一种用于检测芯片的电子装置制造方法及图纸
Electronic device for detecting chip
The invention provides an electronic device for detecting chips, which mainly comprises a host machine, a conducting wire, a control mechanism, a detection mechanism, an analysis mechanism and a display mechanism. It is characterized in that a host and a control mechanism, a detection mechanism, analysis mechanism and a display mechanism is connected by wires, the detecting mechanism by appearance detection device and performance detection device into enough, the control mechanism is connected at both ends of the detection mechanism and mechanism analysis. The invention can accurately observe the appearance, characteristics and performance of the chip through the display mechanism, and the operator can conveniently and accurately operate the chip detection.
【技术实现步骤摘要】
一种用于检测芯片的电子装置
本专利技术涉及电子检测装置，尤其是涉及一种用于检测芯片的电子装置。
技术介绍
目前，集成电路制造业飞速发展，芯片使用越来越广泛，所以对芯片性能的测试页越来越重要。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种可通过显示机构准确无误地观察出芯片的外观特征及性能，操作者能够对芯片检测方便准确地操作的芯片检测装置。本专利技术的技术方案是：一种芯片检测装置，主要包括主机、导线、控制机构、检测机构、分析机构和显示机构，其特征在于：所述主机、控制机构、检测机构、分析机构和显示机构由导线连接，所述检测机构由外观检测装所述外观检测装置和性能检测装置为并联连接置和性能检测装置够成，所述控制机构连接在检测机构和分析机构两端。进一步，所述外观检测装置和性能检测装置为并联连接。本专利技术具有的优点和积极效果是：本专利技术可通过显示机构准确无误地观察出芯片的外观特征及性能，操作者能够对芯片检测方便准确地操作。附图说明图1是本专利技术的结构示图。图中：1、主机2、检测机构201、外观检测机构202、性能检测机构3、控制机构4、分析机构5、显示机构6、导线具体实施方式下面结合附图及具体实施方式对本专利技术作进一步说明。如图1所示，本专利技术提供一种芯片检测装置，主要包括主机1、导线6、控制机构3、检测机构2、分析机构4和显示机构5。所述主机1、控制机构3、检测机构2、分析机构4和显示机构5由导线6连接，所述检测机构2由外观检测装置201和性能检测装置202够成，所述控制机构3连接在检测机构2和分析机构4两端。进一步，所述外观检测装置201和性能检测装置202为并联连...
【技术保护点】
一种芯片检测装置，主要包括主机、导线、控制机构、检测机构、分析机构和显示机构，其特征在于：所述主机、控制机构、检测机构、分析机构和显示机构由导线连接，所述检测机构由外观检测装置和性能检测装置够成，所述控制机构连接在检测机构和分析机构两端。
【技术特征摘要】
1.一种芯片检测装置，主要包括主机、导线、控制机构、检测机构、分析机构和显示机构，其特征在于：所述主机、控制机构、检测机构、分析机构和显示机构由导线连接，所述检测机构由...
【专利技术属性】
技术研发人员：郭坤祺，
申请(专利权)人：镇江坤泉电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32
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