一种霍尔器件测试夹制造技术

本实用新型专利技术公开了一种霍尔器件测试夹，属于芯片测试技术领域。本实用新型专利技术的测试夹，包括固定夹、连接杆和基座，还包括活动夹；所述固定夹和活动夹通过相互配合的旋转装置连接，并通过活动夹相对于固定夹的旋转实现两者之间夹口的宽度调节；固定夹的底部固定有连接杆；所述连接杆的正下方，设置有圆形凹槽的基座，连接杆和圆形凹槽上下间隙配合，并在圆形凹槽内上下运动，通过活动夹相对于固定夹的旋转实现两者之间夹口的宽度调节，实现了测试夹口可根据晶体管封装体的尺寸进行适应性调节，进而达到将晶体管封装体准确定位的目的，将封装体在测试夹内进行定位调整后，也避免了测试完成后转移到副盘时的叠料现象。

【技术实现步骤摘要】
一种霍尔器件测试夹
本技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种霍尔器件测试夹。
技术介绍
目前，在半导体集成电路制造工艺中，需要对切割封装后的成品芯片进行进一步测试，测试夹具更起到了关键作用。霍尔器件测试夹是用来对成品霍尔器件进行测试的夹具。在测试过程中，具体做法是通过芯片分选机的吸嘴将霍尔器件转移至测试夹内，测试完毕后，芯片分选机的吸嘴再将霍尔器件转移至下一工序。SOT是英文Small-outlinetransistor的简称，指的是一种晶体管的封装形式，SOT26是SOT23-6的简称，SOT23-6是SOT23中的一种，尾数6表示6个引脚；很多种霍尔器件也采用SOT26的封装形式，原设备所设计的霍尔器件测试夹，如图2所示，夹口(111)的开口尺寸是固定的，材质是采用黄铜的，且尺寸极其微小，设计时，在原固定夹的基础上增加活动夹几乎是不太可能的。而晶体管封装体的长度由于制造工艺水平的局限性，导致其长度不一致，故原设备设计的测试夹是按晶体管封装体长度最大尺寸设计的，这样就造成了晶体管封装体产品尺寸稍小时，封装体在测试夹内发生会左右偏移，从而定位不准，造成产品转移至副盘时的叠料；而晶体管封装体的引脚是左右对称设置，测试时如何保证两侧引脚和测试片的接触以及防止测试时叠料也是技术人员需要考虑的技术问题；经检索，中国技术专利申请，公开号：CN105931979A，公开日：2016.09.07，公开了一种旋转下压型芯片测试夹具，包括支架，所述支架包括带有水平面的基台和竖直状的支撑杆；所述支撑杆上固定有内壁带有螺旋纹的空心柱状支撑架；还包括外壁带有螺旋纹的下压棒；所述支撑架内壁的螺旋纹和所述下压棒外壁的螺旋纹相互匹配；所述下压棒下部端头处设置有上部测试针，所述下压棒的上部端头处设置有手柄；所诉基台上固定有芯片放置台，所述芯片放置台的上表面设置有芯片定位杆，芯片放置台还设置有通孔，通孔中固定有下部测试针。该技术适用于未封装芯片的测试，可对芯片进行定位和快速测试，而无需将测试引脚焊接在芯片上，对芯片安装拆卸均快捷方便，适用于大批量的测试。但该技术申请的水平面的基台不能调整大小，只能测试固定规格的芯片，而且，只适用于未封装芯片的测试，通用性较差。
技术实现思路
1.技术要解决的技术问题针对现有技术中存在的晶体管封装体测试时在测试夹内左右偏移造成定位不准，以及测试完成后封装体在测试站及转移到副盘容易叠料的问题，本技术提供了一种霍尔器件测试夹。它的测试夹口可根据晶体管封装体的尺寸进行适应性调节，达到定位准确的目的，将封装体进行定位调整后，也解决了测试完成后转移到副盘容易叠料的问题。2.技术方案为达到上述目的，本技术提供的技术方案为：一种霍尔器件测试夹，包括固定夹、连接杆和基座，还包括活动夹；所述固定夹和活动夹通过相互配合的旋转装置连接，并通过活动夹相对于固定夹的旋转实现两者之间夹口的宽度调节；固定夹的底部固定有连接杆；所述连接杆的正下方，设置有圆形凹槽的基座，连接杆和圆形凹槽上下间隙配合，并在圆形凹槽内上下运动，通过活动夹相对于固定夹的旋转实现两者之间夹口的宽度调节，实现了测试夹口可根据晶体管封装体的尺寸进行适应性调节，进而达到将晶体管封装体准确定位的目的，将封装体在测试夹内进行定位调整后，也避免了测试完成后转移到副盘时的叠料现象。进一步的技术方案，所述旋转装置为固定夹、活动夹正对的各自侧面上分别设置并配合设置的凸半圆柱、凹半圆柱；所述活动夹通过凹半圆柱挂在固定夹的凸半圆柱上，凹半圆柱以凸半圆柱为轴旋转。进一步的技术方案，所述固定夹呈方形结构，由其窄侧面向内并向下开有反“L”形通槽；所述凸半圆柱设置在反“L”形通槽的外侧壁上，其“凸”头朝向内侧；所述活动夹呈和固定夹的反“L”形通槽适配的结构，下部外侧开有和凸半圆柱配合旋转连接的凹半圆柱，活动夹上部的活动夹指向上斜伸出“L”形通槽，并和固定夹上部的固定夹指齐平，两指之间形成夹口；这种结构设计，无需在原固定夹的基础上增加活动夹，将活动夹嵌入原固定夹的内部，整体尺寸没有丝毫的增加，以适应项圈内项圈内方形孔有限的空间，一般方形孔的尺寸为4.0×1.4mm。所述活动夹的活动夹指以下的外侧壁和固定夹之间留有倒“L”形旋转间隙，以实现凹半圆柱以凸半圆柱为轴的小角度旋转。进一步的技术方案，还包括项圈，所述项圈中心洞穿有方形孔，项圈固定于线圈铝合金支架上；活动夹和固定夹装配成组合体后和方形孔间隙配合，并在方形孔内上下运动。进一步的技术方案，所述固定夹中间内部设置竖直方向的顶杆容腔，并直通至活动夹的底部阶台上表面；顶杆容腔由下至上内置互相连接的顶杆弹簧和顶杆；顶杆呈“凸”字形，顶端穿出固定夹的上表面，靠近夹口中间的位置，底部为连接杆弹簧的顶杆座；顶杆弹簧底部和活动夹的底部阶台相连，顶杆弹簧能够同时作用于顶杆和活动夹，利用一根弹簧既能实现控制活动夹的开口及闭合，还可以同时控制顶杆确保SOT产品不会卡在测试夹内，而且，活动夹的开口过程中，弹簧对活动夹指产生向左的挤压力，从而实现对封装体的调整定位，进而减少了产品在副盘的报警几率。进一步的技术方案，固定夹的左右侧面设置有限制项圈一直下移的限位阶台；所述圆形凹槽内置调整螺丝，起到防止测试过程中叠料的效果。进一步的技术方案，固定夹指和活动夹指相对的侧面均为上部向外开的斜面，倾斜角度和封装体的形状一致，避免封装体和夹口平面的过硬接触而相互损伤，并进一步保证了压入后的稳定性；连接杆的周围环绕有连接杆弹簧，以促进测试夹自动复位。进一步的技术方案，所述固定夹的底部设置盲孔，所述连接杆顶部设置连接插头，盲孔和连接插头为紧配连接，实现了固定夹和连接杆的可拆卸连接，根据需要调整连接杆规格，提高其通用性；所述凹半圆柱的旋转为顺时针转0～1.4°，根据晶体管封装体的大小自动调整旋转角度，以适应不同尺寸的晶体管封装体。进一步的技术方案，霍尔器件测试夹各部分均由高抗磁不锈钢材料制作，防止普通钢一旦在线圈磁场的反复作用下产生磁性，会对霍尔产品的测试存在偏差。一种霍尔器件测试夹的操作方法，步骤为：步骤一、SOT26的压入：芯片分选机吸嘴将将SOT26中部的封装体吸附后压入夹口内，压入过程中，封装体首先压到顶杆，顶杆弹簧向下压缩变形，其次封装体再碰到固定夹或活动夹，若先碰到固定夹，则封装体在固定夹斜面的挤压作用下移向活动夹一侧，此时活动夹相对于固定夹顺时针旋转，夹口的宽度逐渐增大；若封装体先碰到活动夹，则活动夹的斜面也会将封装体挤压移向固定夹一侧，封装体再次碰到固定夹一侧，此时活动夹再次旋转，同时，顶杆弹簧作用在活动夹的底部阶台，即其弹力作用在底部阶台，活动夹指产生向左的挤压力，从而实现对封装体定位；压入过程中，固定夹和活动夹的组合体相对于项圈下降；由于连接杆外围连接杆弹簧的反作用力，使得封装体在接触到测试片之前就已经完全被压入到夹口内，在使用过程中，当连接杆的底部碰到基座的圆形凹槽内内的调整螺丝时，分选机上压杆上的传感器便会报叠料警；正常状态下，封装体在下行过程中已完全压入夹口内，并保持压入式固定，继续下行直到与测试片接触；步骤二、SOT26的测试：对SOT26的各个引脚接触测试片进行逐个测试；步骤三、SOT26的顶出：测试完成后，分选机本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种霍尔器件测试夹，包括固定夹(1)、连接杆(5)和基座(10)，其特征在于，还包括活动夹(2)；所述固定夹(1)和活动夹(2)通过相互配合的旋转装置连接，并通过活动夹(2)相对于固定夹(1)的旋转实现两者之间夹口(111)的宽度调节；固定夹(1)的底部固定有连接杆(5)；所述连接杆(5)的正下方，设置有圆形凹槽(101)的基座(10)，连接杆(5)和圆形凹槽(101)上下间隙配合，并在圆形凹槽(101)内上下运动。

【技术特征摘要】
1.一种霍尔器件测试夹，包括固定夹(1)、连接杆(5)和基座(10)，其特征在于，还包括活动夹(2)；所述固定夹(1)和活动夹(2)通过相互配合的旋转装置连接，并通过活动夹(2)相对于固定夹(1)的旋转实现两者之间夹口(111)的宽度调节；固定夹(1)的底部固定有连接杆(5)；所述连接杆(5)的正下方，设置有圆形凹槽(101)的基座(10)，连接杆(5)和圆形凹槽(101)上下间隙配合，并在圆形凹槽(101)内上下运动。2.根据权利要求1所述的一种霍尔器件测试夹，其特征在于：所述旋转装置为固定夹(1)、活动夹(2)正对的各自侧面上分别设置并配合设置的凸半圆柱(12)、凹半圆柱(22)；所述活动夹(2)通过凹半圆柱(22)挂在固定夹(1)的凸半圆柱(12)上，凹半圆柱(22)以凸半圆柱(12)为轴旋转。3.根据权利要求2所述的一种霍尔器件测试夹，其特征在于：所述固定夹(1)呈方形结构，由其窄侧面向内并向下开有反“L”形通槽；所述凸半圆柱(12)设置在反“L”形通槽的外侧壁上，其“凸”头朝向内侧；所述活动夹(2)呈和固定夹(1)的反“L”形通槽适配的结构，下部外侧开有和凸半圆柱(12)配合旋转连接的凹半圆柱(22)，活动夹(2)上部的活动夹指(21)向上斜伸出“L”形通槽，并和固定夹(1)上部的固定夹指(11)齐平，两指之间形成夹口(111)；所述活动夹(2)的活动夹指(21)以下的外侧壁和固定夹(1)之间留有倒“L”形旋转间隙(112)。4.根据权利要求3所述的一种霍尔器件测试夹，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：李国祥，李青，叶金锋，万益高，
申请(专利权)人：长电科技滁州有限公司，
类型：新型
国别省市：安徽,34