Self reconfigurable TAP controller daisy chain includes the main TAP controller and one or more auxiliary TAP controllers. Daisy chains are dynamically self reconfigurable, since the main TAP controller can configure and reconstruct daisy chains several times during the circuit test. The data registers in the primary TAP controller are associated with the special JTAG instructions. This instruction can be used to enable and disable the selected auxiliary TAP controllers in the auxiliary TAP controller. If the auxiliary controller is enabled, then it becomes part of the TDI to TDO daisy chain scan path. If the auxiliary controller is disabled, it is not part of the daisy chain scan path. However, the disabled controller and its registers are not reset. The disabled controller can continue to provide the test signal to the tested circuit. By using this mechanism, the test time can be reduced by reducing the amount of displacement through the slow controller.
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】背景信息
本公开涉及JTAGTAP控制器以及相关的电路和方法。背景信息图1(现有技术)是要测试的系统的示图。该系统是印刷电路板级系统1,其包括多个集成电路2-5,这些集成电路通过印刷电路板6的导体互连。使用通常被称为“JTAG”(联合测试动作组)的测试协议和测试机制。JTAG被标准化为IEEE标准1149.1。图1的系统的电路中的缺陷要么可能存在于集成电路内的电路中、要么存在于将集成电路互连的印刷电路板的导体和电路中。在每个集成电路上提供称为边界扫描寄存器的JTAG电路。该边界扫描寄存器可用于截取在集成电路的核心电路与集成电路的外部端子之间传递的信号。在测试模式下,可以使得此类边界扫描电路将核心电路与集成电路端子断开、将测试信号驱动到核心电路中、以及读取由核心电路生成的测试输出信号。另外,边界扫描电路可用于测试印刷电路板上的在一个集成电路上的边界扫描电路与另一集成电路上的边界扫描电路之间延伸的外部连接。每个集成电路的边界扫描电路都是由测试访问端口控制器(TAP控制器)来控制的。集成电路中的每个都具有其自己的TAP控制器以用于控制其自己的边界扫描电路。TAP控制器使用标准JTAG信号TMS、TCK、TRST、TDI和TDO与外部JTAG测试调试器功能性通信。涉及被TAP控制器用来通信并用来控制TAP控制器的这些信号的整个接口被称为测试访问端口(TAP)。TDI代表测试数据输入。TDO代表测试数据输 ...
【技术保护点】
一种装置,包括:TDI(测试数据输入)导体;TDO(测试数据输出)导体;以及可自重构的TAP(测试访问端口)控制器菊花链,包括:第一TAP控制器;以及第二TAP控制器,其中第一TAP控制器能以第一配置来配置所述菊花链,使得第一扫描路径从所述TDI导体延伸通过所述第一TAP控制器到所述第一TAP控制器的TDO端口、到所述第二TAP控制器的TDI端口、通过所述第二TAP控制器到所述第二TAP控制器的TDO端口、以及到所述TDO导体,并且其中所述第一TAP控制器能以第二配置来配置所述菊花链,使得第二扫描路径从所述TDI导体延伸通过所述第一TAP控制器但不通过所述第二TAP控制器、以及从所述第一TAP控制器的TDO端口到所述TDO导体。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2011.09.30 US 13/107,7281.一种装置,包括:
TDI(测试数据输入)导体;
TDO(测试数据输出)导体;以及
可自重构的TAP(测试访问端口)控制器菊花链,包括:
第一TAP控制器;以及
第二TAP控制器,其中第一TAP控制器能以第一配置来配置所述菊花
链,使得第一扫描路径从所述TDI导体延伸通过所述第一TAP控制器到所述第一
TAP控制器的TDO端口、到所述第二TAP控制器的TDI端口、通过所述第二TAP
控制器到所述第二TAP控制器的TDO端口、以及到所述TDO导体,并且其中所
述第一TAP控制器能以第二配置来配置所述菊花链,使得第二扫描路径从所述TDI
导体延伸通过所述第一TAP控制器但不通过所述第二TAP控制器、以及从所述第
一TAP控制器的TDO端口到所述TDO导体。
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述菊花链能以第一配置被配置
以使得所述第二TAP控制器是所述第一扫描路径的一部分,并且随后以所述第二
配置被配置以使得第二TAP控制器不是所述第二扫描路径的一部分,其中第二
TAP控制器在所述菊花链处于所述第一配置时输出数据寄存器输出信号,并且其
中所述第二TAP控制器在所述菊花链已经被重构为处于所述第二配置之后继续输
出相同的数据寄存器输出信号。
3.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述第二TAP控制器在所述菊
花链以所述第二配置被配置时未被复位。
4.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述可自重构的TAP控制器菊
花链还包括:
复用电路,其能被所述第一TAP控制器控制成将所述第二TAP控制器的TDI
端口耦合到下列各项中选择的一项:1)所述TDI导体;以及2)所述第一TAP控
制器的TDO端口。
5.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述可自重构的TAP控制器菊
花链还包括:
复用电路,其能被控制成将所述第二TAP控制器的TDI端口耦合到下列各项
中选择的一项:1)所述TDI导体;以及2)所述第一TAP控制器的TDO端口,
其中所述第一TAP控制器包括数据寄存器,其中如果所述数据寄存器存储第一数
字值,则所述复用电路被控制成将所述第二TAP控制器的TDI端口耦合到所述TDI
导体,而如果所述数据寄存器存储第二数字值,则所述复用电路被控制成将所述第
二TAP控制器的TDI端口耦合到所述第一TAP控制器的TDO端口。
6.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述可自重构的TAP控制器菊
花链还包括:
复用电路,其能被第一TAP控制器控制成将所述TDO导体耦合到下列各项
中选择的一项:1)所述第一TAP控制器的TDO端口;以及2)所述第二TAP控
制器的TDO端口。
7.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述第一TAP控制器包括数据
寄存器,其中如果第一值被存储在所述数据寄存器中并且所述数据寄存器被更新,
则所述菊花链被配置为所述第一配置,而如果第二值被存储在所述数据寄存器中并
且所述数据寄存器被更新,则所述菊花链被配置为所述第二配置。
8.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述装置是集成电路,其中所述
TDI导体是所述集成电路的第一端子,并且其中所述TDO导体是所述集成电路的
第二端子。
9.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述可自重构的TAP控制器菊
花链还包括:
第三TAP控制器,其中在所述第一配置中,所述扫描路径从所述第二TAP
控制器的TDO端口延伸,随后通过所述第三TAP控制器,并且到所述TDO导体,
\t并且其中在所述第二配置中,所述扫描路径不延伸通过第三TAP控制器。
10.如权利要求9所述的装置,其特征在于,所述可自重构的TAP控制器菊
花链上电使得其首先被配置为所述第二配置。
11.一种集成电路,包括:
第一TAP(测试访问端口)控制器;
第二TAP控制器,其具有TDI(测试数据输入)端口和TDO(测试数据输
出)端口;
第三TAP控制器,其具有TDI端口和TDO端口;
第一复用电路,其被第一TAP控制器控制以将所述第二TAP控制器的TDI
端口和所述第二TAP控制器的TDO端口之一耦合到所述第三TAP控制器的TDI
端口;以及
第二复用电路,其被所述第一TAP控制器控制以将所述第二TAP控制器
的TDO端口和所述第三TAP控制器的TDO端口之一耦合到TDO导体。
12.如权利要求11所述的集成电路,其特征子在于,所述第一TAP控制器
包括:
具有数位位置的数据寄存器,其中所述第一复用电路被控制成在第一数字
值被存储在所述数据存储器的数位位置中的情况下将所述第二TAP控制器的TDI
端口耦合到所述第三TAP控制器的TDI端口,而所述第一复用电路被控制成在第
二数字值被存储在所述数据寄存器的数位位置中的情况下将所述第二TAP控制器
的TDO端口耦合到所述第三TAP控制器的TDI端口。
13.如权利要求12所述的集成电路,其特征子在于,所述第一TAP控制器
还包括:
指令寄存器,其中所述数据寄存器能够通过如下方式被加载数据:将指令
移位到所述指令寄存器中并且随后致使所述第一TAP控制器执行所述指令,其中
所述第一TAP控制器对所述指令的执行允许所述数据被移位到所述数据寄存器
\t中。
14.一种方法,包括:
将数字值存储在第一TAP(测试访问端口)控制器的数据寄存器中,其中
所述第一TAP控制器和第二TAP控制器是可重构的TAP控制器菊花链的一部分;
致使所述可重构的TAP控制器菊花链在所述数据值是第一数字逻辑值的情
况下以第一配置被配置,其中在所述第一配置中,第一扫描路径从TDI(测试数据
输入)导体延伸通过所述第一TAP控制器到...
【专利技术属性】
技术研发人员:C·Y·杨,C·W·马弗德,Y·陶,C·E·伯登,
申请(专利权)人:高通股份有限公司,
类型:发明
国别省市:美国;US
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