一种单丝单缝衍射实验仪制造技术

技术编号:15766539 阅读:74 留言:0更新日期:2017-07-06 12:14
本实用新型专利技术提供一种单丝单缝衍射实验仪,包括基准导轨、滑座、第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架、可调夹缝、光电流放大器、白屏、半导体激光器、控制箱,所述基准导轨上设有滑座,所述滑座上设有第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架,所述其中第一横向移动测量架的上方卡接有白屏,所述第二横向移动测量架的上方固定连接有光电流放大器,所述第三横向移动测量架的上方连接有可调狭缝,所述激光器架上卡接有半导体激光器,所述基准导轨的一侧连接有控制箱,所述半导体激光器与控制箱电连接。本实用新型专利技术的有益效果是结构简单、操作简单、精准度高。

Single slit single slit diffraction experimental instrument

The utility model provides a single slit diffraction experiment instrument, including a reference guide rail, a sliding seat, a first lateral moving measuring frame, second transverse moving measuring frame and third transverse moving measuring frame, frame, adjustable seam, laser light current amplifier, white screen, a semiconductor laser, a control box, wherein the base is arranged on the guide rail the sliding seat, the sliding seat is provided with a first transverse moving measuring frame, second transverse moving measuring frame and third horizontal mobile rack, laser measurement frame, wherein the transverse moving measuring frame above the first card with a white screen, above the second transverse moving measuring frame is fixedly connected with the adjustable current amplifier. The slit is connected above the third horizontal moving measuring frame, the frame is connected with a laser diode laser, one side of the reference guide rail is connected with a control box, wherein The semiconductor laser is electrically connected to the control box. The utility model has the advantages that the structure is simple, the operation is simple, and the accuracy is high.

【技术实现步骤摘要】
一种单丝单缝衍射实验仪
本技术属于光学实验设备领域,尤其是涉及一种单丝单缝衍射实验仪。
技术介绍
单丝、单缝衍射实验时高校理工科基本光学实验之一。但大多数的单丝、单缝衍射实验是通过几件厚重的仪器放置在普通试验台上,组合移动后完成实验,因此实验过程操作很不便利,且很多学生发现由于操作困难会造成实验数据不准确,有的甚至得不到实验结果。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种结构简单、操作简单、精准度高的单丝单缝衍射实验仪,尤其适合高校教学使用。本技术的技术方案是:一种单丝单缝衍射实验仪,包括基准导轨、滑座、第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架、可调夹缝、光电流放大器、白屏、半导体激光器、控制箱,所述基准导轨上设有滑座,所述滑座上设有第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架,所述其中第一横向移动测量架的上方卡接有白屏,所述第二横向移动测量架的上方固定连接有光电流放大器,所述第三横向移动测量架的上方连接有可调狭缝,所述激光器架上卡接有半导体激光器,所述基准导轨的一侧连接有控制箱,所述半导体激光器与控制箱电连接;进一步的,所述滑座与第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架滑动连接,所述第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架可前后移动还可以左右微调;进一步的,所述基准导轨、滑座、第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架的材质均为表面经阳极氧化处理的铝合金材料。本技术具有的优点和积极效果是:由于采用上述技术方案,结构简单,操作简单,质量轻,方便操作,精确度高。附图说明图1是本技术的立体结构示意图。图中:基准导轨1、滑座2、第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6、可调夹缝7、光电流放大器8、白屏9、半导体激光器10、控制箱11。具体实施方式下面结合附图对本技术做详细说明。如图1所示,本技术一种单丝单缝衍射实验仪,包括基准导轨1、滑座2、第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6、可调夹缝7、光电流放大器8、白屏9、半导体激光器10、控制箱11,所述基准导轨1上设有滑座2,所述滑座2上设有第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6,所述其中第一横向移动测量架3的上方卡接有白屏9,所述第二横向移动测量架4的上方固定连接有光电流放大器8,所述第三横向移动测量架5的上方连接有可调狭缝7,所述激光器架6上卡接有半导体激光器10,所述基准导轨1的一侧连接有控制箱11,所述半导体激光器10与控制箱11电连接;进一步的,所述滑座2与第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6滑动连接,所述第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6可前后移动还可以左右微调;进一步的,所述基准导轨1、滑座2、第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6的材质均为表面经阳极氧化处理的铝合金材料。本实例的工作过程:使用时先将第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6滑动安装在滑座2上,然后分别再安装可调夹缝7、光电流放大器8、白屏9、半导体激光器10,打开控制箱11,然后半导体激光器10发出光,通过可调夹缝7和光电流放大器8后照射在白屏9上,第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6还可尽心旋钮微调,直到白屏9上得到最佳效果。以上对本技术的一个实施例进行了详细说明,但所述内容仅为本技术的较佳实施例,不能被认为用于限定本技术的实施范围。凡依本技术申请范围所作的均等变化与改进等,均应仍归属于本技术的专利涵盖范围之内。本文档来自技高网...
一种单丝单缝衍射实验仪

【技术保护点】
一种单丝单缝衍射实验仪,其特征在于:包括基准导轨、滑座、第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架、可调夹缝、光电流放大器、白屏、半导体激光器、控制箱,所述基准导轨上设有滑座,所述滑座上设有第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架,所述其中第一横向移动测量架的上方卡接有白屏,所述第二横向移动测量架的上方固定连接有光电流放大器,所述第三横向移动测量架的上方连接有可调狭缝,所述激光器架上卡接有半导体激光器,所述基准导轨的一侧连接有控制箱,所述半导体激光器与控制箱电连接。

【技术特征摘要】
1.一种单丝单缝衍射实验仪,其特征在于:包括基准导轨、滑座、第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架、可调夹缝、光电流放大器、白屏、半导体激光器、控制箱,所述基准导轨上设有滑座,所述滑座上设有第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架,所述其中第一横向移动测量架的上方卡接有白屏,所述第二横向移动测量架的上方固定连接有光电流放大器,所述第三横向移动测量架的上方连接有可调狭缝,所述激光器架上卡接有半导体激光器,所述基准...

【专利技术属性】
技术研发人员:付晋
申请(专利权)人:天津良益科技有限公司
类型:新型
国别省市:天津,12

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