A chip burning test device includes a base, a carrier, a probe plate, a rack, a drive mechanism, and a host device. The disk can be stacked on the pallet of the chip, and can flip the plurality of chips on the carrier plate after stacking by flipping the tray and the carrier at the same time. The probe plate is arranged on the base, and the probe plate comprises a plurality of probes. The placing frame is arranged on the base, and the placing frame is used to provide the corresponding probe plate after the loading plate is placed. The driving mechanism is arranged on the base, so as to move the probe plate or the carrier plate, so as to make the pin contact probe of the plurality of chips which are inverted on the loading plate. The host device is electrically connected with the probe plate, which is used for testing or data burning of a plurality of chips when the pin of the chip touches the probe of the probe plate.
【技术实现步骤摘要】
芯片烧录测试设备
本技术涉及一种芯片烧录测试设备,特别涉及一种可同步测试、烧录或预烧测试多颗芯片的芯片烧录测试设备。
技术介绍
拜集成电路(IntegratedCircuit,IC)技术发展所赐,使得电子产品体积越来越小型化,不仅便利人们携带,也提供强大的运算处理功能。芯片在工艺上,需要经过多道繁杂的手续,成品制作完成后,进一步地需将特定功能的程序数据烧录到芯片中,以使芯片可以实现特定功能。目前芯片在程序烧录上,烧录的载具一次仅能放置单颗芯片。虽然将多个载具集合并用,可实现同步多颗烧录,但由于烧录时,需将各颗芯片分别放置到载具上,需费不少时间,尤其遇有大量芯片待烧录时,将造成大量时间成本的浪费。
技术实现思路
本技术的主要目的在于提供一种可同步烧录或测试多颗芯片的烧录测试设备。为达上述目的,本技术提供一种芯片烧录测试设备,用以烧录或测试多个芯片,该多个芯片被放置于一托盘,并各具有多个接脚,其中,该芯片烧录测试设备包括:一基座;一载盘,叠置在该托盘上,并能在叠置后藉由同时翻转该托盘与该载盘而使该多个芯片倒置在该载盘上,使得各该芯片的该多个接脚背向该载盘;一探针板,设置于该基座上,该探针板包括多个探针;一放置架,设置于该基座上,用以提供该载盘放置后对应该探针板,以使该多个接脚对准该多个探针;一驱动机构,设置于该基座上,用以移动该探针板或该载盘,以使倒置在该载盘上的该多个芯片的该多个接脚其中的一接脚接触各该探针;以及一主机装置,与该探针板电性连接,该主机装置用以在该接脚接触各该探针时,对该多个芯片进行测试或数据烧录。上述的芯片烧录测试设备,其中该放置架包括一滑轨机构,该 ...
【技术保护点】
一种芯片烧录测试设备,用以烧录或测试多个芯片,该多个芯片被放置于一托盘,并各具有多个接脚,其特征在于,该芯片烧录测试设备包括:一基座;一载盘,叠置在该托盘上,并能在叠置后藉由同时翻转该托盘与该载盘而使该多个芯片倒置在该载盘上,使得各该芯片的该多个接脚背向该载盘;一探针板,设置于该基座上,该探针板包括多个探针;一放置架,设置于该基座上,用以提供该载盘放置后对应该探针板,以使该多个接脚对准该多个探针;一驱动机构,设置于该基座上,用以移动该探针板或该载盘,以使倒置在该载盘上的该多个芯片的该多个接脚其中的一接脚接触各该探针;以及一主机装置,与该探针板电性连接,该主机装置用以在该接脚接触各该探针时,对该多个芯片进行测试或数据烧录。
【技术特征摘要】
1.一种芯片烧录测试设备,用以烧录或测试多个芯片,该多个芯片被放置于一托盘,并各具有多个接脚,其特征在于,该芯片烧录测试设备包括:一基座;一载盘,叠置在该托盘上,并能在叠置后藉由同时翻转该托盘与该载盘而使该多个芯片倒置在该载盘上,使得各该芯片的该多个接脚背向该载盘;一探针板,设置于该基座上,该探针板包括多个探针;一放置架,设置于该基座上,用以提供该载盘放置后对应该探针板,以使该多个接脚对准该多个探针;一驱动机构,设置于该基座上,用以移动该探针板或该载盘,以使倒置在该载盘上的该多个芯片的该多个接脚其中的一接脚接触各该探针;以及一主机装置,与该探针板电性连接,该主机装置用以在该接脚接触各该探针时,对该多个芯片进行测试或数据烧录。2.根据权利要求1所述的芯片烧录...
【专利技术属性】
技术研发人员:林宗毅,
申请(专利权)人:崇碁科技股份有限公司,
类型:新型
国别省市:中国台湾,71
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