发光器件的老化测试方法和老化测试系统技术方案

技术编号:15921489 阅读:69 留言:0更新日期:2017-08-04 01:08
本发明专利技术公开了一种发光器件的老化测试方法和老化测试系统。该方法包括:在对发光器件进行老化的过程中,采集所述发光器件的多个第一特征参数和与每个第一特征参数对应的时间;根据所述第一特征参数和与每个第一特征参数对应的时间生成特征线,并生成所述特征线的斜率;判断所述特征线的斜率是否大于或等于设定阈值且小于0;若判断出所述特征线的斜率大于或等于设定阈值且小于0时,停止对发光器件进行老化。本发明专利技术对不同的发光器件进行相应的老化处理,降低了不同的发光器件之间的寿命差异,从而提高了发光器件寿命的均一性。

Burn-in test method for light emitting device and burn-in test system

The invention discloses an aging test method for a light emitting device and an aging test system. The method includes: in the light emitting device aging process, a plurality of first characteristic parameter acquisition of the light-emitting devices and the corresponding characteristic parameters and each of the first time; according to the first characteristic parameters and the corresponding characteristic parameters and each of the first generation time characteristic curve, slope and generating the feature line; judgment the slope of the characteristic line is greater than or equal to the threshold and less than 0; when the slope of the characteristic line is equal to or greater than the threshold and less than 0, to stop the aging light emitting device. The invention has the corresponding aging treatment of different light emitting devices, thereby reducing the life difference between different light-emitting devices, thereby improving the uniformity of the life of the light-emitting device.

【技术实现步骤摘要】
发光器件的老化测试方法和老化测试系统
本专利技术涉及显示
,特别涉及一种发光器件的老化测试方法和老化测试系统。
技术介绍
随着有机半导体技术的进步,有机发光二极管(Organiclightemittingdiodes,简称OLED)日益成熟,其在照明和显示等领域发挥的作用越来越重要。与传统的液晶显示器不同,因为OLED具有自发光、宽视角、响应速度快、超薄、发光效率高、功耗低、工作温度宽等特点,被认为更有应用前景。同时,有机照明的研究工作也取得了较大的进展。发光寿命是评价OLED的重要指标,目前OLED除了要在材料和制备工艺方面继续提高之外,稳定的器件性能也是不可缺少的因素。OLED量产制备过程中影响因素众多,不同批次间的产品寿命差异较大,导致后期对OLED老化的控制较困难。如果老化的不合理就会导致出厂后的产品寿命差异较大,影响客户的使用。不同批次的OLED虽然为相同结构的器件,但是寿命的离散性却很大。为保证出厂后产品的均一性和稳定性,出厂前会对产品进行老化处理。现有技术中,老化处理中对OLED老化量的控制,一般采取老化时间控制或者衰减量控制,但是上述两种方案都不能很好的控制产品的均一性。例如,若在老化处理过程中以老化时间控制OLED的老化量,则在对不同的OLED采用相同的半小时的老化时间进行老化处理之后,不同的OLED的寿命差异较大。从而导致了采用现有技术对OLED进行老化处理,无法保证OLED产品之间寿命的均一性。
技术实现思路
本专利技术提供一种发光器件的老化测试方法和老化测试系统,用于提高发光器件之间寿命的均一性。为实现上述目的,本专利技术提供了一种发光器件的老化测试方法,包括:S1、在对发光器件进行老化的过程中,采集所述发光器件的多个第一特征参数和与每个第一特征参数对应的测试时间;S2、根据所述第一特征参数和与每个第一特征参数对应的测试时间生成特征线,并生成所述特征线的斜率;S3、判断所述特征线的斜率是否大于或等于设定阈值且小于0,若判断出所述特征线的斜率大于或等于0时执行步骤S4;若判断出所述特征线的斜率大于或等于设定阈值且小于0时执行步骤S5,若判断出所述特征线的斜率小于设定阈值时继续执行步骤S1;S4、将特征线的斜率大于或等于0时对应的第一特征参数清零以及将初始特征参数设置为特征线的斜率大于或等于0时对应的第一特征参数中的最大值,并继续执行步骤S1;S5、停止对发光器件进行老化。可选地,所述S2包括:S21、将所述第一特征参数和设置的初始特征参数相除,计算出第二特征参数;S22、根据所述第二特征参数和与每个所述第二特征参数对应的测试时间生成特征线。可选地,所述初始特征参数等于采集的多个第一特征参数中第一个第一特征参数。可选地,所述第一特征参数为第一亮度值,所述初始特征参数为初始亮度值。可选地,所述S5之后还包括:S6、记录老化时间和/或老化量。可选地,所述特征线为曲线或者直线。为实现上述目的,本专利技术提供了一种发光器件的老化测试系统,包括:采集模块,用于在对发光器件进行老化的过程中,采集所述发光器件的多个第一特征参数和与每个第一特征参数对应的测试时间;生成模块,用于根据所述第一特征参数和与每个第一特征参数对应的测试时间生成特征线,并生成所述特征线的斜率;判断模块,用于判断所述特征线的斜率是否大于或等于设定阈值且小于0,若判断出所述特征线的斜率小于设定阈值时,触发所述采集模块,由所述采集模块继续执行所述在对发光器件进行老化的过程中,采集所述发光器件的多个第一特征参数的步骤;老化控制模块,用于若所述判断模块判断出所述特征线的斜率大于或等于设定阈值且小于0时,停止对发光器件进行老化;设置模块,用于若所述判断模块判断出所述特征线的斜率大于或等于0时,将特征线的斜率大于或等于0时对应的第一特征参数清零以及将初始特征参数设置为特征线的斜率大于或等于0时对应的第一特征参数中的最大值,并触发所述采集模块,由所述采集模块继续执行所述在对发光器件进行老化的过程中,采集所述发光器件的多个第一特征参数的步骤。可选地,所述生成模块包括:计算子模块,用于将所述第一特征参数和设置的初始特征参数相除,计算出第二特征参数;生成子模块,用于根据所述第二特征参数和与每个所述第二特征参数对应的测试时间生成特征线。可选地,所述初始特征参数等于采集的多个第一特征参数中第一个第一特征参数。可选地,所述第一特征参数为第一亮度值,所述初始特征参数为初始亮度值。本专利技术具有以下有益效果:本专利技术提供的技术方案中,在对发光器件进行老化的过程中,根据采集的第一特征参数和与每个第一特征参数对应的时间生成特征线,若判断出特征线的斜率大于或等于设定阈值且小于0时,停止对发光器件进行老化,本专利技术对不同的发光器件进行相应的老化处理,降低了不同的发光器件之间的寿命差异,从而提高了发光器件寿命的均一性。附图说明图1为本专利技术实施例一提供的一种发光器件的老化测试方法的流程图;图2为未采用实施例一对发光器件进行老化时发光器件的寿命曲线图;图3为采用实施例一对发光器件进行测试后发光器件的寿命曲线图;图4为本专利技术实施例二提供的一种发光器件的老化测试方法的流程图;图5为未采用实施例二对发光器件进行老化时发光器件的寿命曲线图图6为实施例二中对发光器件的寿命曲线对比图;图7为本专利技术实施例三提供的一种发光器件的老化测试系统的结构示意图。具体实施方式为使本领域的技术人员更好地理解本专利技术的技术方案,下面结合附图对本专利技术提供的发光器件的老化测试方法和老化测试系统进行详细描述。图1为本专利技术实施例一提供的一种发光器件的老化测试方法的流程图,如图1所示,该方法包括:步骤S1、在对发光器件进行老化的过程中,采集发光器件的多个第一特征参数和与每个第一特征参数对应的测试时间。本实施例中的发光器件的老化测试方法是在对发光器件进行老化过程中进行的。优选地,发光器件可以为OLED。本实施例中各步骤可以由发光器件的老化测试系统执行。则在执行本步骤之前,需要打开发光器件的老化测试系统的控制电源,对发光器件的老化测试系统进行预热。本实施例中,在执行本步骤之前还需要设置测试模式。其中,测试模式可包括恒流模式,恒电压模式或者恒亮度模式。本实施例中,测试模式为恒流模式,例如,可将所有发光器件的电流密度设置为10mA/cm2。则本实施中,在对发光器件进行测试过程中,所有发光器件均以设置的测试模式发光。例如,当测试模式采用恒流模式时,所有发光器件均以恒流模式发光,即发光器件的电流是恒定的。本实施例中,可按设定时间间隔采集发光器件的多个第一特征参数并记录采集每个第一特征参数时的测试时间。采集的第一特征参数的数量为多个,例如,数量可以为2个、10个、40个或者60个等,采集的第一特征参数的数量可根据需要进行设置,此处不再一一列举。本实施例中,第一特征参数可以为第一亮度值。步骤S2、根据第一特征参数和与每个第一特征参数对应的测试时间生成特征线,并生成特征线的斜率。本步骤具体可包括:步骤S21、将第一特征参数和设置的初始特征参数相除,计算出第二特征参数。本实施例中,由于采集的第一特征参数的数量为多个,则计算出的第二特征参数的数量也为多个。换言之,根据每个第一特征参数和设置的初始特征参数可计算出多个第二特征参数。本实施例中,本文档来自技高网...
发光器件的老化测试方法和老化测试系统

【技术保护点】
一种发光器件的老化测试方法,其特征在于,包括:S1、在对发光器件进行老化的过程中,采集所述发光器件的多个第一特征参数和与每个第一特征参数对应的测试时间;S2、根据所述第一特征参数和与每个第一特征参数对应的测试时间生成特征线,并生成所述特征线的斜率;S3、判断所述特征线的斜率是否大于或等于设定阈值且小于0,若判断出所述特征线的斜率大于或等于0时执行步骤S4;若判断出所述特征线的斜率大于或等于设定阈值且小于0时执行步骤S5,若判断出所述特征线的斜率小于设定阈值时继续执行步骤S1;S4、将特征线的斜率大于或等于0时对应的第一特征参数清零以及将初始特征参数设置为特征线的斜率大于或等于0时对应的第一特征参数中的最大值,并继续执行步骤S1;S5、停止对发光器件进行老化。

【技术特征摘要】
1.一种发光器件的老化测试方法,其特征在于,包括:S1、在对发光器件进行老化的过程中,采集所述发光器件的多个第一特征参数和与每个第一特征参数对应的测试时间;S2、根据所述第一特征参数和与每个第一特征参数对应的测试时间生成特征线,并生成所述特征线的斜率;S3、判断所述特征线的斜率是否大于或等于设定阈值且小于0,若判断出所述特征线的斜率大于或等于0时执行步骤S4;若判断出所述特征线的斜率大于或等于设定阈值且小于0时执行步骤S5,若判断出所述特征线的斜率小于设定阈值时继续执行步骤S1;S4、将特征线的斜率大于或等于0时对应的第一特征参数清零以及将初始特征参数设置为特征线的斜率大于或等于0时对应的第一特征参数中的最大值,并继续执行步骤S1;S5、停止对发光器件进行老化。2.根据权利要求1所述的发光器件的老化测试方法,其特征在于,所述S2包括:S21、将所述第一特征参数和设置的初始特征参数相除,计算出第二特征参数;S22、根据所述第二特征参数和与每个所述第二特征参数对应的测试时间生成特征线。3.根据权利要求2所述的发光器件的老化测试方法,其特征在于,所述初始特征参数等于采集的多个第一特征参数中第一个第一特征参数。4.根据权利要求2所述的发光器件的老化测试方法,其特征在于,所述第一特征参数为第一亮度值,所述初始特征参数为初始亮度值。5.根据权利要求1所述的发光器件的老化测试方法,其特征在于,所述S5之后还包括:S6、记录老化时间和/或老化量。6.根据权利要求1所述的发光器件的老化测试方法,其特征在于,所述特征线为曲线或者直线。7.一种发光器件的老化测试系统,...

【专利技术属性】
技术研发人员:孔超郑克宁陈栋梁逸南
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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