一种Flash存储器的优化测试方法及优化测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种Flash存储器的优化测试方法，其包括：生成测试向量；对所述测试向量的算法进行优化，自动适应被测Flash存储器在本次测试中的最小操作时间，并且按该最小操作时间进行操作，使测试时间接近因Flash存储器固有特性限制的最小时间；允许所述多个Flash存储器测试装置根据所述测试向量在同一时间进行多个工位多个被测Flash存储器的并行测试；接收来自所述多个Flash存储器测试装置各自对应的测试结果。本发明专利技术综合了向量算法优化与生成和并行测试技术，在保证测试覆盖率的前提下大幅度的提高了Flash存储器的测试效率，降低了测试成本。

Optimized testing method for Flash memory and optimized testing device

The invention discloses a method for optimizing the test, Flash memory which comprises: generating test vectors; the test vector algorithm was optimized, automatically adapt to the minimum operation time of the measured Flash memory in this test, and to operate according to the minimum operating time, the testing time is close to the minimum time limit for the inherent characteristics of Flash memory; at the same time allows the multiple Flash memory test device for a plurality of stations a plurality of measured Flash memory parallel test according to the test vector; receiving test results from the plurality of corresponding Flash memory test device. The invention synthesizes vector algorithm optimization and generation and parallel testing technology, and greatly improves testing efficiency of Flash memory and reduces test cost under the premise of guaranteeing test coverage rate.

【技术实现步骤摘要】
一种Flash存储器的优化测试方法及优化测试装置
本专利技术涉及芯片测试
，特别涉及一种Flash存储器的优化测试方法及优化测试装置。
技术介绍
Flash存储器在电子系统中广泛应用于存储电子数据。作为各电子系统内部存储单元的核心器件，Flash存储器的质量直接影响着电子系统数据存储的质量，从而影响整个系统的运行。因此，Flash存储器的测试对于保障电子系统的运行功能和数据存储具有重大意义，也为航空航天等重要产业保驾护航起到关键作用。由于Flash存储器的固有特性，其各项操作都需要一定的操作时间，且操作的最小时间在一定范围内是不固定的，因此通常对Flash存储器进行测试时，所需要的时间较长，且有可能因为最小操作时间未知而导致一些时间的浪费，致使出现Flash存储器的测试时间长效率低和测试成本较高的问题。因此，在保证测试覆盖率的前提下，实现一种Flash存储器的优化测试方法，提高测试效率，降低测试成本，具有重大的现实意义。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提出一种Flash存储器的优化测试方法及优化测试装置，包含对测试向量的算法进行优化以及采用并行测试技术，在保证测试覆盖率的前提下大幅度提高了Flash存储器的测试效率，降低了测试成本。基于上述目的，本专利技术提供的一种Flash存储器的优化测试方法，其包括：测试向量生成步骤，生成测试向量；测试时间优化步骤，对所述测试向量的算法进行优化，自动适应被测Flash存储器在本次测试中的最小操作时间，并且按该最小操作时间进行操作，使测试时间接近因Flash存储器固有特性限制的最小时间；并行测试控制步骤，允许所述多个Flash存储器测试装置根据所述测试向量在同一时间进行多个工位多个被测Flash存储器的并行测试；测试结果接收步骤，接收来自所述多个Flash存储器测试装置各自对应的测试结果。优选地，根据本专利技术的Flash存储器的优化测试方法，所述测试时间优化步骤包括：将所述测试向量发送给多个Flash存储器测试装置，对所述测试向量的算法进行优化，使Flash存储器在测试时，对擦除和写入操作的标志位或结果进行判断，当判断操作结束且成功后，不再等待剩余的操作时间而继续向下进行。根据本专利技术的Flash存储器的优化测试方法，所述并行测试包括：构建多个线程或者进程，每一个线程或者进程用于控制一个Flash存储器，各个线程或进程相互独立；每一个线程或者进程分别独立连接存储器测试装置，各个线程或者进程同步运行；以及当一个线程或进程完成对Flash存储器测试装置的操作后，该线程或进程立即释放该Flash存储器测试装置，从而其它的线程或者进程能够继续使用Flash存储器测试装置。进一步地，根据本专利技术的Flash存储器的优化测试方法，所述测试向量由控制器生成，并通过总线将所述测试向量发送给多个Flash存储器测试装置。另一方面，本专利技术还提供一种Flash存储器的优化测试装置，其包括：测试向量生成模块，生成测试向量；测试时间优化模块，对所述测试向量的算法进行优化，自动适应被测Flash存储器在此次测试中的最小操作时间，并且按该最小操作时间进行操作，使测试时间接近因Flash存储器固有特性限制的最小时间；并行测试控制模块，允许所述多个Flash存储器测试装置根据所述测试向量在同一时间进行多个工位多个被测Flash存储器的并行测试；以及测试结果接收模块，接收来自所述多个Flash存储器测试装置各自对应的测试结果。优选地，根据本专利技术的Flash存储器的优化测试装置，所述测试时间优化模块包括：测试向量优化子模块，将所述测试向量发送给多个Flash存储器测试装置，对所述测试向量的算法进行优化；以及判断子模块，根据测试所述向量优化子模块的优化结果，使Flash存储器在测试时，对擦除和写入操作的标志位或结果进行判断，当判断操作结束且成功后，不再等待剩余的操作时间而继续向下进行。进一步地，根据本专利技术的Flash存储器的优化测试装置，所述并行测试控制模块进一步包括：线程或进程构建子模块，构建多个线程或者进程，每一个线程或者进程用于控制一个Flash存储器，各个线程或进程相互独立；同步运行子模块，控制每一个线程或者进程分别独立连接Flash存储器测试装置，各个线程或者进程同步运行；以及存储器测试装置抢占子模块，控制当一个线程或进程完成对测试仪的操作后，该线程或进程立即释放Flash存储器测试装置，从而其它线程或者进程能够继续使用Flash存储器测试装置。优选地，根据本专利技术的Flash存储器的优化测试装置，通过总线将所述测试向量发送给所述多个Flash存储器测试装置。从上面所述可以看出，根据本专利技术提供的Flash存储器的优化测试方案，由于采用了并行测试技术，能够使Flash存储器的测试程序在同一时间进行多个工位多个被测Flash存储器的并行测试，可准确定位和显示各并行工位的测试结果，大幅度降低单只Flash存储器的测试时间。另外，由于测试时，使测试时间接近因Flash存储器固有特性限制的最小时间，故避免了由于最小操作时间未知所导致的时间浪费。附图说明图1为本专利技术实施例的Flash存储器优化测试方法的流程图。图2为本专利技术实施例的并行测试方法的具体流程图。图3为本专利技术实施例的Flash存储器优化测试装置的结构框图。图4为本专利技术实施例的并行测试控制模块的结构框图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本专利技术进一步详细说明。需要说明的是，本专利技术实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本专利技术实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。本专利技术提供一种Flash存储器的优化测试方法，其包括：测试向量生成步骤，生成测试向量；测试时间优化步骤，对所述测试向量的算法进行优化，自动适应被测Flash存储器在本次测试中的最小操作时间，并且按该最小操作时间进行操作，使测试时间接近因Flash存储器固有特性限制的最小时间；并行测试控制步骤，允许所述多个Flash存储器测试装置根据所述测试向量在同一时间进行多个工位多个被测Flash存储器的并行测试；测试结果接收步骤，接收来自所述多个Flash存储器测试装置各自对应的测试结果。众所周知，半导体存储器的测试有功能测试、直流参数测试、交流参数测试，而功能测试和交流参数测试对存储器来说是至关重要的。对于Flash存储器的测试而言，其常见的测试方法诸如奇偶校验图形检验法(在奇偶性图形检验法中，向存储单元矩阵写入的数据图案是根据存储单元选址地址码的奇偶性而定的)、齐步法(是对存储器的每个单元依次进行检验的一种方法)等等。通常，Flash存储器的测试方法可按照如下步骤进行：第一步，生成测试向量；第二步，将所述测试向量发送给多个存储器测试装置，以使得所述多个存储器测试装置根据所述测试向量对各自对应的待测试的Flash存储器分别进行测试；第三步，接收来自所述多个Flash存储器测试装置各自对应的测试结果。优选地，通过控制器生成测试向量，通过总线将所述测试向量发送给多个Flash存储器测试装置。在上述测试中，通过控制器生成的测试向量对Fl本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种Flash存储器的优化测试方法，其特征在于包括：测试向量生成步骤，生成测试向量；测试时间优化步骤，对所述测试向量的算法进行优化，自动适应被测Flash存储器在本次测试中的最小操作时间，并且按该最小操作时间进行操作，使测试时间接近因Flash存储器固有特性限制的最小时间；并行测试控制步骤，允许所述多个Flash存储器测试装置根据所述测试向量在同一时间进行多个工位多个被测Flash存储器的并行测试；测试结果接收步骤，接收来自所述多个Flash存储器测试装置各自对应的测试结果。

【技术特征摘要】
1.一种Flash存储器的优化测试方法，其特征在于包括：测试向量生成步骤，生成测试向量；测试时间优化步骤，对所述测试向量的算法进行优化，自动适应被测Flash存储器在本次测试中的最小操作时间，并且按该最小操作时间进行操作，使测试时间接近因Flash存储器固有特性限制的最小时间；并行测试控制步骤，允许所述多个Flash存储器测试装置根据所述测试向量在同一时间进行多个工位多个被测Flash存储器的并行测试；测试结果接收步骤，接收来自所述多个Flash存储器测试装置各自对应的测试结果。2.根据权利要求1所述的Flash存储器的优化测试方法，其特征在于，所述测试时间优化步骤包括：将所述测试向量发送给多个Flash存储器测试装置，对所述测试向量的算法进行优化，使Flash存储器在测试时，对擦除和写入操作的标志位或结果进行判断，当判断操作结束且成功后，不再等待剩余的操作时间而继续向下进行。3.根据权利要求1或2所述的Flash存储器的优化测试方法，其特征在于，所述并行测试包括：构建多个线程或者进程，每一个线程或者进程用于控制一个Flash存储器，各个线程或进程相互独立；每一个线程或者进程分别独立连接存储器测试装置，各个线程或者进程同步运行；以及当一个线程或进程完成对Flash存储器测试装置的操作后，该线程或进程立即释放该Flash存储器测试装置，从而其它的线程或者进程能够继续使用Flash存储器测试装置。4.根据权利要求1或2所述的Flash存储器的优化测试方法，其特征在于，所述测试向量由控制器生成，并通过总线将所述测试向量发送给多个Flash存储器测试装置。5.一种Flash存储器的优化测试装置，其特征在于包括：测试向量生成模块...

【专利技术属性】
技术研发人员：李盛杰，
申请(专利权)人：航天科工防御技术研究试验中心，
类型：发明
国别省市：北京,11