用于静电放电测试的检测组件制造技术

技术编号:15954993 阅读:49 留言:0更新日期:2017-08-08 09:55
本发明专利技术公开一种用于静电放电测试的检测组件,其连接一金属探针对一待测物进行一静电放电电压的测试,并包含一探针连接元件与一组件本体。探针连接元件包含一导接段以及一绝缘段,导接段用以接收静电放电电压,并连接该金属探针。绝缘段连结于导接段,绝缘段由至少一绝缘材料所组成,其中绝缘段的长度与绝缘材料的介电强度的乘积大于静电放电电压。组件本体连结于探针连接元件。

【技术实现步骤摘要】
用于静电放电测试的检测组件
本专利技术涉及一种用于静电放电测试的检测组件,尤指一种包含有由至少一绝缘材料所组成的绝缘段的检测组件。
技术介绍
一般而言,人体或机械都可能累积大量静电荷,并在瞬间形成大量电荷放电,进而破坏电路元件,而为了确保电路元件的电气性能符合预期,而不受静电破坏,均需要先模拟上述电荷放电的静电放电(ElectrostaticDischarge;ESD)测试,以如4000伏特、8000伏特的静电放电电压,在极短时间(例如10ns)内将静电荷迅速释放,进而在受测元件上造成急速的单一脉冲,并随后量测此受测元件是否受损,藉以淘汰无法耐受静电放电的元件。其中,请参阅图1,图1显示本专利技术先前技术的用于静电放电测试的检测组件的侧视图,如图1所示,在进行上述静电放电测试的过程中,会利用两个用于静电放电测试的检测组件PA1(以下简称检测组件PA1,图中仅标示一个)对受测元件进行测试,而检测组件PA1包含一探针连接元件PA11、一探针PA12与一组件本体PA13,探针连接元件PA11的表面为导体,并具有导接部PA111与连接部PA112,而导接部PA111连接探针PA12。组件本体PA13是连接于连接部PA112,并具有一本体端部PA131、一轴承PA132、一开短路开关PA133以及一本体底部PA134。而本体底部PA134连结于探针连接元件PA11,且探针PA12的末端彼此相距一第一距离d1,而本体端部PA131与连接部PA112之间相距一第二距离d2,轴承PA132与本体底部PA134的上端部相距一第三距离d3,开短路开关PA133之间相距一第四距离d4。其中,进行静电放电测试时会给予静电放电电压,若第一距离d1大于第二距离d2、第三距离d3与第四距离d4时,会造成第一距离d1处的阻抗较第二距离d2处的阻抗为大,使得静电放电电压的电荷会朝阻抗较小的第二距离d2处移动而破坏组件本体PA13,进而造成测试成本的提高,因此现有技术仍具有改善的空间。
技术实现思路
有鉴于现有静电放电测试的检测组件普遍具有静电放电电压会回冲至组件本体而造成测试成本增加的问题。缘此,本专利技术主要目的是提供一种检测组件,其主要是于探针连接元件中增设绝缘段,藉以透过绝缘段防止放电电压回冲至组件本体。基于上述目的,本专利技术所采用的主要技术手段是提供一种用于静电放电测试的检测组件,连接一金属探针对一待测物进行一静电放电电压的测试,并包含一探针连接元件与一组件本体。探针连接元件包含一导接段以及一绝缘段,导接段用以接收静电放电电压,并连接该金属探针。绝缘段连结于导接段,绝缘段由至少一绝缘材料所组成,其中绝缘段的长度与绝缘材料的介电强度的乘积大于静电放电电压。组件本体连结于探针连接元件。其中,上述用于静电放电测试的检测组件的附属技术手段的较佳实施例中,绝缘段的长度与静电放电电压成正比,探针连接元件更包含一缓冲段,缓冲段连结于绝缘段与组件本体之间,缓冲段的长度与静电放电电压成反比,且缓冲段以一锁合方式或一粘着方式连结于绝缘段。此外,导接段与绝缘段的厚度相同,而绝缘段以一锁合方式或一粘着方式连结于导接段,探针连接元件为一连接臂。另外,绝缘材料的介电强度大于20kv/mm,而待测物为一发光二极体晶粒。通过本专利技术所采用的用于静电放电测试的检测组件的主要技术手段后,由于绝缘段的长度与绝缘材料的介电强度的乘积大于静电放电电压,因而在两探针的距离较大时,可有效地防止静电放电电压回冲至组件本体,因而可有效降低测试的成本。本专利技术所采用的具体实施例,将藉由以下的实施例及说明书附图作进一步的说明。附图说明图1是显示本专利技术先前技术的用于静电放电测试的检测组件的侧视图;图2是显示本专利技术第一较佳实施例的用于静电放电测试的检测组件的立体示意图;图3是显示本专利技术第一较佳实施例的用于静电放电测试的检测组件的侧视图;以及图4是显示本专利技术第二较佳实施例的用于静电放电测试的检测组件的侧视图。符号说明:PA1用于静电放电测试之检测组件A11探针连接元件A111导接部PA112连接部PA12探针PA13组件本体PA131本体端部PA132轴承PA133开短路开关PA134本体底部1用于静电放电测试之检测组件11、11a探针连接元件111、111a导接段112、112a绝缘段113缓冲段12组件本体121本体底板2金属探针3待测物d1第一距离d2第二距离d3第三距离d4第四距离L1、L2、L1a长度W1、W2厚度具体实施方式由于本专利技术所提供的用于静电放电测试的检测组件中,其组合实施方式不胜枚举,故在此不再一一赘述,仅列举两较佳实施例加以具体说明。请一并参阅图2以及图3,图2是显示本专利技术第一较佳实施例的用于静电放电测试的检测组件的立体示意图,图3是显示本专利技术第一较佳实施例的用于静电放电测试的检测组件的侧视图,如图所示,本专利技术较佳实施例的用于静电放电测试的检测组件1(以下简称检测组件1)连接一金属探针2对一待测物3进行一静电放电电压的测试,其中,金属探针2为现有技术,不再赘述,而待测物3为一发光二极体(Light-EmittingDiode;LED)晶粒,但其他实施例中不限于此。检测组件1包含一探针连接元件11与一组件本体12。探针连接元件11为一连接臂而呈长条型的结构,并包含一导接段111、一绝缘段112以及一缓冲段113,导接段111连接金属探针2,并连接传输线以接收一静电放电装置(图未示,为现有技术,不再赘述)所传送出的静电放电电压。其中导接段111连接金属探针2的方法例如可为夹持或嵌设于导接段111中,但不限于此。绝缘段112以一锁合方式或一粘着方式连结于导接段111,锁合方式例如可透过螺丝进行锁合,而粘着方式则可利用现有的粘着剂来实现。此外,绝缘段112由至少一绝缘材料所组成,且绝缘材料为现有的塑胶等非金属的材料,其中绝缘段112的长度L1与绝缘材料的介电强度的乘积是大于静电放电电压,而一般来说,绝缘材料的介电强度是大于20kv/mm,且绝缘段112的长度L1与静电放电电压成正比,意即静电放电电压愈大,则所需的长度L1即愈长,绝缘段112与导接段111的厚度是相同而皆为厚度W1,也就是说,在厚度为某一定值的情况下,可依据静电放电电压调整绝缘段112的长度L1。一般来说,若在静电放电电压未很大时,可保留出缓冲段113,缓冲段113连结于绝缘段112与组件本体12之间,其中缓冲段113的长度L2与静电放电电压成反比,而缓冲段113可呈阶梯状而同时包含有厚度W1与厚度W2的部分,也可仅指与绝缘段112相同厚度W1的部分,或是同时包含厚度W2减去厚度W1的部分。另外,缓冲段113也可以一锁合方式或一粘着方式连结于绝缘段112,此两种方式均与上述绝缘段112连结于导接段111的连结方式相同,不再赘述。组件本体12连结于探针连接元件11,本专利技术较佳实施例中,是透过组件本体12所包含的本体底板121连结于探针连接元件11的缓冲段113,而本体底板121的厚度也可为厚度W1,但并不限于此。具体来说,一般探针连接元件11会有固定的长度,而上述绝缘段112与缓冲段113的制成方式中,例如是依据静电放电电压运算出适合的长度L1后,保留导接段11并将图1的探针连接元件PA11的中间段部份裁切掉长度L本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种用于静电放电测试的检测组件,该检测组件连接一金属探针对一待测物进行一静电放电电压的测试,其特征在于,该检测组件包含:一探针连接元件,包含:一导接段,用以接收该静电放电电压,该导接段连接该金属探针;以及一绝缘段,连结于该导接段,该绝缘段由至少一绝缘材料所组成,其中该绝缘段的长度与该绝缘材料的介电强度的乘积大于该静电放电电压;以及一组件本体,连结于该探针连接元件。

【技术特征摘要】
1.一种用于静电放电测试的检测组件,该检测组件连接一金属探针对一待测物进行一静电放电电压的测试,其特征在于,该检测组件包含:一探针连接元件,包含:一导接段,用以接收该静电放电电压,该导接段连接该金属探针;以及一绝缘段,连结于该导接段,该绝缘段由至少一绝缘材料所组成,其中该绝缘段的长度与该绝缘材料的介电强度的乘积大于该静电放电电压;以及一组件本体,连结于该探针连接元件。2.如权利要求1所述的检测组件,其特征在于,其中,该绝缘段的长度与该静电放电电压成正比。3.如权利要求1所述的检测组件,其特征在于,其中,该探针连接元件更包含一缓冲段,该缓冲段连结于该绝缘段与该...

【专利技术属性】
技术研发人员:翁思渊张晋源黄国玮
申请(专利权)人:致茂电子苏州有限公司
类型:发明
国别省市:江苏,32

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