显示面板的检测方法和检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种显示面板的检测方法，显示面板包括多个像素单元，每个像素单元包括发光二极管和像素电路，所述像素电路包括驱动晶体管，所述驱动晶体管的第一极与所述发光二极管相连，所述检测方法包括：检测所述显示面板达到目标亮度时每个像素单元中驱动晶体管的第一极的电信号的实际值，所述电信号包括电流信号和/或电压信号；根据各个像素单元所对应的电信号的实际值判断每个像素单元是否发生缺陷。相应地，本发明专利技术还提供一种检测装置，本发明专利技术能够有助于操作人员快速判断像素单元是否发生缺陷。

Method and device for detecting display panel

The present invention provides a method for detecting display panel, the display panel includes a plurality of pixels, each pixel unit comprises a light emitting diode and a pixel circuit, the pixel circuit includes a driving transistor, the first electrode of the driving transistor and the light emitting diode is connected, the detection system comprises the actual signal display the first polar driving transistor in each unit pixel panel reaches the target brightness value of the electrical signal including the current signal and / or voltage signals; judging whether each unit pixel defects according to the actual signals corresponding to each pixel value. Accordingly, the invention also provides a detecting device, which can help the operator to quickly judge whether the pixel unit is defective or not.

【技术实现步骤摘要】
显示面板的检测方法和检测装置
本专利技术涉及显示
，具体涉及一种显示面板的检测方法和检测装置。
技术介绍
有机电致发光二极管(OrganicLight-EmittingDevice,OLED)具有主动发光、温度特性好、功耗小、响应快、视角宽、超轻薄和成本低等优点，已广泛应用于显示装置中。在有机电致发光显示面板中，每个像素单元中设置有发光二极管和用于驱动该发光二极管的像素驱动电路。在显示时，提供给发光二极管的电流大小会受到与该发光二极管相连的驱动薄膜晶体管的阈值影响，而由于不同像素单元中驱动薄膜晶体管的阈值电压和迁移率存在差异，导致不同像素单元中提供给发光二极管的电流不同，从而降低显示面板显示亮度的均匀性，产生显示缺陷，例如，出现区域的斑点或图案。面对各种显示画面，如何快速判断像素单元是否发生缺陷，从而提高量产与降低成本成为本领域亟待解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种显示面板的检测方法和检测装置，以快速检测像素单元是否发生缺陷。为了解决上述技术问题之一，本专利技术提供一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括多个像素单元，每个像素单元包括发光二极管和用于驱动所述发光二极管的像素电路，所述像素电路包括驱动晶体管，所述驱动晶体管的第一极与所述发光二极管相连，所述检测方法包括：检测所述显示面板达到目标亮度时每个像素单元中驱动晶体管的第一极的电信号的实际值，所述电信号包括电流信号和/或电压信号；根据各个像素单元所对应的电信号的实际值判断每个像素单元是否发生缺陷。优选地，所述根据各个像素单元所对应的电信号的实际值判断每个像素单元是否发生缺陷的步骤包括：计算每个像素单元所对应的电信号的实际值与标准值之间的实际差值；将每个像素单元对应的实际差值与预定值进行对比，当所述实际差值大于预定值时，判定相应的像素单元为缺陷像素单元，并根据预设的多种缺陷类型与各自对应的预设差值范围判断每个缺陷像素单元的缺陷类型。优选地，所述标准值为所述显示面板的多个像素单元所对应的电信号的实际值的平均值。优选地，根据每个像素单元所对应的实际差值以及预设的多种缺陷类型与各自对应的预设差值范围判断每个像素单元的缺陷类型的步骤之后还包括：统计每种缺陷类型的像素单元的数量，并输出统计结果。优选地，所述根据各个像素单元所对应的电信号的实际值判断每个像素单元是否发生缺陷的步骤包括：生成参考图像，该参考图像包括与所述显示面板的多个像素单元一一对应的多个像素点，每个像素点的灰阶值与相应像素单元中驱动晶体管第一极的电信号的实际值正相关；对所述参考图像进行直方图正规化；根据直方图正规化后的参考图像判断每个像素单元是否发生缺陷。优选地，检测所述显示面板达到目标亮度时每个像素单元中驱动晶体管的第一极的电信号的实际值的步骤之前还包括：根据所述目标亮度获取理论数据电压；获取每个像素单元中的驱动晶体管的阈值电压；分别计算每个驱动晶体管的阈值电压与所述理论数据电压之和，以作为相应的像素单元的目标数据电压；为每个像素单元提供相应的目标数据电压，以使得所述显示面板能够达到所述目标亮度。优选地，根据所述目标亮度获取理论数据电压的步骤包括：根据所述目标亮度获取相应的目标灰阶；根据预设的灰阶与数据电压的关系确定与所述目标灰阶对应的理论数据电压。优选地，所述获取每个像素单元中的驱动晶体管的阈值电压包括：为所述显示面板的各像素单元提供初始数据电压，以使得所述显示面板达到全黑暗态；获取每个驱动晶体管的第一极的电压，以作为相应的驱动晶体管的阈值电压。相应地，本专利技术还提供一种检测装置，用于对显示面板进行检测，所述显示面板包括多个像素单元，每个像素单元包括发光二极管和用于驱动所述发光二极管的像素电路，所述像素电路包括驱动晶体管，所述驱动晶体管的第一极与所述发光二极管相连，所述检测装置包括：检测模块，用于检测所述显示面板达到目标亮度时每个像素单元中驱动晶体管的第一极的电信号的实际值，所述电信号包括电流信号和/或电压信号；分析模块，用于根据各个像素单元所对应的电信号的实际值判断每个像素单元是否发生缺陷。优选地，所述分析模块包括：计算单元，计算每个像素单元所对应的电信号的实际值与标准值之间的实际差值；对比单元，用于将每个像素单元对应的实际差值与预定值进行对比；第一判定单元，用于在所述实际差值大于预定值时，判定相应的像素单元为缺陷像素单元，并根据预设的多种缺陷类型与各自对应的预设差值范围判断每个缺陷像素单元的缺陷类型计算模块。优选地，所述标准值为所述显示面板的多个像素单元所对应的电信号的实际值的平均值。优选地，所述检测装置还包括：统计模块，用于根据所述分析模块的判断结果统计每种缺陷类型的像素单元的数量，并输出统计结果。优选地，所述分析模块包括：图像生成单元，用于生成参考图像，该参考图像包括与所述显示面板的多个像素单元一一对应的多个像素点，每个像素点的灰阶值与相应像素单元中驱动晶体管的第一极的电信号的实际值正相关；图像处理单元，用于对所述参考图像进行直方图正规化；第二判定单元，用于根据直方图正规化后的参考图像判断每个像素单元是否发生缺陷。优选地，所述检测装置还包括：理论数据获取模块，用于根据所述目标亮度获取理论数据电压；阈值获取模块，用于获取每个像素单元中的驱动晶体管的阈值电压；目标数据获取模块，用于分别计算每个驱动晶体管的阈值电压与所述理论数据电压之和，以作为相应的像素单元的目标数据电压；数据驱动模块，用于为各个像素单元提供相应的目标数据电压，以使得所述显示面板能够达到所述目标亮度。优选地，所述理论数据获取模块能够根据所述目标亮度获取相应的目标灰阶，并根据预设的灰阶与数据电压的关系确定与所述目标灰阶对应的理论数据电压。优选地，所述数据驱动模块能够在提供目标数据电压之前为各个像素单元提供初始数据电压，以使得所述显示面板达到全黑暗态；所述检测模块能够检测所述显示面板达到全黑暗态时每个驱动晶体管第一极的阳极电压；所述阈值获取模块能够将所述显示面板达到全黑暗态时各个驱动晶体管第一极的电压作为相应驱动晶体管的阈值电压。利用本专利技术提供的检测方法和检测装置在批量检测时，通过检测每个像素单元中驱动晶体管第一极的电信号的实际值，并根据该实际值判断是否像素单元是否发生缺陷，从而不需要人为对显示面板的显示图像进行分析，提高了检测效率，有助于提高量产。并且，还可以根据实际值与标准值之间的实际差值，确定该实际差值处于哪一种缺陷对应的差值范围，从而可以快速确定显示面板发生了这种缺陷，进而还可以统计每种缺陷类型的像素单元的数量，输出统计结果。另外，可以根据驱动晶体管第一极的电压的实际值生成参考图像，而由于像素单元的缺陷类型与驱动晶体管第一极的电压的实际值直接相关，因此，通过参考图像可以直观地看出发生缺陷的像素单元的位置和缺陷类型。附图说明附图是用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本专利技术，但并不构成对本专利技术的限制。在附图中：图1是本专利技术实施例中提供的显示面板的检测方法的流程图；图2是所检测的显示面板中像素单元的结构示意图；图3a是直方图正规化之前的参考图像所对应的直方图；图3b为直方图正规化之后的参考图像所对应的直方图；图4是本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括多个像素单元，每个像素单元包括发光二极管和用于驱动所述发光二极管的像素电路，所述像素电路包括驱动晶体管，所述驱动晶体管的第一极与所述发光二极管相连，其特征在于，所述检测方法包括：检测所述显示面板达到目标亮度时每个像素单元中驱动晶体管的第一极的电信号的实际值，所述电信号包括电流信号和/或电压信号；根据各个像素单元所对应的电信号的实际值判断每个像素单元是否发生缺陷。

【技术特征摘要】
1.一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括多个像素单元，每个像素单元包括发光二极管和用于驱动所述发光二极管的像素电路，所述像素电路包括驱动晶体管，所述驱动晶体管的第一极与所述发光二极管相连，其特征在于，所述检测方法包括：检测所述显示面板达到目标亮度时每个像素单元中驱动晶体管的第一极的电信号的实际值，所述电信号包括电流信号和/或电压信号；根据各个像素单元所对应的电信号的实际值判断每个像素单元是否发生缺陷。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述根据各个像素单元所对应的电信号的实际值判断每个像素单元是否发生缺陷的步骤包括：计算每个像素单元所对应的电信号的实际值与标准值之间的实际差值；将每个像素单元对应的实际差值与预定值进行对比，当所述实际差值大于预定值时，判定相应的像素单元为缺陷像素单元，并根据预设的多种缺陷类型与各自对应的预设差值范围判断每个缺陷像素单元的缺陷类型。3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述标准值为所述显示面板的多个像素单元所对应的电信号的实际值的平均值。4.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，根据每个像素单元所对应的实际差值以及预设的多种缺陷类型与各自对应的预设差值范围判断每个像素单元的缺陷类型的步骤之后还包括：统计每种缺陷类型的像素单元的数量，并输出统计结果。5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述根据各个像素单元所对应的电信号的实际值判断每个像素单元是否发生缺陷的步骤包括：生成参考图像，该参考图像包括与所述显示面板的多个像素单元一一对应的多个像素点，每个像素点的灰阶值与相应像素单元中驱动晶体管第一极的电信号的实际值正相关；对所述参考图像进行直方图正规化；根据直方图正规化后的参考图像判断每个像素单元是否发生缺陷。6.根据权利要求1至5中任意一项所述的检测方法，其特征在于，检测所述显示面板达到目标亮度时每个像素单元中驱动晶体管的第一极的电信号的实际值的步骤之前还包括：根据所述目标亮度获取理论数据电压；获取每个像素单元中的驱动晶体管的阈值电压；分别计算每个驱动晶体管的阈值电压与所述理论数据电压之和，以作为相应的像素单元的目标数据电压；为每个像素单元提供相应的目标数据电压，以使得所述显示面板能够达到所述目标亮度。7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，根据所述目标亮度获取理论数据电压的步骤包括：根据所述目标亮度获取相应的目标灰阶；根据预设的灰阶与数据电压的关系确定与所述目标灰阶对应的理论数据电压。8.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述获取每个像素单元中的驱动晶体管的阈值电压包括：为所述显示面板的各像素单元提供初始数据电压，以使得所述显示面板达到全黑暗态；获取每个驱动晶体管的第一极的电压，以作为相应的驱动晶体管的阈值电压。9.一种检测装置，用于对显示面...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱明毅，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11