一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法和装置制造方法及图纸

技术编号:15690166 阅读:56 留言:0更新日期:2017-06-24 02:20
本申请公开了一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法和装置,该方法包括将串口自动化工具通过嵌入式控制芯片连接至主控芯片;利用串口自动化工具自动运行主控芯片的命令行,从嵌入式控制芯片的寄存器中读取数据;将读取的数据与脚本中的预设数据对比;当读取的数据与预设数据相同时判定寄存器测试通过。该装置包括串口自动化工具,通过嵌入式控制芯片与主控芯片连接;串口自动化工具用于自动运行主控芯片的命令行,从嵌入式控制芯片的寄存器中读取数据,将读取的数据与脚本中的预设数据对比,当与预设数据相同时判定该寄存器测试通过。该方法和装置能够提高测试效率,降低相关测试对人力的要求,并且避免错查和漏查问题的发生。

Automatic test method and device for full function coverage of embedded control chip

The invention discloses an embedded control chip full coverage of the automatic test method and device, the method includes connecting to the main control chip embedded control chip through the serial port automation tools; the use of serial automation tools for automatic operation of the main control chip to read data from the command line, embedded register control chip; data comparison the preset data and read the script; when reading the data with the preset data at the same criterion register test. The device comprises a serial automation tool, connected by embedded control chip and main control chip; serial port automation tools for automatic operation of the main control chip to read data from the command line, embedded control registers, data comparison and preset data read in the script, when the same with the preset data to judge the test register. The method and the device can improve the testing efficiency, reduce the manpower requirement of the relevant test, and avoid the occurrence of wrong check and check.

【技术实现步骤摘要】
一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法和装置
本专利技术属于芯片测试
,特别是涉及一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法和装置。
技术介绍
单板底层软件系统的可靠性是整机可靠性的重要基础,特别是在存储领域中,可靠性就是存储系统的生命,所以单板底层软件系统的可靠性就显得尤为重要。对嵌入式控制芯片的全功能覆盖测试是针对单板底层软件系统可靠性测试的一项非常有效的手段,但是嵌入式控制芯片的寄存器繁杂而且规律性小,在人工排查过程中费时费力。具体而言,在嵌入式控制芯片的底层软件的编写中,许多寄存器特别是许多状态寄存器在检查中需要花费大量的时间,而且容易错查、漏查。
技术实现思路
为解决上述问题,本专利技术提供了一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法和装置,能够提高测试效率,降低相关测试对人力的要求,并且避免错查和漏查问题的发生。本专利技术提供的一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法,包括:将串口自动化工具通过嵌入式控制芯片连接至主控芯片;利用所述串口自动化工具自动运行所述主控芯片的命令行,从所述嵌入式控制芯片的寄存器中读取数据;将读取的数据与脚本中的预设数据对比;当所述读取的数据与所述预设数据相同时,则判定该寄存器测试通过。优选的,在上述嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法中,所述当所述读取的数据与所述预设数据相同时,则判定该寄存器测试通过之后,还包括:将所述预设数据写入所述嵌入式控制芯片的寄存器中;从所述嵌入式控制芯片的寄存器中读取出数据并与所述预设数据对比;当所述读取的数据与所述预设数据相同时,则判定该寄存器测试通过。优选的,在上述嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法中,所述将串口自动化工具通过嵌入式控制芯片连接至主控芯片为:将TeraTerm串口自动化工具通过嵌入式控制芯片连接至主控芯片。优选的,在上述嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法中,所述将串口自动化工具通过嵌入式控制芯片连接至主控芯片为:将串口自动化工具通过CPLD、FPGA或ARM连接至主控芯片。优选的,在上述嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法中,所述嵌入式控制芯片通过I2C或SGPIO与所述主控芯片连接。本专利技术提供的一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试装置,包括串口自动化工具,所述串口自动化工具通过嵌入式控制芯片与主控芯片连接;所述串口自动化工具用于自动运行所述主控芯片的命令行,从所述嵌入式控制芯片的寄存器中读取数据,并将读取的数据与脚本中的预设数据对比,当所述读取的数据与所述预设数据相同时,则判定该寄存器测试通过。优选的,在上述嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试装置中,所述串口自动化工具还用于将所述预设数据写入所述嵌入式控制芯片的寄存器中;从所述嵌入式控制芯片的寄存器中读取出数据并与所述预设数据对比;当所述读取的数据与所述预设数据相同时,则判定该寄存器测试通过。优选的,在上述嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试装置中,所述串口自动化工具为TeraTerm串口自动化工具。优选的,在上述嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试装置中,所述嵌入式控制芯片为CPLD、FPGA或ARM。优选的,在上述嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试装置中,所述嵌入式控制芯片通过I2C或SGPIO与所述主控芯片连接。通过上述描述可知,本专利技术提供的上述嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法和装置,由于该方法包括:将串口自动化工具通过嵌入式控制芯片连接至主控芯片;利用所述串口自动化工具自动运行所述主控芯片的命令行,从所述嵌入式控制芯片的寄存器中读取数据;将读取的数据与脚本中的预设数据对比;当所述读取的数据与所述预设数据相同时,则判定该寄存器测试通过,因此能够提高测试效率,降低相关测试对人力的要求,并且避免错查和漏查问题的发生。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本申请实施例提供的第一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法的示意图;图2为本申请实施例提供的第一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试装置的示意图。具体实施方式本专利技术的核心思想在于提供一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法和装置,能够提高测试效率,降低相关测试对人力的要求,并且避免错查和漏查问题的发生。下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。本申请实施例提供的第一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法如图1所示,图1为本申请实施例提供的第一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法的示意图,该方法包括如下步骤:S1:将串口自动化工具通过嵌入式控制芯片连接至主控芯片;需要说明的是,该串口自动化工具包括但不限于teraterm的串口自动化工具,可以编写自动化的脚本,该嵌入式控制芯片包括但不限于CPLD(复杂可编程逻辑器件)、FPGA或ARM,这些都能进行片内寄存器的读写,该主控芯片包括但不限于MCU主控芯片,是整机系统的控制中心,可以通过相关的命令进行对寄存器的读写。S2:利用所述串口自动化工具自动运行所述主控芯片的命令行,从所述嵌入式控制芯片的寄存器中读取数据;需要说明的是,读取指定的寄存器之后,不断刷新串口直到收到由嵌入式控制芯片发送过来的数据。S3:将读取的数据与脚本中的预设数据对比;需要说明的是,该脚本中的预设数据可以依据OSES的软硬件接口手册,事先将目标数据写入脚本。S4:当所述读取的数据与所述预设数据相同时,则判定该寄存器测试通过。这是针对只读寄存器来说的,也就是说,将收到的数据与脚本事先编辑的数据进行对比,来进行对此次测试的最终判断。通过上述描述可知,本申请实施例提供的上述第一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法,由于包括:将串口自动化工具通过嵌入式控制芯片连接至主控芯片;利用所述串口自动化工具自动运行所述主控芯片的命令行,从所述嵌入式控制芯片的寄存器中读取数据;将读取的数据与脚本中的预设数据对比;当所述读取的数据与所述预设数据相同时,则判定该寄存器测试通过,因此能够提高测试效率,降低相关测试对人力的要求,并且避免错查和漏查问题的发生。本申请实施例提供的第二种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法,是在上述第一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法的基础上,还包括如下技术特征:所述当所述读取的数据与所述预设数据相同时,则判定该寄存器测试通过之后,还包括:将所述预设数据写入所述嵌入式控制芯片的寄存器中;从所述嵌入式控制芯片的寄存器中读取出数据并与所述预设数据对比;当所述读取的数据与所述预设数据相同时,则判定该寄存器测试通过。这是面向的可读写寄存器,具体的,先写入指定寄存器中脚本中编辑的数据,然后读取出来看与写入的数据是否一致。本申请实施例提供的第三种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法,是在上述第一种或第二种嵌入式控制芯片全本文档来自技高网...
一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法和装置

【技术保护点】
一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法,其特征在于,包括:将串口自动化工具通过嵌入式控制芯片连接至主控芯片;利用所述串口自动化工具自动运行所述主控芯片的命令行,从所述嵌入式控制芯片的寄存器中读取数据;将读取的数据与脚本中的预设数据对比;当所述读取的数据与所述预设数据相同时,则判定该寄存器测试通过。

【技术特征摘要】
1.一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法,其特征在于,包括:将串口自动化工具通过嵌入式控制芯片连接至主控芯片;利用所述串口自动化工具自动运行所述主控芯片的命令行,从所述嵌入式控制芯片的寄存器中读取数据;将读取的数据与脚本中的预设数据对比;当所述读取的数据与所述预设数据相同时,则判定该寄存器测试通过。2.根据权利要求1所述的嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法,其特征在于,所述当所述读取的数据与所述预设数据相同时,则判定该寄存器测试通过之后,还包括:将所述预设数据写入所述嵌入式控制芯片的寄存器中;从所述嵌入式控制芯片的寄存器中读取出数据并与所述预设数据对比;当所述读取的数据与所述预设数据相同时,则判定该寄存器测试通过。3.根据权利要求1-2任一项所述的嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法,其特征在于,所述将串口自动化工具通过嵌入式控制芯片连接至主控芯片为:将TeraTerm串口自动化工具通过嵌入式控制芯片连接至主控芯片。4.根据权利要求3所述的嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法,其特征在于,所述将串口自动化工具通过嵌入式控制芯片连接至主控芯片为:将串口自动化工具通过CPLD、FPGA或ARM连接至主控芯片。5.根据权利要求4所述的嵌入式控制芯片全功能覆盖...

【专利技术属性】
技术研发人员:王志浩
申请(专利权)人:郑州云海信息技术有限公司
类型:发明
国别省市:河南,41

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