The invention relates to a method for testing linear sensor, which mainly solves the testing process in the prior art complex, technical problems of low measuring accuracy, the invention by testing including linear sensor, measurement system using the AMP amplifier, ADC conversion module is connected with the AMP of the amplifier and the ADC conversion module is connected with FPGA the image processor is connected with FPGA, A380, and A380 image processor is connected with the host computer; the FPGA is connected with the light source module; test method includes setting light, data preprocessing, preset parameters, reverse processing data, determine all kinds of bad technology solutions, a better solution to the problem, can be used for linear sensor in industrial production.
【技术实现步骤摘要】
一种用于线性传感器的测试方法
本专利技术涉及半导体领域中的图像传感器测试领域,特别涉及到一种用于线性传感器的测试方法。
技术介绍
由于线性传感器是图像采集传感器,在出厂前每颗芯片要进行一道最终测试,必须把所有相关不良品筛选出来,并对不良品进行归类统计,通过不良类型可以定位哪些芯片是属于晶圆厂的问题,哪些属于封装厂的问题,甚至进一步定位到自己电路上设计是否有缺陷。现有的使用方法是采用人工测试,存在测试精度低,使用方法复杂的技术问题。因此,提供一种测试方便,测试精度高的用于线性传感器的测试系统就很有必要。本系统通过硬件平台采集图像,送给PC机,通过PC机进行一系列相关的图像质量测试。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是现有技术中存在的测试繁琐、精度低的技术问题。提供一种新的用于线性传感器的测试系统,该测试系统具有测试方便、精度高的特点。为解决上述技术问题,采用的技术方案如下:一种用于线性传感器的测试系统,其特征在于:所述测试系统包括待测线性传感器,AMP运放,与AMP运放连接的ADC转换模块,与所述ADC转换模块连接的FPGA,与FPGA连接的A380图像处理器,以及与A380图像处理器连接的上位机;所述FPGA还与光源模块连接;所述AMP运放用于放大待测线性传感器模拟输出信号;所述ADC转换模块用于转换AMP输出的放大信号至12Bit;所述FPGA用于预处理所述12Bit数据;所述A380图像处理器用于传输预处理后的8Bit数据;所述上位机用于测试图像质量;所述光源模块用于输出光源。通过ADC芯片对放大后的单端模拟信号进行数字转换,转换成12Bit。A ...
【技术保护点】
一种用于线性传感器的测试方法,其特征在于:所述使用方法包括:(1)开启测试系统,设置光源模块,输出在光照亮度;(2)通过IC读取待测线性传感器ID,判断所述ID,不正确则标记为I2C不良,正确则进入步骤(3);(3)对待测线性传感器及FPGA进行参数初始化,所述FPGA预处理待测线性传感器数据,所述上位机根据FPGA预处理方法进行反向处理,得到还原数据;(4)设置MeanDark阈值范围;根据所述还原数据进行MeanDark数据处理,计算得出MeanDark,MeanDark不属于MeanDark阈值范围内,则标记为MeanDark不良;MeanDark属于MeanDark阈值范围内,进入步骤(5);(5)根据步骤(4)中MeanDark进行MeanSub数据处理,设置MeanSub阈值范围,计算MeanSub,所述MeanSub不属于MeanSub阈值范围内,则标记为MeanSub不良;MeanSub属于MeanSub阈值范围内,进入步骤(6);(6)进行坏点不良测试,存在坏点则标记为坏点不良,不存在坏点标记为良品,完成测试。
【技术特征摘要】
1.一种用于线性传感器的测试方法,其特征在于:所述使用方法包括:(1)开启测试系统,设置光源模块,输出在光照亮度;(2)通过IC读取待测线性传感器ID,判断所述ID,不正确则标记为I2C不良,正确则进入步骤(3);(3)对待测线性传感器及FPGA进行参数初始化,所述FPGA预处理待测线性传感器数据,所述上位机根据FPGA预处理方法进行反向处理,得到还原数据;(4)设置MeanDark阈值范围;根据所述还原数据进行MeanDark数据处理,计算得出MeanDark,MeanDark不属于MeanDark阈值范围内,则标记为MeanDark不良;MeanDark属于MeanDark阈值范围内,进入步骤(5);(5)根据步骤(4)中MeanDark进行MeanSub数据处理,设置MeanSub阈值范围,计算MeanSub,所述MeanSub不属于MeanSub阈值范围内,则标记为MeanSub不良;MeanSub属于MeanSub阈值范围内,进入步骤(6);(6)进行坏点不良测试,存在坏点则标记为坏点不良,不存在坏点标记为良品,完成测试。2.根据权利要求1所述的用于线性传感器的测试方法,其特征在于:所述MeanDark数据处理过程包括:(A)获取3帧图像数据,分别存放在Buf1、Buf2、Buf3中,所述图像数据均为8Bit数据;(B)对Buf1、Buf2、Buf3中数据进行数据拼接,拼接为12Bi...
【专利技术属性】
技术研发人员:不公告发明人,
申请(专利权)人:张家港市欧微自动化研发有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏,32
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