元器件配置方法、装置、耳机电路及终端设备制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种元器件配置方法、装置、耳机电路及终端设备。所述元器件配置方法包括：对电路图上至少一个位置上的元器件进行参数配置；对包含完成参数配置的元器件的电路进行测试，使测试输出的回声损耗值在标准回声损耗范围内。本发明专利技术实施例通过对电路图上至少一个位置上的元器件进行参数配置，并进行测试使测试输出的回声损耗值在标准回声损耗范围内，可以降低或消除电路在进行通话时存在的回声。

【技术实现步骤摘要】
元器件配置方法、装置、耳机电路及终端设备
本专利技术实施例涉及元器件领域，尤其涉及一种元器件配置方法、装置、耳机电路及终端设备。
技术介绍
随着社会的不断发展，我们工作、生活越来越离不开通讯工具。例如，手机、智能手表、平板电脑等，这些终端设备的功能也越来越丰富，从最初基本的移动电话功能，到后来的短信收发、拍照、摄像、录音、游戏下载、听音乐、接收FM信号等等功能。这些终端设备要正常的工作，它的射频和音频部分是至关重要的，所以，对音频电路原理的分析有它的重要作用。例如，如图1A所示，为耳机电路中的部分位置的元器件及连接关系示意图，其中，位置R2000处的元器件为电感、位置为B6008和B6012处的元器件为磁珠，这三个位置处的元器件在耳机电路中起到决定性的作用，其参数的配置直接影响了耳机通话的质量。目前，这三个元器件的参数配置如下表一所示：表一在上述表一所示的参数配置下，通过音频测试ACQUA系统，得到耳机宽频最大音量回声控制数据如图1B所示：其中，图中横坐标表示频率，纵坐标表示声压(声音响度的单位)，这图表示不同频点的回声声压响度。其输出的回声损耗值为-53.54，大于标准回声损耗值-55dB，在上述表一的参数配置下，该测试结果为NotOK，即为失败，也就意味着该耳机电路在进行通话时会存在回声。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种元器件配置方法、装置、耳机电路及终端设备，可以降低或消除耳机电路在进行通话时存在的回声。第一方面，本专利技术实施例提供了一种元器件配置方法，该方法包括：对电路图上至少一个位置上的元器件进行参数配置；对包含完成参数配置的元器件的电路进行测试，使测试输出的回声损耗值在标准回声损耗范围内。第二方面，本专利技术实施例还提供了一种元器件配置装置，该元器件配置装置包括：参数配置模块，用于对电路图上至少一个位置上的元器件进行参数配置；测试模块，用于对包含完成参数配置的元器件的电路进行测试，使测试输出的回声损耗值在标准回声损耗范围内。第三方面，本专利技术实施例还提供了一种耳机电路，该耳机电路包括采用本专利技术实施例所述的元器件配置方法配置的元器件，或采用本专利技术实施例所述的元器件配置装置配置的元器件。第四方面，本专利技术实施例还提供了一种终端设备，该终端设备包括本专利技术实施例所述的耳机电路。本专利技术实施例通过对电路图上至少一个位置上的元器件进行参数配置，并进行测试使测试输出的回声损耗值在标准回声损耗范围内，可以降低或消除电路在进行通话时存在的回声。附图说明图1A是现有技术提供的一种耳机电路结构示意图；图1B是现有技术提供的基于图1A的耳机电路进行测试的测试结果示意图；图2是本专利技术实施例一提供的一种元器件配置方法的流程图；图3A是本专利技术实施例二提供的一种元器件配置方法的流程图；图3B是本专利技术实施例二提供的一种元器件配置方法中的测试结果示意图；图4是本专利技术实施例三提供的一种元器件配置装置的结构图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面结合附图对本专利技术具体实施例作进一步的详细描述。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部内容。在更加详细地讨论示例性实施例之前应当提到的是，一些示例性实施例被描述成作为流程图描绘的处理或方法。虽然流程图将各项操作(或步骤)描述成顺序的处理，但是其中的许多操作可以被并行地、并发地或者同时实施。此外，各项操作的顺序可以被重新安排。当其操作完成时所述处理可以被终止，但是还可以具有未包括在附图中的附加步骤。所述处理可以对应于方法、函数、规程、子例程、子程序等等。实施例一图2为本专利技术实施例一提供的一种元器件配置方法的流程图，本实施例可适用于电路中元器件进行参数配置的情况，该方法可以由本专利技术实施例提供的元器件配置装置来执行，该元器件配置装置可采用软件和/或硬件的方式实现，该元器件配置装置可集成在电路设计装置中。如图2所示，本实施例的方法具体包括：S101、对电路图上至少一个位置上的元器件进行参数配置。其中，元器件可以为以下至少一种：电阻、电容、电感和磁珠。对于不同的电路，需要配置的元器件的个数和种类均不相同。例如，对于图1A所示的耳机电路，为了减少或消除耳机回路中的回声，通过测试可对电路图中位置在R2000的电感进行参数配置，或者，对电路图中位置在B6008和B6012处的磁珠进行参数配置。S102、对包含完成参数配置的元器件的电路进行测试，使测试输出的回声损耗值在标准回声损耗范围内。其中，标准回声损耗范围可选为小于或等于-55db。即，当测试输出的回声损耗值小于或等于-55db时，则认为对该电路中的参数配置成功，否则失败。具体的，在对电路图上至少一个位置上的元器件进行参数配置后，将对应的元器件装配在电路中，对电路进行测试，使测试输出的回声损耗值在标准回声损耗范围内。如果测试输出的回声损耗值不在标准回声损耗范围内，则重新对元器件进行参数配置，直到配置的参数通过测试输出的回声损耗值在标准回声损耗范围内。本实施例通过对电路图上至少一个位置上的元器件进行参数配置，并进行测试使测试输出的回声损耗值在标准回声损耗范围内，可以降低或消除电路在进行通话时存在的回声。实施例二图3A是本专利技术实施例二提供的一种元器件配置方法的流程图。本实施例以上述实施例为基础进行优化。在本实施例中，进一步将对电路图上至少一个位置上的元器件进行参数配置优化为：对电路图上至少一个位置上的元器件进行参数配置，控制所述至少一个元器件的直流电阻在预设电阻范围内。相应的，如图3A所示，本实施例的方法具体包括：S201、对电路图上至少一个位置上的元器件进行参数配置，控制所述至少一个元器件的直流电阻在预设电阻范围内。其中，预设电阻范围可选为小于或等于1Ω。具体的，以图1A所示的耳机电路为例，通过多次调试，发现位置B6008和B6012磁珠的直流电阻值越小对耳机的回声控制指标越好，因此，通过把耳机电路上的元器件的直流电阻指标控制在1Ω以内，可以控制耳机宽带回声控制指标。例如，可通过将位置B6008和B6012磁珠的参数配置为以下至少一种：阻抗1.8KΩ、阻抗精度±25％、额定电流100mA、直流电阻0.5ΩMAX、外形尺寸0402，使电路上的元器件的直流电阻指标控制在1Ω以内。其中，所述阻抗1.8KΩ的频率为100MHz、电压为0.1v。和/或，将位置R2000电感的参数配置为无贴片NC。具体如下表二所示：表二S202、对包含完成参数配置的元器件的电路进行测试，使测试输出的回声损耗值在标准回声损耗范围内。具体的，以上述步骤S201表二的参数配置为例，对图1B所示的耳机电路进行参数配置，并采用音频测试ACQUA系统，得到耳机宽频最大音量回声控制数据，如图3B所示，其输出的回声损耗值为-56.41db，小于标准回声损耗值-55dB，该测试结果为OK，也就意味着该耳机电路在进行通话时不存在回声。实施例三图4是本专利技术实施例三提供的一种元器件配置装置的结构图。本实施例可适用于电路中元器件进行参数配置的情况，该元器件配置装置可采用软件和/或硬件的方式实现，该元器件配置装置可集成在电路设计装置中。如图4所示，所述元器件配置装置包括：参数配本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种元器件配置方法，其特征在于，包括：对电路图上至少一个位置上的元器件进行参数配置；对包含完成参数配置的元器件的电路进行测试，使测试输出的回声损耗值在标准回声损耗范围内。

【技术特征摘要】
1.一种元器件配置方法，其特征在于，包括：对电路图上至少一个位置上的元器件进行参数配置；对包含完成参数配置的元器件的电路进行测试，使测试输出的回声损耗值在标准回声损耗范围内。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对电路图上至少一个位置上的元器件进行参数配置包括：对电路图上至少一个位置上的元器件进行参数配置，控制所述至少一个元器件的直流电阻在预设电阻范围内。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一个位置上的元器件包含电感和/或磁珠。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述电感的参数配置为无贴片NC。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述磁珠的参数配置为以下至少一种：阻抗1.8KΩ、阻抗精度±25％、额定电流100mA、直流电阻0.5ΩMAX、外形尺寸0402。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述阻抗1.8KΩ的频率为100MHz、电压为0.1v。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述标准回声损耗范围为小于或等于-55db。8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设电阻范围小于或等于1Ω。9.一种元器件配置装置，其特征在于，包括：参数配置模块，用于对电路图上至少一个位置上的元器件进行参数配置；测试模块，用于对...

【专利技术属性】
技术研发人员：熊锐，李永伟，
申请(专利权)人：上海与德科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31