The present invention discloses a current probe including a substrate, a probe head and a plurality of contact parts. The probe head is installed in the matrix. The probe head has a surface and a number of holes, and the holes are on the surface. Each contact includes a connected contact and a inserting unit. The insertion portion is inserted into the jack, and have an obtuse angle contact portion and the insertion portion.
【技术实现步骤摘要】
电流探针
本专利技术关于一种电流探针,特别是一种用于测量电阻值或电压值等数值的电流探针。
技术介绍
目前业界有用于测量电阻值或电压值等数值的探针,特别是用于大电流(例如从数十安培到数百安培)的探针。在贩卖产品前,业者会利用探针进行电性测试来确认产品的良率和可靠度。为了减少发热及确保接触面积等需要,在测试时,探针会直接接触产品表面而能精确测量电阻或电压。一般而言,置放在大气中的产品会于表面形成氧化膜,或者部分特定产品在制程中会进行表面处理而涂布有高电阻涂层。当探针在进行电性测试时接触到氧化膜或高电阻涂层,会因为接触电阻过大而无法确保量测结果的正确性。
技术实现思路
鉴于以上的问题,本专利技术公开一种电流探针,有助于解决在电性测试时因为氧化膜或高电阻涂层而导致接触电阻过大的问题。本专利技术所公开的电流探针包含一基体、一探针头以及多个接触件。探针头装设于基体。探针头具有一表面和多个插孔,且这些插孔皆位于表面。这些接触件分别包含相连的一接触部和一插设部,该些插设部分别插设于该些插孔内。该接触部与该插设部之间具有一钝角。本专利技术另公开的电流探针适于匹配一子探针件。电流探针包含一基体、一探针头以及多个接触件。基体包含一组装件和穿设组装件的一子探针件。探针头装设于组装件。探针头具有一表面、一穿孔和多个插孔。穿孔和插孔皆位于表面,且该子探针件穿设穿孔。接触件包含相连的一接触部和一插设部。插设部插设于插孔内。接触部自表面沿远离探针头的方向延伸,且接触部的延伸轴与穿孔的轴心之间具有一锐角。根据本专利技术所公开的电流探针,接触件的插设部与接触部之间具有钝角,且接触部的延伸轴与穿孔 ...
【技术保护点】
一种电流探针,其特征在于,包含:一基体;一探针头,装设于该基体,该探针头具有一表面和多个插孔,且该些插孔位于该表面;以及多个接触件,每一该些接触件包含相连的一接触部和一插设部,该些插设部分别插设于该些插孔内,且该接触部与该插设部之间具有一钝角。
【技术特征摘要】
1.一种电流探针,其特征在于,包含:一基体;一探针头,装设于该基体,该探针头具有一表面和多个插孔,且该些插孔位于该表面;以及多个接触件,每一该些接触件包含相连的一接触部和一插设部,该些插设部分别插设于该些插孔内,且该接触部与该插设部之间具有一钝角。2.如权利要求1所述的电流探针,其特征在于,该钝角的角度小于等于105度。3.如权利要求1所述的电流探针,其特征在于,该插孔的孔径大于该插设部的外径,每一该些插孔具有一第一侧内壁,该插设部具有一弯折段,且该弯折段抵靠于该插孔的该第一侧内壁。4.如权利要求3所述的电流探针,其特征在于,该插设部还具有一连接段,该插设部藉由该连接段连接于该接触部,每一该些插孔还具有相对该第一侧内壁的一第二侧内壁,且该连接段抵靠于该第二侧内壁。5.如权利要求1所述的电流探针,其特征在于,该基体包含一组装件和穿设该组装件的一子探针件,该探针头装设于该组装件,该探针头还具有一穿孔,且该子探针件穿设该穿孔。6.如权利要求1所述的电流探针,其特征在于,该探针头包含一主体部和一环形突出部,该表面与该些插孔皆位于该主体部,该环形突出部连接于该主体部的边缘,该环形突出部与每一该些接触件的该接触部皆沿远离该主体部的方向延伸,该环形突出部沿该表面法线方向的长度小于该接触部沿该表面法线方向的长度,该环形突出部具有多个凹槽,当该些接触件挠曲时,该些接触部分别至少部分位于该些凹槽内。7.如权利要求1所述的电流探针,其特征在于,该些接触件的该些插设部的长度皆大于等于该些插孔的长度。8.如权利要求1所述的电流探针,其特征在于,该探针头以螺纹接合的方式设置于...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘茂盛,郭修玮,
申请(专利权)人:致茂电子苏州有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏,32
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