一种光电开关检测电路制造技术

技术编号:16324858 阅读:137 留言:0更新日期:2017-09-29 17:43
本实用新型专利技术涉及电子电路领域,公开了一种光电开关检测电路,包括:锁紧座U1、锁紧座外围电路、比较电路和LED指示电路,所述锁紧座外围电路包括拨码开关SW1、拨动开关SW2、拨动开关SW3,所述拨码开关SW1的三个开关档的上端分别通过电阻R1、R2、R3连接电源VCC,所述拨码开关SW1的三个开关档的下端与所述锁紧座U1的管脚A连接,所述锁紧座U1的管脚K通过测试点TP1与地GND连接,所述锁紧座U1的管脚C可通过拨动开关SW2连接电源VCC,所述锁紧座U1的管脚E通过测试点TP2及拨动开关SW3连接地GND,所述锁紧座U1的管脚C和管脚E与所述比较电路连接,所述比较电路与所述LED指示电路连接。本实用新型专利技术使用方便,节约人力物力,能够演示常规光电开关的功能和使用方法。

Photoelectric switch detecting circuit

The utility model relates to the electronic circuit field and discloses a photoelectric switch detection circuit, including: locking the locking seat seat U1 and a peripheral circuit, a comparison circuit and LED display circuit, wherein the locking seat of the peripheral circuit comprises a dial switch SW1 and switch SW2 and switch SW3, the top three switch file the dial switch SW1 are respectively connected to the power supply by VCC R2, resistance R1, R3, A three pin end switch the switch SW1 and the locking seat U1 connection pin K of the locking seat U1 connected through the test point TP1 and GND. The C pin of the locking block U1 can be connected through the toggle switch power supply VCC SW2, the E pin of the locking seat U1 connection to the GND through the test point TP2 and a toggle switch SW3, C connection pin of the locking block U1 and pin E and the comparison circuit, the the comparison circuit and the LED indicator Circuit connection. The utility model has the advantages of convenient use, manpower and material resources saving, and can demonstrate the function and the use method of the conventional photoelectric switch.

【技术实现步骤摘要】
一种光电开关检测电路
本技术涉及电子电路领域,尤其涉及一种光电开关检测电路。
技术介绍
目前,常用的透过型(Tr输出)光电开关检测电路如图1所示,主要由限流电阻R1、光电开关U1和电流表组成。限流电阻R1的作用是限制发光侧电流,防止发光侧烧掉。受光侧三极管产生的光电流通过电流表检知。这种检测方法比较基础,根据光电开关的PIN脚排序及测试条件不同,每次测量都需要连接电路并调节限流电阻使发光侧IF达到测试额定值,费时,费力。而对于受光侧,有时候我们只需要知道制品的光电流是否在良品的范围内即可,所以专利技术一个测试方便且准确的检测工具势在必行。
技术实现思路
本技术提供一种光电开关检测电路,解决现有技术中光电开关检测电路使用过程中操作不便费时、费力的技术问题。本技术的目的是通过以下技术方案实现的:一种光电开关检测电路,包括:锁紧座U1、锁紧座外围电路、比较电路和LED指示电路,所述锁紧座外围电路包括拨码开关SW1、拨动开关SW2、拨动开关SW3,所述拨码开关SW1的三个开关档的上端分别通过电阻R1、R2、R3连接电源VCC,所述拨码开关SW1的三个开关档的下端与所述锁紧座U1的管脚A连接,所述锁紧座U1的管脚K通过测试点TP1与地GND连接,所述锁紧座U1的管脚C可通过拨动开关SW2连接电源VCC,所述锁紧座U1的管脚E通过测试点TP2及拨动开关SW3连接地GND,所述锁紧座U1的管脚C和管脚E与所述比较电路连接,所述比较电路与所述LED指示电路连接。本技术的技术效果为:1、使用方便,节约人力物力,能够演示常规光电开关的功能和使用方法。2、可以直观的感受光电开关的用法和基本电路等。3、采用带锁紧座和预留排座来满足Pin间距多样性。4、发光侧根据IF值不同分为10mA,20mA和可调三档。方便使用。5、拨动开关实现上、下拉模式与Icel测试模式切换,使用方便。6、采用5VMirco-USB供电,供电方便。7、PCB上预留了发光管IF,受光管ICEL的取测点TP1、TP2,使用方便。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可根据这些附图获得其他的附图。图1为现有技术中的透过型光电开关检测电路结构示意图;图2为本技术实施例的电路结构示意图;图3为本技术实施例的比较电路的结构示意图;图4为本技术实施例的比较电路的结构示意图;图5为本技术实施例的LED指示电路的结构示意图。具体实施方式为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图和具体实施方式对本技术作进一步详细的说明。如图2所示,为本技术提供的一种光电开关检测电路,包括:锁紧座U1、锁紧座外围电路、比较电路和LED指示电路,所述锁紧座外围电路包括拨码开关SW1、拨动开关SW2、拨动开关SW3,所述拨码开关SW1的三个开关档的上端分别通过电阻R1、R2、R3连接电源VCC,所述拨码开关SW1的三个开关档的下端与所述锁紧座U1的管脚A连接,所述锁紧座U1的管脚K通过测试点TP1与地GND连接,所述锁紧座U1的管脚C可通过拨动开关SW2连接电源VCC,所述锁紧座U1的管脚E通过测试点TP2及拨动开关SW3连接地GND,所述锁紧座U1的管脚C和管脚E与所述比较电路连接,所述比较电路与所述LED指示电路连接。其中,为适应不同光电开关的测试条件,IF值可选可调采用了拨码开关SW1,增加IF测试点2以接上电流表显示IF值。拨码开关SW1的三个档位功能分别为第一档位:发光侧为EL23G,IF=10mA,第二档位:发光侧为EL23G,IF=20mA,第三档位:发光侧为EL23G或者其他素子,IF可调节。增加IF测试点TP1,可以接上电流表显示IF值。增加Icel直测点TP2来配合直测Icel模式。电源VCC可直接通过5VMirco-USB进行取电,供电方便。所述锁紧座U1的管脚C与电阻R4连接,并可通过拨动开关SW2连接电源VCC。所述锁紧座U1的管脚E与电阻R5连接,并可通过拨动开关SW3连接地GND。如图3所示,图2中的所述比较电路包括第一比较器芯片U2、第二比较器芯片U3、拨动开关SW4,所述第一比较器芯片U2的3管脚、5管脚、10管脚、12管脚、所述第二比较器芯片U3的3管脚通过拨动开关SW4与所述锁紧座U1的管脚E连接,所述第二比较器芯片U3的6管脚和7管脚之间通过电阻R8连接,所述第二比较器芯片U3的6管脚通过电路R25与所述锁紧座U1的管脚C连接,所述第二比较器芯片U3的7管脚通过拨动开关SW4与所述第一比较器芯片U2的3管脚连接,所述第二比较器芯片U3的5管脚通过电阻R6与电源VCC连接,通过电阻R7与电源地GND连接,所述第一比较器芯片U2的4管脚与所述第二比较器芯片U3的4管脚直接连接电源VCC,所述第一比较器芯片U2的11管脚与所述第二比较器芯片U3的11管脚直接连接地GND;如图4所示,电阻R9一端与电源VCC连接,另一端通过变阻器R14的固定端与地GND连接,所述变阻器R14的可调端与第一比较器芯片U2的2管脚连接;电阻R10一端与电源VCC连接,另一端通过变阻器R15的固定端与地GND连接,所述变阻器R15的可调端与第一比较器芯片U2的9管脚连接;电阻R11一端与电源VCC连接,另一端通过变阻器R16的固定端与地GND连接,所述变阻器R16的可调端与第一比较器芯片U2的6管脚连接;电阻R12一端与电源VCC连接,另一端通过变阻器R17的固定端与地GND连接,所述变阻器R17的可调端与第一比较器芯片U2的13管脚连接;电阻R13一端与电源VCC连接,另一端通过变阻器R18的固定端与地GND连接,所述变阻器R18的可调端与第二比较器芯片U3的2管脚连接。通过增加拨动开关SW2、拨动开关SW3和拨动开关SW4,实现了上拉模式测Icel,下拉模式测Icel,直测Icel三种模式的自由切换。如图5所示,LED指示电路由电阻R19、R20、R21、R22、R23、R24和发光二极管D1、D2、D3、D4、D5、D6组成,其中,发光二极管D1的一端与电源VCC连接,发光二极管D1的另一端依顺序与R19、D2、R20、D3、R21、D4、R22、D5、R23、D6、R24串联,R24的另一端接地;R19与D2之间与第一比较器芯片U2的1管脚连接,R20与D3之间与第一比较器芯片U2的8管脚连接,R21与D4之间与第一比较器芯片U2的7管脚连接,R22与D5之间与第一比较器芯片U2的14管脚连接,R24与D6之间与第二比较器芯片U3的1管脚连接。通过设置了6个指示灯D1、D2、D3、D4、D5、D6,检测的Icel范围分别从左到右依次为0.25mA以下,0.25mA~0.1mA,1mA~1.5mA,1.5~2mA,2mA以上。检测到的Icel会通过指示灯显示,简便省力。增加第一比较器芯片U2、第二比较器芯片U3来配合上拉模式和下拉模式。增加LED指示电路来显示Icel,增加锁紧座来适应光电开关PIN间距多样性。通过上述本文档来自技高网...
一种光电开关检测电路

【技术保护点】
一种光电开关检测电路,其特征在于,包括:锁紧座U1、锁紧座外围电路、比较电路和LED指示电路,所述锁紧座外围电路包括拨码开关SW1、拨动开关SW2、拨动开关SW3,所述拨码开关SW1的三个开关档的上端分别通过电阻R1、R2、R3连接电源VCC,所述拨码开关SW1的三个开关档的下端与所述锁紧座U1的管脚A连接,所述锁紧座U1的管脚K通过测试点TP1与地GND连接,所述锁紧座U1的管脚C可通过拨动开关SW2连接电源VCC,所述锁紧座U1的管脚E通过测试点TP2及拨动开关SW3连接地GND,所述锁紧座U1的管脚C和管脚E与所述比较电路连接,所述比较电路与所述LED指示电路连接。

【技术特征摘要】
1.一种光电开关检测电路,其特征在于,包括:锁紧座U1、锁紧座外围电路、比较电路和LED指示电路,所述锁紧座外围电路包括拨码开关SW1、拨动开关SW2、拨动开关SW3,所述拨码开关SW1的三个开关档的上端分别通过电阻R1、R2、R3连接电源VCC,所述拨码开关SW1的三个开关档的下端与所述锁紧座U1的管脚A连接,所述锁紧座U1的管脚K通过测试点TP1与地GND连接,所述锁紧座U1的管脚C可通过拨动开关SW2连接电源VCC,所述锁紧座U1的管脚E通过测试点TP2及拨动开关SW3连接地GND,所述锁紧座U1的管脚C和管脚E与所述比较电路连接,所述比较电路与所述LED指示电路连接。2.根据权利要求1所述的光电开关检测电路,其特征在于,所述锁紧座U1的管脚C与电阻R4连接,并可通过拨动开关SW2连接电源VCC。3.根据权利要求1所述的光电开关检测电路,其特征在于,所述锁紧座U1的管脚E与电阻R5连接,并可通过拨动开关SW3连接地GND。4.根据权利要求1所述的光电开关检测电路,其特征在于,所述比较电路包括第一比较器芯片U2、第二比较器芯片U3、拨动开关SW4,所述第一比较器芯片U2的3管脚、5管脚、10管脚、12管脚、所述第二比较器芯片U3的3管脚通过拨动开关SW4与所述锁紧座U1的管脚E连接,所述第二比较器芯片U3的6管脚和7管脚之间通过电阻R8连接,所述第二比较器芯片U3的6管脚通过电路R25与所述锁紧座U1的管脚C连接,所述第二比较器芯片U3的7管脚通过拨动开关SW4与所述第一比较器芯片U2的3管脚连接,所述第二比较器芯片U3的5管脚通过电阻R6与电源VCC连接,通过电阻R7与电源地GND连接,所述第一比较器芯片U2的4管脚与所述第二比较器芯片U3的4管脚直接连接电源VCC,所述第一比较器芯片U2的11管脚与所述第二比较器芯片U3的11管脚直接连接地GND;电阻R9一端与电源VCC连接,另一端通过变阻器R14的固定端与地GND连接,所述变阻器R14的可调端与第一比较器芯片U2的2管脚连接;电阻R10一端与电源VCC连接,另一端通过变阻器R15...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄华
申请(专利权)人:可天士半导体沈阳有限公司
类型:新型
国别省市:辽宁,21

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