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一种鉴定地图平面数学基础的方法技术

技术编号:15642118 阅读:51 留言:0更新日期:2017-06-16 15:10
本发明专利技术公开了一种鉴定地图平面数学基础的方法,在取得纸质、矢量地图后进行如下步骤:获取纸质地图、矢量地图中各标志点的相应数学基础下的理论值;获取纸质地图、矢量地图中各标志点的实际值;确定优势标志点和非优势标志点;利用优势标志点的理论值和实际值获得其残差值,并确定异常下限值;利用所有优势标志点和任意一个非优势标志点的集合求取其残差值集P{p

【技术实现步骤摘要】
一种鉴定地图平面数学基础的方法
本专利技术涉及到测绘专业地图制图
,具体而言,涉及一种鉴定地图平面数学基础的方法。
技术介绍
近年来地图制图技术和方法快速发展,但地图制图领域从业人员的专业技术水平良莠不齐和个别责任心却缺失,部分地图产品平面数学基础应用错误,给生产、生活带来巨大麻烦,例如:北京54坐标系地图误用西安80坐标系坐标网、GCS2000坐标系地图误用西安80坐标系坐标网、高斯-克吕格投影地图误用UTM投影等。这些错误通过目视方法是很难鉴定的,目前尚缺少行之有效的方法进行快速准确的鉴定;或者由于部分地图产品中未标明使用的坐标系统及投影方式,给地图的使用带来极大的困扰。因此,在地图制图工作自检、互检、验收以及地图使用等阶段,需要准确且可行的方法对地图使用的平面数学基础做出鉴定。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种能够准确且可行的鉴定地图平面数学基础的方法,为地图数学基础的检查、检验、鉴定提供便利和依据。本专利技术通过以下的技术步骤来实现:一种鉴定地图平面数学基础的方法,所述方法包括:1)、在地图上获取标志点的实际值、理论值以及个数,根据标志点的个数确定优势标志点和非优势标志点,所述标志点包括三角点、公里网格交叉点、公里网与经纬网交叉点、以及经纬网交叉点;2)、根据所获取的实际值和理论值,获取优势标志点和非优势标志点获的残差值集,根据优势标志点获得异常下限;3)、根据残差值集和异常下限,判断地图平面数学基础准确性:当残差值集中若存在至少一个值大于异常下限,则地图变形误差超限,结束检验;当残差值集中不存在任何一个值大于异常下限时,则设置标志点集合,继续检验,直至所有标志点集合都不存在任何一个值大于异常下限时,则地图平面数学基础应用正确,否则地图平面数学基础应用异常,结束检验。所述步骤1)中根据标志点的个数确定优势标志点和非优势标志点包括:统计各个标志点的个数,个数最多的一种类别标示为优势标志点,集合为Y{y1,y2,y3,…yn},n为优势标志点的个数,其余全部标示为非优势标志点集F{f1,f2,f3…fm},m为全部非优势标志点的个数。当公里网与经纬网交叉点个数最多时,将数量次多的类别标示为优势标志点。所述步骤2)具体为:计算优势标志点集Y{y1,y2,y3,…yn}理论值与实际值之间的残差值集C{c1,c2,c3,…cn},取残差值集C平均值X、标准差σ,取异常下限值为X+3σ。所述步骤3)中当残差值集中若存在至少一个值大于异常下限,则地图变形误差超限具体为:当残差值集C{c1,c2,c3,…cn}中若存在至少一个值大于异常下限,则认为地图变形误差超限,结束检验。当残差值集中不存在任何一个值大于异常下限时,则设置标志点集合,继续检验,具体为:利用所有优势标志点和任意一个非优势标志点的集合H{fi,y1,y2,y3,…yn}求取其对应的残差值集合P{p1,p2,p3,…pn+1},其中,i为计数变量,i初始值为1,判断fi对应残差的值p1是否大于异常下限,若不存在任意一个fi对应残差的值p1大于异常下限,则地图平面数学基础使用正确。所述标志点的实际值获取包括:对纸质地图进行扫描,扫描成上栅格地图;在栅格地图中获取标志点的实际值。与现有技术相比较,本专利技术的有益效果为:本专利技术提供了一种鉴定地图平面数学基础的方法,能够根据获取地图中的标志点信息,进行优势标志点和非优势标志点的划分以及残差值集的确定,获取异常下限,进而进行地图变形误差的判断,该方法能够快速、准确的进行地图平面数学基础的判断和鉴定,为地图数学基础的检查、检验提供便利和依据,为地图的绘制工作提供了方便,使得地图绘制工作更加精准。附图说明附图用来提供对本专利技术的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本专利技术的实施例共同用于解释本专利技术,并不构成对本专利技术的限制。图1是本专利技术鉴定地图平面数学基础的方法的流程图。具体实施方式下面结合实施例及附图对本专利技术作进一步详细的描述。容易理解,根据本专利技术的技术方案,在不变更本专利技术的实质精神下,本领域的一般技术人员可以提出本专利技术的多个限定阈值和步骤,因此以下具体实施方式以及附图仅是本专利技术的技术方案的具体说明,而不应当视为本专利技术的全部或者视为本专利技术技术方案的限定或限制。实施例1本专利技术提供了一种鉴定地图平面数学基础的方法,所述方法包括:1)、在地图上获取标志点的实际值、理论值以及个数,根据标志点的个数确定优势标志点和非优势标志点,所述标志点包括三角点、公里网格交叉点、公里网与经纬网交叉点、以及经纬网交叉点;其中,三角点理论值由测绘主管部门获得;公里网格交叉点、公里网与经纬网交叉点、经纬网交叉点等标志点理论值从相关计算公式、相关软件获得。在矢量地图或栅格地图中获取标志点的实际值;所述栅格地图通过对纸质地图进行扫描后,得到或对矢量地图进行软件处理后获得,具体的,在取得纸质地图后通过扫描仪,扫描成分辨率400DPI及以上栅格地图;或取得矢量地图后通过相关软件输出400DPI及以上的栅格地图。在栅格地图或矢量地图中获取标志点如三角点、公里网格交叉点、公里网与经纬网交叉点、经纬网交叉点等标志点的实际值。所述步骤1)中根据标志点的个数确定优势标志点和非优势标志点包括:统计各个标志点的个数,个数最多的一种类别标示为优势标志点,集合为Y{y1,y2,y3,…yn},n为优势标志点的个数,其余全部标示为非优势标志点集F{f1,f2,f3…fm},m为全部非优势标志点的个数。由于公里网与经纬网交叉点不能被标示为优势标志点,当公里网与经纬网交叉点个数最多时,将数量次多的类别标示为优势标志点,集合为Y{y1,y2,y3,…yn},n为优势标志点的个数,其余全部标示为非优势标志点集F{f1,f2,f3…fm},m为全部非优势标志点的个数。2)、根据所获取的实际值和理论值,获取优势标志点和非优势标志点获的残差值集,根据优势标志点获得异常下限;具体为:计算优势标志点集Y{y1,y2,y3,…yn}理论值与实际值之间的残差值集C{c1,c2,c3,…cn},取残差值集C平均值X、标准差σ,取异常下限值为X+3σ;3)、根据残差值集和异常下限,判断地图平面数学基础准确性:当残差值集中若存在至少一个值大于异常下限,则地图变形误差超限,结束检验;当残差值集中不存在任何一个值大于异常下限时,则设置标志点集合,继续检验,直至所有标志点集合都不存在任何一个值大于异常下限时,则地图平面数学基础应用正确,结束检验。具体的,所述步骤3)中当残差值集中若存在至少一个值大于异常下限,则地图变形误差超限具体为:当残差值集C{c1,c2,c3,…cn}中若存在至少一个值大于异常下限,则认为地图变形误差超限,结束检验。当残差值集中不存在任何一个值大于异常下限时,则设置标志点集合,继续检验,直至所有标志点集合都不存在任何一个值大于异常下限时,则地图平面数学基础应用正确,否则地图平面数学基础应用异常,结束检验,具体为:若不存在任何一个值大于异常下限,则继续:利用所有优势标志点和任意一个非优势标志点的集合H{fi,y1,y2,y3,…yn}求取其对应的残差值集合P{p1,p2,p3,…pn+1},其中,i为计数变量,i初始值为1,判断fi对应残差的值p1是否大于异常下限本文档来自技高网...
一种鉴定地图平面数学基础的方法

【技术保护点】
一种鉴定地图平面数学基础的方法,其特征在于,所述方法包括:1)、在地图上获取标志点的实际值、理论值以及个数,根据标志点的个数确定优势标志点和非优势标志点,所述标志点包括三角点、公里网格交叉点、公里网与经纬网交叉点、以及经纬网交叉点;2)、根据所获取的实际值和理论值,获取优势标志点和非优势标志点获的残差值集,根据优势标志点获得异常下限;3)、根据残差值集和异常下限,判断地图平面数学基础准确性:当残差值集中若存在至少一个值大于异常下限,则地图变形误差超限,结束检验;当残差值集中不存在任何一个值大于异常下限时,则设置标志点集合,继续检验,直至所有标志点集合都不存在任何一个值大于异常下限时,则地图平面数学基础应用正确,否则地图平面数学基础应用异常,结束检验。

【技术特征摘要】
1.一种鉴定地图平面数学基础的方法,其特征在于,所述方法包括:1)、在地图上获取标志点的实际值、理论值以及个数,根据标志点的个数确定优势标志点和非优势标志点,所述标志点包括三角点、公里网格交叉点、公里网与经纬网交叉点、以及经纬网交叉点;2)、根据所获取的实际值和理论值,获取优势标志点和非优势标志点获的残差值集,根据优势标志点获得异常下限;3)、根据残差值集和异常下限,判断地图平面数学基础准确性:当残差值集中若存在至少一个值大于异常下限,则地图变形误差超限,结束检验;当残差值集中不存在任何一个值大于异常下限时,则设置标志点集合,继续检验,直至所有标志点集合都不存在任何一个值大于异常下限时,则地图平面数学基础应用正确,否则地图平面数学基础应用异常,结束检验。2.根据权利要求1所述的鉴定地图平面数学基础的方法,其特征在于,所述步骤1)中根据标志点的个数确定优势标志点和非优势标志点包括:统计各个标志点的个数,个数最多的一种类别标示为优势标志点,集合为Y{y1,y2,y3,…yn},n为优势标志点的个数,其余全部标示为非优势标志点集F{f1,f2,f3…fm},m为全部非优势标志点的个数。3.根据权利要求2所述的鉴定地图平面数学基础的方法,其特征在于,当公里网与经纬网交叉点个数最多时,将数量次多的类别标示为优势标志点。4.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:王俊锋王林刚李玲麻立付刚
申请(专利权)人:王俊锋
类型:发明
国别省市:陕西,61

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