激光闪光法热扩散率测量装置及样品支撑结构制造方法及图纸

技术编号:17343937 阅读:37 留言:0更新日期:2018-02-25 09:00
本发明专利技术提供的激光闪光法热扩散率测量装置及样品支撑结构,样品支撑结构包括:托盘、支撑圆筒、转台、底座和至少一个样品池;至少一个样品池固定安装在托盘上,在托盘上每个样品池的安装处开设有第一透光孔,每个第一透光孔的中心与托盘的心的距离均为第一预设距离;每个样品池上放置样品处设置有第二透光孔;每个第二透光孔中心与该第二透光孔下方第一透光孔中心在同一直线上;托盘固定安装在支撑圆筒顶部,支撑圆筒底部固定安装在转台的轴承上,转台与底座固定连接,底座上设置有第三透光孔,该第三透光孔中心与底座上第一位置的距离为第一预设距离;其中,第一位置为:托盘的中心位置正对底座上的位置。本发明专利技术能够提高热扩散率的测量效率。

【技术实现步骤摘要】
激光闪光法热扩散率测量装置及样品支撑结构
本专利技术实施例涉及激光闪光法热扩散率测量
,尤其涉及一种激光闪光法热扩散率测量装置及样品支撑结构。
技术介绍
激光闪光法热扩散率测量装置所利用的原理是:利用一束脉冲激光打到样品上,样品吸热温度升高,通过检测样品的温度变化可以得到样品的热扩散率。现有的激光闪光法热扩散率测量装置中包含样品支撑结构,该样品支撑结构用于支撑样品以完成热扩散率的测量。现有的样品支撑结构通常固定的样品数量为1个,因此在对多个样品进行热扩散率的测量过程中,需要不停的更换样品,从而降低了热扩散率的测量效率。
技术实现思路
本专利技术提供了一种激光闪光法热扩散率测量装置及样品支撑结构,以提高热扩散率的测量效率。为达到上述目的,本专利技术实施例提供了一种激光闪光法热扩散率测量装置中的样品支撑结构,所述样品支撑结构包括:托盘、支撑圆筒、转台、底座和至少一个样品池;所述至少一个样品池固定安装在托盘上,在托盘上每个样品池的安装处开设有第一透光孔,每个第一透光孔的中心与托盘的中心的距离均为第一预设距离;每个样品池上放置待检测样品处设置有第二透光孔;每个第二透光孔的中心与该第二透光孔下方第一透光孔的中心在同一直线上;所述托盘固定安装在所述支撑圆筒顶部,所述支撑圆筒的底部固定安装在所述转台的轴承上,所述转台与所述底座固定连接,所述底座上设置有第三透光孔,该第三透光孔的中心与所述底座上第一位置的距离为所述第一预设距离;其中,所述第一位置为:所述托盘的中心位置正对所述底座上的位置。进一步地,每个样品池包括:样品支撑台和固定帽;样品支撑台上设置有由凸起围成的槽,该槽的中心处设有第三透光孔,所述第三透光孔的大小大于待检测样品的大小;所述固定帽紧密罩住该槽四周的凸起,所述固定帽的中心开设有第四透光孔。进一步地,所述至少一个样品池圆周均布安装在所述托盘上。进一步地,样品池的数量为4个。进一步地,所述样品支撑结构还包括防辐射屏;所述防辐射屏位于所述支撑圆筒内部。进一步地,所述防辐射屏包括:支撑杆、至少一个辐射叶片、至少一个限位套和固定套;在所述底座上的第一位置处开设有安装孔,所述支撑杆的底端插入所述安装孔内,所述支撑杆上底部设置有限位耳部,该限位耳部的尺寸大于所述安装孔;所述支撑杆为两段式结构,所述支撑杆的上一阶段为细段,所述支撑杆的下一阶段为粗段;所述支撑杆的细段上套设有至少一个辐射叶片,各个辐射叶片的中心孔的直径小于粗段的外径;相连两个辐射叶片之间套设有限位套,在细段上的顶部套设有固定套,该固定套的底部紧密抵接顶部的辐射叶片;每个辐射叶片上开设有第五透光孔,每个第五透光孔的中心与该第五透光孔所在辐射叶片中心的距离均为所述第一预设距离。进一步地,所述支撑杆固定安装在所述底座上。进一步地,辐射叶片的数量为4个。进一步地,所述支撑圆筒上开设有至少一个导热孔。进一步地,导热孔的数量为4个。本专利技术实施例还提供了一种激光闪光法热扩散率测量装置,所述装置包括脉冲激光器、上述的样品支撑结构;所述脉冲激光器的激光发射端口正对第三透光孔。进一步地,所述装置还包括真空加热炉,所述支撑圆筒位于所述真空加热炉的炉膛内。进一步地,所述装置还包括红外探测器,所述红外探测器用于通过第四透光孔检测待检测样品的表面温度。进一步地,所述装置还包括测温仪和温度传感器;托盘中心处开设有通孔,所述温度传感器的顶端通过该通孔,所述测温仪与所述温度传感器电连接。应用本专利技术实施例提供的激光闪光法热扩散率测量装置及样品支撑结构,能够提高热扩散率的测量效率。附图说明图1为本专利技术实施例提供的激光闪光法热扩散率测量装置中的样品支撑结构的结构示意图;图2为本专利技术实施例提供的激光闪光法热扩散率测量装置中的样品支撑结构的俯视图;图3为样品池的结构示意图;图4为防辐射屏的结构示意图;图5为带有导热孔的支撑桶的结构示意图;图6为本专利技术实施例提供的激光闪光法热扩散率测量装置的结构示意图。附图标号说明:1-样品池;2-托盘;3-支撑圆筒;4-转台;5-防辐射屏;6-温度传感器;7-底座;8-样品支撑台;9-固定帽;10-热扩散率样品;11-支撑杆;12-辐射叶片;13-限位套;14-固定套;15-真空加热炉;16-脉冲激光器;17-红外探测器;18-测温仪。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。如图1、图2所示,所述样品支撑结构包括:托盘2、支撑圆筒3、转台4、底座7和至少一个样品池1;所述至少一个样品池1固定安装在托盘2上,在托盘2上每个样品池1的安装处开设有第一透光孔,每个第一透光孔的中心与托盘2的中心的距离均为第一预设距离。本实施例中,第一预设距离可以根据实际情况自由设定,例如,第一预设距离可以为10厘米。进一步地,至少一个样品池1可圆周均布安装在所述托盘2上,样品池1的数量可以为4个,相邻两个样品池1的角度间隔为90°。每个样品池1上放置待检测样品10处设置有第二透光孔;每个第二透光孔的中心与该第二透光孔下方第一透光孔的中心在同一直线上;所述托盘2固定安装在所述支撑圆筒3顶部,所述支撑圆筒3的底部固定安装在所述转台4的轴承上,所述转台4与所述底座7固定连接,所述底座7上设置有第三透光孔,该第三透光孔的中心与所述底座7上第一位置的距离为所述第一预设距离;其中,所述第一位置为:所述托盘2的中心位置正对所述底座7上的位置。在本实施例中,转台4可以由匹配的控制箱控制,转台4的轴承可以实现360°自由旋转,支撑圆筒3可以随着所述转台4的轴承一起旋转,使得固定在支撑圆筒3的托盘2绕中心旋转,固定在托盘2上的各个样品池1绕中心旋转。另外,由于底座7上设置的第三透光孔与第一位置的距离、每个第一透光孔的中心与托盘2的中心的距离均为第一预设距离,则有第三透光孔的中心和第一透光孔的中心在同一直线上,因此,激光可以依次通过第三透光孔、第一透光孔、第二透光孔打在样品10上。托盘2上设置有多个样品池1,各个样品池1可以为不同的尺寸,用于预先放置不同尺寸的待检测样品10。当一个待检测样品10的热扩散率测量完成后,工作人员可以转动托盘2,使其他样品池1的第二透光孔与第三透光孔对齐,从而再次测量该样品池内待检测样品10的热扩散率。应用现有的样品支撑结构,在对多个待检测样品进行热扩散率的测量过程中,需要不停的更换样品;而应用本专利技术实施例提供的激光闪光法热扩散率测量装置中的样品支撑结构,预先在各个的样品池1中放置待检测样品,通过转动托盘2,可实现各个待检测样品的热扩散率的测量,从而提高了热扩散率的测量效率。样品支撑台8和固定帽9的尺寸根据样品尺寸和形状设计,可固定的待检测样品10的直径范围为Φ5mm~Φ55mm,厚度范围(0.5~10)mm,也可以固定方形、椭圆形、三角形的薄片样品。如图3所示,每个样品池1包括:样品支撑台8和固定帽9;样品支撑台8上设置有由凸起围成的槽,该槽的中心处设有第三透光孔,所述第三透光孔的大小大于待检测样品10的本文档来自技高网...
激光闪光法热扩散率测量装置及样品支撑结构

【技术保护点】
一种激光闪光法热扩散率测量装置中的样品支撑结构,其特征在于,所述样品支撑结构包括:托盘、支撑圆筒、转台、底座和至少一个样品池;所述至少一个样品池固定安装在托盘上,在托盘上每个样品池的安装处开设有第一透光孔,每个第一透光孔的中心与托盘的中心的距离均为第一预设距离;每个样品池上放置待检测样品处设置有第二透光孔;每个第二透光孔的中心与该第二透光孔下方第一透光孔的中心在同一直线上;所述托盘固定安装在所述支撑圆筒顶部,所述支撑圆筒的底部固定安装在所述转台的轴承上,所述转台与所述底座固定连接,所述底座上设置有第三透光孔,该第三透光孔的中心与所述底座上第一位置的距离为所述第一预设距离;其中,所述第一位置为:所述托盘的中心位置正对所述底座上的位置。

【技术特征摘要】
1.一种激光闪光法热扩散率测量装置中的样品支撑结构,其特征在于,所述样品支撑结构包括:托盘、支撑圆筒、转台、底座和至少一个样品池;所述至少一个样品池固定安装在托盘上,在托盘上每个样品池的安装处开设有第一透光孔,每个第一透光孔的中心与托盘的中心的距离均为第一预设距离;每个样品池上放置待检测样品处设置有第二透光孔;每个第二透光孔的中心与该第二透光孔下方第一透光孔的中心在同一直线上;所述托盘固定安装在所述支撑圆筒顶部,所述支撑圆筒的底部固定安装在所述转台的轴承上,所述转台与所述底座固定连接,所述底座上设置有第三透光孔,该第三透光孔的中心与所述底座上第一位置的距离为所述第一预设距离;其中,所述第一位置为:所述托盘的中心位置正对所述底座上的位置。2.根据权利要求1所述的样品支撑结构,其特征在于,每个样品池包括:样品支撑台和固定帽;样品支撑台上设置有由凸起围成的槽,该槽的中心处设有第三透光孔,所述第三透光孔的大小大于待检测样品的大小;所述固定帽紧密罩住该槽四周的凸起,所述固定帽的中心开设有第四透光孔。3.根据权利要求1所述的样品支撑结构,其特征在于,所述至少一个样品池圆周均布安装在所述托盘上。4.根据权利要求3所述的样品支撑结构,其特征在于,样品池的数量为4个。5.根据权利要求1所述的样品支撑结构,其特征在于,所述样品支撑结构还包括防辐射屏;所述防辐射屏位于所述支撑圆筒内部。6.根据权利要求5所述的样品支撑结构,其特征在于,所述防辐射屏包括:支撑杆、至少一个辐射叶片、至少一个限位套和固定套;在所述底座上的第一位置处开设有安装孔,所述支撑...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨新圆张贺吕国义陈炜
申请(专利权)人:中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
类型:发明
国别省市:北京,11

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