一种介质厚度测量方法、装置及ATM机制造方法及图纸

技术编号:15748088 阅读:23 留言:0更新日期:2017-07-03 06:55
本发明专利技术属于测量领域,提供了一种介质厚度测量方法、装置及ATM机,所述方法获取待测量介质的厚度信号值;确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间;获取与确定的所述厚度区间对应的标准参数,所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定;根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值。通过本发明专利技术实施例,根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值,所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定,无需额外的高精度测试治具,省去了繁琐的静态校正环节,具有较强的实用性。

【技术实现步骤摘要】
一种介质厚度测量方法、装置及ATM机
本专利技术属于测量领域,尤其涉及一种介质厚度测量方法、装置及ATM机。
技术介绍
对于介质类有价文件如纸币、支票、汇票等的厚度检测是鉴别变造币、胶带钞、重张钞的重要手段。由于介质的厚度很薄,因此,依据介质的厚度检测结果进行防伪、重张等判断时,厚度检测装置的检测精度要求就尤为之高。如在ATM和纸币清分机的纸币识别模块中,纸币的厚度测量是必备的功能,通过纸币的厚度特征可以来识别纸币的真伪、粘贴和重张等。为了保证测量的精度,现有技术中通常采用静态测试进行非常细致的多点校正,并依据此静态测试结果进行建表,应用过程中可以根据厚度信号值查表找到对应的实际厚度值。该方案需要制作配套的高精度测试治具,且其静态校正环节较为繁琐。
技术实现思路
鉴于此,本专利技术实施例提供一种介质厚度测量方法及装置,以解决现有的介质厚度测量方法中需要制作配套的高精度测试治具,且其静态校正环节较为繁琐的问题。本专利技术实施例提供的一种介质厚度测量方法,可以包括:获取待测量介质的厚度信号值;确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间;获取与确定的所述厚度区间对应的标准参数,所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定;根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值。进一步地,所述标准参数可以包括标准介质的厚度信号值、标准介质的实际厚度值和转化系数;所述根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值可以包括:根据所述标准介质的实际厚度值计算第一厚度值;根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算第二厚度值;根据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值。进一步地,所述根据所述标准介质的实际厚度值计算第一厚度值可以包括:按照预设的第一公式根据所述标准介质的实际厚度值计算所述第一厚度值;所述第一公式为:x'=xn,其中,0≤n≤N-1;N为厚度区间的总个数,n为确定的所述厚度区间的序号,x'为所述第一厚度值,xn为所述标准介质的实际厚度值;所述根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算第二厚度值可以包括:按照预设的第二公式根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算所述第二厚度值;所述第二公式为:其中,x”为所述第二厚度值,y为所述待测量介质的厚度信号值,yn为所述标准介质的厚度信号值,kn为所述转化系数;所述根据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值可以包括:按照预设的第三公式据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值;所述第三公式为:x=x'+x”,其中,x为所述待测量介质的实际厚度值。进一步地,在确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间之前还可以包括:获取各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值;根据所述各个标准介质的厚度信号值划分各个厚度区间;根据所述各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值计算与所述各个厚度区间对应的转化系数。进一步地,所述根据所述各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值计算与所述各个厚度区间对应的转化系数可以包括:获取与所述各个厚度区间的下限值对应的第一标准介质的厚度信号值和实际厚度值;获取与所述各个厚度区间的上限值对应的第二标准介质的厚度信号值和实际厚度值;根据所述第一标准介质的厚度信号值、所述第一标准介质的实际厚度值、所述第二标准介质的厚度信号值和所述第二标准介质的实际厚度值计算所述转化系数。本专利技术实施例提供的一种介质厚度测量装置,可以包括:厚度信号值获取模块,用于获取待测量介质的厚度信号值;厚度区间确定模块,用于确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间;标准参数获取模块,用于获取与确定的所述厚度区间对应的标准参数,所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定;计算模块,用于根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值。进一步地,所述标准参数可以包括标准介质的厚度信号值、标准介质的实际厚度值和转化系数;所述计算模块可以包括:第一计算单元,用于根据所述标准介质的实际厚度值计算第一厚度值;第二计算单元,用于根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算第二厚度值;第三计算单元,用于根据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值。进一步地,所述第一计算单元可以包括:第一计算子单元,用于按照预设的第一公式根据所述标准介质的实际厚度值计算所述第一厚度值;所述第一公式为:x'=xn,其中,0≤n≤N-1;N为厚度区间的总个数,n为确定的所述厚度区间的序号,x'为所述第一厚度值,xn为所述标准介质的实际厚度值;所述第二计算单元可以包括:第二计算子单元,用于按照预设的第二公式根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算所述第二厚度值;所述第二公式为:其中,x”为所述第二厚度值,y为所述待测量介质的厚度信号值,yn为所述标准介质的厚度信号值,kn为所述转化系数;所述第三计算单元可以包括:第三计算子单元,用于按照预设的第三公式据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值;所述第三公式为:x=x'+x”,其中,x为所述待测量介质的实际厚度值。进一步地,所述介质厚度测量装置还可以包括:标准介质信息获取模块,用于获取各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值;厚度区间划分模块,用于根据所述各个标准介质的厚度信号值划分各个厚度区间;转化系数计算模块,用于转化系数根据所述各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值计算与所述各个厚度区间对应的转化系数。进一步地,所述转化系数计算模块可以包括:第一获取单元,用于获取与所述各个厚度区间的下限值对应的第一标准介质的厚度信号值和实际厚度值;第二获取单元,用于获取与所述各个厚度区间的上限值对应的第二标准介质的厚度信号值和实际厚度值;转化系数计算单元,用于根据所述第一标准介质的厚度信号值、所述第一标准介质的实际厚度值、所述第二标准介质的厚度信号值和所述第二标准介质的实际厚度值计算所述转化系数。本专利技术实施例提供的一种ATM机,可以包括以上所述的任意一种介质厚度测量装置。本专利技术实施例提供的一种纸币清分机,可以包括以上所述的任意一种介质厚度测量装置。本专利技术实施例提供的一种点钞机,可以包括以上所述的任意一种介质厚度测量装置。本专利技术实施例提供的一种验钞机,可以包括以上所述的任意一种介质厚度测量装置。本专利技术实施例与现有技术相比存在的有益效果是:本专利技术实施获取待测量介质的厚度信号值;确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间;获取与确定的所述厚度区间对应的标准参数,所述标准参数按照对标准介质的测量结果进行预设,包括:标准介质的厚度信号值、标准介质的实际厚度值和转化系数;根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值。通过本专利技术实施例,根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值,所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定,本文档来自技高网...
一种介质厚度测量方法、装置及ATM机

【技术保护点】
一种介质厚度测量方法,其特征在于,包括:获取待测量介质的厚度信号值;确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间;获取与确定的所述厚度区间对应的标准参数,所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定;根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值。

【技术特征摘要】
1.一种介质厚度测量方法,其特征在于,包括:获取待测量介质的厚度信号值;确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间;获取与确定的所述厚度区间对应的标准参数,所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定;根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值。2.根据权利要求1所述的介质厚度测量方法,其特征在于,所述标准参数包括标准介质的厚度信号值、标准介质的实际厚度值和转化系数;所述根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值包括:根据所述标准介质的实际厚度值计算第一厚度值;根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算第二厚度值;根据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值。3.根据权利要求2所述的介质厚度测量方法,其特征在于,所述根据所述标准介质的实际厚度值计算第一厚度值包括:按照预设的第一公式根据所述标准介质的实际厚度值计算所述第一厚度值;所述第一公式为:x'=xn,其中,0≤n≤N-1;N为厚度区间的总个数,n为确定的所述厚度区间的序号,x'为所述第一厚度值,xn为所述标准介质的实际厚度值;所述根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算第二厚度值包括:按照预设的第二公式根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算所述第二厚度值;所述第二公式为:其中,x”为所述第二厚度值,y为所述待测量介质的厚度信号值,yn为所述标准介质的厚度信号值,kn为所述转化系数;所述根据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值包括:按照预设的第三公式据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值;所述第三公式为:x=x'+x”,其中,x为所述待测量介质的实际厚度值。4.根据权利要求1至3中任一项所述的介质厚度测量方法,其特征在于,在确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间之前还包括:获取各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值;根据所述各个标准介质的厚度信号值划分各个厚度区间;根据所述各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值计算与所述各个厚度区间对应的转化系数。5.根据权利要求4所述的介质厚度测量方法,其特征在于,所述根据所述各...

【专利技术属性】
技术研发人员:蒋玉萍
申请(专利权)人:深圳怡化电脑股份有限公司深圳市怡化时代科技有限公司深圳市怡化金融智能研究院
类型:发明
国别省市:广东,44

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