处理得出被测物的整体或部分辐射和接收性能数据。2.根据权利要求1所述的用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试系统及方法，其特征在于，所述多个探头为多个垂直交叉双极化探头。3.根据权利要求1所述的用于有源基站天线或基站系统OT...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩栋，蒋宇，陈海波，王道翊，郭蓉，
申请(专利权)人：深圳市新益技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44