薄膜成像冷光检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种薄膜成像冷光检测装置，包括遮光箱体，所述遮光箱体的下方设有冷光检测灯箱，所述遮光箱体的顶部设有用于对放置在所述检测灯箱上的薄膜样品成像的成像装置；所述冷光检测灯箱包括箱体，所述箱体上盖装设有光板座，所述光板座上设有光板槽，所述光板槽内设有冷光板，且所述冷光板的顶面与所述光板座的顶面平齐；所述箱体与所述光板座之间形成用于吸附薄膜的负压腔，位于所述冷光板范围外的所述光板座上阵列设有负压吸引小孔。本实用新型专利技术的薄膜成像冷光检测装置，不仅满足薄膜成像检测的要求，而且能够避免发热引起薄膜变形。

【技术实现步骤摘要】
薄膜成像冷光检测装置
本技术属于薄膜表面缺陷检测
，具体的为一种薄膜成像冷光检测装置。
技术介绍
传统锂电池薄膜表面质量检测一般通过人工在线目测和离线成品抽检的方式来实现的，虽然人工在线目测和离线成品抽检的检测方式在一定程度上能够满足薄膜的检测要求，但是其仅适合生产规模小的场合。人工检测以主观印象作为检测标准，很难保证检测标准的一致性，加之受检测速度和抽检频率的限制，以及受到人眼视觉灵敏度和分辨率的限制，人工检测的产品质量难以得到保证，且对检测人员的身体和心理都具有极大的损害。公开号为CN203838069U的中国专利公开了一种薄膜成像检测装置，包括遮光箱体，所述遮光箱体的下方设有检测灯箱，遮光箱体的顶部设有用于对放置在所述检测灯箱上的薄膜样品成像的成像装置；所述检测灯箱包括箱体，所述箱体内设有灯光发光装置，所述灯光发光装置包括灯座组件和发光组件；所述灯座组件包括灯座，所述灯座内设有用于安装所述发光组件的安装腔，所述安装腔从内至外依次设有第一安装平台、第二安装平台和第三安装平台；所述发光组件包括固定安装在所述第一安装平台上的PCB板、固定安装在所述第二安装平台上的光源板和固定安装在所述第三安装平台上的散光罩，所述光源板上阵列设有发光二极管，且所述光源板与所述散光罩之间设有罩在所述发光二极管上的透镜组件；所述箱体上设有位于所述灯光发光装置上方并用于放置薄膜样品的透光平板。该薄膜成像检测装置成像装置虽然在一定程度上能够满足薄膜成像检测的使用要求，但是由于采用发光二极管作为发光元件，在发光检测过程中，灯光带有大量的热量，这些热量作用在薄膜上，会导致薄膜在一定程度上受热变形，进而导致检测结果不准确。
技术实现思路
有鉴于此，本技术的目的在于提供一种薄膜成像冷光检测装置，不仅满足薄膜成像检测的要求，而且能够避免发热引起薄膜变形。为达到上述目的，本技术提供如下技术方案：一种薄膜成像冷光检测装置，包括遮光箱体，所述遮光箱体的下方设有冷光检测灯箱，所述遮光箱体的顶部设有用于对放置在所述检测灯箱上的薄膜样品成像的成像装置；所述冷光检测灯箱包括箱体，所述箱体上盖装设有光板座，所述光板座上设有光板槽，所述光板槽内设有冷光板，且所述冷光板的顶面与所述光板座的顶面平齐；所述箱体与所述光板座之间形成用于吸附薄膜的负压腔，位于所述冷光板范围外的所述光板座上阵列设有负压吸引小孔。进一步，所述冷光板包括基体，所述基体上设有导电层，所述导电层上设有发光层，所述发光层上设有透明绝缘层，所述透明绝缘层上设有ITO透明导电层，所述ITO透明导电层上设有保护层。进一步，所述发光层采用电致发光粉制成。进一步，所述导电层和ITO透明导电层上分别设有引出线，所述引出线通过驱动器与电源相连。进一步，所述负压腔上设有用于与负压机相连的连接口，或所述负压腔内设有负压吸引叶轮和用于驱动所述负压吸引叶轮转动的负压吸引电机，所述箱体上设有负压出风口。进一步，还包括控制系统，所述控制系统包括控制器、设置在所述遮光箱体上的检测开关、与所述成像装置电连接的图像处理装置和用于控制所述负压吸引电机的电机驱动电路，所述检测开关、图像处理装置和电机驱动电路均与所述控制器电连接。进一步，还包括与所述控制器电连接并用于显示所述成像装置拍摄的图像的显示器。本技术的有益效果在于：本技术的薄膜成像冷光检测装置，通过设置光板座和冷光板，使用时，将待检测的薄膜样品放置在冷光板上，并利用负压腔的负压将薄膜吸附在冷光板上，利用冷光板亮度均匀的特性，能够满足将光均匀分布在待检测薄膜样品上的技术目的，利用待检测薄膜的透光性，可利用成像装置直接对薄膜样品成像，然后结合图像处理装置等可直接对薄膜样品的缺陷进行检测；同时冷光板具有发热极少，能够有效避免光热对薄膜的变相影响。附图说明为了使本技术的目的、技术方案和有益效果更加清楚，本技术提供如下附图进行说明：图1为本技术薄膜成像冷光检测装置实施例1的结构示意图；图2为本实施例冷光检测灯箱的结构示意图；图3为冷光板的结构示意图；图4为本技术薄膜成像冷光检测装置实施例2的结构示意图；图5为本实施例冷光检测灯箱的结构示意图。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本技术作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好的理解本技术并能予以实施，但所举实施例不作为对本技术的限定。实施例1如图1所示，为本技术薄膜成像冷光检测装置实施例1的结构示意图。本实施例的薄膜成像冷光检测装置，包括遮光箱体19，所述遮光箱体19的下方设有冷光检测灯箱20，所述遮光箱体20的顶部设有用于对放置在所述检测灯箱上的薄膜样品成像的成像装置21。本实施例的冷光检测灯箱20包括箱体1，箱体1上盖装设有光板座2，光板座2上设有光板槽，光板槽内设有冷光板3，且冷光板3的顶面与光板座2的顶面平齐。箱体1与光板座2之间形成用于吸附薄膜的负压腔4，位于冷光板3范围外的光板座2上阵列设有负压吸引小孔5。本实施例的负压腔4上设有用于与负压机6相连的连接口7。进一步，本实施例的冷光板3包括基体8，基体8上设有导电层9，导电层9上设有发光层10，发光层10上设有透明绝缘层11，透明绝缘层11上设有ITO透明导电层12，ITO透明导电层12上设有保护层13。本实施例的发光层10采用电致发光粉制成。本实施例的导电层9和ITO透明导电层12上分别设有引出线14，引出线14通过驱动器15与电源相连。本实施例的薄膜成像冷光检测装置，通过设置光板座和冷光板，使用时，将待检测的薄膜样品放置在冷光板上，并利用负压腔的负压将薄膜吸附在冷光板上，利用冷光板亮度均匀的特性，能够满足将光均匀分布在待检测薄膜样品上的技术目的，利用待检测薄膜的透光性，可利用成像装置直接对薄膜样品成像，然后结合图像处理装置等可直接对薄膜样品的缺陷进行检测；同时冷光板具有发热极少，能够有效避免光热对薄膜的变相影响。实施例2如图4所示，本实施例的薄膜成像冷光检测装置，包括遮光箱体19，所述遮光箱体19的下方设有冷光检测灯箱20，所述遮光箱体20的顶部设有用于对放置在所述检测灯箱上的薄膜样品成像的成像装置21。本实施例的冷光检测灯箱包括箱体1，箱体1上盖装设有光板座2，光板座2上设有光板槽，光板槽内设有冷光板3，且冷光板3的顶面与光板座2的顶面平齐。箱体1与光板座2之间形成用于吸附薄膜的负压腔4，位于冷光板3范围外的光板座2上阵列设有负压吸引小孔5。负压腔4内设有负压吸引叶轮16和用于驱动负压吸引叶轮16转动的负压吸引电机17，箱体1上设有负压出风口18。本实施例的薄膜成像冷光检测装置还包括控制系统，所述控制系统包括控制器、设置在所述遮光箱体19上的检测开关、与所述成像装置21电连接的图像处理装置和用于控制所述负压吸引电机17的电机驱动电路，所述检测开关、图像处理装置和电机驱动电路均与所述控制器电连接。本实施例的控制系统还包括与所述控制器电连接并用于显示所述成像装置拍摄的图像的显示器。通过设置控制系统，能够实现对检测过程的自动控制和数据采集处理，自动化程度更高。本实施例的其他结构与实施例1相同，不再一一累述。本实施例的薄膜成像冷光检测装置，通过设置光板座和冷光板，使用时，将待检测的薄膜样品放置在冷光板上本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种薄膜成像冷光检测装置，其特征在于：包括遮光箱体，所述遮光箱体的下方设有冷光检测灯箱，所述遮光箱体的顶部设有用于对放置在所述冷光检测灯箱上的薄膜样品成像的成像装置；所述冷光检测灯箱包括箱体，所述箱体上盖装设有光板座，所述光板座上设有光板槽，所述光板槽内设有冷光板，且所述冷光板的顶面与所述光板座的顶面平齐；所述箱体与所述光板座之间形成用于吸附薄膜的负压腔，位于所述冷光板范围外的所述光板座上阵列设有负压吸引小孔。

【技术特征摘要】
1.一种薄膜成像冷光检测装置，其特征在于：包括遮光箱体，所述遮光箱体的下方设有冷光检测灯箱，所述遮光箱体的顶部设有用于对放置在所述冷光检测灯箱上的薄膜样品成像的成像装置；所述冷光检测灯箱包括箱体，所述箱体上盖装设有光板座，所述光板座上设有光板槽，所述光板槽内设有冷光板，且所述冷光板的顶面与所述光板座的顶面平齐；所述箱体与所述光板座之间形成用于吸附薄膜的负压腔，位于所述冷光板范围外的所述光板座上阵列设有负压吸引小孔。2.根据权利要求1所述的薄膜成像冷光检测装置，其特征在于：所述冷光板包括基体，所述基体上设有导电层，所述导电层上设有发光层，所述发光层上设有透明绝缘层，所述透明绝缘层上设有ITO透明导电层，所述ITO透明导电层上设有保护层。3.根据权利要求2所述的薄膜成像冷光检测装置，其特征在于：所述发光层采用电致发光粉制成。4....

【专利技术属性】
技术研发人员：王志春，陶晶，李伟，万郑萍，张黄军，陈旭，
申请(专利权)人：重庆云天化纽米科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：重庆,50