耐电压测试装置制造方法及图纸

提供一种耐电压测试装置，包括测试板，所述测试板上设有至少一能够导电的测试板、第一导电体及与测试板数量对应的第二导电体，所述测试板与所述第一导电体及对应第二导电体电性连接，所述测试板上设有固定待测装置的定位结构。所述耐电压测试装置可以同时测量多个待测装置的耐压值，不仅操作过程简单，而且测试效率得到极大的提高。

Test device for resistance to voltage

Provide a high voltage test device includes a test board, the test plate is provided with at least a second conductor test board, conductive and the first conductive body and the test board number corresponding to the test plate, and the first conductive body and the corresponding second conductor is electrically connected with the test board. A positioning structure of fixed target device. The voltage tolerance test device can simultaneously measure the pressure resistance of a number of pending devices, not only the operation process is simple, but also the test efficiency is greatly improved.

【技术实现步骤摘要】
耐电压测试装置
涉及印制线路板
，特别涉及一种耐电压测试装置。
技术介绍
PCB板在生产过程中，难免因外在因素而造成短路、断路及漏电等电性能上的问题，因此电测试成为PCB板生产过程中必不可少的环节。随着PCB板不断朝高密度、细间距及多层次方向的发展，耐高压测试也越来越受到人们的关注。耐电压测试的目的在于测量有耐电压要求PCB板的耐高压能力，监测有耐电压要求板的击穿电压、漏电流等电气安全性能指标。但在测试过程中，对有些PCB板的操作极为不方便，特别是涉及小尺寸线圈板。传统操作只能一个一个进行测试，不仅效率低，而且准确率得不到保证。
技术实现思路
有鉴于此，有必要提供一种高效率的耐电压测试装置，以解决上述问题。一种耐电压测试装置，所述耐电压测试装置包括底座，所述底座上设有至少一能够导电的测试板、第一导电体及与测试板数量对应的第二导电体，所述测试板与所述第一导电体及对应第二导电体电性连接，所述测试板上设有固定待测装置的若干定位结构。进一步地，所述测试板包括第一端与第二端，所述第一导电体与所述测试板的第一端电性连接，所述第二导电体与所述测试板的第二端电性连接。进一步地，所述第一导电体包括第一固定部，及与测试板数量对应的凸设于所述第一固定部上的接触部。进一步地，所述接触部包括与所述测试板的第一端的端面接触的接触面，所述接触面的面积大于所述测试板的第一端的端面面积。进一步地，所述第二导电体包括第二固定部及能抵持所述第二端的抵触部，所述第二固定部固定于所述底座上，所述抵触部由所述第二固定部延伸弯折形成。进一步地，所述抵触部包括与所述第二端的端面抵触的抵触面。进一步地，所述底座上平行设置有用于容置所述测试板的若干安装槽，每一安装槽一端设有与所述安装槽连通的用于容置所述接触部的第一装设槽。进一步地，每一安装槽的另外一端设置有与所述安装槽连通的用于容置所述抵触部的第二装设槽。进一步地，所述第二装设槽呈倒圆台形。进一步地，所述底座为绝缘体。有益效果：耐电压测试装置包括底座，底座上设有至少一能够导电的测试板、第一导电体及与测试板数量对应的第二导电体，测试板与第一导电体及对应第二导电体电性连接，测试板上设有固定待测装置的定位结构。每一测试板可固定多个待测装置，底座上还可以安装有多个测试板，并且多个测试板电性连接，可同时对多个测试板进行上的多个待测装置进行测试，不仅使操作过程简单，而且测试效率得到极大的提高。附图说明图1为耐电压测试装置的立体结构示意图，所述耐电压测试装置包括若干测试板、一第一导电体及若干第二导电体。图2为图如1所示的其中一测试板装设待测装置后的俯视结构示意图。图3为如图1所示的所述第一导电体的立体结构示意图。图4为如图1所示的其中一第二导电体的立体结构示意图。附图标记：100-耐电压测试装置；20-底座；21-安装槽；21-第一装设槽；22-第一装设槽；24-基板；30-测试板；31-第一端；32-第二端；33-凹槽；34-凸出部；40-第一导电体；41-本体；42-接触部；42a-接触面；50-第二导电体；51-第二本体；52-抵触部；52a-抵触面；60-待测装置。下面结合附图和具体实施例对本作进一步说明。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本作进一步说明。为了能够更清楚地理解本的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本技术方案进行详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施方式及实施方式中的特征可以相互组合。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本方案，所描述的实施方式是本技术方案一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本技术方案中的实施方式，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本技术方案保护的范围。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术方案的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术方案的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本技术方案。在本技术方案的各实施例中，为了便于描述而非限制本技术方案，本技术方案专利申请说明书以及权利要求书中使用的术语"连接"并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。"上"、"下"、"下方"、"左"、"右"等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也相应地改变。本实施例提供的耐电压测试装置100用于测试待测装置60（图2）的耐高压能力，监测待测装置60的击穿电压、漏电流等电气安全性能指标。耐电压测试装置100能够同时测量多个测试待测装置60，测试效率高，操作方便。请参阅图1，图1为耐电压测试装置100的立体结构示意图。具体地，耐电压测试装置100包括底座20、测试板30、第一导电体40及第二导电体50。其中测试板30、第一导电体40与第二导电体50安装于底座20上。测试板30与第一导电体40及第二导电体50电性连接。具体地，测试板30呈条形并包括第一端31与第二端32，第一端31与第一导电体40电性连接，第二端32与第二导电体50电性连接。请结合图1进一步参阅图2，图2为如图1所示的测试板30的装设待测装置60后的俯视结构示意图。测试板30是由金属材料制成的良导体，可以采用铝等金属材料制备测试板30。测试板30上设有能容置待测装置60的定位结构。所述定位结构包括凹槽33及穿设于待测装置60中的凸出部34。具体地，每一凹槽33中设置有一对应凸出部34。凹槽33用于与待测装置60的外侧壁接触，凸出部34与待测装置60的内侧壁接触。当测试板30通电时，凹槽33对所述外侧壁施加电压，凸出部34对所述内侧壁施加电压，测试板30上的待测装置60上施加了电压，此时即可测得待测装置60上的耐压值。本实施例中，测试板30为用于固定并导通待测装置60的测试铝模，所述测试铝模为一种采用金属铝制成的耐电压测试的模具；待测装置60包括待测电路板（PCB，PrintedCircuitBoard），可以理解的是，所述待测电路板可以是柔性电路板。所述待测电路板呈环形，比如圆环性或”回“字形，即所述电路板中间位置设置有圆形或方形的通孔。测试所述待测电路板的耐压值时，所述待测电路板置于凹槽33中，凸出部34穿过所述待测电路板中间的通孔而将其固定并用于向所述待测电路板的内壁施加电压。具体地，凹槽33与凸出部34的形状尺寸均与待测装置60匹配。凹槽33深度按待测装置60所要求厚度的上限设计。凸出部34的高度按待测装置60所要求厚度的上限设计。若凸出部34为圆柱形，则所述圆柱形的直径按待测装置60的线圈孔所要求直径的下限设计。凹槽33的两边可以设置为弧面，凹槽33的内径按照线圈板4外形尺寸的上限设计。可以理解的是，凹槽33与凸出部34可以为圆柱体、长方体或其他不规则形状。本实施例中，测试板30上设置有8个凹槽33，可以理解的是，凹槽33的数量不限于8个，还可以是其他数量。请再次参阅图1，第一导电体40与第二导电体50为金属片并能够导电。具体地，第一导电体40与第二导电体50可以是铁片，可以理解的是，第一导电体40与第二导电体50还可以由其他导电材料制成。如图1所示，底座20由绝缘材料制成，测试员操作更本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种耐电压测试装置，其特征在于，所述耐电压测试装置包括底座，所述底座上设有至少一能够导电的测试板、第一导电体及与测试板数量对应的第二导电体，所述测试板与所述第一导电体及对应第二导电体电性连接，所述测试板上设有固定待测装置的若干定位结构。

【技术特征摘要】
1.一种耐电压测试装置，其特征在于，所述耐电压测试装置包括底座，所述底座上设有至少一能够导电的测试板、第一导电体及与测试板数量对应的第二导电体，所述测试板与所述第一导电体及对应第二导电体电性连接，所述测试板上设有固定待测装置的若干定位结构。2.如权利要求1所述的耐电压测试装置，其特征在于，所述测试板包括第一端与第二端，所述第一导电体与所述测试板的第一端电性连接，所述第二导电体与所述测试板的第二端电性连接。3.如权利要求2所述的耐电压测试装置，其特征在于，所述第一导电体包括第一固定部，及与测试板数量对应的凸设于所述第一固定部上的接触部。4.如权利要求3所述的耐电压测试装置，其特征在于，所述接触部包括与所述测试板的第一端的端面接触的接触面，所述接触面的面积大于所述测试板的第一端的端面面积。5.如权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：李林艮，崔蜀巍，
申请(专利权)人：深圳中富电路有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44