一种铁基非晶磁芯初始晶化温度的测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种铁基非晶磁芯初始晶化温度的测量装置，包括设有空腔的炉体、马弗管、多组电阻丝和样品盒，所述马弗管横穿于所述炉体的空腔，所述电阻丝设置于所述马弗管与所述炉体之间，所述样品盒位于所述马弗管的内部中央，所述样品盒内靠近样品的位置设置第一热电偶；所述马弗管内设置用于控制炉温的第二热电偶。本发明专利技术提供的测量装置具有以下优点：更接近现场的热处理条件，有效准确地测出磁芯在热处理工艺过程中初始晶化温度参数与尺寸等的关联关系，对工厂制定更合理的热处理工艺程序提供了重要指导作用。该测量装置成本极低，有利于大规模生产及推广应用。

Device for measuring initial crystallization temperature of iron based amorphous magnetic core

The measuring device of the invention discloses a Fe based amorphous magnetic core initial crystallization temperature, which comprises a cavity of the furnace body, Ma Fu tube, multi resistance wire and the sample box cavity of the Ma Fu pipe across the furnace body, the resistance wire is arranged on the Ma Fu tube and the furnace body. The sample box is located in the central interior of the Ma Fu tube and the sample box near the position of the sample set the first thermocouple; the Ma Fu tube set for second thermocouple temperature controlling. Measuring device provided by the invention has the following advantages: heat treatment conditions closer to the scene, the relationship effectively and accurately measured the initial magnetic core in the heat treatment process of crystallization temperature and size parameters, provides an important guiding role for the factory have procedures in the heat treatment process is more reasonable. The measuring device has very low cost and is favorable for large-scale production and popularization and application.

【技术实现步骤摘要】
一种铁基非晶磁芯初始晶化温度的测量装置
本专利技术涉及电子元件领域，尤其涉及一种铁基非晶磁芯初始晶化温度的测量装置。
技术介绍
在软磁非晶行业中，为了精确控制初始晶化开始阶段的工艺温度，确认铁基非晶磁芯开始晶化时的温度参数，是工厂提高产品合格率、合理制定磁芯的热处理工艺的重要依据。在有条件的情况下，往往购买成套热分析仪(如DTA或DSC)进行测量，但购置仪器成本很高。而且，这些仪器测量时，所需要的测量样品通常只有几克重，测出的磁芯开始晶化时的温度参数只与测量样品的材质有关，与实际磁芯大小重量无关。但是在工厂实际操作中发现，对于材质相同但尺寸重量不同的磁芯工件，如果以一定升温速度进行晶化热处理时，其晶化开始发热的温度上升的行为是不同的，其晶化发热过程非常复杂，例如，起始超温温度偏离，超温幅度加大等，上述仪器所测得的磁芯开始晶化时的温度数据只起参考作用，而现场发热经常使磁芯发生过烧，影响产品的性能和质量。因此，研发更加契合生产实际、更加简易直观和能更有效准确地测定磁芯在热处理工艺过程中的初始晶化温度参数与尺寸等相关的实用测量装置尤为必要。
技术实现思路
本专利技术针对以上现有技术中的缺陷提供了一种铁基非晶磁芯初始晶化温度的测量装置，该测量装置能够有效准确地测出磁芯在热处理工艺过程中初始晶化温度参数与尺寸等的关联关系，且成本极低。本专利技术是通过以下技术方法实现的：一种铁基非晶磁芯初始晶化温度的测量装置，包括设有空腔的炉体1、马弗管3、多组电阻丝5和样品盒6，所述马弗管3横穿于所述炉体1的空腔，所述电阻丝5设置于所述马弗管3与所述炉体1之间，所述样品盒6位于所述马弗管3的内部中央，所述样品盒6内靠近样品的位置设置第一热电偶8；所述马弗管3内设置用于控制炉温的第二热电偶9。进一步的，所述电阻丝5包围马弗管3呈管状分布，所述电阻丝5包围区域形成均温区。进一步的，所述均温区内的温度误差小于±2℃。进一步的，所述均温区的升温速度为5℃/min。进一步的，所述第二热电偶9设置于所述均温区内。进一步的，还包括程序控制器10，所述程序控制器10设置于所述马弗管3的外部，所述程序控制器10与所述第二热电偶9、所述电阻丝5电连接。进一步的，所述电阻丝5为单组功率控制。进一步的，所述第一热电偶8和第二热电偶的外侧均设置有电偶保护管11。进一步的，所述炉体1的内侧设置保温层4。进一步的，所述马弗管3内注入有纯氮保护气。与现有技术相比，本专利技术至少具有以下优点：本专利技术提供的铁基非晶磁芯初始晶化温度的测量装置，可以更接近现场的热处理条件，能够有效准确地测出磁芯在热处理工艺过程中初始晶化温度参数与尺寸等的关联关系，对工厂制定更合理的热处理工艺程序提供了重要指导作用。且该测量装置成本极低，有利于大规模生产及推广应用。附图说明图1为本专利技术提供的铁基非晶磁芯初始晶化温度的测量装置的结构示意图；图2为本专利技术提供的铁基非晶磁芯初始晶化温度的测量装置纵向剖面示意图；图3为本专利技术提供的实施例中测定铁基非晶样品时第一热电偶8和第二热电偶9的温度曲线变化图。附图标记说明：1-炉体；3-马弗管；4-保温层；5-电阻丝；6-样品盒；7-样品；8-第一热电偶；9-第二热电偶；10-程序控制器；11-电偶保护管。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。下面将参照附图和具体实施例对本专利技术作进一步的说明。如图1和2所示，一种铁基非晶磁芯初始晶化温度的测量装置，包括设有空腔的炉体1、马弗管3、电阻丝5和样品盒6。炉体1内侧设置保温层4。马弗管3为薄壁不锈钢马弗管，直径较小，优选的为25-50mm。样品盒6采用铜材料制成。马弗管3横穿于炉体1的空腔，电阻丝5设置于马弗管3与炉体1之间，样品盒6位于马弗管3的内部中央，样品盒6内靠近样品的位置设置第一热电偶8，用于显示样品温度，并且进行升温曲线记录。马弗管3内还设置第二热电偶9。第二热电偶9与第一热电偶8同在一个均温区内，但第二热电偶9远离样品盒6，使之不受待测样品发热的影响。第一热电偶8和第二热电偶9的外侧均设置有电偶保护管11。该装置还设置有程序控制器10，程序控制器10与第二热电偶9、电阻丝5电连接，形成闭环，用以进行均温区的匀速升温控制。一般地，均温区的升温速度为5℃/min。电阻丝5包围马弗管3呈管状分布，电阻丝5包围的区域形成均温区。电阻丝5为单组功率控制，优选的为镍铬电阻丝。通过调整电阻丝5的沿长度方向的功率密度分布，使马弗管3沿长度方向的温度分布形成足够长的均温区。均温区精度±2℃。将马弗管3内注入静止的纯氮保护气。使用时，将待测样品7放入样品盒6内，通常样品7重量小于30克。设置程序控制器10以控制炉温，使均温区以5℃/分钟的线性速度升温。此时，样品7的温度也随之大体匀速升高，由于传热的热惰性和样品的热容量，样品7的温度略为滞后，滞后程度与样品7的重量有关。如图3示出了测定典型的铁基非晶样品初始晶化温度时，第一热电偶8和第二热电偶9的温度曲线变化图。由图3可见，采用本专利技术提供的测量装置，可以精确测出待测磁芯的异常升温曲线，该升温曲线的突起峰高H及包罗的面积A随磁芯材质及尺寸有较大变化，相同材质、越大尺寸的样品其峰的H和A会逐渐加高加大，这些变化可以定性地判断该材质、该尺寸的磁芯产品的初始晶化行为，以便于现场制定合理的炉温升温的程序，达到控制产品质量的有利手段。本专利技术较佳的具体实施方式，但专利技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本专利技术揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本专利技术的保护范围之内。因此，本专利技术的保护范围应该以权利要求书的保护范围为准。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种铁基非晶磁芯初始晶化温度的测量装置，其特征在于，包括设有空腔的炉体(1)、马弗管(3)、多组电阻丝(5)和样品盒(6)，所述马弗管(3)横穿于所述炉体(1)的空腔，所述电阻丝(5)设置于所述马弗管(3)与所述炉体(1)之间，所述样品盒(6)位于所述马弗管(3)的内部中央，所述样品盒(6)内靠近样品的位置设置第一热电偶(8)；所述马弗管(3)内设置用于控制炉温的第二热电偶(9)。

【技术特征摘要】
1.一种铁基非晶磁芯初始晶化温度的测量装置，其特征在于，包括设有空腔的炉体(1)、马弗管(3)、多组电阻丝(5)和样品盒(6)，所述马弗管(3)横穿于所述炉体(1)的空腔，所述电阻丝(5)设置于所述马弗管(3)与所述炉体(1)之间，所述样品盒(6)位于所述马弗管(3)的内部中央，所述样品盒(6)内靠近样品的位置设置第一热电偶(8)；所述马弗管(3)内设置用于控制炉温的第二热电偶(9)。2.根据权利要求1所述的铁基非晶磁芯初始晶化温度的测量装置，其特征在于，所述电阻丝(5)包围马弗管(3)呈管状分布，所述电阻丝(5)包围区域形成均温区。3.根据权利要求2所述的铁基非晶磁芯初始晶化温度的测量装置，其特征在于，所述均温区内的温度误差小于±2℃。4.根据权利要求2所述的铁基非晶磁芯初始晶化温度的测量装置，其特征在于，所述均温区的升温速度为5℃/min。5.根据权利要求2所...

【专利技术属性】
技术研发人员：张晓云，苍晓晨，张家骥，
申请(专利权)人：北京郡北科磁性科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11