A systematic method of determining the spatial radiation characteristics of the transmitted radio frequency signal is disclosed herein. In an exemplary embodiment, the RF device includes a receiver and an antenna. The antenna is configured to receive a reflective radio frequency signal containing a set of modulated signal segments. Each modulation signal segment has a unique modulation mode, which indicates the time-varying reflection characteristic of the corresponding signal reflector of the radio frequency signal reflector. The receiver may include a circuit for processing the modulation signal segment and determining the spatial intensity distribution of the radio frequency signal incident on the radio frequency signal reflector. The spatial intensity distribution can be used by the circuit to determine the spatial radiation characteristics of the RF signal transmitted by the transmitter in order to produce reflected radio frequency signals. The transmitter in the RF device can be combined with a beam manipulation circuit, which can modify the spatial radiation characteristics of the transmitted RF signal to be used to solve the misalignment.
【技术实现步骤摘要】
确定发射的无线电频率信号的空间辐射特性的系统方法
技术介绍
通信系统出于各种原因通常采用毫米波射频(RF)信号,这些原因包括可以通过这种信号实现的窄波束特性。窄波束特性提供了可以被精确地导向目标天线并由于更高增益(例如,与全向RF信号相比)而使更大的信号在所选方向上抵达的聚焦波束。使用毫米波RF信号的另一原因可归因于对这些信号进行操作所使用的部件的尺寸减小。可以容易地封装在集成电路(IC)内部的这种组件不仅可以包括与RF发射器、RF接收器、信号调节器和/或信号处理器相关联的电路组件,而且还可以包括RF天线。通常,RF天线被制造在IC的衬底上,并且集成到封装中,并且不能相对于封装物理地移动,以用于当发送毫米波RF时将RF天线定向在期望的方向。然而,可以通过使用波束控制电路电子地操纵波束并向发射的毫米波RF信号提供期望的辐射特性来解决这个问题。通常,波束控制电路包含一个或多个相位延迟元件,其用于选择性地改变毫米波RF信号的相对相位特性,以便执行波束操纵。不幸的是,由相位延迟提供的相位延迟量在一批IC中的第一IC内制造的第一相位延迟元件可能不同于与在该批IC中的另一类似IC内制造的类似相位延迟元件提供的相位延迟量。这可能由于各种因素而发生,例如部件到部件的变化和制造公差。具有这样的差异的最终结果不仅在相位延迟元件中,而且在RFIC的各种其它元件中也可能导致从一个RFIC到另一个RFIC的RF波束辐射特性的不可接受水平的失配。传统上通过使用需要复杂的测试设备和复杂测试技术的测试和/或质量保证(QA)程序来解决该问题。可以理解,许多这样的传统测试过程可能最终是相当费时和昂 ...
【技术保护点】
一种方法,包括:从第一射频设备发射第一射频信号;在射频信号反射器中接收所述第一射频信号的至少一部分,所述射频信号反射器包括多个信号反射片;由所述射频信号反射器生成被朝向所述第一射频设备或第二射频设备中的至少一个反射回来的一组调制信号段,所述生成包括:使用第一调制码序列调制第一时变模式中的第一信号反射片的反射率,并从中产生指示第一时变反射特性的第一调制信号段;和使用第二调制码序列调制第二时变模式中的第二信号反射片的反射率,并从中产生指示第二时变反射特性的第二调制信号段;在所述第一射频设备或所述第二射频设备中的所述至少一个中接收所述一组调制信号段;和在所述第一射频设备或所述第二射频设备的所述至少一个中处理所述一组调制信号段,以确定所述第一射频信号在所述射频信号反射器上的空间强度分布。
【技术特征摘要】
2016.08.22 US 15/243,4251.一种方法,包括:从第一射频设备发射第一射频信号;在射频信号反射器中接收所述第一射频信号的至少一部分,所述射频信号反射器包括多个信号反射片;由所述射频信号反射器生成被朝向所述第一射频设备或第二射频设备中的至少一个反射回来的一组调制信号段,所述生成包括:使用第一调制码序列调制第一时变模式中的第一信号反射片的反射率,并从中产生指示第一时变反射特性的第一调制信号段;和使用第二调制码序列调制第二时变模式中的第二信号反射片的反射率,并从中产生指示第二时变反射特性的第二调制信号段;在所述第一射频设备或所述第二射频设备中的所述至少一个中接收所述一组调制信号段;和在所述第一射频设备或所述第二射频设备的所述至少一个中处理所述一组调制信号段,以确定所述第一射频信号在所述射频信号反射器上的空间强度分布。2.根据权利要求1所述的方法,还包括:使用所述空间强度分布来确定所述第一射频信号的一个或多个空间辐射特性。3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述一个或多个空间辐射特性指示所述第一射频信号相对于所述射频信号反射器的未对准,所述方法还包括:修改所述第一射频设备中的天线辐射模式以解决所述未对准。4.根据权利要求3所述的方法,其中,修改所述天线辐射模式是在所述第一射频设备中执行的校准过程或测试过程中的至少一个的一部分。5.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员:K·A·西村,
申请(专利权)人:是德科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:美国,US
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