本发明专利技术提供显示装置，其内置有触摸面板功能，能够高效执行交叉电容的校准。液晶显示装置具有以矩阵状配置的多个像素，并具有：第一基板；第二基板；夹持在所述第一基板与所述第二基板之间的液晶；和检测电路。所述第二基板具有触摸面板的检测电极，各所述像素具有像素电极和相对电极，所述相对电极被分割为多个区块，所分割成的各所述区块的相对电极以相对于连续的多个显示线的各像素通用的方式而设置，所分割成的各所述区块的相对电极兼用作所述触摸面板的扫描电极。所述检测电路具有对应于各所述检测电极的每一个而设置、且一端与各所述检测电极连接的校准电容元件，并在触摸位置检测处理时，向各所述校准电容元件的另一端供给校准电压。
【技术实现步骤摘要】
显示装置本申请是申请日为2013年12月05日、申请号为201310652179.4、专利技术名称为“液晶显示装置”的专利技术专利申请的分案申请。
本专利技术涉及液晶显示装置，尤其涉及适用在内置有触摸面板的一体(in-cell)式的液晶显示装置中有效的技术。
技术介绍
具有用使用者的手指或者笔等来对显示画面进行触摸操作(接触按压操作，以下简称为触摸)而输入信息的装置(以下也称为触摸传感器或者触摸面板)的显示装置用于PDA或移动终端等移动用电子设备、各种家电制品、现金自动存取机(automatedTellerMachine)等中。作为这种触摸面板，公知有检测被触摸部分的电容变化的静电电容方式。作为这种静电电容方式的触摸面板，公知有在液晶显示面板中内置有触摸面板功能的、所谓一体(in-cell)式的液晶显示装置。在一体式的液晶显示装置中，作为触摸面板的扫描电极，将在构成液晶显示面板的第一基板(所谓的TFT基板)上形成的相对电极(也称为通用电极)分割使用。现有技术文献专利文献1：日本特开2009-258182号公报一体式的液晶显示装置中的触摸面板是互电容检测方式的，对形成在液晶显示面板的第一基板上的扫描电极与形成在液晶显示面板的第二基板上的检测电极之间的交叉电容(Cxy)进行检测而检测出触摸位置。由于液晶层、构成第一及第二基板的玻璃基板、偏振片、粘接树脂等的电容率和厚度的不同以及不均匀性，交叉电容(Cxy)会存在个体差异和面内偏差，因此必须进行校准。另外，在一体式的液晶显示装置中的触摸面板的出厂检查中，在触摸面板之上放置面积能够覆盖触摸面板整个面的金属板，若扫描电极与检测电极的全部交点的Raw数据的、放置金属板前后的差分值处于规定范围内，则判断为合格品。该金属板检查能够以短时间进行判断，但却难以检测出彼此相邻的两个检测电极的相邻短路不良情况。在该相邻短路不良情况中还包括与彼此相邻的两个检测电极连接的、柔性布线基板上的布线的相邻短路不良情况。彼此相邻的两个检测电极的相邻短路不良情况的检测，能够通过针对扫描电极与检测电极的每个交点的打点检查来进行，但由于检查需要时间，所以导致生产效率显著降低。另外，针对柔性布线基板上的与检测电极连接的布线设置测试点来进行开短路测试的方法，存在抗噪音和静电能力弱，或者柔性布线基板变大等缺点。
技术实现思路
本专利技术是为了解决上述现有技术的问题点而做出的，本专利技术的目的在于，提供一种能够在内置有触摸面板功能的液晶显示装置中高效执行交叉电容的校准的技术。另外，本专利技术的另一目的在于，提供一种能够在内置有触摸面板功能的液晶显示装置中，利用交叉电容的校准电路来对彼此相邻的两个检测电极的相邻短路不良情况进行检测的技术。本专利技术的上述以及其他目的和新颖的特征，通过本说明书的记述以及附图而明确。如下简单说明本申请所公开的专利技术中的代表性方式的概要内容。本专利技术在各检测电极上配置了另一端被施加有校准电压VDAC的校准电容，通过对校准电压VDAC进行调整而使电荷提取量可变，从而高效地执行校准。而且，在本专利技术中，利用该校准电路，对包含柔性布线基板上的布线在内的、彼此相邻的两个检测电极是否短路的相邻短路不良情况进行检查。在相邻短路不良情况的检查时，向与第奇数个检测电极连接的校准电容的另一端施加不提取电荷的校准电压(例如，VREF的基准电压)，并对第偶数个检测电极施加充分提取电荷的校准电压(例如，GND的电荷)。由此，在彼此相邻的两个检测电极没有短路的情况下，从第奇数个检测电极检测出且经AD转换器转换了的Raw数据例如在10位下为“0”，在彼此相邻的两个检测电极发生短路的情况下，从第奇数个检测电极检测出且经AD转换器转换了的Raw数据例如在10位下为“1023”，由此，能够简单且以短时间检测出检测电极的相邻短路不良情况。专利技术的效果如下简单说明根据本申请所公开的专利技术中的代表性方式所得到的效果。(1)根据本专利技术的内置有触摸面板功能的液晶显示装置，能够高效地执行交叉电容的校准。(2)根据本专利技术的内置有触摸面板功能的液晶显示装置，能够利用交叉电容的校准电路，来检测彼此相邻的两个检测电极的相邻短路不良情况。附图说明图1A是表示在液晶显示面板的内部内置有触摸面板的一体式的液晶显示装置的一例的概略构成的分解立体图。图1B是表示在液晶显示面板的内部内置有触摸面板的一体式的液晶显示装置的其他例的概略构成的分解立体图。图2是对图1A、图1B所示的液晶显示装置中的相对电极和检测电极进行说明的图。图3是放大表示图1A、图1B所示的液晶显示装置的显示部的截面的一部分的概略剖视图。图4是表示本专利技术的成为前提的一体式的液晶显示装置中的、触摸面板的整体概略构成的框图。图5是用于说明本专利技术的成为前提的一体式的液晶显示装置中的、触摸面板的检测原理的图。图6是本专利技术的成为前提的一体式的液晶显示装置中的、触摸面板的触摸检测动作的时序图。图7是用于说明本专利技术的成为前提的一体式的液晶显示装置中的、触摸面板检测时、像素写入时的时序的图。图8是表示本专利技术的实施例的一体式液晶显示装置的检测电路更具体的电路构成的电路图。图9是用于说明图8所示的电路的动作的时序图。图10是表示本专利技术的实施例的一体式液晶显示装置的触摸面板、检测RAM、以及校准RAM的地址映射的图。图11是表示本专利技术的实施例的一体式液晶显示装置的校准时的积分电路中的积分波形的图。图12是表示在本专利技术的实施例的一体式液晶显示装置中，检测电极的相邻短路不良检查时在校准RAM中所设定的校准数据的图。图13是表示在本专利技术的实施例的一体式液晶显示装置中，检测电极的相邻短路不良检查时在校准RAM中所设定的校准数据为“00”的情况下的积分电路中的积分波形的图。图14是表示在本专利技术的实施例的一体式液晶显示装置中，检测电极的相邻短路不良检查时在校准RAM中所设定的校准数据为“FF”的情况下的积分电路中的积分波形的图。图15是表示在本专利技术的实施例的一体式液晶显示装置中，彼此相邻的两个检测电极没有短路的情况、和彼此相邻的两个检测电极发生短路的情况下，在检测RAM中所存储的Raw数据的图。附图标记说明2第一基板3第二基板4液晶组成物5液晶驱动IC10积分电路11采样保持电路12AD转换器13检测RAM14校准RAM15DA转换器21相对电极22相对电极信号线25驱动电路用输入端子31检测电极33伪电极36检测电极用端子40前保护板(或者保护膜)53连接用柔性布线基板101LCD驱动器102时序器103触摸面板扫描电压生成电路106解码电路107触摸面板108检测电路200像素部502手指MPU微计算机MFPC主柔性布线基板TX触摸面板的扫描电极RX触摸面板的检测电极具体实施方式以下，参照附图来具体说明本专利技术的实施例。此外，在用于说明实施例的所有附图中，具有相同功能的要素标注相同的附图标记，并省略重复的说明。另外，以下的实施例并不用于限定本专利技术的权利要求书的解释。图1A是表示在液晶显示面板的内部内置有触摸面板的一体式的液晶显示装置的一例的概略构成的分解立体图。图1B是表示在液晶显示面板的内部内置有触摸面板的一体式的液晶显示装置的其他例的概略构成的分解立体图。为了低成本化，图1B所示的一体式的液晶显示装置将图1A所示的主柔性布线基板本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种显示装置，其具有：以矩阵状配置的多个像素；第一基板；第二基板；检测电路；和与所述检测电路连接的触摸检测电极，各所述像素具有像素电极和相对电极，所述相对电极被分割为多个区块，所分割成的各所述区块的相对电极以相对于连续的多个像素通用的方式而设置，所分割成的各所述区块的相对电极被供给相对电压和触摸扫描电压，所述检测电路具有一端与所述触摸检测电极连接的校准电容元件，在对所述相对电极施加触摸扫描电压之前，对各所述校准电容元件的两端供给基准电压，在触摸位置检测处理时，向各所述校准电容元件的另一端供给校准电压，使每个所述触摸检测电极的所述检测电路的动作点接近特定的值。
【技术特征摘要】
2012.12.06 JP 2012-2672791.一种显示装置，其具有：以矩阵状配置的多个像素；第一基板；第二基板；检测电路；和与所述检测电路连接的触摸检测电极，各所述像素具有像素电极和相对电极，所述相对电极被分割为多个区块，所分割成的各所述区块的相对电极以相对于连续的多个像素通用的方式而设置，所分割成的各所述区块的相对电极被供给相对电压和触摸扫描电压，所述检测电路具有一端与所述触摸检测电极连接的校准电容元件，在对所述相对电极施加触摸扫描电压之前，对各所述校准电容元件的两端供给基准电压，在触摸位置检测处理时，向各所述校准电容元件的另一端供给校准电压，使每个所述触摸检测电极的所述检测电路的动作点接近特定的值。2.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述检测电路具有存储元件，该存储元件对各所述触摸检测电极的校准数据进行存储，在触摸位置检测处理时，所述检测电路生成与存储在所述存储元件中的校准数据对应的校准数据电压，并供给至所对应的校准电容元件的另一端。3.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述第一基板具有所述像素电极和相对电极。4.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述检测电路具有积分电路和采样保持电路。5.根据权利要求4所述的显示装置，其特征在于，所述检测电路具有AD转换器和...
【专利技术属性】
技术研发人员：时田雅弘，高畑昌志，
申请(专利权)人：株式会社日本显示器，
类型：发明
国别省市：日本,JP
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