【技术实现步骤摘要】
等离子体处理装置
本专利技术的实施方式涉及等离子体处理装置。
技术介绍
在半导体器件等的电子器件的制造中,为了进行蚀刻、成膜等的处理,使用等离子体处理装置。作为等离子体处理装置的一种,已知有电容耦合型的等离子体处理装置。电容耦合型的等离子体处理装置一般包括腔室主体、上部电极和下部电极。上部电极和下部电极配置成使由腔室主体提供的腔室内的空间介于它们之间。在该等离子体处理装置中,对腔室供给气体,在上部电极和下部电极之间形成高频电场。通过该高频电场激发气体,生成等离子体。通过来自该等离子体的离子和/或自由基,进行被加工物的处理。另外,作为电容耦合型的等离子体处理装置的一种,专利文献1中记载有使用单一高频电源,在多个腔室内形成高频电场的等离子体处理装置。专利文献1所记载的等离子体处理装置包括多个上部电极、多个下部电极、一次线圈和多个二次线圈。多个上部电极分别设置在多个腔室内的空间之上,多个下部电极分别设置在多个腔室内的空间之下。一次线圈与高频电源连接。一次线圈和多个二次线圈电磁耦合。多个二次线圈的一端分别与多个上部电极连接。多个二次线圈的另一端分别与多个下部电极连接。多个可变电容器分别连接在多个二次线圈的另一端与多个下部电极之间。上述可变电容器为了减小包含二次线圈的闭合电路的阻抗而设置。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开2014-89876号公报
技术实现思路
专利技术想要解决的技术问题在专利文献1所记载的类型的等离子体处理装置、即使用单一高频电源在多个腔室内形成高频电场的等离子体处理装置中,期望提高对多个腔室用的电极供电的效率。解决技术问题的技术方案在一个方式 ...
【技术保护点】
一种电容耦合型的等离子体处理装置,其特征在于,包括:提供相互分离的多个腔室且接地的至少一个腔室主体;分别设置在所述多个腔室内的空间之上的多个上部电极;分别设置在所述多个腔室内的所述空间之下的多个下部电极;高频电源;具有与所述高频电源电连接的一次线圈和多个二次线圈的变压器;分别连接在所述多个二次线圈的一端与所述多个上部电极之间的多个第1电容器;和分别连接在所述多个二次线圈的另一端与所述多个下部电极之间的多个第2电容器,所述一次线圈绕中心轴线延伸,所述多个二次线圈能够与所述一次线圈同轴地配置,所述多个二次线圈各自的自感比所述一次线圈的自感小。
【技术特征摘要】
2016.05.12 JP 2016-0962241.一种电容耦合型的等离子体处理装置,其特征在于,包括:提供相互分离的多个腔室且接地的至少一个腔室主体;分别设置在所述多个腔室内的空间之上的多个上部电极;分别设置在所述多个腔室内的所述空间之下的多个下部电极;高频电源;具有与所述高频电源电连接的一次线圈和多个二次线圈的变压器;分别连接在所述多个二次线圈的一端与所述多个上部电极之间的多个第1电容器;和分别连接在所述多个二次线圈的另一端与所述多个下部电极之间的多个第2电容器,所述一次线圈绕中心轴线延伸,所述多个二次线圈能够与所述一次线圈同轴地配置,所述多个二次线圈各自的自感比所述一次线圈的自感小。2.如权利要求1所述的等离子体处理装置,其特征在于:所述多个第2电容器的一端分别与所述多个下部电极中的对应的下部电极连接,所述多个第2电容器的另一端接地,所述多个第1电容器和所述多个第2电容器是固定电容器,在所述多个二次线圈的所述另一端与所述多个下部电极之间,作为电容器仅设置有所述多个第2电容器。3.如权利要求1所述的等离子体处理装置,其特征在于:所述多个第1电容器和所述多个第2电容器是固定电容器,所述多个第2电容器的一端分别与所述多个下部电极中的对应的下部电极连接,所述多个第2电容器的另一端相对于接地电位浮置。4.一种电容耦合型的等离子体处理装置,其特征在于,包括:提供相互分离的两个腔室且接地的至少一个腔室主体;分别设置在所述两个腔室内的空间之上的两个上部电极;分别设置在所述两个腔室内的所述空间之下的两个下部电极;高频电源;具有与所述高频电源电连接的一次线圈和由两个二次线圈构成的多个二次线圈的变压器;分别连接在所述两个二次线圈中的一者的一端与所述两个上部电极中的一者之间和所述两个二次线圈中的所述一者的另一端与所述两个上部电极中的另一者之间的两个第1电容器;和分别连接在所述两个二次线圈中的另一者的一端与所述两个下部电极中的一者之间和所述两个二次线圈中的所述另一者的另一端与所述两个下部电极中的另一者之间的两个第2电容器,所述一次线圈绕中心轴线延伸,所述多个二次线圈能够与所述一次线圈同轴地配置,所述两个第2电容器的一端分别与所述两个下部电极中的对应的下部电极连接,所述两个第2电容器的另一端相对于接地电位浮置,所述两个二次线圈各自的自感比所述一次线圈的自感小。5.如权利要求4所述的等离子体处理装置,其特征在于:所述两个第1电容器和所述两个第2电容器是固定电容器。6.如权利要求1或2所述的等离子体处理装置,其特征在于:所述多个二次...
【专利技术属性】
技术研发人员:山泽阳平,
申请(专利权)人:东京毅力科创株式会社,
类型:发明
国别省市:日本,JP
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