The invention discloses an embedded control chip full coverage of the automatic test method and device, the method includes connecting to the main control chip embedded control chip through the serial port automation tools; the use of serial automation tools for automatic operation of the main control chip to read data from the command line, embedded register control chip; data comparison the preset data and read the script; when reading the data with the preset data at the same criterion register test. The device comprises a serial automation tool, connected by embedded control chip and main control chip; serial port automation tools for automatic operation of the main control chip to read data from the command line, embedded control registers, data comparison and preset data read in the script, when the same with the preset data to judge the test register. The method and the device can improve the testing efficiency, reduce the manpower requirement of the relevant test, and avoid the occurrence of wrong check and check.
【技术实现步骤摘要】
一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法和装置
本专利技术属于芯片测试
,特别是涉及一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法和装置。
技术介绍
单板底层软件系统的可靠性是整机可靠性的重要基础,特别是在存储领域中,可靠性就是存储系统的生命,所以单板底层软件系统的可靠性就显得尤为重要。对嵌入式控制芯片的全功能覆盖测试是针对单板底层软件系统可靠性测试的一项非常有效的手段,但是嵌入式控制芯片的寄存器繁杂而且规律性小,在人工排查过程中费时费力。具体而言,在嵌入式控制芯片的底层软件的编写中,许多寄存器特别是许多状态寄存器在检查中需要花费大量的时间,而且容易错查、漏查。
技术实现思路
为解决上述问题,本专利技术提供了一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法和装置,能够提高测试效率,降低相关测试对人力的要求,并且避免错查和漏查问题的发生。本专利技术提供的一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法,包括:将串口自动化工具通过嵌入式控制芯片连接至主控芯片;利用所述串口自动化工具自动运行所述主控芯片的命令行,从所述嵌入式控制芯片的寄存器中读取数据;将读取的数据与脚本中的预设数据对比;当所述读取的数据与所述预设数据相同时,则判定该寄存器测试通过。优选的,在上述嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法中,所述当所述读取的数据与所述预设数据相同时,则判定该寄存器测试通过之后,还包括:将所述预设数据写入所述嵌入式控制芯片的寄存器中;从所述嵌入式控制芯片的寄存器中读取出数据并与所述预设数据对比;当所述读取的数据与所述预设数据相同时,则判定该寄存器测试通过。优选的,在上述嵌入式控制芯 ...
【技术保护点】
一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法,其特征在于,包括:将串口自动化工具通过嵌入式控制芯片连接至主控芯片;利用所述串口自动化工具自动运行所述主控芯片的命令行,从所述嵌入式控制芯片的寄存器中读取数据;将读取的数据与脚本中的预设数据对比;当所述读取的数据与所述预设数据相同时,则判定该寄存器测试通过。
【技术特征摘要】
1.一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法,其特征在于,包括:将串口自动化工具通过嵌入式控制芯片连接至主控芯片;利用所述串口自动化工具自动运行所述主控芯片的命令行,从所述嵌入式控制芯片的寄存器中读取数据;将读取的数据与脚本中的预设数据对比;当所述读取的数据与所述预设数据相同时,则判定该寄存器测试通过。2.根据权利要求1所述的嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法,其特征在于,所述当所述读取的数据与所述预设数据相同时,则判定该寄存器测试通过之后,还包括:将所述预设数据写入所述嵌入式控制芯片的寄存器中;从所述嵌入式控制芯片的寄存器中读取出数据并与所述预设数据对比;当所述读取的数据与所述预设数据相同时,则判定该寄存器测试通过。3.根据权利要求1-2任一项所述的嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法,其特征在于,所述将串口自动化工具通过嵌入式控制芯片连接至主控芯片为:将TeraTerm串口自动化工具通过嵌入式控制芯片连接至主控芯片。4.根据权利要求3所述的嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法,其特征在于,所述将串口自动化工具通过嵌入式控制芯片连接至主控芯片为:将串口自动化工具通过CPLD、FPGA或ARM连接至主控芯片。5.根据权利要求4所述的嵌入式控制芯片全功能覆盖...
【专利技术属性】
技术研发人员:王志浩,
申请(专利权)人:郑州云海信息技术有限公司,
类型:发明
国别省市:河南,41
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