适用于通用串行总线连接器的测试电路板制造技术

本发明专利技术公开一种适用于通用串行总线连接器的测试电路板，通过测试电路板所具有的第一联合测试工作群组连接接口以及第二联合测试工作群组连接接口使得测试电路板彼此之间可以行成串接，藉以减少测试访问端口控制器中测试访问端口数量的要求，藉此可以达成减少测试访问端口控制器中测试访问端口数量的要求与提供对所有测试信号的测试信号覆盖性的技术功效。

Test circuit board suitable for universal serial bus connector

The invention discloses a method for testing the circuit board on the universal serial bus connector, through the test circuit board has a first joint test group connection interface and second joint test working group makes the connection interface between the test circuit board can line series connection, so as to reduce the test access test access port number for port controller, thereby can a reduced test access port controller test access port number requirements and provide technical effect on the coverage of all the test signal of the test signal.

【技术实现步骤摘要】
适用于通用串行总线连接器的测试电路板
本专利技术涉及一种电路板，尤其是指一种具有第一联合测试工作群组连接接口以及第二联合测试工作群组连接接口使测试电路板彼此之间形成串接的适用于通用串行总线连接器的测试电路板。
技术介绍
现有进行待测试机板中通用串行总线连接器的测试多半是采用单一测试电路板进行，然而采用单一测试电路板进行待测试机板中通用串行总线连接器的测试仅能测试单一通用串行总线连接器，往往会产生测试信号覆盖欠缺的问题，而不利于生产测试使用。综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在现有对于待测试机板中通用串行总线连接器的测试信号覆盖欠缺的问题，因此有必要提出改进的技术手段，来解决此一问题。
技术实现思路
有鉴于现有技术存在现有对于待测试机板中通用串行总线连接器的测试信号覆盖欠缺的问题，本专利技术遂揭露一种适用于通用串行总线连接器的测试电路板，其中：本专利技术所揭露的适用于通用串行总线连接器的测试电路板，其包含：测试电路板，测试电路板更包含：通用串行总线连接接口、第一联合测试工作群组(JointTestActionGroup，JTAG)连接接口、第二联合测试工作群组连接接口、联合测试工作群组信号处理芯片、至少一联合测试工作群组控制芯片以及电压转换芯片。通用串行总线(UniversalSerialBus，USB)连接接口是用以插接于通用串行总线连接器以形成电性连接；第一联合测试工作群组连接接口是用以与测试访问端口(TestAccessPort，TAP)控制器电性连接，或是用以与其他测试电路板的第二联合测试工作群组连接接口电性连接，以与其他测试电路板形成串接；第二联合测试工作群组连接接口是用以与其他测试电路板的第一联合测试工作群组连接接口电性连接；联合测试工作群组信号处理芯片分别与第一联合测试工作群组以及第二联合测试工作群组电性连接，用以提高第一联合测试工作群组以及第二联合测试工作群组所传递联合测试工作群组信号的稳定性；至少一联合测试工作群组控制芯片，联合测试工作群组控制芯片与联合测试工作群组信号处理芯片电性连接，用以进行通用串行总线连接器脚位的检测、状态控制以及集成电路总线(Inter-IntegratedCircuit，IIC)的模拟；及电压转换芯片是用以通过外部电源取得电源供应并对电源进行转换以提供联合测试工作群组信号处理芯片、联合测试工作群组控制芯片、模拟数字转换芯片开关芯片所需要的工作电压。本专利技术所揭露的电路板如上，与现有技术之间的差异在于通过测试电路板所具有的第一联合测试工作群组连接接口以及第二联合测试工作群组连接接口使得测试电路板彼此之间可以行成串接，藉以减少测试访问端口控制器中测试访问端口数量的要求，并且本专利技术所提出的测试电路板提供对所有测试信号的测试信号覆盖性，便于生产线的使用，进而降低测试电路板的成本。通过上述的技术手段，本专利技术可以达成减少测试访问端口控制器中测试访问端口数量的要求与提供对所有测试信号的测试信号覆盖性的技术功效。附图说明图1绘示为本专利技术适用于通用串行总线连接器测试电路板的架构示意图。图2绘示为本专利技术适用于通用串行总线连接器测试电路板测试时的架构示意图。【符号说明】10测试电路板101第一测试电路板102第二测试电路板11通用串行总线连接接口12第一联合测试工作群组连接接口13第二联合测试工作群组连接接口14联合测试工作群组信号处理芯片15联合测试工作群组控制芯片16电压转换芯片20待测试机板21中央处理器22通用串行总线连接器221第一通用串行总线连接器222第二通用串行总线连接器23复杂可编程逻辑元件具体实施方式以下将配合图式及实施例来详细说明本专利技术的实施方式，藉此对本专利技术如何应用技术手段来解决技术问题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。以下首先要说明本专利技术所揭露的适用于通用串行总线连接器的测试电路板，并请参考「图1」以及「图2」所示，「图1」绘示为本专利技术适用于通用串行总线连接器测试电路板的架构示意图；「图2」绘示为本专利技术适用于通用串行总线连接器测试电路板测试时的架构示意图。本专利技术所揭露的测试电路板10更包含：通用串行总线(UniversalSerialBus，USB)连接接口11、第一联合测试工作群组(JointTestActionGroup，JTAG)连接接口12、第二联合测试工作群组连接接口13、联合测试工作群组信号处理芯片14、至少一联合测试工作群组控制芯片15以及电压转换芯片16。待测试机板20更包含：中央处理器(CentralProcessingUnit，CPU)21、多个通用串行总线连接器22以及复杂可编程逻辑元件(ComplexProgrammableLogicDevice，CPLD)23。测试电路板10的通用串行总线连接接口11是用以提供测试电路板10插接于待测试机板20的通用串行总线连接器22上以使测试电路板10与待测试机板20形成电性连接，待测试机板20的每一个通用串行总线连接器22可以插接一个测试电路板10。测试电路板10的第一联合测试工作群组连接接口12是用以与测试访问端口控制器30电性连接，或是测试电路板10的第一联合测试工作群组连接接口12是用以与其他测试电路板10的第二联合测试工作群组连接接口13电性连接，以使测试电路板10与其他测试电路板10形成串接。具体而言，待测试机板20具有第一串行ATA连接器221以及第二串行ATA连接器222，第一测试电路板101插接于待测试机板20的第一串行ATA连接器221，第二测试电路板102插接于待测试机板20的第二串行ATA连接器222，第一测试电路板101的第一联合测试工作群组连接接口12与测试访问端口控制器30电性连接，第一测试电路板101的第二联合测试工作群组连接接口13与第二测试电路板102的第一联合测试工作群组连接接口12电性连接，藉以使得第一测试电路板101以及第二测试电路板102形成串接，在此仅为举例说明之，并不以此局限本专利技术的应用范畴。测试电路板10的联合测试工作群组信号处理芯片14分别与测试电路板10的第一联合测试工作群组12以及测试电路板10的第二联合测试工作群组13电性连接，测试电路板10的联合测试工作群组信号处理芯片14是用以提高测试电路板10的第一联合测试工作群组12以及测试电路板10的第二联合测试工作群组13所传递联合测试工作群组信号的稳定性。待测试机板20的中央处理器21是用以提供边界扫描(BoundaryScan)模式以供测试电路板10进行检测，待测试机板20的复杂可编程逻辑元件23是用以控制待测试机板20的电源状态。测试访问端口控制器30亦与待测试机板20的中央处理器21以及待测试机板20的复杂可编程逻辑元件23电性连接，并且测试访问端口控制器30控制待测试机板20的复杂可编程逻辑元件23以控制待测试机板20的电源供电状态，测试访问端口控制器30亦控制待测试机板20的中央处理器21以及待测试机板20的复杂可编程逻辑元件23至边界扫描工作模式，以及测试访问端口控制器30通过测试电路板10的第一联合测试工作群组连接接口12控制测试电路板10至边界扫描工作模式。测试电路板10的联合测试工作群组控制芯片15与测试电路板10的联合测试工作群组信号处理芯片1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种适用于通用串行总线连接器的测试电路板，其特征在于，包含：一测试电路板，所述测试电路板更包含：一通用串行总线连接接口，用以插接于通用串行总线连接器以形成电性连接；一第一联合测试工作群组连接接口，用以与一测试访问端口控制器电性连接，或是用以与其他所述测试电路板的所述第二联合测试工作群组连接接口电性连接，以与其他所述测试电路板形成串接；一第二联合测试工作群组连接接口，用以与其他测试电路板的所述第一联合测试工作群组连接接口电性连接；一联合测试工作群组信号处理芯片，所述联合测试工作群组信号处理芯片分别与所述第一联合测试工作群组以及所述第二联合测试工作群组电性连接，用以提高所述第一联合测试工作群组以及所述第二联合测试工作群组所传递联合测试工作群组信号的稳定性；至少一联合测试工作群组控制芯片，所述联合测试工作群组控制芯片与所述联合测试工作群组信号处理芯片电性连接，用以进行通用串行总线连接器脚位的检测以及状态控制；及一电压转换芯片，用以通过外部电源取得电源供应并对电源进行转换以提供所述联合测试工作群组信号处理芯片、所述联合测试工作群组控制芯片、所述模拟数字转换芯片开关芯片所需要的工作电压。

【技术特征摘要】
1.一种适用于通用串行总线连接器的测试电路板，其特征在于，包含：一测试电路板，所述测试电路板更包含：一通用串行总线连接接口，用以插接于通用串行总线连接器以形成电性连接；一第一联合测试工作群组连接接口，用以与一测试访问端口控制器电性连接，或是用以与其他所述测试电路板的所述第二联合测试工作群组连接接口电性连接，以与其他所述测试电路板形成串接；一第二联合测试工作群组连接接口，用以与其他测试电路板的所述第一联合测试工作群组连接接口电性连接；一联合测试工作群组信号处理芯片，所述联合测试工作群组信号处理芯片分别与所述第一联合测试工作群组以及所述第二联合测试工作群组电性连接，用以提高所述第一联合测试工作群组以及所述第二联合测试工作群组所传递联合测试工作群组信号的稳定性；至少一联合测试工作群组控制芯片，所述联合测试工作群组控制芯片与所述联合测试工作群组信号处理芯片电性连接，用以进行通用串行总线连接器脚位的检测以及状态控制；及一电压转换芯片，用以通过外部电源取得电源供应并对电源进行转换以提供所述联合测试工作群组信号处理芯片、所述联合测试工作群组控制芯片、所述模拟数字转换芯片开关芯片所需要的工作电压。2.如权利要求1所述的适用于通用串行总线连接器的测试电路板，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋平，穆常青，姜宾，
申请(专利权)人：英业达科技有限公司，英业达股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31