阵列基板、显示面板和显示面板的检测方法技术

技术编号:15745538 阅读:216 留言:0更新日期:2017-07-02 22:54
本发明专利技术实施例公开了一种阵列基板、显示面板和显示面板的检测方法。其中,阵列基板包括显示区和周边电路区;显示区设置有多个矩阵排列的公共电极块,周边电路区设置有至少两条信号检测走线;每一公共电极块通过至少一第一公共电极走线与一条信号检测走线对应电连接,相邻的公共电极块与不同的信号检测走线电连接;周边电路区还设置有第一控制走线和至少一个第一开关模块,第一开关模块通过两条第二公共电极走线与两个公共电极块电连接,两个公共电极块对应不同的信号检测走线。本发明专利技术实施例提供的技术方案,可以有效检测第二公共电极走线是否发生短路或者断路,防止驱动IC、FPC、偏光片等物料的浪费,以及制程的浪费,节约资源。

Array substrate, display panel, and detection method of display panel

The embodiment of the invention discloses an array substrate, a display panel and a detection method of the display panel. The array substrate includes a display area and a peripheral circuit area; display area is provided with a common electrode block is arranged with a plurality of matrix, the peripheral circuit area is provided with at least two signal detection line; each common electrode block by at least a first common electrode wire and a signal detection line correspondingly and electrically connected with the public electrode block with different signal detection of adjacent wire is electrically connected; the peripheral circuit area is provided with a first control line and at least a first switch module, and the two common electrode wire block is electrically connected with the first switch module through two second common electrode signal detection, two common electrode blocks corresponding to different line. Technical scheme of the embodiment of the invention can effectively detect the second common electrode wire is short circuit or open circuit, to prevent driver IC, FPC, Polaroid material waste, and waste process, saving resources.

【技术实现步骤摘要】
阵列基板、显示面板和显示面板的检测方法
本专利技术实施例涉及显示
,尤其涉及一种阵列基板、显示面板和显示面板的检测方法。
技术介绍
在出厂前一般会对显示面板进行检测,例如进行视觉检测(VT检测)来检测显示面板中的走线的连接是否正常。参见图1,图1是现有技术中一种显示面板的结构示意图。该显示面板包括多个公共电极100,相邻的公共电极100通过第一金属走线200分别与检测信号线401和检测信号线402电连接,各公共电极100通过第二金属走线300与驱动芯片500(驱动IC)电连接。在对显示面板进行VT检测时,通过检测信号线401和402向公共电极100输送相应的检测信号,不同检测信号线输送不同的检测信号。这样,对于一公共电极100,其对应的像素显示一灰阶画面,与其相邻的公共电极100对应的像素显示另一灰阶画面,可通过观测灰阶画面来确定第一金属走线200是否发生断路或者短路。组成模组之后,由驱动芯片500通过第二金属走线300向公共电极100输入灰阶信号。在第二金属走线300发生短路或者断路时,在VT检测阶段无法检测出第二金属走线300的断路或者短路情况,只有在绑定驱动芯片500之后,才能通过驱动芯片500向公共电极100输入灰阶信号来确定第二金属走线300是否发生了断路或短路,造成驱动IC、FPC、偏光片等物料的浪费,还会造成制程的浪费。
技术实现思路
本专利技术提供一种阵列基板、显示面板和显示面板的检测方法,以实现在VT检测阶段有效检测出显示面板中金属走线是否发生短路或者断路的情况,防止造成物料和制程浪费。第一方面,本专利技术实施例提供了一种阵列基板,该阵列基板包括显示区和周边电路区;所述显示区设置有多个矩阵排列的公共电极块,所述周边电路区设置有至少两条信号检测走线;每一公共电极块通过一第一公共电极走线与一条所述信号检测走线对应电连接,相邻的公共电极块与不同的信号检测走线电连接;所述周边电路区还设置有第一控制走线和至少一个第一开关模块,所述第一开关模块的第一端和第二端分别通过两条第二公共电极走线与两个公共电极块电连接,所述两个公共电极块对应不同的所述信号检测走线,所述第一开关模块的控制端与所述第一控制走线电连接。第二方面,本专利技术实施例还提供了一种显示面板,该显示面板包括第一方面提供的阵列基板。第三方面,本专利技术实施例还提供了一种显示面板检测方法,其中,显示面板包括阵列基板,所述阵列基板包括显示区和非显示区;所述显示区设置有多个矩阵排列的公共电极块,所述周边电路区设置有至少两条信号检测走线;每一公共电极块通过至少一第一公共电极走线与一条所述信号检测走线对应电连接,相邻的公共电极块与不同的信号检测走线电连接;所述周边电路区还设置有第一控制走线和至少一个第一开关模块,所述第一开关模块的第一端和第二端分别通过两条第二公共电极走线与两个公共电极块电连接,所述两个公共电极块对应不同的所述信号检测走线,所述第一开关模块的控制端与所述第一控制走线电连接;该方法可用于对第二方面提供的显示面板进行检测,该方法包括:第一阶段,通过所述信号检测走线向所述信号检测走线电连接的公共电极块输入灰阶信号,不同信号检测走线电连接的公共电极块输入不同的灰阶信号,同时控制所述第一开关模块关闭;第二阶段,控制所述第一开关模块导通。本专利技术实施例提供的技术方案,第一开关模块的第一端和第二端分别通过两条第二公共电极走线与两个公共电极块电连接,并且该两个公共电极块对应不同的信号检测走线,第一开关模块的控制端与第一控制走线电连接。第一开关模块可以根据第一控制走线上的控制信号导通或者关闭,在第一开关模块关闭时,通过信号检测走线向信号检测走线电连接的公共电极块输入灰阶信号,不同信号检测走线电连接的公共电极块输入不同的灰阶信号,然后控制第一开关模块导通,根据公共电极块对应的像素的灰阶画面,可以确定第二公共电极走线是否发生短路或者断路,在绑定驱动芯片之前即可有效检测第二公共电极走线是否正常,而不是在绑定驱动芯片和FPC,贴附偏光片之后才可通过驱动芯片检测第二公共电极走线是否正常,因此不会造成物料和制程浪费。附图说明图1是现有技术中一种显示面板的结构示意图;图2A是本专利技术实施例提供的一种阵列基板的结构示意图;图2B是本专利技术实施例提供的阵列基板处于一种检测阶段的示意图;图3A是本专利技术实施例提供的又一种阵列基板的结构示意图;图3B是本专利技术实施例提供的再一种阵列基板的结构示意图;图4A是本专利技术实施例提供的一种显示面板的剖面示意图;图4B是本专利技术实施例提供的显示面板处于一种检测阶段的示意图;图4C是本专利技术实施例提供的显示面板处于另一种检测阶段的示意图;图4D是本专利技术实施例提供的显示面板处于另一种检测阶段的示意图;图4E是本专利技术实施例提供的显示面板处于另一种检测阶段的示意图;图5是本专利技术实施例提供的一种显示面板的检测方法的流程示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术,而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部结构。图2A是本专利技术实施例提供的一种阵列基板的结构示意图。该阵列基板包括显示区10和周边电路区20;显示区10设置有多个矩阵排列的公共电极块11,周边电路区20设置有至少两条信号检测走线21;每一公共电极块11通过至少一第一公共电极走线12与一条信号检测走线21对应电连接,相邻的公共电极块11与不同的信号检测走线21电连接。例如,图2A中示例性的示出了两条信号检测走线21,分别为第一条信号检测走线211和第二条信号检测走线212,可以看到,对于一个与第一条信号检测走线211电连接的公共电极块11,与其相邻的公共电极块11均与第二条信号检测走线212电连接。周边电路区20还设置有第一控制走线22和至少一个第一开关模块23,第一开关模块23的第一端和第二端分别通过两条第二公共电极走线13与两个公共电极块11电连接,该两个公共电极块11对应不同的信号检测走线21,第一开关模块23的控制端与第一控制走线22电连接。例如对于图2A所示的最左边的第一开关模块23,其第一端和第二端分别与两个公共电极块11电连接,这两个公共电极块11中的一个与第一条信号检测走线211电连接,另一个与第二条信号检测走线212电连接。在对本专利技术实施例提供的阵列基板形成的显示面板进行检测时,例如进行VT检测。可以控制第一开关模块23关闭,通过第一条信号检测走线211向其电连接的公共电极块11输入第一灰阶信号,通过第二条信号检测走线212向其电连接的公共电极块11输入第二灰阶信号,第一灰阶信号和第二灰阶信号不同。如此,第一信号检测走线211电连接的公共电极块11对应的像素显示的第一灰阶画面和第二信号检测走线212电连接的公共电极块11对应的像素显示的第二灰阶画面不同。其中,公共电极块11对应的像素为在该像素显示过程需要使用该公共电极块11上的信号的像素。如果监测到第一灰阶画面和第二灰阶画面相同,则可确定第二公共电极走线13有短路发生。如果判断没有短路发生,然后通过向第一控制走线22传输控制信号控制第一开关模块23导通,第一信号检测走线211电连接的公共电极块11对应的像素显本文档来自技高网...
阵列基板、显示面板和显示面板的检测方法

【技术保护点】
一种阵列基板,其特征在于,包括显示区和周边电路区;所述显示区设置有多个矩阵排列的公共电极块,所述周边电路区设置有至少两条信号检测走线;每一公共电极块通过至少一第一公共电极走线与一条所述信号检测走线对应电连接,相邻的公共电极块与不同的信号检测走线电连接;所述周边电路区还设置有第一控制走线和至少一个第一开关模块,所述第一开关模块的第一端和第二端分别通过两条第二公共电极走线与两个公共电极块电连接,所述两个公共电极块对应不同的所述信号检测走线,所述第一开关模块的控制端与所述第一控制走线电连接。

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板,其特征在于,包括显示区和周边电路区;所述显示区设置有多个矩阵排列的公共电极块,所述周边电路区设置有至少两条信号检测走线;每一公共电极块通过至少一第一公共电极走线与一条所述信号检测走线对应电连接,相邻的公共电极块与不同的信号检测走线电连接;所述周边电路区还设置有第一控制走线和至少一个第一开关模块,所述第一开关模块的第一端和第二端分别通过两条第二公共电极走线与两个公共电极块电连接,所述两个公共电极块对应不同的所述信号检测走线,所述第一开关模块的控制端与所述第一控制走线电连接。2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述公共电极块复用为触控电极块。3.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述第一公共电极走线与所述第二公共电极走线同层设置。4.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述第一开关模块的第一端和第二端分别与每一列中相邻两行的公共电极块电连接。5.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述信号检测走线为两条,任意一列公共电极块中,相邻两行所述公共电极块分别电连接于不同的信号检测走线。6.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述周边电路区还设置有多个第二开关模块和第二控制走线;每一所述第一公共电极走线和其对应的信号检测走线之间设置一所述第二开关模块;所述第一公共电极走线与所述第二开关模块的第一端电连接,其对应的信号检测走线与所述第二开关模块的第二端电连接,所述第二开关模块的控制端与所述第二控制走线电连接。7.根据权利要求6所述的阵列基板,其特征在于,所述第一开关模块包括第一晶体管,所述第二开关模块包括第二晶体管;所述第一晶体管的第一极和第二极分别电连接于所述第一开关模块的第一端和第二端,所述第一晶体管的栅极与所述第一开关模块的控制端电连接;所述第二晶体管的第一极和第二极分别电连接于所述第二开关模块...

【专利技术属性】
技术研发人员:潘朝煌
申请(专利权)人:厦门天马微电子有限公司
类型:发明
国别省市:福建,35

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1