一种LED日光灯灯管老化测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种LED日光灯灯管老化测试装置，包括支架一、支架二、滑块一、滑块二、滑块三、横杆一和横杆二，所述支架一和支架二焊接组成框架，所述支架一上设有两个平行的“T”型槽，所述滑块一、滑块二和滑块三下端设有“T”型块，所述“T”型块嵌入“T”型槽中，且可沿着“T”型槽运动，所述横杆一一端与滑块一连接，另外一端与滑块二连接，所述横杆二一端与滑块二连接，另外一端与滑块三连接，所述横杆一上设有多个搭铁一，所述横杆二上设有多个搭铁二，提高LED灯灯管的检验效率。

【技术实现步骤摘要】
一种LED日光灯灯管老化测试装置
本技术属于通电发光灯管老化测试装置
，具体地说，本技术涉及一种LED日光灯灯管老化测试装置。
技术介绍
LED日光灯及照明产品的长时间老化试验是一个非常重要的测试，通过老化测试可以及早发现LED产品在长期使用中可能产生的光衰、色温变化、漏电等故障，有利于产品性能的稳定。同时为确保成批的LED日光灯灯管的质量，LED日光灯灯管在装配完成后需要对该批产品进行老化抽样检测，这就要使LED日光灯灯管的电源端与电源连接，而工厂是大批量的生产LED产品的场所，如果检测老化时每条灯管的电源端都逐一与电源连接，这不但需要花费大量的设备、空间和劳动力，而且在测试过程中容易出现触电、短路等安全事故，而且生产的LED产品的幅宽和直径可能都不一样，这给检测工作带来麻烦。
技术实现思路
本技术提供一种LED日光灯灯管老化测试装置，目的是用来提高LED灯灯管的检验效率。为了实现上述目的，本技术采取的技术方案为：一种LED日光灯灯管老化测试装置，包括支架一、支架二、滑块一、滑块二、滑块三、横杆一和横杆二，所述支架一、支架二和滑块二都设有两个，其中所述支架一和支架二焊接组成框架，所述支架一上设有两个平行的“T”型槽，所述滑块一、滑块二和滑块三下端设有“T”型块，所述“T”型块嵌入“T”型槽中，且可沿着“T”型槽运动，所述横杆一一端与滑块一连接，另外一端与滑块二连接，所述横杆二一端与滑块二连接，另外一端与滑块三连接。优选的，其中一根支架一的端部设有正极接口，另外一根支架一的端部设有负极接口。优选的，所述滑块一上设有长槽，且在长槽底部设有圆弧触片。优选的，所述滑块一下端中间设有圆柱孔一，所述圆柱孔一内设有压簧一，所述压簧一的一端与圆柱孔一的底部接触，另外一端设有触片一，所述触片一的下端设有钢球一。优选的，所述滑块三下端中间设有圆柱孔二，所述圆柱孔二内设有压簧二，所述压簧二的一端与圆柱孔二的底部接触，另外一端设有触片二，所述触片二的下端设有钢球二。优选的，所述横杆一上设有多个搭铁一，所述横杆二上设有多个搭铁二。采用以上技术方案的有益效果是：该LED日光灯灯管老化测试装置,包括支架一、支架二、滑块一、滑块二、滑块三、横杆一和横杆二，所述支架一、支架二和滑块二都设有两个，其中所述支架一和支架二焊接组成框架，所述支架一上设有两个平行的“T”型槽，所述滑块一、滑块二和滑块三下端设有“T”型块，所述“T”型块嵌入“T”型槽中，且可沿着“T”型槽运动，所述横杆一一端与滑块一连接，另外一端与滑块二连接，所述横杆二一端与滑块二连接，另外一端与滑块三连接，通过“T”型槽和“T”型块的设计，使滑块一、滑块二和滑块三沿着支架一滑动成为可能，实现了横杆一和横杆二之间间距的改变，使该装置可以检测不同长度的LED日光灯；其中一根支架一的端部设有正极接口，另外一根支架一的端部设有负极接口，实现了外部电源正负极的接入；所述滑块一上设有长槽，且在长槽底部设有圆弧触片，所述滑块一下端中间设有圆柱孔一，所述圆柱孔一内设有压簧一，所述压簧一的一端与圆柱孔一的底部接触，另外一端设有触片一，所述触片一的下端设有钢球一；所述滑块三下端中间设有圆柱孔二，所述圆柱孔二内设有压簧二，所述压簧二的一端与圆柱孔二的底部接触，另外一端设有触片二，所述触片二的下端设有钢球二，所述钢球一分别与其中一根支架一上的圆弧触片和触片一接触动连接，所述钢球二分别与另外一根支架一上的圆弧触片和触片二接触动连接，实现了可动的电性连接，设计巧妙，工作稳定可靠；所述横杆一上设有多个搭铁一，所述横杆二上设有多个搭铁二，方便被检测的LED日光灯两端的铜针电性连接。附图说明图1是该测试装置结构示意图；图2是A-A剖视图；图3是B-B剖视图；其中：1、支架一；2、支架二；3、滑块一；4、滑块二；5、滑块三；6、横杆一；7、横杆二；8、“T”型槽；9、“T”型块；10、圆弧触片；30、圆柱孔一；31、压簧一；32、触片一；33、钢球一；50、圆柱孔二；51、压簧二；52、触片二；53、钢球二；1-1、正极接口；1-2、负极接口；1-3、导线一；1-4、导线二；1-5、导线三；1-6、导线四；60、搭铁一；70、搭铁二。具体实施方式下面对照附图，通过对实施例的描述，对本技术的具体实施方式作进一步详细的说明，目的是帮助本领域的技术人员对本技术的构思、技术方案有更完整、准确和深入的理解，并有助于其实施。如图1至图3所示，本技术是一种LED日光灯灯管老化测试装置，是用来提高LED灯灯管的检验效率。具体的说，如图1至图3所示，包括支架一1、支架二2、滑块一3、滑块二4、滑块三5、横杆一6和横杆二7，如图1所示，所述支架一1、支架二2和滑块二4都设有两个，其中所述支架一1和支架二2焊接组成框架，如图2、图3所示，所述支架一1上设有两个平行的“T”型槽8，所述滑块一3、滑块二4和滑块三5下端设有“T”型块9，所述“T”型块9嵌入“T”型槽8中，且可沿着“T”型槽8运动，如图1所示，所述横杆一6一端与滑块一3连接，另外一端与一个滑块二4连接，所述横杆二7一端与另一个滑块二4连接，另外一端与滑块三5连接。如图1所示，其中一根支架一1的端部设有正极接口1-1，另外一根支架一1的端部设有负极接口1-2。如图2、图3所示，所述滑块一3上设有长槽，且在长槽底部设有圆弧触片10。如图2所示，所述滑块一3下端中间设有圆柱孔一30，所述圆柱孔一30内设有压簧一31，所述压簧一31的一端与圆柱孔一30的底部接触，另外一端设有触片一32，所述触片一32的下端设有钢球一33。如图3所示，所述滑块三5下端中间设有圆柱孔二50，所述圆柱孔二50内设有压簧二51，所述压簧二51的一端与圆柱孔二50的底部接触，另外一端设有触片二52，所述触片二52的下端设有钢球二53。以下用具体实施例对具体工作方式进行阐述：该LED日光灯灯管老化测试装置，外部电源的正极与如图1所示的正极接口1-1连接，负极与如图1所示的负极接口1-2连接，所述正极接口1-1内部与导线一1-3连接，导线一1-3的另外一端与其中一根支架一1底部的圆弧触片10连接，所述导线二1-4一端与触片一32连接，另外一端与搭铁一60连接；所述负极接口1-2内部与导线三1-5连接，导线三1-5的另外一端与另外一根支架一1底部的圆弧触片10连接，所述导线四1-6一端与触片二52连接，另外一端与搭铁二70连接，从而实现了外部电源通的电流经过正极接口1-1，然后依次经过导线一1-3、其中一根支架一1下端的圆弧触片10、钢球一33、触片一32，再经过导线二1-4到搭铁二70，当横杆一6和横杆二7之间放有LED日光灯的前提下，电流点亮LED日光灯，然后从搭铁二70依次经过导线四1-6、触片二52、钢球二53、另外一根支架一1下端的圆弧触片10，再经过导线三1-5回到负极接口1-2，实现了整个回路的闭合，在进行LED日光灯灯管的老化测试时，只需要将LED日光灯放置在横杆一6和横杆二7之间，然后使LED日光灯两端的铜针分别与搭铁一60和搭铁二70接触。另外所述支架一1上设有两个平行的“T”型槽8，所述滑块一3、滑块二4和滑块三5下端设有“T”型块9，所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种LED日光灯灯管老化测试装置，其特征在于：包括支架一、支架二、滑块一、滑块二、滑块三、横杆一和横杆二，所述支架一、支架二和滑块二都设有两个，其中所述支架一和支架二焊接组成框架，所述支架一上设有两个平行的“T”型槽，所述滑块一、滑块二和滑块三下端设有“T”型块，所述“T”型块嵌入“T”型槽中，且可沿着“T”型槽运动，所述横杆一一端与滑块一连接，另外一端与滑块二连接，所述横杆二一端与滑块二连接，另外一端与滑块三连接。

【技术特征摘要】
1.一种LED日光灯灯管老化测试装置，其特征在于：包括支架一、支架二、滑块一、滑块二、滑块三、横杆一和横杆二，所述支架一、支架二和滑块二都设有两个，其中所述支架一和支架二焊接组成框架，所述支架一上设有两个平行的“T”型槽，所述滑块一、滑块二和滑块三下端设有“T”型块，所述“T”型块嵌入“T”型槽中，且可沿着“T”型槽运动，所述横杆一一端与滑块一连接，另外一端与滑块二连接，所述横杆二一端与滑块二连接，另外一端与滑块三连接。2.根据权利要求1所述的一种LED日光灯灯管老化测试装置，其特征在于：其中一根支架一的端部设有正极接口，另外一根支架一的端部设有负极接口。3.根据权利要求1所述的一种LED日光灯灯管老化测试装...

【专利技术属性】
技术研发人员：王轶君，
申请(专利权)人：广州欧贝司电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44