一种传感器的检测方法及装置制造方法及图纸

技术编号:15788584 阅读:253 留言:0更新日期:2017-07-09 15:22
本发明专利技术公开了一种传感器的检测方法及装置。该方法包括:向手机主板发送控制指令,其中,所述控制指令至少包括测试周期和测试次数;接收手机主板反馈的传感器的测试数据,其中,所述传感器为重力传感器、指南针、陀螺仪、光电传感器以及距离传感器中的一种或者其任意组合;根据每次测试手机主板反馈的测试数据判断所述传感器是否通过测试。通过本发明专利技术的技术方案,能够提升传感器检测的速度,节省大量的人力,实现自动检测。

【技术实现步骤摘要】
一种传感器的检测方法及装置
本专利技术涉及一种智能终端技术,尤其涉及一种传感器的检测方法及装置。
技术介绍
传感器(Sensor)是一种常见又很重要的器件,它是感受规定的被测量的各种量并按一定规律将其转换为有用信号的器件或装置。一般情况下,工厂在测试主板的时候,主要是测试主板的各个部件有没有焊接正常,sensor是一个个芯片。有重力传感器,指南针,陀螺仪,光感距离感等等,这些如果在主板上,都需要进行测试,主要是测试有没有虚焊或者有没有这些器件,现行比较老的方法就是通过测试各个数据,判断数据是否在正常范围内即可。现有技术的传感器检测方案主要是检测速度非常慢,需要通过检测仪一个个传感器去检测,读取数据,先测试重力传感器,然后测试指南针,最后测试距离传感器,这样一步步的检测需要比较久的时间,并且需要人力专门监督,浪费人力。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种传感器的检测方法及装置,以提升传感器检测的速度,节省大量的人力,实现自动检测。第一方面,本专利技术实施例提供了一种传感器的检测方法,包括:向手机主板发送控制指令,其中,所述控制指令至少包括测试周期和测试次数;接收手机主板反馈的传感器的测试数据,其中,所述传感器为重力传感器、指南针、陀螺仪、光电传感器以及距离传感器中的一种或者其任意组合;根据每次测试手机主板反馈的测试数据判断所述传感器是否通过测试。进一步的,所述根据每次测试手机主板反馈的测试数据判断所述传感器是否通过测试包括:如果测试数据满足第一预设条件的次数在第一预设阈值以上,则传感器通过测试;如果测试数据满足第一预设条件的次数小于第一预设阈值,则传感器测试失败;其中,所述第一预设条件为所述测试数据在第一预设数据范围内。进一步的,所述手机主板上设置有测试号,其中,所述测试号与手机主板一一匹配。进一步的,在传感器测试失败之后,还包括:根据所述测试失败的传感器所在的手机主板的测试号确定测试失败的传感器所在的手机主板。进一步的,当传感器为重力传感器时,所述如果测试数据满足第一预设条件的次数小于第一预设阈值,则传感器测试失败包括:如果测试数据中的Z轴数值满足第一预设条件的次数小于第一预设阈值,满足第二预设条件的次数在第二预设阈值以上,则显示所述重力传感器安装反了,其中,所述第二预设条件为Z轴数值在第二预设数据范围内,所述第二预设数据范围的两个端值为所述第一预设数据范围两个端值对应的负数。第二方面,本专利技术实施例还提供了一种传感器的检测装置,该装置包括:指令发送模块,用于向手机主板发送控制指令,其中,所述控制指令至少包括测试周期和测试次数;数据接收模块,用于接收手机主板反馈的传感器的测试数据,其中,所述传感器为重力传感器、指南针、陀螺仪、光电传感器以及距离传感器中的一种或者其任意组合;判断模块,用于根据每次测试手机主板反馈的测试数据判断所述传感器是否通过测试。进一步的,所述判断模块包括:第一判断单元,用于如果测试数据满足第一预设条件的次数在第一预设阈值以上,则传感器通过测试;第二判断单元,用于如果测试数据满足第一预设条件的次数小于第一预设阈值,则传感器测试失败;其中,所述第一预设条件为所述测试数据在第一预设数据范围内。进一步的,所述手机主板上设置有测试号,其中,所述测试号与手机主板一一匹配。进一步的,还包括:确定模块,用于在传感器测试失败之后,根据所述测试失败的传感器所在的手机主板的测试号确定测试失败的传感器所在的手机主板。进一步的,当传感器为重力传感器时,所述第二判断单元具体用于:如果测试数据中的Z轴数值满足第一预设条件的次数小于第一预设阈值,满足第二预设条件的次数在第二预设阈值以上,则显示所述重力传感器安装反了,其中,所述第二预设条件为Z轴数值在第二预设数据范围内,所述第二预设数据范围的两个端值为所述第一预设数据范围两个端值对应的负数。本专利技术实施例通过向手机主板发送控制指令,控制指令至少包括测试周期和测试次数,接收手机主板反馈的传感器的测试数据,传感器为重力传感器、指南针、陀螺仪、光电传感器以及距离传感器中的一种或者其任意组合,根据每次测试手机主板反馈的测试数据判断传感器是否通过测试,能够提升传感器检测的速度,节省大量的人力,实现自动检测。附图说明图1是本专利技术实施例一中的一种传感器的检测方法的流程图;图2是本专利技术实施例二中的一种传感器的检测方法的流程图;图3是本专利技术实施例三中的一种传感器的检测装置的结构示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术,而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部结构。实施例一图1为本专利技术实施例一提供的一种传感器的检测方法的流程图,本实施例可适用于传感器的检测的情况,该方法可以由本专利技术实施例提供的传感器的检测装置来执行,该装置可采用软件和/或硬件的方式实现,如图1所示,该方法具体包括如下步骤:S110,向手机主板发送控制指令,其中,所述控制指令至少包括测试周期和测试次数。其中,所述控制指令为电脑发送至手机主板的指令,用于控制手机主板上的传感器向电脑发送数据的周期和次数。具体的,开始对手机主板进行测试,手机主板连接电脑,电脑向手机主板发送控制指令,手机主板接收到控制指令,控制手机主板上的传感器向电脑发送数据的周期和次数。在一个具体的例子中,将手机主板与电脑连接,电脑向手机发送间隔0.1s测试一次,测试3次的指令。手机主板上的传感器每间隔0.1s获得一次数据,发送至电脑,总共发送3次数据。S120,接收手机主板反馈的传感器的测试数据,其中,所述传感器为重力传感器、指南针、陀螺仪、光电传感器以及距离传感器中的一种或者其任意组合。其中,由于手机主板的类型不同,因此手机主板上的传感器的种类也可能不同,例如可以是,有些手机上只有重力传感器和指南针,有些手机上只有重力传感器、陀螺仪和光电传感器,本实施例对此不进行限制。具体的,手机主板接收到电脑发送的控制指令,向电脑发送传感器的测试数据,电脑接收传感器的测试数据。S130,根据每次测试手机主板反馈的测试数据判断所述传感器是否通过测试。其中,根据手机主板反馈的传感器的测试数据判断传感器的数据是否在正常范围内,若传感器的数据在正常范围内,则显示通过测试,若传感器的数据不在正常范围内,则显示测试失败。在一个具体的例子中,若手机主板反馈的重力传感器的测试数据的Z轴数据为9.9,X、Y轴数据为0,根据经验获得重力传感器的Z轴数据的正常范围为9.8~10.5之间,X、Y轴数据的正常范围为-1~1之间,由于9.9在9.8~10.5之间,0在-1~1之间,则显示通过测试,若手机主板反馈的重力传感器的测试数据的Z轴数据为8,X、Y轴数据为2,由于8不在9.8~10.5之间,2不在-1~1之间,则显示测试失败。本实施例的技术方案,通过向手机主板发送控制指令,控制指令至少包括测试周期和测试次数,接收手机主板反馈的传感器的测试数据,传感器为重力传感器、指南针、陀螺仪、光电传感器以及距离传感器中的一种或者其任意组合,根据每次测试手机主板反馈的测试数据判断传感器是否通过测试,能够提升传感器检测的速度,节省大量的人力,实现自动检测。实施例二图2为本发本文档来自技高网...
一种传感器的检测方法及装置

【技术保护点】
一种传感器的检测方法,其特征在于,包括:向手机主板发送控制指令,其中,所述控制指令至少包括测试周期和测试次数;接收手机主板反馈的传感器的测试数据,其中,所述传感器为重力传感器、指南针、陀螺仪、光电传感器以及距离传感器中的一种或者其任意组合;根据每次测试手机主板反馈的测试数据判断所述传感器是否通过测试。

【技术特征摘要】
1.一种传感器的检测方法,其特征在于,包括:向手机主板发送控制指令,其中,所述控制指令至少包括测试周期和测试次数;接收手机主板反馈的传感器的测试数据,其中,所述传感器为重力传感器、指南针、陀螺仪、光电传感器以及距离传感器中的一种或者其任意组合;根据每次测试手机主板反馈的测试数据判断所述传感器是否通过测试。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据每次测试手机主板反馈的测试数据判断所述传感器是否通过测试包括:如果测试数据满足第一预设条件的次数在第一预设阈值以上,则传感器通过测试;如果测试数据满足第一预设条件的次数小于第一预设阈值,则传感器测试失败;其中,所述第一预设条件为所述测试数据在第一预设数据范围内。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述手机主板上设置有测试号,其中,所述测试号与手机主板一一匹配。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,在传感器测试失败之后,还包括:根据所述测试失败的传感器所在的手机主板的测试号确定测试失败的传感器所在的手机主板。5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,当传感器为重力传感器时,所述如果测试数据满足第一预设条件的次数小于第一预设阈值,则传感器测试失败包括:如果测试数据中的Z轴数值满足第一预设条件的次数小于第一预设阈值,满足第二预设条件的次数在第二预设阈值以上,则显示所述重力传感器安装反了,其中,所述第二预设条件为Z轴数值在第二预设数据范围内,所述第二预设数据范围的两个端值为所述第一预设数据范围两个端值对应的负数...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘廷李承敏
申请(专利权)人:上海与德科技有限公司
类型:发明
国别省市:上海,31

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