一种提取器件模型参数的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种提取器件模型参数的方法及装置，其中，该方法包括：根据待测器件模型的待测参数确定测试输入和与测试输入相对应的测试数据，测试输入包括测试输入和测试电路；根据测试电路确定仿真网表，仿真网表用于记录待测器件各个引脚的连接关系；确定待测参数的临时参数值，并将测试输入作为仿真网表的输入，确定仿真网表输出的仿真数据；在仿真数据与测试数据之间的差值小于预设阈值时，将临时参数值作为待测参数的有效参数值。该方法可以快速准确地确定待测器件模型的参数；该方法避免使用提参软件，不需要支付额外的费用，代价低，同时可以重复确定待测器件模型的参数。

【技术实现步骤摘要】
一种提取器件模型参数的方法及装置
本专利技术涉及器件参数提取
，特别涉及一种提取器件模型参数的方法及装置。
技术介绍
集成电路经历了由小规模、中规模、大规模到目前超大规模集成电路的发展，电路集成度的不断提高，主要源于半导体器件的尺寸持续缩小及生产工艺的不断进步。随着集成电路规模的扩大以及工艺的不断复杂化，用手工技术或者实验的方法去完成电路的设计己经是不可能的，为了能够准确地对集成电路进行设计和分析，必需使用计算机辅助设计模拟软件，SPICE(Simulationprogramwithintegratedcircuitemphasis，集成电路仿真程序)就是电路设计领域最具代表性的模拟工具。为了适应集成电路技术与电路仿真技术的发展，SPICE在其中建立了多种器件模型。而电路模拟器能否用于超大规模集成电路的设计和分析取决于模拟器中所采用的器件模型，并且预测电路特性的准确性与器件模型参数的准确程度有极大的关系，随着器件尺寸的缩小和电路模拟器中模型复杂程度的提高，这种依赖关系变得越来越重要。因此，提取器件模型方程中参数的准确值就成为决定集成电路模拟结果的关键。而现有提取器件参数的工具一般都是商用的软件，如Cadence公司的BSIMProPLUS，Agilent的ICCAP，Accelicon公司(现已经被Agilent公司收购)的MBP(ModelBuilderProgram)软件，概伦公司的ProPlus软件等。这些商用软件几乎支持支持所有的器件模型，包扩BSIM(Berkeleyshort-channelIGFETmodel，伯克利短沟道绝缘栅场效应晶体管模型)3v3，BSIM4，BSIM6等等模型。在实现本专利技术过程中，专利技术人发现现有技术中至少存在如下问题：一般来讲，芯片设计公司会采用芯片制造厂所提供的器件的模型设计芯片，而芯片制造厂所提供的器件模型是通用的模型，如果不能满足芯片设计公司的要求，芯片设计公司就不得不开发属于自己的器件模型库。开发新的器件，就需要购买支持相应模型的商用提参软件，商用的提参软件的费用一般都比较昂贵，就一个小的芯片设计公司而言，是一笔相当可观的开支，此为其一；再者，同一芯片制造工艺平台，器件的参数提取的工作只需做一次，商用的提参软件的利用率不是甚高。公开于该
技术介绍
部分的信息仅仅旨在增加对本专利技术的总体背景的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种提取器件模型参数的方法及装置，从而克服现有利用提参工具提取器件模型参数费用较高的缺陷。本专利技术实施例提供的一种提取器件模型参数的方法，包括：根据待测器件模型的待测参数确定测试输入和与所述测试输入相对应的测试数据，所述测试输入包括测试条件和测试电路；根据所述测试电路确定仿真网表，所述仿真网表用于记录所述待测器件模型各个引脚的连接关系；确定所述待测参数的临时参数值，并将所述测试条件作为所述仿真网表的输入，确定所述仿真网表输出的仿真结果；在所述仿真结果与所述测试数据之间的差值小于预设阈值时，将所述临时参数值作为所述待测参数的有效参数值。在一种可能的实现方式中，所述根据待测器件模型的待测参数确定测试输入和与所述测试输入相对应的测试数据，包括：确定待测器件模型的待测参数；根据所述待测参数确定用于测试所述待测参数的测试电路；确定与所述测试电路相匹配的测试条件，并以所述测试条件作为所述测试电路的输入数据，确定相对应的输出数据，将所述输出数据作为测试数据。在一种可能的实现方式中，在所述确定所述仿真网表输出的仿真结果之后，该方法还包括：若所述仿真结果与所述测试数据之间的差值不小于预设阈值，更新所述待测参数的临时参数值，并重新确定所述仿真网表输出的仿真结果，直至所述仿真结果与所述测试数据之间的差值小于预设阈值。在一种可能的实现方式中，所述测试条件包括开始值、结束值和步长。在一种可能的实现方式中，在所述确定所述仿真网表输出的仿真结果之后，该方法还包括：根据所述测试条件的开始值、结束值和步长确定所述测试条件包含的所有的子测试条件；依次确定与每个子测试条件相对应的子测试数据和子仿真结果，并确定所述子测试数据与所述子仿真结果之间的差值平方；计算所有所述子测试条件的差值平方之和，在所述差值平方之和小于预设阈值时，确定所述仿真结果与所述测试数据之间的差值小于预设阈值。基于同样的专利技术构思，本专利技术实施例还提供一种提取器件模型参数的装置，包括：第一确定模块，用于根据待测器件模型的待测参数确定测试输入和与所述测试输入相对应的测试数据，所述测试输入包括测试条件和测试电路；第二确定模块，用于根据所述测试电路确定仿真网表，所述仿真网表用于记录所述待测器件模型各个引脚的连接关系；仿真模块，用于确定所述待测参数的临时参数值，并将所述测试条件作为所述仿真网表的输入，确定所述仿真网表输出的仿真结果；处理模块，用于在所述仿真结果与所述测试数据之间的差值小于预设阈值时，将所述临时参数值作为所述待测参数的有效参数值。在一种可能的实现方式中，所述第一确定模块包括：参数确定单元，用于确定待测器件模型的待测参数；电路确定单元，用于根据所述待测参数确定用于测试所述待测参数的测试电路；处理单元，用于确定与所述测试电路相匹配的测试条件，并以所述测试条件作为所述测试电路的输入数据，确定相对应的输出数据，将所述输出数据作为测试数据。在一种可能的实现方式中，该装置还包括更新模块；在所述仿真模块确定所述仿真网表输出的仿真结果之后，所述更新模块用于，若所述仿真结果与所述测试数据之间的差值不小于预设阈值，更新所述待测参数的临时参数值，并重新确定所述仿真网表输出的仿真结果，直至所述仿真结果与所述测试数据之间的差值小于预设阈值。在一种可能的实现方式中，所述测试条件包括开始值、结束值和步长。在一种可能的实现方式中，该装置还包括：差值确定模块；在所述仿真模块确定所述仿真网表输出的仿真结果之后，所述差值确定模块用于：根据所述测试条件的开始值、结束值和步长确定所述测试条件包含的所有的子测试条件；依次确定与每个子测试条件相对应的子测试数据和子仿真结果，并确定所述子测试数据与所述子仿真结果之间的差值平方；计算所有所述子测试条件的差值平方之和，在所述差值平方之和小于预设阈值时，确定所述仿真结果与所述测试数据之间的差值小于预设阈值。本专利技术实施例提供的一种提取器件模型参数的方法及装置，通过预先确定测试输入和测试数据，并以相同的测试输入对待测器件模型进行仿真测试，在仿真结果与测试数据的误差符合要求时确定待测器件模型的参数值。该方法通过对比仿真结果与测试数据的方式确定待测器件模型当前的参数值是否符合实际要求，可以快速准确地确定待测器件模型的参数；该方法避免使用提参软件，不需要支付额外的费用，代价低，同时可以重复确定待测器件模型的参数。本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。附图说明附图用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本专利技术的实施例一起用于解释本专利技术，并不构成对本本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种提取器件模型参数的方法，其特征在于，包括：根据待测器件模型的待测参数确定测试输入和与所述测试输入相对应的测试数据，所述测试输入包括测试条件和测试电路；根据所述测试电路确定仿真网表，所述仿真网表用于记录所述待测器件模型各个引脚的连接关系；确定所述待测参数的临时参数值，并将所述测试条件作为所述仿真网表的输入，确定所述仿真网表输出的仿真结果；在所述仿真结果与所述测试数据之间的差值小于预设阈值时，将所述临时参数值作为所述待测参数的有效参数值。

【技术特征摘要】
1.一种提取器件模型参数的方法，其特征在于，包括：根据待测器件模型的待测参数确定测试输入和与所述测试输入相对应的测试数据，所述测试输入包括测试条件和测试电路；根据所述测试电路确定仿真网表，所述仿真网表用于记录所述待测器件模型各个引脚的连接关系；确定所述待测参数的临时参数值，并将所述测试条件作为所述仿真网表的输入，确定所述仿真网表输出的仿真结果；在所述仿真结果与所述测试数据之间的差值小于预设阈值时，将所述临时参数值作为所述待测参数的有效参数值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据待测器件模型的待测参数确定测试输入和与所述测试输入相对应的测试数据，包括：确定待测器件模型的待测参数；根据所述待测参数确定用于测试所述待测参数的测试电路；确定与所述测试电路相匹配的测试条件，并以所述测试条件作为所述测试电路的输入数据，确定相对应的输出数据，将所述输出数据作为测试数据。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述确定所述仿真网表输出的仿真结果之后，还包括：若所述仿真结果与所述测试数据之间的差值不小于预设阈值，更新所述待测参数的临时参数值，并重新确定所述仿真网表输出的仿真结果，直至所述仿真结果与所述测试数据之间的差值小于预设阈值。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试条件包括开始值、结束值和步长。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述确定所述仿真网表输出的仿真结果之后，还包括：根据所述测试条件的开始值、结束值和步长确定所述测试条件包含的所有的子测试条件；依次确定与每个子测试条件相对应的子测试数据和子仿真结果，并确定所述子测试数据与所述子仿真结果之间的差值平方；计算所有所述子测试条件的差值平方之和，在所述差值平方之和小于预设阈值时，确定所述仿真结果与所述测试数据之间的差值小于预设阈值。6.一种提取器件模型参数的装置，其特征在于，包括：第一确定模块，用于...

【专利技术属性】
技术研发人员：李书振，袁远东，陈燕宁，张海峰，赵东艳，靳嘉桢，唐如意，付卫东，莫文昊，
申请(专利权)人：北京智芯微电子科技有限公司，国网信息通信产业集团有限公司，国家电网公司，国网河北省电力公司，
类型：发明
国别省市：北京,11