信号处理装置及方法、信号偏移检测系统及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种信号处理装置及方法、信号偏移检测系统及方法，该信号处理装置包括信号输入模块，用于接收一脉冲信号；信号处理模块，用于确认所述脉冲信号中电平变化位置，并在所述脉冲信号的电平变化位置添加一忽略标记；信号输出模块，用于输出所述信号处理模块处理后的脉冲信号。本发明专利技术在影响脉冲信号测试结果的干扰位置添加忽略标记，使得在进行脉冲信号偏移测试时，测试装置可以取消干扰位置处的逻辑电平比较，克服干扰位置处电平漂移的影响，提高了脉冲信号测试的准确性。

【技术实现步骤摘要】
信号处理装置及方法、信号偏移检测系统及方法
本专利技术涉及芯片测试领域，具体而言，涉及一种信号处理装置及方法、信号偏移检测系统及方法。
技术介绍
随着集成电路复杂度的提高，其测试的复杂度也随之水涨船高，一些器件的测试成本甚至占到了芯片成本的大部分。大规模集成电路会要求几百次的电压、电流和时序的测试，以及百万次的功能测试步骤以保证器件的完全正确。要实现如此复杂的测试，靠手工是无法完成的，因此要用到自动测试设备(ATE，AutomatedTestEquipment)。ATE是一种由高性能计算机控制的测试仪器的集合体，是由测试仪和计算机组合而成的测试装置，计算机通过运行测试程序的指令来控制测试硬件。测试装置最基本的要求是可以快速且可靠地重复一致的测试结果，即速度、可靠性和稳定性。为保持正确性和一致性，测试装置需要进行定期校验，用以保证信号源和测量单元的精度。在进行信号的逻辑电平测试时，因测试装置的测试频率(clock)左右的漂移，造成跟实测IC数据比对时，经常在信号的逻辑高电平(high)和逻辑低电平(low)变化边缘有时是“0”有时是“1”，由于测试信号中逻辑电平变化边缘处逻辑电平的不确定，使得测试的结果会很不稳定，无法准确测试IC是否发生故障。
技术实现思路
针对现有技术存在的问题，本专利技术的目的之一在于提供一种用于对芯片测试时所采用的测试信号中的电平干扰位置添加忽略标记的信号处理装置及方法。本专利技术的另一目的在于提供一种信号偏移测试结果准确的信号偏移检测系统及方法。为实现上述目的，本专利技术的信号处理装置，包括：信号输入模块，用于接收一脉冲信号；信号处理模块，用于确认所述脉冲信号中电平变化位置，并在所述脉冲信号的电平变化位置添加一忽略标记；以及信号输出模块，用于输出所述信号处理模块处理后的脉冲信号。进一步，所述脉冲信号为芯片测试时所采用的脉冲测试信号。进一步，所述信号处理模块包括：确认模块，用于确认所述脉冲信号中电平变化位置；以及标记模块，用于在所述脉冲信号的电平变化位置添加所述忽略标记。进一步，所述电平变化位置为所述脉冲信号中自高电平至低电平的位置和自低电平至高电平的位置。进一步，所述确认模块用于确认所述脉冲信号中自高电平至低电平的第一位置和自低电平至高电平的第二位置。本专利技术的信号处理方法，包括如下步骤：接收一脉冲信号；确认所述脉冲信号中电平变化位置，并在所述脉冲信号的电平变化位置添加一忽略标记；以及输出经过处理后的所述脉冲信号。进一步，所述脉冲信号为芯片测试时所采用的脉冲测试信号。进一步，所述电平变化位置为所述脉冲信号中自高电平至低电平的第一位置和自低电平至高电平的第二位置。进一步，确认所述脉冲信号中电平变化位置，并在所述脉冲信号的电平变化位置添加一忽略标记的步骤包括：确认所述脉冲信号中所述第一位置和/或所述第二位置，并在所述第一位置和/或所述第二位置添加所述忽略标记。本专利技术的信号偏移检测系统，用于芯片的信号测试，包括：一信号处理装置，用于接收脉冲测试信号，并在所述的脉冲测试信号的电平变化位置添加一忽略标记，并输出一脉冲处理信号；以及一测试装置，用于接收所述脉冲处理信号和所述芯片输出的实测脉冲信号，并比较所述脉冲处理信号和所述实测脉冲信号中的对应位置的逻辑电平是否一致；其中，所述测试装置比较所述脉冲处理信号中除所述电平变化位置之外的第三位置与所述实测脉冲信号中与所述第三位置相对应的第四位置的逻辑电平是否一致。进一步，所述电平变化位置为所述脉冲信号中自高电平至低电平的第一位置和自低电平至高电平的第二位置。进一步，当所述测试装置比较所述脉冲处理信号和所述实测脉冲信号的逻辑电平一致时，表示芯片输出的结果正确；当所述测试装置比较所述脉冲处理信号和所述实测脉冲信号的逻辑电平不一致时，表示芯片输出的结果错误。进一步，所述信号处理装置包括：信号输入模块，用于接收所述脉冲测试信号；信号处理模块，用于确认所述脉冲测试信号中电平变化位置，并在所述脉冲测试信号的电平变化位置添加所述忽略标记；以及信号输出模块，用于输出处理后的所述脉冲处理信号。进一步，所述信号处理模块包括：确认模块，用于确认所述脉冲测试信号中电平变化位置；标记模块，用于在所述脉冲测试信号的电平变化位置添加所述忽略标记。进一步，所述测试装置包括：信号输入模块，用于接收所述脉冲处理信号和所述实测脉冲信号；信号读取模块，用于读取所述脉冲处理信号中添加所述忽略标记的电平变化位置；以及信号比较模块，用于接收经所述信号读取模块读取后的结果,并检测所述脉冲处理信号中所述电平变化位置的所述忽略标记,并比较所述脉冲处理信号中的第三位置与所述实测脉冲信号中的第四位置的逻辑电平是否一致。进一步，所述信号比较模块在检测到所述脉冲处理信号中的所述忽略标记时，取消所述忽略标记处的所述脉冲处理信号与所述实测脉冲信号的逻辑电平比较操作。本专利技术的信号偏移检测方法，用于芯片的信号测试，包括如下步骤：确认脉冲测试信号中电平变化位置，在所述电平变化位置添加一忽略标记，并输出脉冲处理信号；比较所述脉冲处理信号中除所述电平变化位置之外的第三位置与芯片输出的实测脉冲信号中与所述第三位置相对应的第四位置的逻辑电平是否一致；其中，当所述脉冲处理信号与所述实测脉冲信号的逻辑电平一致时，表示芯片输出的结果正确；当所述脉冲处理信号和所述实测脉冲信号的逻辑电平不一致时，表示芯片输出的结果错误。本专利技术在影响脉冲信号测试结果的干扰位置添加忽略标记，使得在进行脉冲信号偏移测试时，测试装置可以取消干扰位置处的逻辑电平比较，克服干扰位置处电平漂移的影响，提高了脉冲信号测试的准确性。附图说明此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本专利技术的实施例，并与说明书一起用于解释本专利技术的原理。图1为本专利技术的一示例性实施例的信号处理方法的流程示意图；图1A和图1B分别为信号处理前的脉冲测试信号以及信号处理后的脉冲处理信号的示意图；图2为本专利技术的一示例性实施例的信号处理装置的结构示意图；图3为本专利技术的一示例性实施例的信号偏移检测方法的流程示意图；图4为本专利技术的一示例性实施例的信号偏移检测系统的结构示意图。具体实施方式这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本专利技术相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本专利技术的一些方面相一致的装置和方法的例子。图1是根据一示例性实施例示出的信号处理方法的流程示意图。如图1所示，本专利技术的信号处理方法，包括如下步骤：步骤S11：接收脉冲信号。脉冲信号的波形如图1A所示。本实施例中的脉冲信号可以作为芯片的输出信号测试的脉冲测试信号，且预先设定为与芯片的输出信号正常时的脉冲信号的类型和波形相一致。例如，当测试芯片的输出信号为反映电压的方波信号时，脉冲测试信号选用与芯片的输出信号相同的电压方波信号。脉冲测试信号的种类与波形可随着待测芯片的输出信号的类型和波形而变化，例如脉冲测试信号也可以随之变为反映电流的方波信号，当然其波形也可以为常见的三角波、锯齿波等，脉冲信号的种类和波形并不局限于此。步骤S12：确认脉冲本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种信号处理装置，其特征在于，包括：信号输入模块，用于接收一脉冲信号；信号处理模块，用于确认所述脉冲信号中电平变化位置，并在所述脉冲信号的电平变化位置添加一忽略标记；以及信号输出模块，用于输出所述信号处理模块处理后的所述脉冲信号。

【技术特征摘要】
1.一种信号处理装置，其特征在于，包括：信号输入模块，用于接收一脉冲信号；信号处理模块，用于确认所述脉冲信号中电平变化位置，并在所述脉冲信号的电平变化位置添加一忽略标记；以及信号输出模块，用于输出所述信号处理模块处理后的所述脉冲信号。2.如权利要求1所述的信号处理装置，其特征在于，所述脉冲信号为芯片测试时所采用的脉冲测试信号。3.如权利要求1所述的信号处理装置，其特征在于，所述信号处理模块包括：确认模块，用于确认所述脉冲信号中电平变化位置；以及标记模块，用于在所述脉冲信号的电平变化位置添加所述忽略标记。4.权利要求3所述的信号处理装置，其特征在于，所述电平变化位置为所述脉冲信号中自高电平至低电平的位置和自低电平至高电平的位置。5.如权利要求4所述的信号处理装置，其特征在于，所述确认模块用于确认所述脉冲信号中自高电平至低电平的第一位置和自低电平至高电平的第二位置。6.一种信号处理方法，其特征在于，包括如下步骤：接收一脉冲信号；确认所述脉冲信号中电平变化位置，并在所述脉冲信号的电平变化位置添加一忽略标记；以及输出经过处理后的所述脉冲信号。7.如权利要求6所述的信号处理方法，其特征在于，所述脉冲信号为芯片测试时所采用的脉冲测试信号。8.如权利要求6所述的信号处理方法，其特征在于，所述电平变化位置为所述脉冲信号中自高电平至低电平的第一位置和自低电平至高电平的第二位置。9.如权利要求8所述的信号处理方法，其特征在于，确认所述脉冲信号中电平变化位置，并在所述脉冲信号的电平变化位置添加一忽略标记的步骤包括：确认所述脉冲信号中所述第一位置和/或所述第二位置，并在所述第一位置和/或所述第二位置添加所述忽略标记。10.一种信号偏移检测系统，用于芯片的信号测试，其特征在于，包括：一信号处理装置，用于接收脉冲测试信号,并在所述脉冲测试信号的电平变化位置添加一忽略标记，并输出一脉冲处理信号；以及一测试装置，用于接收所述脉冲处理信号和所述芯片输出的实测脉冲信号，并比较所述脉冲处理信号和所述实测脉冲信号中的对应位置的逻辑电平是否一致；其中，所述测试装置比较所述脉冲处理信号中除所述电平变化位置之外的第三位置与所述实测脉冲信号中与所述第三位置相对应的第四位置的逻辑电平是否一致。11....

【专利技术属性】
技术研发人员：林裕明，赖胜裕，
申请(专利权)人：上海和辉光电有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31